JPS5819491Y2 - サンプリングパルスハツセイキ - Google Patents

サンプリングパルスハツセイキ

Info

Publication number
JPS5819491Y2
JPS5819491Y2 JP1973039512U JP3951273U JPS5819491Y2 JP S5819491 Y2 JPS5819491 Y2 JP S5819491Y2 JP 1973039512 U JP1973039512 U JP 1973039512U JP 3951273 U JP3951273 U JP 3951273U JP S5819491 Y2 JPS5819491 Y2 JP S5819491Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
waveform
sampling pulse
voltage
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1973039512U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS49141874U (ja
Inventor
庄一郎 橋詰
昌幸 石原
Original Assignee
ボウエイチヨウギジユツケンキユウホンブチヨウ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ボウエイチヨウギジユツケンキユウホンブチヨウ filed Critical ボウエイチヨウギジユツケンキユウホンブチヨウ
Priority to JP1973039512U priority Critical patent/JPS5819491Y2/ja
Publication of JPS49141874U publication Critical patent/JPS49141874U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS5819491Y2 publication Critical patent/JPS5819491Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Feedback Control In General (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、雷雲観測波形の如きゆるやかな波形を処理す
るためのサンプリングパルス発生器に関する。
従来、観測波形を処理するサンプリングパルス発生器で
はサンプリング時間が一定なしかも変化の早い波形処理
のためのものや波形のピーク値のみを検出しうるものが
あるが、雷雲観測波形の如きゆるやかな波形を処理する
ためには適当でなかった。
本考案は雷雲観測波形のようなゆるやかな波形の特徴を
十分に把握するサンプリングを行なうために、1/2乗
器の如き関数発生器を用い、第1段階のサンプリングレ
ートを決定し、ついで、前記関数発生器の出力電圧をV
/Fコンバタ−を用いて周波数に変換してパルス化し、
第2段階のサンプリングレートを決定し、ついで分周器
によりサンプリングパルスを分周しサンプリング時間を
任意に延長して長時間にわたるゆるやかな波形処理を可
能にしかつ観測波形の変動にサンプリング時間を変化せ
しめうるサンプリングパルス発生器を提供するものであ
る。
以下図面に基づき本考案を説明する。
第1図は、本考案にかかるサンプリングパルス発生器を
示すブロック図である。
電場計1の出力インピーダンスは、増幅器2でインピー
ダンス変換され、(雷雲観測用のた場計の出力インピー
ダンスな1012Q程度である。
)ついで、増幅器4で増幅されテ゛シタルボトルメータ
6に送られる。
一方スイッチ5を較正(CAL)側に倒し、電圧較正用
ポテンションメーター3で増幅器4の出力を較正したの
ち、スイッチ5を正常(NORM)側に倒せば、出力は
緩衝器7〜増幅器13の直流電圧処理部に送られる。
すなわち、観測波形の全波整流を行なう絶対値回路8で
観測波形直流電圧の絶対値を取り、これが1/2乗器1
1に送られ、ここで1/2乗特性曲線(1/2乗器の入
力電圧e、と出力電圧e。
との関係はe。
=+10 み+/100> e+> l0V)最適
位置をポテンションメーター9によって決定し、第1段
階のサンプリングレートが決められる。
次に、入力電圧E+に対する出力周波数fがほぼf =
10 K Hz X E +/10 テ表わされるv
/Fコンバータ14に、ポテンションメータ12でレベ
ル調整し、増幅器13を通って入力せしめると、第2段
階のサンプリングレートが決められる。
これらの第1及び第2段階のサンプリングレート決定は
観測値を忠実に再現するために必要である。
V/Fコンバータ14に続いて分局器15が配置され、
ここでサンプリングパルスが分周される。
この分周により、サンプリング時間を任意に延ばすこと
が、ゆるやかな波形処理を可能ならしめている。
雷雲の典形的な波形は第3図に示すようにW型でその中
央の山がおよそ2倍の高さに突き出ており、はは゛1時
間にわたってWの字を描く。
このとき、分周器は1/10に分周するもの4個、1/
6に分周するもの1個を用いる。
この場合のサンプリングレートは第2図に示される。
16はモノステーブルマルチバイブレータで、サンプリ
ングパルスの電圧、パルス幅を調整し、出力インピーダ
ンスを低くするトランジスターロジック集積回路を構成
する。
以上のように、本考案に係るサンプリングパルス発生器
は市販品の集積回路から構成されているので、コンピュ
ーター等を利用する場合と比較して、軽易でかつ安価に
製造され、しかも考案所期の目的を充分達成しうるもの
であるから極めて有用な考案といいうるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るサンプリングパルス発生器の実施
例を示すブロック図、第2図は雷雲観測波形におけるサ
ンプリングレート、第3図は雷雲観測波形のサンプリン
グ実施例を示す。 1・・・・・・電場針、2,4,10.13・・・・・
・増幅器、3,9.12・・・・・・ポテンションメー
タ、5・・・・・・スイッチ、6・・・・・・テ゛ジタ
ルボルトメーター、7・・・・・・緩衝器、8・・・・
・・絶縁値回路、11・・・・・・1/2乗器、14・
・・・・・V/Fコンバータ、15・・・・・・分周器
、16・・・・・・モノステーブルマルチバルブレータ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 観測波形の全波整流を行なう絶対値回路と、該波形の直
    流電圧が印加され第1段階のサンプリングレートを決定
    するための1/2乗特性曲線をうる関数発生器と、前記
    関数発生器の出力電圧をパルス化し第2段階のサンプリ
    ングレートを決定するV/Fコンバータと、サンプリン
    グパルスを分周しサンプリング時間を制御する分周器と
    の組合せからなり、観測波形に応じて自動的にサンプリ
    ング時間を変化上しめうるゆるやかな波形処理のための
    サンプリングパルス発生器。
JP1973039512U 1973-03-31 1973-03-31 サンプリングパルスハツセイキ Expired JPS5819491Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1973039512U JPS5819491Y2 (ja) 1973-03-31 1973-03-31 サンプリングパルスハツセイキ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1973039512U JPS5819491Y2 (ja) 1973-03-31 1973-03-31 サンプリングパルスハツセイキ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS49141874U JPS49141874U (ja) 1974-12-06
JPS5819491Y2 true JPS5819491Y2 (ja) 1983-04-21

Family

ID=28163469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1973039512U Expired JPS5819491Y2 (ja) 1973-03-31 1973-03-31 サンプリングパルスハツセイキ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5819491Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS49141874U (ja) 1974-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4975634A (en) Jitter measurement device
CA1101081A (en) Sample and hold frequency to voltage converter circuit
RU2007109891A (ru) Электронное устройство и его использование в биорезонансной фунциональной медицине
CA1078214A (en) Viscosimeter and/or densitometer
JPS5819491Y2 (ja) サンプリングパルスハツセイキ
JPH0633427Y2 (ja) ジッタ測定装置
JP3284145B2 (ja) Pll同期式測定装置
JPS5769237A (en) Temperature and humidity sensing device
JPH0249573Y2 (ja)
SU661381A2 (ru) Датчик частоты
JP2585007B2 (ja) 電気部品測定装置
JP3314843B2 (ja) 交流測定装置
JPS6134474A (ja) ヒステリシス幅の試験方法
SU679892A1 (ru) Измеритель флуктуации периода и фазы электрических колебаний
JPS6027965Y2 (ja) メ−タ駆動回路
JPH062343Y2 (ja) 周波数測定用波形整形回路
SU386344A1 (ja)
JPH0348540Y2 (ja)
JPS62247742A (ja) 誘導電動機のすべり測定装置
SU808972A1 (ru) Устройство дл измерени частотнойХАРАКТЕРиСТиКи МОдул ВХОдНОгОСОпРОТиВлЕНи РАСпРЕдЕлиТЕльНОйСЕТи пОд НАпР жЕНиЕМ
SU1166146A1 (ru) Логарифмический преобразователь
JPH0746126B2 (ja) アナログコンパレ−タの特性測定方法
JPH0434847B2 (ja)
JPH03104871U (ja)
JPH07110349A (ja) 位相角測定装置