JPH0283434A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH0283434A JPH0283434A JP23677488A JP23677488A JPH0283434A JP H0283434 A JPH0283434 A JP H0283434A JP 23677488 A JP23677488 A JP 23677488A JP 23677488 A JP23677488 A JP 23677488A JP H0283434 A JPH0283434 A JP H0283434A
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- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 49
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ｆｒｉ業上の利用分野）
本発明は多様な試料について分光的測定を行い得るよう
にした分光光度計に関する。
にした分光光度計に関する。
（従来の技術）
第１図は本発明の一実施例を示すが分光光度計の一般的
な構成でもある。この図で、Ｍは分光器で分光器の出射
光束ｒ、ｓが試料室Ｃを通って測光部Ｐに入射するよう
になっている。試料溶液の分光分析の場合、試料セルお
よび対照セルを試料室Ｃ内の光束ｒ、ｓの光路上に置い
て試料の透過率或は吸光度を測光部Ｐで測定する。分光
光度計は上述した測定を行うのに適するように構成され
ており、固体試料でも、平行平面を持つ小さな試料の透
過率の測定は、溶液試料の場合と同じように測定できる
が、他の測定を行うときは一般に試料室Ｃ内にｍ Ｉの
アダプタを設置するようになっている。特に大径積分球
を用いる測定とか、大型或は異形の試料の透過率とか反
射率を測定する場合等には第５図に示すように分光器か
らの出射光を試料室外に取出すアダプタ八を試料室Ｃ内
に置き試料室Ｃの側面に光取出し用の窓を設け、この側
面に積分球！或は大型試料室り等の外付はアダプタを位
置決めして接続するようになっている。
な構成でもある。この図で、Ｍは分光器で分光器の出射
光束ｒ、ｓが試料室Ｃを通って測光部Ｐに入射するよう
になっている。試料溶液の分光分析の場合、試料セルお
よび対照セルを試料室Ｃ内の光束ｒ、ｓの光路上に置い
て試料の透過率或は吸光度を測光部Ｐで測定する。分光
光度計は上述した測定を行うのに適するように構成され
ており、固体試料でも、平行平面を持つ小さな試料の透
過率の測定は、溶液試料の場合と同じように測定できる
が、他の測定を行うときは一般に試料室Ｃ内にｍ Ｉの
アダプタを設置するようになっている。特に大径積分球
を用いる測定とか、大型或は異形の試料の透過率とか反
射率を測定する場合等には第５図に示すように分光器か
らの出射光を試料室外に取出すアダプタ八を試料室Ｃ内
に置き試料室Ｃの側面に光取出し用の窓を設け、この側
面に積分球！或は大型試料室り等の外付はアダプタを位
置決めして接続するようになっている。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の分光光度計では積分球を用いる測定と大
型試料の測定とを交代して行う場合のように試料室外に
接続する外付はアダプタを交換する必要がある場合、外
付はアダプタを一々着は換えねばならないと云う面倒さ
があった。本発明は分光光度計の試料室外に接続する外
付はアダプタを交換する必要がある場合に、アダプタ着
換えの手数をなしにしようとするものである。
型試料の測定とを交代して行う場合のように試料室外に
接続する外付はアダプタを交換する必要がある場合、外
付はアダプタを一々着は換えねばならないと云う面倒さ
があった。本発明は分光光度計の試料室外に接続する外
付はアダプタを交換する必要がある場合に、アダプタ着
換えの手数をなしにしようとするものである。
（課題を解決するだめの手段）
分光器と分光器出射光が通過する試料室と試料室通過光
が入射せしめられる測光部とを有する分光光度計におい
て、上記試料室の前面と後面（試料室において、分光器
とも測光部とも接していない対向二゛側壁）とに夫々、
上記分光器出射光を導出する窓を設けると共に、着脱自
在に外付はアダプタを取付は可能と、上記試料室内に上
記分光器出射光を試料室前面或は後面の外付はアダプタ
に向けて反射せしめる光路切換え手段を挿脱可能に設け
た。
が入射せしめられる測光部とを有する分光光度計におい
て、上記試料室の前面と後面（試料室において、分光器
とも測光部とも接していない対向二゛側壁）とに夫々、
上記分光器出射光を導出する窓を設けると共に、着脱自
在に外付はアダプタを取付は可能と、上記試料室内に上
記分光器出射光を試料室前面或は後面の外付はアダプタ
に向けて反射せしめる光路切換え手段を挿脱可能に設け
た。
（作用）
試料室は通常は溶液試料とか小型試料の測定に用いられ
るが、試料室の前後両面に夫々外付はアダプタを着脱可
能に設けたので、二種の外付はアダプタを同時に試料室
に接続しておくことができ、外付はアダプタを一々着脱
交換することなしに任意に使い分けることができるよう
になる。
るが、試料室の前後両面に夫々外付はアダプタを着脱可
能に設けたので、二種の外付はアダプタを同時に試料室
に接続しておくことができ、外付はアダプタを一々着脱
交換することなしに任意に使い分けることができるよう
になる。
（実施例）
第１図に本発明の一実施例の全体を示す。Ｍは分光器で
対照光束ｒと試料光束Ｓの２光束を出射する。Ｃは分光
器Ｍの外側に固設された試料室で、対照光束ｒ、試料光
束Ｓが通過するようになっている。Ｐは測光部で試料室
Ｃの側面に取付けられており、三光束ｒ、ｓが入射せし
められる。以上の構成は従来の分光光度計と同じである
。本発明では試料室Ｃの前面ｆと後面すとに夫々第２図
に示すように対照光束および試料光束を取出す二つの窓
Ｗｌ、Ｗ２と外付はアダプタの位置決め手段であるビン
ｐｉ、ｐ２と、外付はアダプタを固定するためのねじ孔
ＴＩ、Ｔ２が設けられており、試料室Ｃの前後両面に夫
々外付はアダプタを取付けることができるようにな・っ
ている。
対照光束ｒと試料光束Ｓの２光束を出射する。Ｃは分光
器Ｍの外側に固設された試料室で、対照光束ｒ、試料光
束Ｓが通過するようになっている。Ｐは測光部で試料室
Ｃの側面に取付けられており、三光束ｒ、ｓが入射せし
められる。以上の構成は従来の分光光度計と同じである
。本発明では試料室Ｃの前面ｆと後面すとに夫々第２図
に示すように対照光束および試料光束を取出す二つの窓
Ｗｌ、Ｗ２と外付はアダプタの位置決め手段であるビン
ｐｉ、ｐ２と、外付はアダプタを固定するためのねじ孔
ＴＩ、Ｔ２が設けられており、試料室Ｃの前後両面に夫
々外付はアダプタを取付けることができるようにな・っ
ている。
外付はアダプタを用いない用法の場合、試料室Ｃの前後
両面にはねじ孔Ｔ１．Ｔ２を利用して窓ふさぎの板が取
付けられる。
両面にはねじ孔Ｔ１．Ｔ２を利用して窓ふさぎの板が取
付けられる。
第３図は上述分光光度計に２ｍＭの外付はアダプタを取
付けた状態を示す。■は積分球でＬは大型試料室である
。試料室Ｃ内には分光器Ｍから出射した対照光束ｒと試
料光束Ｓとを大型試料室りに導（二つの鏡ｍｌ、ｍ２を
備えたアダプタＡ１が設置されている。ｑはアダプタＡ
１を試料室Ｃ内で位置決めするための位置決めビン、Ｂ
は同アダプタを試料室内に固定するためのねじである。
付けた状態を示す。■は積分球でＬは大型試料室である
。試料室Ｃ内には分光器Ｍから出射した対照光束ｒと試
料光束Ｓとを大型試料室りに導（二つの鏡ｍｌ、ｍ２を
備えたアダプタＡ１が設置されている。ｑはアダプタＡ
１を試料室Ｃ内で位置決めするための位置決めビン、Ｂ
は同アダプタを試料室内に固定するためのねじである。
Ａ２は対照光束ｒ、試料光束Ｓを積分球ｌに導くため試
料ｔＣ内にセットするアダプタで、積分球Ｉを使用する
ときＡ１と交換する。
料ｔＣ内にセットするアダプタで、積分球Ｉを使用する
ときＡ１と交換する。
大型試料室りにおいて、Ｓｅが試料である。大型試料室
内に配置された鏡ｍ３．ｍ４．ｍ５によって対照光束は
同室内の積分球Ｉｅに直接導かれ、試料光束は試料Ｓｅ
を透過して積分球ｒ ｅ ＋：：入射するうよに光路が
導かれる。Ｉｗｏは積分球Ｉｅの光出射窓で、この窓の
外側下部に受光素子Ｐｅが置かれており、Ｐｅから信号
ケーブルＫｅが出ており、その先端の接続プラグが測光
部Ｐに設けられている信号コネクタＣｐに挿入され、受
光素子Ｐｅが測光部Ｐ内の測光回路に接続される。積分
球１においてＳｉが試料で、Ｓｒが標準白板になってい
る。Ｉｗｏ’は積分球！の光出射窓でその下に受光素子
Ｐｉが取付けてあり、Ｐｉから延びている信号ケーブル
Ｋ ｉの先端接続プラグを測光部ＰのコネクタＣｐに挿
入することで受光素子Ｐｉが測光部内の測光回路に接続
される。
内に配置された鏡ｍ３．ｍ４．ｍ５によって対照光束は
同室内の積分球Ｉｅに直接導かれ、試料光束は試料Ｓｅ
を透過して積分球ｒ ｅ ＋：：入射するうよに光路が
導かれる。Ｉｗｏは積分球Ｉｅの光出射窓で、この窓の
外側下部に受光素子Ｐｅが置かれており、Ｐｅから信号
ケーブルＫｅが出ており、その先端の接続プラグが測光
部Ｐに設けられている信号コネクタＣｐに挿入され、受
光素子Ｐｅが測光部Ｐ内の測光回路に接続される。積分
球１においてＳｉが試料で、Ｓｒが標準白板になってい
る。Ｉｗｏ’は積分球！の光出射窓でその下に受光素子
Ｐｉが取付けてあり、Ｐｉから延びている信号ケーブル
Ｋ ｉの先端接続プラグを測光部ＰのコネクタＣｐに挿
入することで受光素子Ｐｉが測光部内の測光回路に接続
される。
上述実施例では大型試料室りを使うか積分球■を使うか
で試料室Ｃ内のアダプタをＡ１かＡ２の何れかに゛入れ
換えなければならない。第４図の実施例は試料室Ｃ内で
分光器Ｍから出射する三光束ｒ、ｓの間隔とそれらを直
角に折曲して外付はアダプタに出射させたときの出射２
光束の間隔を等しくシ、アダプタ上の二つの鏡ｍｌ、ｍ
２を一つの正八角形の一つの対向辺に沿って互いに平行
に固定し、試料室Ｃ内で４５°回転させるだけで、２光
束を試料室の前側外付はアダプタに導いたり、後側外付
はアダプタに導いたりできるようにしたものである。
で試料室Ｃ内のアダプタをＡ１かＡ２の何れかに゛入れ
換えなければならない。第４図の実施例は試料室Ｃ内で
分光器Ｍから出射する三光束ｒ、ｓの間隔とそれらを直
角に折曲して外付はアダプタに出射させたときの出射２
光束の間隔を等しくシ、アダプタ上の二つの鏡ｍｌ、ｍ
２を一つの正八角形の一つの対向辺に沿って互いに平行
に固定し、試料室Ｃ内で４５°回転させるだけで、２光
束を試料室の前側外付はアダプタに導いたり、後側外付
はアダプタに導いたりできるようにしたものである。
（発明の効果）
本発明は分光光度計の試料室の前後両側に外付はアダプ
タを取付けてお（ことができるようにしたので、２種の
外付はアダプタを一々着脱交換することなしに、２種の
外付はアダプタを用いる測定を行うことができ、分光光
度計の多様な用法に対する切換え操作が大幅に簡単化さ
れる。
タを取付けてお（ことができるようにしたので、２種の
外付はアダプタを一々着脱交換することなしに、２種の
外付はアダプタを用いる測定を行うことができ、分光光
度計の多様な用法に対する切換え操作が大幅に簡単化さ
れる。
第１図は本発明の一実施例の試料室のみ水平断面を示し
た平面図、第２図は同実施例の試料室の前面および後面
の正面図、第３図は同実施例に２信号ケーブル、
た平面図、第２図は同実施例の試料室の前面および後面
の正面図、第３図は同実施例に２信号ケーブル、
Claims (1)
- 分光器と分光器出射光が通過する試料室と試料室通過光
が入射せしめられる測光部とを有し、上記試料室の前面
と後面とに夫々、分光器出射光を導出する窓を設けると
共に、着脱自在に外付けアダプタを取付け可能とし、上
記試料室内の上記分光器出射光を試料室前面或は後面の
外付けアダプタに導く光路切換え手段を上記試料室内に
挿脱可能に設けたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63236774A JPH0654291B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63236774A JPH0654291B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283434A true JPH0283434A (ja) | 1990-03-23 |
| JPH0654291B2 JPH0654291B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=17005596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63236774A Expired - Lifetime JPH0654291B2 (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0654291B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH046441A (ja) * | 1990-04-25 | 1992-01-10 | Rion Co Ltd | 微粒子計 |
| JPH0628714U (ja) * | 1992-09-08 | 1994-04-15 | 株式会社島津製作所 | 外部試料室付分光光度計 |
| JP2008292503A (ja) * | 2008-08-04 | 2008-12-04 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5446380U (ja) * | 1977-09-07 | 1979-03-30 | ||
| JPS5927227A (ja) * | 1982-08-09 | 1984-02-13 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
| JPS62167241A (ja) * | 1986-01-18 | 1987-07-23 | 電気化学工業株式会社 | 低セメントキャスタブル組成物 |
| JPS62167240A (ja) * | 1986-01-17 | 1987-07-23 | 宇部興産株式会社 | セメント組成物の製造方法 |
| JPS63167240A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JPS63167241A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP63236774A patent/JPH0654291B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5446380U (ja) * | 1977-09-07 | 1979-03-30 | ||
| JPS5927227A (ja) * | 1982-08-09 | 1984-02-13 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
| JPS62167240A (ja) * | 1986-01-17 | 1987-07-23 | 宇部興産株式会社 | セメント組成物の製造方法 |
| JPS62167241A (ja) * | 1986-01-18 | 1987-07-23 | 電気化学工業株式会社 | 低セメントキャスタブル組成物 |
| JPS63167240A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JPS63167241A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH046441A (ja) * | 1990-04-25 | 1992-01-10 | Rion Co Ltd | 微粒子計 |
| JPH0628714U (ja) * | 1992-09-08 | 1994-04-15 | 株式会社島津製作所 | 外部試料室付分光光度計 |
| JP2008292503A (ja) * | 2008-08-04 | 2008-12-04 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0654291B2 (ja) | 1994-07-20 |
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