JPH0628714U - 外部試料室付分光光度計 - Google Patents

外部試料室付分光光度計

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JPH0628714U
JPH0628714U JP6946092U JP6946092U JPH0628714U JP H0628714 U JPH0628714 U JP H0628714U JP 6946092 U JP6946092 U JP 6946092U JP 6946092 U JP6946092 U JP 6946092U JP H0628714 U JPH0628714 U JP H0628714U
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JP6946092U
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篤 上田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来の分光光度計を用いて、スラブゲルをそ
のままの形で測定できるようにする。 【構成】 従来の分光光度計本体11の外部の所定位置
に、外部試料室12を設ける。本体部11の分光器34
と光検出器37との間の光路に反射鏡13を挿入し、分
光器34からの光を外部試料室12に導入する。外部試
料室12にも光検出器27を設け、その光路28に透明
な試料置台21と、試料置台21を光路28に対して2
次元的に移動させる移動機構を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は分光光度計、特に、スラブゲルと呼ばれる平板状のゲル試料を測定す るための外部試料室を備えた分光光度計に関する。
【0002】
【従来の技術】
タンパク質分析の有力な手段である電気泳動分析用のゲルとしては、一般には 円柱状のディスクゲルと平板状のスラブゲルの2種の形状のものが用いられる。 ディスクゲルは1本で1種の試料しか分析することができないという制約はある が、通常の分光光度計を用いて泳動度を測定することができるという簡便さを有 する。すなわち、図3(a)、(b)に示すように、所定の試料セル31の中に ディスクゲル32を入れ、分光光度計30の内部の光路38を横断する所定の位 置に置く。そして、分光光度計30の内部に設けられている試料セル移動機構( 図示せず)により試料セル31をディスクゲル32の長手方向に移動させて、ゲ ル試料32の各位置の吸光度を測定する。
【0003】 なお、分光光度計30内部では、光路38に沿って、試料セルが置かれる所定 位置の前方に光源33、分光器34及びスリット35が、後方に集光光学系36 及び光検出器37が設けられており、これらの各構成要素は制御部39により制 御されるようになっている。しかし、試料セル移動機構は、本来は試料台上に載 置された複数の試料セルを順次切り替えて測定するために設けられているもので あるため、制御部39とは接続されておらず、操作者が別個に設けられたスイッ チを操作することにより移動させるようになっていた。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
ディスクゲルでは上述の通り、従来の分光光度計を用いて測定を行なうことが できるが、1回に1種の試料しか分析を行なうことができない。それに対してス ラブゲルは、これを複数の細長いレーンに分け、各レーン毎に異なった試料の電 気泳動を行なうことができるという特長を有している。ところが、従来の分光光 度計では分析可能なゲルのサイズが試料セル31により制限されるため、スラブ ゲルのような大きなゲルはそのままでは測定することができなかった。従って、 従来、スラブゲルに対して測定を行なう場合はデンシトメータ等の高価な装置を 用いる必要があった。もちろん、スラブゲルを各レーン毎に細長く切断して試料 セル31に入れ、分光光度計30で測定を行なうことも可能であるが、この場合 には切断時にゲルが塑性変形する可能性があり、正確な測定を行なうことができ ないという欠点がある。 本考案は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするとこ ろは、スラブゲルをそのままの形で測定することのできる分光光度計を提供する ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために成された本考案に係る外部試料室付分光光度計は、 a)光源、分光器及び本体光検出器を備えた本体部と、 b)本体部の外部に本体と所定の位置関係を持って配置可能な外部試料室と、 c)本体部の分光器と光検出器との間の光路に配置可能であり、該光路に配置さ れたときには分光器により分光された光を上記所定位置関係に在る外部試料室に 導く反射鏡と、 d)外部試料室に導かれた光の光路に設けられた外部光検出器と、 e)上記外部試料室の光路を横断するように配置された透明な試料置台と、 f)試料置台を上記外部試料室の光路に対して2次元的に移動させる移動機構と を備えることを特徴とするものである。
【0006】
【作用】
スラブゲル試料の測定を行なう場合には、まず、外部試料室を、分光光度計の 本体部と所定の位置関係を持つように配置する。次に、本体部の分光器と光検出 器とを結ぶ光路の中に反射鏡を配置し、本体部の分光器により分光された光が外 部試料室に導かれるようにする。そして、測定を行なおうとするスラブゲルを、 切断せず、そのままの形で外部試料室の試料置台に載せる。この状態で本体部の 光源を点灯させると、分光器で分光された光は反射鏡により本体部から外部試料 室へ導かれ、試料置台上に載置されたスラブゲルを通過して外部光検出器により 吸光度が測定される。ここで、移動機構により試料置台を電気泳動の方向に移動 させることにより吸光度カーブを得ることができ、これを基にして試料の分析を 行なうことができる。移動機構により試料置台を上記方向とは直角の方向に移動 させることにより、他のレーンについても同様の測定を行なうことができる。
【0007】
【実施例】
本考案に係る外部試料室付分光光度計の一実施例を図1及び図2により説明す る。本実施例の分光光度計は、図1(a)に示すように、本体部11と、本体部 11の下に配置して使用する外部試料室12とで構成される。外部試料室12の 上面には、本体部11の外形線や本体部11の足14を置くための凹部等、本体 部11を外部試料室12の上に載置する際に両者の位置決めが容易となるような 措置が施されている。本体部11の底面及び外部試料室12の上面には同じ大き さの穴15、16が設けられており、両者を上記のように位置決めしたとき、両 穴15、16は同じ位置で上下に重なるようになっている。また、本体部11と 外部試料室12との間の隙間から両穴15、16を通って本体部11又は外部試 料室12内に迷光が入らないように、両穴15、16の間には光シールド17が 設けられている。
【0008】 本体部11の中には、図3(a)に示した従来の分光光度計と同様、光源33 (図1には現われていない)、分光器34、スリット35、集光光学系36、光 検出器37、制御部39等が設けられているが、本実施例の外部試料室付分光光 度計では、その他に反射鏡13を備えている。反射鏡13は分光器34と光検出 器37との間の光路38に入ってスリット35を通過した光を下方の穴15の方 に反射する外部試料測定用位置(図1(a)の実線の位置)と、その光路38か ら外れる内部試料測定用位置(点線の位置)との間で移動可能となっている。こ の反射鏡13の移動は手動で行なってもよいし、昇降モータを設けて制御部39 から制御するようにしてもよい。
【0009】 外部試料室12の中にはスラブゲル20を載置する光学ガラス又は石英製の透 明の試料置台21と、試料置台21をX、Y軸方向(図1(b))に2次元的に 移動させるための移動機構とが設けられている。移動機構はX軸方向の移動機構 とY軸方向の移動機構とに別れており、X軸方向の移動機構は、Xステージ22 、2本のレール221,222、X駆動モータ223、及び、ボールネジ224 により構成される。Y軸方向の移動機構は、Yステージ23、2本のレール23 1,232、Y駆動モータ233、及び、Y駆動モータ233の回転軸とYステ ージ23の下面に設けられたラック・ピニオン(図示せず)により構成される。 Xステージ22及びYステージ23にはそれぞれ大きな開口225、235が設 けられており、試料置台21はXステージ22よりも上部にあるYステージ23 の開口235を覆うように載置される。外部試料室12の底面の、前記穴16の 丁度下となる箇所には、外部光検出器27が設けられている。 なお、スラブゲル試料20を外部試料室12の試料置台21上へ載置すること を容易にするため、外部試料室12のX軸方向の端部(図1(a)では右側)の 側壁29を開閉可能としておき、Xステージ22をボールネジ224の端部より も外側へ余分に移動させることができるようにしておくことが望ましい。
【0010】 以上のような構成により、本体部11が外部試料室12上の所定位置に載置さ れ、本体部11の反射鏡13が外部測定位置(実線位置)に置かれたとき、本体 部11のスリット35を通過した単色光は、反射鏡13により下方に反射され、 穴15及び穴16を通って外部試料室12に入る。外部試料室12内では、この 光は光路28に沿ってスラブゲル試料20、試料置台21、Yステージの開口2 35及びXステージの開口225を通過した後、外部光検出器27により検出さ れる。
【0011】 図2に示すように、本体部11の制御部39は、本体部11が単体で使用され るときは、光源33、分光器34を駆動するためのモータ341、スリット35 を変更するためのモータ351等を制御するとともに、光検出器37からの検出 信号を受けて解析を行なう。本体部11が外部試料室12の上に載置されたとき には、両者のコネクタ(図示せず)を接続することにより、外部試料室12のX 駆動モータ223、Y駆動モータ233及び外部光検出器27が制御部39に接 続され、X駆動モータ223及びY駆動モータ233が制御部39により制御さ れ、外部光検出器27からの検出信号が制御部39に送られるようになる。なお 、上記コネクタは、本体部11を外部試料室12の上面の所定位置に載置したと きには自動的に接続されるような構成としてもよい。
【0012】 本体部11が外部試料室12の上に載置され、両者が電気的に接続されたとき 、本体部11の制御部39は外部試料室12を用いた測定のためのプログラムの 実行の準備を行なう。すなわち、まず、反射鏡13を本体部11内の光路38を 遮る外部試料測定位置に移動させ(手動の場合は、操作パネル26の表示部に反 射鏡13の位置を変更するようにとのメッセージを出し、操作者による確認入力 を待つ)、本体部11の内部の光検出器37からの信号を無視して外部光検出器 27からの信号のみを有効とするように回路を切り替える。操作者が本体部11 の操作パネル26の入力部より測定の開始を指示すると、制御部39は分光器モ ータ341及びスリットモータ351を駆動して分光器34及びスリット35を 所定の状態にした後、光源33を点灯する。そして、外部試料室12のX駆動モ ータ223によりXステージ22をX軸方向に一定の速度で移動させる間、外部 光検出器27からの信号を受け、吸光度カーブを作成する。この吸光度カーブを 基に所定の分析プログラムによりタンパク質の分析等を行ない、結果を操作パネ ル26の表示部に表示する。1つのレーンについてX軸方向への移動が終了する と、制御部39はY駆動モータ233によりYステージ23をY軸方向に所定量 だけ移動させ、Xステージ22を大きく移動させて、スラブゲル20の隣のレー ンの起点が外部試料室12内の光路28を横断するようにする。その後、上記と 同様、このレーンについても吸光度カーブを作成する。
【0013】 このように、本実施例によると、従来の分光光度計(本体部11)に外部試料 室12を付加するのみで、大きなスラブゲルについても、切断することなく、そ のままの形で全てのレーンについての吸光度カーブを取ることができる。 なお、上記実施例では外部試料室12を本体部11の下に置く形式としたが、 本体部11の反射鏡13の向きを適宜変更し、また、補助的な光学系を設けるこ とにより、横や上に置くようにしてもよい。
【0014】
【考案の効果】
本考案に係る外部試料室付分光光度計では、従来の分光光度計に外部試料室を 付加するのみで、大きなスラブゲルを切断することなく、そのままの形で全ての レーンについての吸光度カーブを得ることができる。このため、従来のようにデ ンシトメータ等の高価な装置を用いることなく、しかも正確な分析を行なうこと ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の一実施例である外部試料室付分光光
度計の縦断面図(a)、及び外部試料室内部の平面図
(b)。
【図2】 実施例の外部試料室付分光光度計の制御系統
を示すブロック図。
【図3】 従来の分光光度計の内部の平面図(a)、及
び試料セル近傍の斜視図(b)。
【符号の説明】
11…本体部 12…外部試料
室 13…反射鏡 15,16…測
定光通過穴 20…スラブゲル試料 21…試料置台 22…Xステージ 23…Yステー
ジ 27…外部光検出器 31…試料セル 32…ディスクゲル試料 37…本体光検
出器 39…制御部

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 a)光源、分光器及び本体光検出器を備え
    た本体部と、 b)本体部の外部に本体と所定の位置関係を持って配置可
    能な外部試料室と、 c)本体部の分光器と光検出器との間の光路内に配置可能
    であり、該光路内に配置されたときには分光器により分
    光された光を上記所定位置関係に在る外部試料室に導く
    反射鏡と、 d)外部試料室に導かれた光の光路に設けられた外部光検
    出器と、 e)上記外部試料室の光路を横断するように配置された透
    明な試料置台と、 f)試料置台を上記外部試料室の光路に対して2次元的に
    移動させる移動機構とを備えることを特徴とする外部試
    料室付分光光度計。
JP6946092U 1992-09-08 1992-09-08 外部試料室付分光光度計 Pending JPH0628714U (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146692A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Olympus Optical Co Ltd Densitometer
JPS61159136A (ja) * 1984-12-29 1986-07-18 Shimadzu Corp クロマトスキヤナ
JPH0283434A (ja) * 1988-09-20 1990-03-23 Shimadzu Corp 分光光度計

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