JPH0575964B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0575964B2 JPH0575964B2 JP58201526A JP20152683A JPH0575964B2 JP H0575964 B2 JPH0575964 B2 JP H0575964B2 JP 58201526 A JP58201526 A JP 58201526A JP 20152683 A JP20152683 A JP 20152683A JP H0575964 B2 JPH0575964 B2 JP H0575964B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- output
- clock
- light spot
- reference point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 技術分野
この発明はレーザとイメージセンサとを用いた
光距離計などに適用されるイメージセンサ上の受
光位置検出装置に関する。
光距離計などに適用されるイメージセンサ上の受
光位置検出装置に関する。
(b) 従来技術とその欠点
レーザとイメージセンサとを用いた光距離計で
は、被測定物にレーザビームを照射し、被測定物
からの反射光を斜め方向から受光レンズを通して
受光するとともに、イメージセンサを実像の軌跡
上に配置してイメージセンサ上の光スポツトの位
置データから被測定物までの距離を精密に測定す
るようにしている。この場合、イメージセンサ上
の光スポツトの位置は、予め設定したスレツシヨ
ルドレベルにイージセンサ出力が交差する２点を
求め、基準点から最初の交差点までの計数値に、
２点間の計数値の1/2を加えることによつて求め
るようにしている。第１図は従来の受光位置検出
装置の検出方法を説明する図である。イメージセ
ンサ出力Ａは図示するように駆動クロツク0に同
期して順次１ビツトずつ出力されるため、波形は
階段波状となつている。計数器はスタートパルス
STが出たときから（基準点）スレツシヨルドレ
ベルthをイメージセンサ出力Ａが交差する点ｔ
１，ｔ２までカウントする。N0はイメージセン
サ出力Ａがスレツシヨルドレベルthを越えるとき
の期間、すなわちｔ１からｔ２までの時間に対応
する計数値である。したがつて、光スポツトの位
置は、スタートパルスSTが発生してからｔ１ま
での計数値にN0の1/2を加えることによつて求め
られる。
は、被測定物にレーザビームを照射し、被測定物
からの反射光を斜め方向から受光レンズを通して
受光するとともに、イメージセンサを実像の軌跡
上に配置してイメージセンサ上の光スポツトの位
置データから被測定物までの距離を精密に測定す
るようにしている。この場合、イメージセンサ上
の光スポツトの位置は、予め設定したスレツシヨ
ルドレベルにイージセンサ出力が交差する２点を
求め、基準点から最初の交差点までの計数値に、
２点間の計数値の1/2を加えることによつて求め
るようにしている。第１図は従来の受光位置検出
装置の検出方法を説明する図である。イメージセ
ンサ出力Ａは図示するように駆動クロツク0に同
期して順次１ビツトずつ出力されるため、波形は
階段波状となつている。計数器はスタートパルス
STが出たときから（基準点）スレツシヨルドレ
ベルthをイメージセンサ出力Ａが交差する点ｔ
１，ｔ２までカウントする。N0はイメージセン
サ出力Ａがスレツシヨルドレベルthを越えるとき
の期間、すなわちｔ１からｔ２までの時間に対応
する計数値である。したがつて、光スポツトの位
置は、スタートパルスSTが発生してからｔ１ま
での計数値にN0の1/2を加えることによつて求め
られる。
しかしながら、このような従来の装置では、例
えば階段波状の波形の平坦な部分のレベルがスレ
ツシヨルドレベルthに極めて近接すると、ｔ１，
ｔ２が非常に不安定となる不都合があつた。ま
た、実施例で示す出力A0が破線で示す出力Ａ１
に変化するような光スポツトの僅かな移動に対し
ては、スレツシヨルドレベルとイメージセンサ出
力との交差点に変化が生じないため識別不可能で
あり、分解能に限界がある不都合があつた。しか
も分解能を上げようとすると素子数を大幅に増や
す必要があり、その分コストが上昇する欠点があ
つた。
えば階段波状の波形の平坦な部分のレベルがスレ
ツシヨルドレベルthに極めて近接すると、ｔ１，
ｔ２が非常に不安定となる不都合があつた。ま
た、実施例で示す出力A0が破線で示す出力Ａ１
に変化するような光スポツトの僅かな移動に対し
ては、スレツシヨルドレベルとイメージセンサ出
力との交差点に変化が生じないため識別不可能で
あり、分解能に限界がある不都合があつた。しか
も分解能を上げようとすると素子数を大幅に増や
す必要があり、その分コストが上昇する欠点があ
つた。
(c) 発明の目的
この発明の目的はイメージセンサの素子数を増
加しなくても簡単な回路を付加することにより、
受光位置検出の分解能を高くし、且つ光スポツト
の位置を簡単に求めることのできるイメージセン
サ上の受光位置検出装置を提供することにある。
加しなくても簡単な回路を付加することにより、
受光位置検出の分解能を高くし、且つ光スポツト
の位置を簡単に求めることのできるイメージセン
サ上の受光位置検出装置を提供することにある。
(d) 発明の構成およびび効果
この発明は要約すれば、階段波状の波形にある
イメージセンサ出力を高周波成分を取り除くロー
パスフイルタを通すことによつてなだらかな曲線
状波形に整形し、その整形したイメージセンサ出
力とスレツシヨルドレベルとを比較し、両者の交
差する２点の各々を駆動クロツクよりも高速のク
ロツククで測定し、且つ２点間においてクロツク
周波数を1/2にすることによつて光スポツトの受
光位置を高分解能で、しかも簡単な計数処理で検
出するようにしたものである。
イメージセンサ出力を高周波成分を取り除くロー
パスフイルタを通すことによつてなだらかな曲線
状波形に整形し、その整形したイメージセンサ出
力とスレツシヨルドレベルとを比較し、両者の交
差する２点の各々を駆動クロツクよりも高速のク
ロツククで測定し、且つ２点間においてクロツク
周波数を1/2にすることによつて光スポツトの受
光位置を高分解能で、しかも簡単な計数処理で検
出するようにしたものである。
第２図はこの発明に係る受光位置検出装置の検
出方法を説明する図である。階段波状のイメージ
センサ出力はローパスフイルタを通過することに
よつて高周波成分が除去され、なだらかな曲線波
形に波形整形される。図示するように、光スポツ
トの実際の位置がわずかに左側へずれてイメージ
センサ出力Ａ０がＡ１になるとローパスフイルタ
出力の波形はＢ０からＢ１に変わり、スレツシヨ
ルドレベルthとの交差点ｔ１，ｔ２もｔ１′，ｔ
２′に変わる。一方、スタートパルスSTが出る基
準点からの上記の交差点のそれぞれの位置までは
駆動クロツクよりも高速の計数クロツクで計数さ
れているためN0はN1となり、演算によつて得ら
れる中心位置は僅かに左方向に移動する。このよ
うに従来の装置では検出することのできない光ス
ポツト位置のわずかな移動であつても、ローパス
フイルタと高速の計数クロツクを用いることによ
つて識別できる。この場合、計数クロツクが高速
であればある程度その分解能は高くなる。また、
交差点間の計数クロツクの周波数は、基準点から
最初の交差点までの間の計数クロツク周波数の1/
２に落とされるため、交差点間の計数値は基準点
から最初の交差点までの間の計数クロツク周波数
で計数した場合の1/2になる。従つて、基準点か
ら２つ目の交差点まで計数した値が、そのまま基
準点から交差点の中点までの計数値になり、光ス
ポツトの位置を求めるために基準点から最初の交
差点までの計数値に交差点間の計数値の1/2を加
える演算は不要になる。
出方法を説明する図である。階段波状のイメージ
センサ出力はローパスフイルタを通過することに
よつて高周波成分が除去され、なだらかな曲線波
形に波形整形される。図示するように、光スポツ
トの実際の位置がわずかに左側へずれてイメージ
センサ出力Ａ０がＡ１になるとローパスフイルタ
出力の波形はＢ０からＢ１に変わり、スレツシヨ
ルドレベルthとの交差点ｔ１，ｔ２もｔ１′，ｔ
２′に変わる。一方、スタートパルスSTが出る基
準点からの上記の交差点のそれぞれの位置までは
駆動クロツクよりも高速の計数クロツクで計数さ
れているためN0はN1となり、演算によつて得ら
れる中心位置は僅かに左方向に移動する。このよ
うに従来の装置では検出することのできない光ス
ポツト位置のわずかな移動であつても、ローパス
フイルタと高速の計数クロツクを用いることによ
つて識別できる。この場合、計数クロツクが高速
であればある程度その分解能は高くなる。また、
交差点間の計数クロツクの周波数は、基準点から
最初の交差点までの間の計数クロツク周波数の1/
２に落とされるため、交差点間の計数値は基準点
から最初の交差点までの間の計数クロツク周波数
で計数した場合の1/2になる。従つて、基準点か
ら２つ目の交差点まで計数した値が、そのまま基
準点から交差点の中点までの計数値になり、光ス
ポツトの位置を求めるために基準点から最初の交
差点までの計数値に交差点間の計数値の1/2を加
える演算は不要になる。
このようにこの発明によれば、階段波状にある
イメージセンサ出力をローパスフイルタによつて
なだらかな曲線状波形にした後、イメージセンサ
の駆動クロツクより高速の計数クロツクを用いて
スレツシヨルドレベルとの比較を行うようにした
ので、イメージセンサの素子数が少なくても光ス
ポツト受光位置の検出分解能を高くすることがで
きる。また複雑な回路を使用しなくても簡単に構
成でき、しかも低コストで実現できる利点があ
る。
イメージセンサ出力をローパスフイルタによつて
なだらかな曲線状波形にした後、イメージセンサ
の駆動クロツクより高速の計数クロツクを用いて
スレツシヨルドレベルとの比較を行うようにした
ので、イメージセンサの素子数が少なくても光ス
ポツト受光位置の検出分解能を高くすることがで
きる。また複雑な回路を使用しなくても簡単に構
成でき、しかも低コストで実現できる利点があ
る。
(e) 実施例
第３図はこの発明の実施例である受光位置検出
装置のブロツク図である。また第４図は同受光位
置検出装置の動作を示すタイミングチヤートであ
る。
装置のブロツク図である。また第４図は同受光位
置検出装置の動作を示すタイミングチヤートであ
る。
駆動クロツク0で走査されたイメージセンサ出
力はビデオ信号としてローパスフイルタ１に入力
し、イメージセンサ出力を曲線状波形にする。
高速Ａ／Ｄ変換器２は上記出力をＡ／Ｄ変換
し、最大値回路３に出力する。最大値回路３は
Ａ／Ｄ変換された信号から最大値を抽出する。
Ｄ／Ａ変換器４は、その最大値信号をＤ／Ａ変換
してアナログ演算器５に出力する。アナログ演算
器５には基準電圧発生器６からノイズレベルを除
去するための基準信号Ｅ１と最大値に対するスレ
ツシヨルドレベルの比率を設定する基準値Ｅ２と
が入力し、アナログ演算器５は上記Ｄ／Ａ変換器
４の出力と基準値Ｅ１およびＥ２とを比較す
る。コンパレータ７は上記アナログ演算器５の出
力とローパスフイルタ１の出力とを比較し、
後者のレベルが前者を上回る間コンパレート出力
をハイにして次段の計数器８に出力する。計数
器８はイメージセンサの走査を開始するスタート
パルスSTが入力したとき0×ｎ（ｎ＝４）の高速
の計数クロツクでカウントを開始する。その計数
クロツクは発振器１０から与えられ、切換回路１
１により後述するように、上記コンパレート出力
がハイになるまで0×ｎのクロツクに設定さ
れ、ハイの間は分周器９で1/2に分周された1/2
（0×ｎ）のクロツクに設定される。上記計数器
８、分周器９、発振器１０および切換回路１１は
本発明の計数手段を構成する。
力はビデオ信号としてローパスフイルタ１に入力
し、イメージセンサ出力を曲線状波形にする。
高速Ａ／Ｄ変換器２は上記出力をＡ／Ｄ変換
し、最大値回路３に出力する。最大値回路３は
Ａ／Ｄ変換された信号から最大値を抽出する。
Ｄ／Ａ変換器４は、その最大値信号をＤ／Ａ変換
してアナログ演算器５に出力する。アナログ演算
器５には基準電圧発生器６からノイズレベルを除
去するための基準信号Ｅ１と最大値に対するスレ
ツシヨルドレベルの比率を設定する基準値Ｅ２と
が入力し、アナログ演算器５は上記Ｄ／Ａ変換器
４の出力と基準値Ｅ１およびＥ２とを比較す
る。コンパレータ７は上記アナログ演算器５の出
力とローパスフイルタ１の出力とを比較し、
後者のレベルが前者を上回る間コンパレート出力
をハイにして次段の計数器８に出力する。計数
器８はイメージセンサの走査を開始するスタート
パルスSTが入力したとき0×ｎ（ｎ＝４）の高速
の計数クロツクでカウントを開始する。その計数
クロツクは発振器１０から与えられ、切換回路１
１により後述するように、上記コンパレート出力
がハイになるまで0×ｎのクロツクに設定さ
れ、ハイの間は分周器９で1/2に分周された1/2
（0×ｎ）のクロツクに設定される。上記計数器
８、分周器９、発振器１０および切換回路１１は
本発明の計数手段を構成する。
以上の構成からなる受光位置検出装置にイメー
ジセンサ出力が入力すると、第４図Ａに示すよ
うにローパスフイルタ１の出力は点線で示すの
波形となる。Ｄ／Ａ変換器４の出力は上記出力
の最大値レベルとなり、アナログ演算器５はそ
の最大値レベルPL１および基準電圧発生器６に
よつて与えられる基準値Ｅ１およびＥ２に基づい
てスレツシヨルドレベル（SL0）を形成する。
この結果、コンパレート出力は図示するように
taの期間ハイとなる。計数器８はスタートパルス
STが発生した時点（基準点）から（0×ｎ）の
クロツクでコンパレート出力が立ち上がるまで
計数し、さらにtaの期間1/2（0×ｎ）のクロツ
クで計数する。これによつてスタートパルスST
が発生した時点からコンパレート出力の1/2時
点まで、すなわち基準点から光スポツトの位置ま
でのカウント数NAを算出する。そして、距離計
として使用する場合には、さらに所定の計算を行
うことにより被測定物までの距離を求める。な
お、上記のカウント数NAを求めるためにスター
トパルスSTで計数器を起動し、コンパレートの
出力が立ち上がつた時点で計数クロツクの周波
数を1/2に落とし、コンパレート出力が立ち下
がつた時点で計数器の駆動を停止するようにして
いる。このようにすることによつて、計数クロツ
クを0×ｎとしたときのスタートパルスST立ち
上がり時点からコンパレート出力の中心時点ま
でのカウント数を簡単に求めることができる。
ジセンサ出力が入力すると、第４図Ａに示すよ
うにローパスフイルタ１の出力は点線で示すの
波形となる。Ｄ／Ａ変換器４の出力は上記出力
の最大値レベルとなり、アナログ演算器５はそ
の最大値レベルPL１および基準電圧発生器６に
よつて与えられる基準値Ｅ１およびＥ２に基づい
てスレツシヨルドレベル（SL0）を形成する。
この結果、コンパレート出力は図示するように
taの期間ハイとなる。計数器８はスタートパルス
STが発生した時点（基準点）から（0×ｎ）の
クロツクでコンパレート出力が立ち上がるまで
計数し、さらにtaの期間1/2（0×ｎ）のクロツ
クで計数する。これによつてスタートパルスST
が発生した時点からコンパレート出力の1/2時
点まで、すなわち基準点から光スポツトの位置ま
でのカウント数NAを算出する。そして、距離計
として使用する場合には、さらに所定の計算を行
うことにより被測定物までの距離を求める。な
お、上記のカウント数NAを求めるためにスター
トパルスSTで計数器を起動し、コンパレートの
出力が立ち上がつた時点で計数クロツクの周波
数を1/2に落とし、コンパレート出力が立ち下
がつた時点で計数器の駆動を停止するようにして
いる。このようにすることによつて、計数クロツ
クを0×ｎとしたときのスタートパルスST立ち
上がり時点からコンパレート出力の中心時点ま
でのカウント数を簡単に求めることができる。
第４図Ｂはイメージセンサ出力の或るビツト出
力Ａ０がＡ１に変動した場合のタイミングチヤー
トを示している。このように変化する場合は、実
際の光スポツト位置がわずかに右方向に移動した
ときである。図示するように、この場合にはロー
パスフイルタ出力右側の曲線が第４図Ａの場合
に比べてよりなだらかとなり、全体として若干右
方向に移動する。このためコンパレート出力は
立ち上がり点を殆ど変えずにtb（tb＞ta）の幅に
変わる。この結果、（0×ｎ）のクロツクによる
計数値はほぼそのままで1/2（0×ｎ）のクロツ
クによる計数値が増え、それらの加算値であるカ
ウント数NBが第４図Ａのカウント数NAに比べ
て少し大きくなる。
力Ａ０がＡ１に変動した場合のタイミングチヤー
トを示している。このように変化する場合は、実
際の光スポツト位置がわずかに右方向に移動した
ときである。図示するように、この場合にはロー
パスフイルタ出力右側の曲線が第４図Ａの場合
に比べてよりなだらかとなり、全体として若干右
方向に移動する。このためコンパレート出力は
立ち上がり点を殆ど変えずにtb（tb＞ta）の幅に
変わる。この結果、（0×ｎ）のクロツクによる
計数値はほぼそのままで1/2（0×ｎ）のクロツ
クによる計数値が増え、それらの加算値であるカ
ウント数NBが第４図Ａのカウント数NAに比べ
て少し大きくなる。
以上のようにしてイメージセンサ出力をローパ
スフイルタ１を通すことによつてなだらかな曲線
状波形にし、そのローパスフイルタ出力とスレツ
シヨルドレベルとを高速の計数クロツを用いて比
較することにより光スポツト位置の検出分解能を
高めることができる。さらに、比較結果に応じて
計数クロツク周波数を1/2に切り換えることによ
り、比較信号の立ち下がりまでの計数値が光スポ
ツト位置までの距離となり、煩雑な演算が不要に
なる。なお、第２図において、光スポツト位置の
実際の移動長さと、演算で求めた移動長さとが一
致しなく、またそれらの長さの変化の関係が直線
的でない場合には、公知のリニアライザを用いて
補正すればよい。
スフイルタ１を通すことによつてなだらかな曲線
状波形にし、そのローパスフイルタ出力とスレツ
シヨルドレベルとを高速の計数クロツを用いて比
較することにより光スポツト位置の検出分解能を
高めることができる。さらに、比較結果に応じて
計数クロツク周波数を1/2に切り換えることによ
り、比較信号の立ち下がりまでの計数値が光スポ
ツト位置までの距離となり、煩雑な演算が不要に
なる。なお、第２図において、光スポツト位置の
実際の移動長さと、演算で求めた移動長さとが一
致しなく、またそれらの長さの変化の関係が直線
的でない場合には、公知のリニアライザを用いて
補正すればよい。
第１図は従来の受光位置検出装置の検出方法を
説明する図であり、第２図はこの発明の受光位置
検出装置の検出方法を説明する図である。また第
３図はこの発明の実施例のブロツク図、第４図
Ａ，Ｂはタイミングチヤートである。 １……ローパスフイルタ（積分回路）、８……
計数器、１０……（計数クロツク）発振器。
説明する図であり、第２図はこの発明の受光位置
検出装置の検出方法を説明する図である。また第
３図はこの発明の実施例のブロツク図、第４図
Ａ，Ｂはタイミングチヤートである。 １……ローパスフイルタ（積分回路）、８……
計数器、１０……（計数クロツク）発振器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 予め設定したスレツシヨルドレベルにイメー
ジセンサ出力が交差する２点を求め、基準点から
前記２点の中点までの計数値により基準点に対す
るイメージセンサ上の光スポツト受光位置を検出
するようにした装置において、 前記イメージセンサ出力を曲線状波形に整形す
るローパスフイルタと、前記計数値を求める計数
クロツクをイメージセンサの駆動クロツクより高
速にし、且つ前記２点間において計数クロツクの
周波数を1/2にする計数手段と、を設けたことを
特徴とするイメージセンサ上の光スポツト位置検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20152683A JPS6093904A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | イメ−ジセンサ上の光スポツト位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20152683A JPS6093904A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | イメ−ジセンサ上の光スポツト位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6093904A JPS6093904A (ja) | 1985-05-25 |
| JPH0575964B2 true JPH0575964B2 (ja) | 1993-10-21 |
Family
ID=16442502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20152683A Granted JPS6093904A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | イメ−ジセンサ上の光スポツト位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6093904A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62176704U (ja) * | 1986-04-28 | 1987-11-10 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852508A (ja) * | 1981-09-22 | 1983-03-28 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 形状測定装置 |
-
1983
- 1983-10-28 JP JP20152683A patent/JPS6093904A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852508A (ja) * | 1981-09-22 | 1983-03-28 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 形状測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6093904A (ja) | 1985-05-25 |
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