JPH0575670U - デジタルオシロスコープ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】デジタルオシロスコープに関し、その目的は、
サンプルクロック周波数を観測波形の繰り返し周波数に
応じて任意に設定できるようにし、観測波形を高精度で
再生できるデジタルオシロスコープを実現することにあ
る。 【構成】観測波形をＡ／Ｄ変換部でデジタル信号に変換
して波形表示するデジタルオシロスコープにおいて、前
記観測波形の繰り返し周波数を測定する周波数測定部
と、該周波数測定部の測定結果に従って出力周波数が観
測波形の繰り返し周波数の整数分の１倍に設定されるサ
ンプルクロックを前記Ａ／Ｄ変換部に出力する周波数可
変クロック発生部とを設けたことを特徴とする。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案はデジタルオシロスコープに関し、更に詳しくは、サンプルクロック系 統の改善に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来のデジタルオシロスコープにおけるサンプルクロック系統は基準周波数発 生器と分周器とで構成されていて、選択できる周波数は100MHz,50MHz,20MHz,10M Hz，…など最高サンプルクロック周波数の整数分の１のみである。

【０００３】 ところで、このようなデジタルオシロスコープの応用例として、デジタルオシ ロスコープで測定された波形データを任意波形発生器に入力して測定波形を再生 する方法がある。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、従来のデジタルオシロスコープで観測した波形は、必ずしもサ ンプルクロック周波数の整数分の１倍になるとは限らない。

【０００５】 この結果、例えば図４のように本当の波形Ａと再生波形Ｂの間にズレＣを生じ てしまい、特に基本波成分のスペクトラムを精度よく再現できないという問題が ある。

【０００６】 このような波形相互間のズレＣは、例えばリサンプリングにより波形演算処理 することができるが、膨大な計算時間が必要になり、現実的ではない。

【０００７】 本考案は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、サン プルクロック周波数を観測波形の繰り返し周波数に応じて任意に設定できるよう にし、観測波形を高精度で再生できるデジタルオシロスコープを実現することに ある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

本考案のデジタルオシロスコープは、 観測波形をＡ／Ｄ変換部でデジタル信号に変換して波形表示するデジタルオシ ロスコープにおいて、 前記観測波形の繰り返し周波数を測定する周波数測定部と、 該周波数測定部の測定結果に従って出力周波数が観測波形の繰り返し周波数の 整数分の１倍に設定されるサンプルクロックを前記Ａ／Ｄ変換部に出力する周波 数可変クロック発生部、 とを設けたことを特徴とする。

【０００９】

【作用】

Ａ／Ｄ変換部は出力周波数が観測波形の繰り返し周波数の整数分の１倍に設定 されたサンプルクロックに従って観測波形をデジタル信号に変換する。

【００１０】 これにより、デジタルオシロスコープで測定された波形データを任意波形発生 器に入力して測定波形を再生する場合にも、観測波形の基本波成分のスペクトラ ムを精度よく再現できる。

【００１１】

【実施例】

以下、図面を参照して、本考案の実施例を詳細に説明する。

【００１２】 図１は本考案の一実施例を示すブロック図である。図において、１は観測波形 ＩＮが入力される入力端子であり、アッテネータやアンプで構成されるアナログ 部２を介してＡ／Ｄ変換部３及び周波数測定部４に接続されている。Ａ／Ｄ変換 部３の出力端子はアクイジションメモリ５に接続され、該アクイジションメモリ ５の出力端子は表示部６の入力端子に接続されている。周波数測定部４の出力端 子は周波数可変クロック発生部７に接続され、該周波数可変クロック発生部７の 出力端子はＡ／Ｄ変換部３及びアクイジションメモリ５のクロック端子に接続さ れている。

【００１３】 このような構成において、周波数測定部４は観測波形ＩＮの周波数を測定し、 測定結果を周波数可変クロック発生部７に出力する。なお、周波数測定部４とし は例えばカウンタを用いる。周波数可変クロック発生部７は観測波形ＩＮの周波 数の測定結果に基づいて出力クロック周波数を観測波形ＩＮの周波数の整数分の １倍に設定する。なお、周波数可変クロック発生部７としては設定周波数が５〜 １０桁程度のシンセサイザ方式のクロック発生器を用いる。シンセサイザ方式の クロック発生器には、 間接合成方式 直接合成方式 直接デジタル合成方式（ＤＤＳ） 等の各種の方式があるが、コスト的にはＤＤＳ方式が有利である。

【００１４】 図２は上述の処理の流れを示すフローチャートである。まず、固定のクロック 周波数で観測波形ＩＮを測定し（ステップ）、周波数測定部４により観測波形 ＩＮの周波数を測定する（ステップ）。該周波数測定結果に従って周波数可変 クロック発生部７の出力クロック周波数を観測波形ＩＮの周波数の整数分の１倍 に設定する（ステップ）。その後、観測波形ＩＮの周波数の整数分の１倍に設 定された出力クロック周波数で再度観測波形ＩＮを測定する（ステップ）。そ して、該ステップ４での観測波形データを例えば任意波形発生器に入力して観測 波形ＩＮを再生する（ステップ）。

【００１５】 このような構成により得られる測定波形データは、サンプルクロック周波数が 観測波形ＩＮの周波数の整数分の１倍に設定された状態でのものなので、該観測 波形データを任意波形発生器に入力することにより観測波形ＩＮを高精度で再生 できる。

【００１６】 なお、上述の実施例では周波数測定部４を別途設ける例を示しているが、固定 クロック周波数での波形データに基づいて計算処理で求めるようにしてもよい。

【００１７】

【考案の効果】

以上詳細に説明したように、本考案によれば、以下のような効果が得られる。

【００１８】 比較的簡単な回路構成でサンプルクロック周波数を観測波形ＩＮの周波数の整 数分の１倍という最適な値に設定できる。これにより、測定データを用いて観測 波形ＩＮを再生した場合に、観測波形ＩＮと再生波形のスペクトラム（特に基本 波成分）のズレを生じることがない。

【００１９】 また、リサンプリング等の膨大な計算時間が省略でき、高速測定が行える。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示すブロック図である。

【図２】図１の処理の流れのフローチャートである。

【図３】従来の装置での観測波形と再生波形の比較図で
ある。

【符号の説明】

１ 入力端子 ２ アナログ部 ３ Ａ／Ｄ変換部 ４ 周波数測定部 ５ アクイジションメモリ ６ 表示部 ７ 周波数可変クロック発生部

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 観測波形をＡ／Ｄ変換部でデジタル信号
   に変換して波形表示するデジタルオシロスコープにおい
   て、 前記観測波形の繰り返し周波数を測定する周波数測定部
   と、 該周波数測定部の測定結果に従って出力周波数が観測波
   形の繰り返し周波数の整数分の１倍に設定されるサンプ
   ルクロックを前記Ａ／Ｄ変換部に出力する周波数可変ク
   ロック発生部、 とを設けたことを特徴とするデジタルオシロスコープ。