JPH0633427Y2 - ジッタ測定装置 - Google Patents
ジッタ測定装置Info
- Publication number
- JPH0633427Y2 JPH0633427Y2 JP1988093163U JP9316388U JPH0633427Y2 JP H0633427 Y2 JPH0633427 Y2 JP H0633427Y2 JP 1988093163 U JP1988093163 U JP 1988093163U JP 9316388 U JP9316388 U JP 9316388U JP H0633427 Y2 JPH0633427 Y2 JP H0633427Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- pulse width
- conversion unit
- under measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この考案は、周期信号の周期のゆらぎであるジッタを測
定するジッタ測定装置に関するものである。
定するジッタ測定装置に関するものである。
〈従来技術〉 高速PCM通信や光通信等では周期のゆらぎ、すなわちジ
ッタの少ない信号源が必要であるため高純度信号発生器
が使用されており、この高純度信号発生器の機能をチェ
ックするためにそのジッタを測定することは重要な課題
である。
ッタの少ない信号源が必要であるため高純度信号発生器
が使用されており、この高純度信号発生器の機能をチェ
ックするためにそのジッタを測定することは重要な課題
である。
ジッタは信号の周期を測定し、その周期のゆらぎを求め
ることによって測定できる。周期は被測定信号の１周期
間クロックをカウントする等によって測定する方法が通
常用いられている。
ることによって測定できる。周期は被測定信号の１周期
間クロックをカウントする等によって測定する方法が通
常用いられている。
また、信号の純度を測定するには通常のSSB位相雑音を
測定し、周波数軸上で評価を行うことも行われている。
この場合、直接にジッタを求めることは出来ず、SSB位
相雑音から数値計数を行って間接的に求めている。
測定し、周波数軸上で評価を行うことも行われている。
この場合、直接にジッタを求めることは出来ず、SSB位
相雑音から数値計数を行って間接的に求めている。
〈考案が解決すべき課題〉 しかしながら、クロックをカウントして周期を求める装
置では高速の被測定信号を測定する場合に分解能を高め
ることが困難であり、またSSB位相雑音からジッタを求
める手段は間接測定であり、振幅性雑音等の影響を受け
やすいために高精度で測定することが出来ないという課
題があった。
置では高速の被測定信号を測定する場合に分解能を高め
ることが困難であり、またSSB位相雑音からジッタを求
める手段は間接測定であり、振幅性雑音等の影響を受け
やすいために高精度で測定することが出来ないという課
題があった。
〈考案の目的〉 この考案の目的は、高精度かつ高速にジッタを測定する
ことが出来るジッタ測定装置を提供することにある。
ことが出来るジッタ測定装置を提供することにある。
〈課題を解決する為の手段〉 前記課題を解決するために本考案では、被測定信号が入
力されこの被測定信号をその周期に関連するパルス幅を
有する信号に変換する信号変換部と、この信号変換部の
出力が入力されそのパルス幅に比例する電圧信号に変換
するパルス幅電圧変換部と、このパルス幅電圧変換部の
出力をデジタル信号に変換するAD変換部と、このAD変換
部の出力を順次時系列的に格納する記憶部と、この記憶
部に格納されたデータを読み出し、平均値や最大値、最
小値、標準偏差あるいは被測定信号の周期のばらつきを
求める機能を有する処理回路と、この処理回路の出力を
画面に表示する表示部を備えたことを特徴とする。
力されこの被測定信号をその周期に関連するパルス幅を
有する信号に変換する信号変換部と、この信号変換部の
出力が入力されそのパルス幅に比例する電圧信号に変換
するパルス幅電圧変換部と、このパルス幅電圧変換部の
出力をデジタル信号に変換するAD変換部と、このAD変換
部の出力を順次時系列的に格納する記憶部と、この記憶
部に格納されたデータを読み出し、平均値や最大値、最
小値、標準偏差あるいは被測定信号の周期のばらつきを
求める機能を有する処理回路と、この処理回路の出力を
画面に表示する表示部を備えたことを特徴とする。
〈実施例〉 第１図に本考案に係るジッタ測定装置の一実施例を示
す。第１図において、10は入力部であり、被測定信号が
入力され、この信号を矩形波信号に変換する。11は信号
変換部であり、矩形波信号に変換された被測定信号が入
力されて、この矩形波信号の１周期の幅を有するパルス
信号を出力する。12はパルス幅電圧変換部であり、信号
変換部11の出力が入力され、このパルス幅に比例する電
圧信号を出力する。13はAD変換部であり、パルス幅電圧
変換部12の出力が入力され、その電圧信号をデジタル信
号に変換する。14は記憶部であり、AD変換部13により変
換されたデジタル信号を順に格納する。15は処理回路で
あり、通常マイクロプロセッサが使用され、記憶部14に
格納されたデジタル信号を読みだし、そのばらつき等を
演算する。このばらつきはヒストグラム等により表示部
16で表示される。
す。第１図において、10は入力部であり、被測定信号が
入力され、この信号を矩形波信号に変換する。11は信号
変換部であり、矩形波信号に変換された被測定信号が入
力されて、この矩形波信号の１周期の幅を有するパルス
信号を出力する。12はパルス幅電圧変換部であり、信号
変換部11の出力が入力され、このパルス幅に比例する電
圧信号を出力する。13はAD変換部であり、パルス幅電圧
変換部12の出力が入力され、その電圧信号をデジタル信
号に変換する。14は記憶部であり、AD変換部13により変
換されたデジタル信号を順に格納する。15は処理回路で
あり、通常マイクロプロセッサが使用され、記憶部14に
格納されたデジタル信号を読みだし、そのばらつき等を
演算する。このばらつきはヒストグラム等により表示部
16で表示される。
次に、第２図タイムチャートを用いてこの実施例の動作
を説明する。第２図（Ａ）は被測定信号であり、この被
測定信号は入力部10で（Ｂ）のように矩形波に変換され
る。この矩形波は信号変換部11に入力されて、（Ｃ）に
示すようにその周期の幅Ｔw1〜Ｔwnを有するパルス信号
に変換される。このパルス信号は被測定信号よりも遅い
周期で繰り返される。信号変換部11の出力はパルス幅電
圧変換部12に入力される。パルス幅電圧変換部は信号変
換部11の出力パルス幅の時間だけ一定電流を積分する。
その為、（Ｄ）に示すようにその出力は一定割合で減少
し、信号変換部11のパルスの終端においてパルス幅に比
例する電圧Ｖ１〜Ｖｎが得られる。この電圧は所定時間
保持される。AD変換部13はこの保持された電圧をデジタ
ル信号に変換して、順に記憶部14に格納する。
を説明する。第２図（Ａ）は被測定信号であり、この被
測定信号は入力部10で（Ｂ）のように矩形波に変換され
る。この矩形波は信号変換部11に入力されて、（Ｃ）に
示すようにその周期の幅Ｔw1〜Ｔwnを有するパルス信号
に変換される。このパルス信号は被測定信号よりも遅い
周期で繰り返される。信号変換部11の出力はパルス幅電
圧変換部12に入力される。パルス幅電圧変換部は信号変
換部11の出力パルス幅の時間だけ一定電流を積分する。
その為、（Ｄ）に示すようにその出力は一定割合で減少
し、信号変換部11のパルスの終端においてパルス幅に比
例する電圧Ｖ１〜Ｖｎが得られる。この電圧は所定時間
保持される。AD変換部13はこの保持された電圧をデジタ
ル信号に変換して、順に記憶部14に格納する。
第３図に信号変換部の一例を示す。（Ａ）は回路構成で
あり、17〜20はＤ型フリップフロップであり、互いに直
列に接続されている。21はANDゲートであり、フリップ
フロップ19の出力Ｑとフリップフロップ20の反転出力
が入力される。また、フリップフロップ17のデータ端子
Ｄは高レベルにされ、クロック端子にはスタート信号ST
が印加される。フリップフロップ18〜20のクロック端子
には入力部10の出力Ｓが、フリップフロップ17〜20のリ
セット端子Ｒにはリセット信号RSTが入力される。
（Ｂ）に動作を表わすタイムチャートを示す。（Ａ）は
入力部10の出力Ｓであり、フリップフロップ18〜20はそ
の立ち上がりでデータ端子Ｄの信号を保持する。（Ｂ）
はリセット信号RSTであり、その高レベルでフリップフ
ロップ17〜20はクリヤされる。（Ｃ）はスタート信号ST
であり、その立ち上がりＴ１で（Ｄ）に示すようにフリ
ップフロップ17の出力は高レベルになる。信号Ｓの引き
続く立ち上がりＴ２、Ｔ３でフリップフロップ18、19が
順次高レベルになり、次の立ち上がりＴ４でフリップフ
ロップ20の反転出力が低レベルになる。ゲート21はそ
の入力が全て高レベルのときにその出力が高レベルにな
るので、Ｔ３とＴ４の間、すなわち信号Ｓの１周期間高
レベルになる。このようにして、被測定信号の周期の幅
を有するパルス信号PWが得られる。このパルス信号の周
期はスタート信号ST及びリセット信号RSTの周期を変え
ることにより、任意に設定できる。
あり、17〜20はＤ型フリップフロップであり、互いに直
列に接続されている。21はANDゲートであり、フリップ
フロップ19の出力Ｑとフリップフロップ20の反転出力
が入力される。また、フリップフロップ17のデータ端子
Ｄは高レベルにされ、クロック端子にはスタート信号ST
が印加される。フリップフロップ18〜20のクロック端子
には入力部10の出力Ｓが、フリップフロップ17〜20のリ
セット端子Ｒにはリセット信号RSTが入力される。
（Ｂ）に動作を表わすタイムチャートを示す。（Ａ）は
入力部10の出力Ｓであり、フリップフロップ18〜20はそ
の立ち上がりでデータ端子Ｄの信号を保持する。（Ｂ）
はリセット信号RSTであり、その高レベルでフリップフ
ロップ17〜20はクリヤされる。（Ｃ）はスタート信号ST
であり、その立ち上がりＴ１で（Ｄ）に示すようにフリ
ップフロップ17の出力は高レベルになる。信号Ｓの引き
続く立ち上がりＴ２、Ｔ３でフリップフロップ18、19が
順次高レベルになり、次の立ち上がりＴ４でフリップフ
ロップ20の反転出力が低レベルになる。ゲート21はそ
の入力が全て高レベルのときにその出力が高レベルにな
るので、Ｔ３とＴ４の間、すなわち信号Ｓの１周期間高
レベルになる。このようにして、被測定信号の周期の幅
を有するパルス信号PWが得られる。このパルス信号の周
期はスタート信号ST及びリセット信号RSTの周期を変え
ることにより、任意に設定できる。
第４図にパルス幅電圧変換部12の一例を示す22はRSフリ
ップフロップであり、そのセット端子Ｓには待機信号WS
が、リセット端子Ｒには信号変換部の出力PWが入力され
る。RSフリップフロップ22の出力Ｑはスイッチ23を駆動
し、信号PWは遅延線24を介してスイッチ25を駆動する。
遅延線24はRSフリップフロップ22の遅延を補償する為の
ものである。26、27はそれぞれ出力電流がｉ１、ｉ２の
電流源である。電流源26、スイッチ23、スイッチ25、電
流源27は直列に接続され、スイッチ23、25の交点と共通
電位点の間にはコンデンサ28、ダイオード29が接続され
る。コンデンサ28の両端の電圧は高入力インピーダンス
を有するバッファ30を介して取り出される。この様な構
成において、通常は待機信号WSによりスイッチ23がオ
ン、スイッチ25がオフにされる。コンデンサ28は充電さ
れ、その両端電圧はダイオード29の順方向電圧ＶＤで規
制される。信号変換部11の出力PWが高レベルの間はスイ
ッチ23がオフ、スイッチ25がオンになり、低レベルにな
るとスイッチ23、25共にオフになる。コンデンサ28に充
電された電荷は時間当りｉ２の割合で引き抜かれる。信
号変換部11の出力PWのパルス幅をＴＷ とするとバッフ
ァ30の出力ＶＯは ＶＯ＝ＶＤ−ｉ２・ＴＷ になり、パルス幅が電圧信号に変換される。バッファ30
は高入力インピーダンスを有するので、この電圧は所定
の期間保持される。その為、AD変換部13の変換速度は被
測定信号の周期より遅いものでもよいので、高精度、低
価格のものが使用できる。
ップフロップであり、そのセット端子Ｓには待機信号WS
が、リセット端子Ｒには信号変換部の出力PWが入力され
る。RSフリップフロップ22の出力Ｑはスイッチ23を駆動
し、信号PWは遅延線24を介してスイッチ25を駆動する。
遅延線24はRSフリップフロップ22の遅延を補償する為の
ものである。26、27はそれぞれ出力電流がｉ１、ｉ２の
電流源である。電流源26、スイッチ23、スイッチ25、電
流源27は直列に接続され、スイッチ23、25の交点と共通
電位点の間にはコンデンサ28、ダイオード29が接続され
る。コンデンサ28の両端の電圧は高入力インピーダンス
を有するバッファ30を介して取り出される。この様な構
成において、通常は待機信号WSによりスイッチ23がオ
ン、スイッチ25がオフにされる。コンデンサ28は充電さ
れ、その両端電圧はダイオード29の順方向電圧ＶＤで規
制される。信号変換部11の出力PWが高レベルの間はスイ
ッチ23がオフ、スイッチ25がオンになり、低レベルにな
るとスイッチ23、25共にオフになる。コンデンサ28に充
電された電荷は時間当りｉ２の割合で引き抜かれる。信
号変換部11の出力PWのパルス幅をＴＷ とするとバッフ
ァ30の出力ＶＯは ＶＯ＝ＶＤ−ｉ２・ＴＷ になり、パルス幅が電圧信号に変換される。バッファ30
は高入力インピーダンスを有するので、この電圧は所定
の期間保持される。その為、AD変換部13の変換速度は被
測定信号の周期より遅いものでもよいので、高精度、低
価格のものが使用できる。
第５図に表示部16の表示例を示す。AD変換部13でデジタ
ル信号に変換された被測定信号の周期は順次記憶部14に
格納され、マイクロプロセッサ15はこの記憶部14に格納
された周期からその平均値ave、最大値max、最小値mi
n、標準偏差stddwv等を演算し、また、測定値のばらつ
きをヒストグラムにして表示する。
ル信号に変換された被測定信号の周期は順次記憶部14に
格納され、マイクロプロセッサ15はこの記憶部14に格納
された周期からその平均値ave、最大値max、最小値mi
n、標準偏差stddwv等を演算し、また、測定値のばらつ
きをヒストグラムにして表示する。
なお、信号変換部、パルス幅電圧変換部は第３図、第４
図に示したものに限られることはなく、種々のものを用
いることが出来る。
図に示したものに限られることはなく、種々のものを用
いることが出来る。
また、信号変換部11の出力のパルス幅は被測定信号の１
周期でなくてもよく、周期に比例するものであればよ
い。
周期でなくてもよく、周期に比例するものであればよ
い。
〈考案の効果〉 以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、この
考案では被測定信号の周期に相当するパルス幅の信号を
作成し、このパルス幅を電圧信号に変換してそれをデジ
タル変換し、記憶部に格納するようにした。その為、被
測定信号の周期が短くても高精度で周期を測定すること
が出来るので、ジッタを正確に測定することが出来ると
いう効果がある。
考案では被測定信号の周期に相当するパルス幅の信号を
作成し、このパルス幅を電圧信号に変換してそれをデジ
タル変換し、記憶部に格納するようにした。その為、被
測定信号の周期が短くても高精度で周期を測定すること
が出来るので、ジッタを正確に測定することが出来ると
いう効果がある。
また、測定した周期を記憶部に格納するようにしたの
で、高速で繰返し測定が可能になるという効果もある。
で、高速で繰返し測定が可能になるという効果もある。
第１図は本考案に係るジッタ測定装置の一実施例を示す
ブロック図、第２図はその動作を示すタイムチャート、
第３図は信号変換部の構成図、第４図はパルス幅電圧変
換部の構成図、第５図は表示部の表示例である。 10……入力部、11……信号変換部、12……パルス幅電圧
変換部、13……AD変換部、14……記憶部、15……マイク
ロプロセッサ、16……表示部、17〜20,22……フリップ
フロップ、21……ANDゲート、23,25……スイッチ、28…
…コンデンサ。
ブロック図、第２図はその動作を示すタイムチャート、
第３図は信号変換部の構成図、第４図はパルス幅電圧変
換部の構成図、第５図は表示部の表示例である。 10……入力部、11……信号変換部、12……パルス幅電圧
変換部、13……AD変換部、14……記憶部、15……マイク
ロプロセッサ、16……表示部、17〜20,22……フリップ
フロップ、21……ANDゲート、23,25……スイッチ、28…
…コンデンサ。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定信号が入力されこの被測定信号をそ
の周期に関連するパルス幅を有する信号に変換する信号
変換部と、この信号変換部の出力が入力されそのパルス
幅に比例する電圧信号に変換するパルス幅電圧変換部
と、このパルス幅電圧変換部の出力をデジタル信号に変
換するAD変換部と、このAD変換部の出力を時系列順に格
納する記憶部と、この記憶部に格納されたデータを読み
出し、平均値や最大値、最小値、標準偏差あるいは被測
定信号の周期のばらつきを求める機能を有する処理回路
と、この処理回路の出力を画面に表示する表示部を備え
たことを特徴とするジッタ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988093163U JPH0633427Y2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | ジッタ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988093163U JPH0633427Y2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | ジッタ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0214076U JPH0214076U (ja) | 1990-01-29 |
| JPH0633427Y2 true JPH0633427Y2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=31317612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988093163U Expired - Lifetime JPH0633427Y2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | ジッタ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0633427Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220007392A (ko) * | 2020-07-10 | 2022-01-18 | 부산대학교 산학협력단 | 지터를 갖는 주기 신호를 분석하는 방법 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0412451D0 (en) * | 2004-06-04 | 2004-07-07 | Koninkl Philips Electronics Nv | Measuring clock jitter |
| US20080129562A1 (en) * | 2004-08-30 | 2008-06-05 | Keisuke Nakahira | Semiconductor Integrated Circuit Having Jitter Measuring Function |
| JP6726996B2 (ja) * | 2016-03-30 | 2020-07-22 | ローム株式会社 | ジッタ検出回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273654U (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-12 |
-
1988
- 1988-07-14 JP JP1988093163U patent/JPH0633427Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220007392A (ko) * | 2020-07-10 | 2022-01-18 | 부산대학교 산학협력단 | 지터를 갖는 주기 신호를 분석하는 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0214076U (ja) | 1990-01-29 |
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