JPH0575826B2 - - Google Patents
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- JPH0575826B2 JPH0575826B2 JP62308980A JP30898087A JPH0575826B2 JP H0575826 B2 JPH0575826 B2 JP H0575826B2 JP 62308980 A JP62308980 A JP 62308980A JP 30898087 A JP30898087 A JP 30898087A JP H0575826 B2 JPH0575826 B2 JP H0575826B2
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- Japan
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- electron
- thin film
- magnetic field
- evaporated
- filament
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 21
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 11
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 13
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
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- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、電子銃を用いる薄膜製造装置の改
良に関する。
良に関する。
(従来の技術)
従来の電子銃を用いる薄膜製造装置では、多元
系の薄膜を成膜する場合、「単発の電子銃」、また
は、1個の電子銃に対して複数個のるつぼを配置
した「多連の電子銃」を、単一の真空処理室内に
複数個使用し、複数の被蒸発物を同時に蒸発させ
て基板表面に蒸発物を堆積させることが行なわれ
ている。
系の薄膜を成膜する場合、「単発の電子銃」、また
は、1個の電子銃に対して複数個のるつぼを配置
した「多連の電子銃」を、単一の真空処理室内に
複数個使用し、複数の被蒸発物を同時に蒸発させ
て基板表面に蒸発物を堆積させることが行なわれ
ている。
以下、上述した「単発、多連の電子銃」につい
て説明する。
て説明する。
「単発の電子銃」の概略を第5図(平面図)お
よび第6図(側断面図)に示す。真空処理室(図
示せず)内にてフイラメント電源5によつて加熱
されたフイラメント(電子源)3から放出された
電子は、加速電源6によりフイラメント3よりも
高電位にある加速電極4により加速されて電子ビ
ーム7となり、偏向磁場9により偏向され、冷却
基台2に載置されたるつぼ1内に収容される被蒸
発物の表面を衝撃してこれを加熱し蒸発させる。
よび第6図(側断面図)に示す。真空処理室(図
示せず)内にてフイラメント電源5によつて加熱
されたフイラメント(電子源)3から放出された
電子は、加速電源6によりフイラメント3よりも
高電位にある加速電極4により加速されて電子ビ
ーム7となり、偏向磁場9により偏向され、冷却
基台2に載置されたるつぼ1内に収容される被蒸
発物の表面を衝撃してこれを加熱し蒸発させる。
「多連の電子銃」は、第7図(平面図)および
第8図(側断面図)(符号は第5,6図と同じ)
にその概略を示したように、基本的な原理は「単
発の電子銃」と同様であるが、るつぼ1を複数個
(図では4個)円100上に配置した冷却基台2
が回転する機構を有しており、このうち任意のる
つぼを電子ビームの照射位置に移動できるように
なつている。
第8図(側断面図)(符号は第5,6図と同じ)
にその概略を示したように、基本的な原理は「単
発の電子銃」と同様であるが、るつぼ1を複数個
(図では4個)円100上に配置した冷却基台2
が回転する機構を有しており、このうち任意のる
つぼを電子ビームの照射位置に移動できるように
なつている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、前記のように、複数の被蒸発物
を同時に蒸発させ、多元系の薄膜を成膜しようと
して複数の電子銃を同じ真空処理室内で用いる場
合には、各々の電子銃の電子偏向用磁場9が互に
干渉し合つて、各電子ビーム7がそれぞれのるつ
ぼの中心を照射しなくなり、また電子ビームに歪
が生じてビーム収束性が悪くなるといつた問題が
生じる。
を同時に蒸発させ、多元系の薄膜を成膜しようと
して複数の電子銃を同じ真空処理室内で用いる場
合には、各々の電子銃の電子偏向用磁場9が互に
干渉し合つて、各電子ビーム7がそれぞれのるつ
ぼの中心を照射しなくなり、また電子ビームに歪
が生じてビーム収束性が悪くなるといつた問題が
生じる。
この磁場の相互干渉を低減するためには、電子
銃の配置の間隔をある程度広くとらなければなら
ない。第9図(平面図)には「単発の電子銃」3
個を回転対称形に配置したときの概略図を、また
第10図にはそのときの半径(R、中心からフイ
ラメントまでの距離)と磁場Bとの関係の一例を
示した。磁場Bは、フイラメント3の位置におけ
るフイラメントを通る円200の接線方向の磁場
である。
銃の配置の間隔をある程度広くとらなければなら
ない。第9図(平面図)には「単発の電子銃」3
個を回転対称形に配置したときの概略図を、また
第10図にはそのときの半径(R、中心からフイ
ラメントまでの距離)と磁場Bとの関係の一例を
示した。磁場Bは、フイラメント3の位置におけ
るフイラメントを通る円200の接線方向の磁場
である。
第10図によると、R≦60mmでは、他の電子銃
との相互磁場干渉により電子ビーム軌道上の磁界
が乱れるために、電子銃の正常な動作が行えなく
なる恐れがあり、少なくともR>60mmにする必要
がある。
との相互磁場干渉により電子ビーム軌道上の磁界
が乱れるために、電子銃の正常な動作が行えなく
なる恐れがあり、少なくともR>60mmにする必要
がある。
このように複数の電子銃を用いる場合は、電子
銃の間隔をある程度広くとらなければならない
が、蒸発した蒸気の蒸気圧の分布は、一般にいわ
ゆる余弦則(Cosn+1θ、nは整数、θはるつぼの
中心軸と蒸発方向のなす角)で近似される鋭角形
状のものであるため、電子銃の間隔をある程度広
くとることは、均一な堆積薄膜の膜厚分布の獲得
を非常に困難にし、また装置自体の大型化といつ
た不都合を招いていた。
銃の間隔をある程度広くとらなければならない
が、蒸発した蒸気の蒸気圧の分布は、一般にいわ
ゆる余弦則(Cosn+1θ、nは整数、θはるつぼの
中心軸と蒸発方向のなす角)で近似される鋭角形
状のものであるため、電子銃の間隔をある程度広
くとることは、均一な堆積薄膜の膜厚分布の獲得
を非常に困難にし、また装置自体の大型化といつ
た不都合を招いていた。
(発明の目的)
本発明は上記の問題を解決し、限られたスペー
ス内で複数の蒸発源を用い、複数の被蒸発物を同
時に蒸発させて基板表面に堆積させる多元系薄膜
の成膜において、電子偏向用磁場の相互干渉をな
くし、良好な堆積薄膜の膜厚分布を得ることので
きる薄膜製造装置の提供を目的とする。
ス内で複数の蒸発源を用い、複数の被蒸発物を同
時に蒸発させて基板表面に堆積させる多元系薄膜
の成膜において、電子偏向用磁場の相互干渉をな
くし、良好な堆積薄膜の膜厚分布を得ることので
きる薄膜製造装置の提供を目的とする。
(問題を解決するための手段)
本発明は、電子銃で生成された電子を加速し、
これを磁場で偏向させて被蒸発物を照射し、該被
蒸発物を加熱、蒸発させる電子銃を備え、該被蒸
発物に対向設置された所定の基板表面に薄膜を堆
積させる薄膜製造装置において、電子偏向のため
の磁場が円環状磁気回路を形成するとともにその
円環状磁気回路は磁場が形成される複数の空〓部
分を有し、るつぼ及びフイラメントの組がその複
数の空〓部分の各々の直下の位置に配置されて複
数具備されている薄膜製造装置によつて前記目的
を達成したものである。
これを磁場で偏向させて被蒸発物を照射し、該被
蒸発物を加熱、蒸発させる電子銃を備え、該被蒸
発物に対向設置された所定の基板表面に薄膜を堆
積させる薄膜製造装置において、電子偏向のため
の磁場が円環状磁気回路を形成するとともにその
円環状磁気回路は磁場が形成される複数の空〓部
分を有し、るつぼ及びフイラメントの組がその複
数の空〓部分の各々の直下の位置に配置されて複
数具備されている薄膜製造装置によつて前記目的
を達成したものである。
(作用)
上記のように円環状磁気回路を利用することに
より、磁場の相互干渉を起こすことなく、蒸発源
を近接して配置することができるので、従来の装
置と比較して装置全体を極めて小型化することが
でき、良好な堆積薄膜の膜厚分布を得ることが可
能となる。
より、磁場の相互干渉を起こすことなく、蒸発源
を近接して配置することができるので、従来の装
置と比較して装置全体を極めて小型化することが
でき、良好な堆積薄膜の膜厚分布を得ることが可
能となる。
(実施例)
以下、本発明の薄膜製造装置の実施例を図面を
参照しながら説明する。
参照しながら説明する。
第1図は本発明の実施例の薄膜製造装置の概略
の構成を示す平面図である。11〜14は被蒸発
物を収容したるつぼ、21〜24はるつぼ11〜
14を配置した冷却基台、31〜34は電子源で
あるフイラメント、81〜84はフイラメント3
1〜34から発生した電子ビームを偏向させる水
冷された偏向用磁石である。(水冷機構は省略)。
の構成を示す平面図である。11〜14は被蒸発
物を収容したるつぼ、21〜24はるつぼ11〜
14を配置した冷却基台、31〜34は電子源で
あるフイラメント、81〜84はフイラメント3
1〜34から発生した電子ビームを偏向させる水
冷された偏向用磁石である。(水冷機構は省略)。
この偏向用磁石には、永久磁石または有芯の電
磁コイル81〜84が用いられ、磁場91〜94
とともに、円環状磁気回路を構成している。即
ち、永久磁石又は電磁コイル81〜84は、円を
四分割した円弧のように屈曲した形状を有し、そ
の各々の端面を向かい合わせて略円状に配置され
て、円環状磁気回路を形成している。永久磁石又
は電磁コイル81〜84の各々の端面は空〓部分
を形成して向かい合つており、それら空〓部分に
磁場91〜94が形成されている。第2図は、第
1図を矢印Aから見た概略の部分図であつて、4
4はフイラメント34から発した電子を加速する
加速電極である。第1図及び第2図から明かなよ
うに、るつぼ14とフイラメント34は、磁場9
4が形成される空〓部分の直下の位置に配置され
ている。このような位置関係は、磁場91が形成
される空〓部分の直下の位置のるつぼ11とフイ
ラメント31の組、磁場92の空〓部分の直下の
るつぼ12とフイラメント32の組、磁場93の
空〓部分の直下のるつぼ13とフイラメント33
の組でも同様であり、四つの組が四つの空〓部分
の各々の直下の位置に配置されている。
磁コイル81〜84が用いられ、磁場91〜94
とともに、円環状磁気回路を構成している。即
ち、永久磁石又は電磁コイル81〜84は、円を
四分割した円弧のように屈曲した形状を有し、そ
の各々の端面を向かい合わせて略円状に配置され
て、円環状磁気回路を形成している。永久磁石又
は電磁コイル81〜84の各々の端面は空〓部分
を形成して向かい合つており、それら空〓部分に
磁場91〜94が形成されている。第2図は、第
1図を矢印Aから見た概略の部分図であつて、4
4はフイラメント34から発した電子を加速する
加速電極である。第1図及び第2図から明かなよ
うに、るつぼ14とフイラメント34は、磁場9
4が形成される空〓部分の直下の位置に配置され
ている。このような位置関係は、磁場91が形成
される空〓部分の直下の位置のるつぼ11とフイ
ラメント31の組、磁場92の空〓部分の直下の
るつぼ12とフイラメント32の組、磁場93の
空〓部分の直下のるつぼ13とフイラメント33
の組でも同様であり、四つの組が四つの空〓部分
の各々の直下の位置に配置されている。
各電子銃にて被蒸発物を電子ビームが衝撃し、
加熱し蒸発させる動作は、前記した従来の装置の
電子銃と同様である。
加熱し蒸発させる動作は、前記した従来の装置の
電子銃と同様である。
第1図には、フイラメントと電子の加速系を磁
場の外周に配置した構成を示しているが、磁場の
極性を図と逆にして、フイラメントと電子の加速
系を磁場の内周に配置する構成を採用することも
できる。
場の外周に配置した構成を示しているが、磁場の
極性を図と逆にして、フイラメントと電子の加速
系を磁場の内周に配置する構成を採用することも
できる。
偏向用磁石81〜84としては、その全体が磁
石であるものを用いてもよいが、電子ビーム加熱
の輻射熱による磁性の劣化を考慮すると、第3図
に示すような磁石810〜840(永久磁石また
は電磁石)、とポールピース811,812〜8
41,842で構成される偏向用磁石組立を用い
た方がよい。またその方が、例えば第4図に示す
ように、ポールピースの形を屈曲させるなどし
て、偏向用磁石全体の形状を所望通りにできて都
合がよい。
石であるものを用いてもよいが、電子ビーム加熱
の輻射熱による磁性の劣化を考慮すると、第3図
に示すような磁石810〜840(永久磁石また
は電磁石)、とポールピース811,812〜8
41,842で構成される偏向用磁石組立を用い
た方がよい。またその方が、例えば第4図に示す
ように、ポールピースの形を屈曲させるなどし
て、偏向用磁石全体の形状を所望通りにできて都
合がよい。
フイラメントから放出された電子ビームを偏向
させるための偏向用磁石を、図のように円環状に
めぐらせ、直下にるつぼを配置する磁石の空〓部
分をるつぼの直径程度にまで狭くすることで、各
電子偏向部分の磁場の相互干渉はなくなる。円環
状磁気回路の径を小さくして複数の蒸発源を近接
させることで全体をコンパクトに設計でき、小型
の装置の実現が可能となる。
させるための偏向用磁石を、図のように円環状に
めぐらせ、直下にるつぼを配置する磁石の空〓部
分をるつぼの直径程度にまで狭くすることで、各
電子偏向部分の磁場の相互干渉はなくなる。円環
状磁気回路の径を小さくして複数の蒸発源を近接
させることで全体をコンパクトに設計でき、小型
の装置の実現が可能となる。
一般に蒸発した蒸気の蒸気圧分布は前記した余
弦則で近似される鋭角形状のものであるため、均
一な膜厚分布を得るためには、蒸発源はできるだ
け基板中心の直下に設置することが望ましい。
弦則で近似される鋭角形状のものであるため、均
一な膜厚分布を得るためには、蒸発源はできるだ
け基板中心の直下に設置することが望ましい。
本発明の装置では円環状磁気回路の径を小さく
して複数の蒸発源を近接設置できるため、それが
可能となり、基板表面に良好な膜厚分布を実現で
き、組成を制御された多元系膜の成膜が容易とな
る。
して複数の蒸発源を近接設置できるため、それが
可能となり、基板表面に良好な膜厚分布を実現で
き、組成を制御された多元系膜の成膜が容易とな
る。
更に、成膜プロセスの連続化、多層膜化に対応
して、これからますます要求が激しくなると予想
される。連続蒸着中に必要となる被蒸発物の材料
補給、および材料交換の度に真空処理室を大気圧
に戻してるつぼを交換するという作業を省略で
き、連続蒸着および多層膜蒸着も容易に行なうこ
とが可能である。
して、これからますます要求が激しくなると予想
される。連続蒸着中に必要となる被蒸発物の材料
補給、および材料交換の度に真空処理室を大気圧
に戻してるつぼを交換するという作業を省略で
き、連続蒸着および多層膜蒸着も容易に行なうこ
とが可能である。
(発明の効果)
本発明は、限られたスペース内で複数の蒸発源
を用い、複数の被蒸発物を同時に蒸発させて基板
表面に堆積させる多元系薄膜の成膜において、 電子偏向磁場の相互干渉を低減し、良好な堆積
薄膜の膜厚分布を得ることのできる薄膜製造装置
が提供できる効果がある。
を用い、複数の被蒸発物を同時に蒸発させて基板
表面に堆積させる多元系薄膜の成膜において、 電子偏向磁場の相互干渉を低減し、良好な堆積
薄膜の膜厚分布を得ることのできる薄膜製造装置
が提供できる効果がある。
第1図は、本発明の実施例における薄膜製造装
置の蒸発源の構成を示す概略の平面図。第2図
は、第1図を矢印Aから見た部分平面図。第3図
は、磁石とポールピースからなる偏向用磁石の平
面図。第4図は、磁石とポールピースからなる偏
向用磁石の一例の正面図。第5図は、従来の「単
発の電子銃」の平面図。第6図は、その正面断面
図。第7図は、従来の「多連の電子銃」の平面
図。第8図は、その正面断面図。第9図は、「単
発の電子銃」3個を同一円周上に配置したものの
概略の平面図。第10図は、「単発の電子銃」の
複数個を第9図のように配置したときの半径Rと
磁場Bとの関係を示したグラフである。 1,11〜14……るつぼ、2,21〜24…
…冷却基台、3,31〜34……フイラメント、
4,44……加速電極、5……フイラメント電
源、6……加速電源、7……電子ビーム、8……
偏向用磁石、9,91〜94……偏向用磁場、8
10〜840……磁石、811,812〜84
1,842……ポールピース。
置の蒸発源の構成を示す概略の平面図。第2図
は、第1図を矢印Aから見た部分平面図。第3図
は、磁石とポールピースからなる偏向用磁石の平
面図。第4図は、磁石とポールピースからなる偏
向用磁石の一例の正面図。第5図は、従来の「単
発の電子銃」の平面図。第6図は、その正面断面
図。第7図は、従来の「多連の電子銃」の平面
図。第8図は、その正面断面図。第9図は、「単
発の電子銃」3個を同一円周上に配置したものの
概略の平面図。第10図は、「単発の電子銃」の
複数個を第9図のように配置したときの半径Rと
磁場Bとの関係を示したグラフである。 1,11〜14……るつぼ、2,21〜24…
…冷却基台、3,31〜34……フイラメント、
4,44……加速電極、5……フイラメント電
源、6……加速電源、7……電子ビーム、8……
偏向用磁石、9,91〜94……偏向用磁場、8
10〜840……磁石、811,812〜84
1,842……ポールピース。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 内部が排気可能な真空処理室内にて、電子源
で生成された電子を加速し、これを磁場で偏向さ
せて被蒸発物を照射し、該被蒸発物を加熱、蒸発
させる電子銃を備え、該被蒸発物に対向設置され
た所定の基板表面に薄膜を堆積させる薄膜製造装
置において、 電子偏向のための磁場が円環状磁気回路を形成
するとともにその円環状磁気回路は磁場が形成さ
れる複数の空〓部分を有し、るつぼ及びフイラメ
ントの組がその複数の空〓部分の各々の直下の位
置に配置されて複数具備されていることを特徴と
する薄膜製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30898087A JPH01149955A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 薄膜製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30898087A JPH01149955A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 薄膜製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01149955A JPH01149955A (ja) | 1989-06-13 |
JPH0575826B2 true JPH0575826B2 (ja) | 1993-10-21 |
Family
ID=17987515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30898087A Granted JPH01149955A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 薄膜製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01149955A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0762240B2 (ja) * | 1989-08-02 | 1995-07-05 | 日電アネルバ株式会社 | 電子ビーム蒸着用電子銃 |
JP4777947B2 (ja) * | 2007-08-06 | 2011-09-21 | 株式会社ワイ・ジー・ケー | 仕掛け用ハリスとこれを用いた釣り用仕掛け |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60181366U (ja) * | 1984-05-09 | 1985-12-02 | 日本電子株式会社 | 複数の電子ビ−ムにより材料を加熱する装置 |
-
1987
- 1987-12-07 JP JP30898087A patent/JPH01149955A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01149955A (ja) | 1989-06-13 |
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