JPH0575445A - Ｃｐｕの発振周波数変動の補正装置および補正方法 - Google Patents
Ｃｐｕの発振周波数変動の補正装置および補正方法Info
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- JPH0575445A JPH0575445A JP21130091A JP21130091A JPH0575445A JP H0575445 A JPH0575445 A JP H0575445A JP 21130091 A JP21130091 A JP 21130091A JP 21130091 A JP21130091 A JP 21130091A JP H0575445 A JPH0575445 A JP H0575445A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 低コストのＣＲ発振器を用いつつもＣＰＵの
発振周波数の変動を合理的に補正し時間的なソフト処理
に変化が生じないようにする。 【構成】 電源電圧および周囲温度が基準測定条件にあ
るとき測定したＣＲ発振器の発振周波数を基準の発振周
波数としてＥ２ＰＲＯＭ１６で記憶しておく。一方、現
在の電圧を電圧検出器１４で検出するとともに現在の温
度を温度検出器１５で検出する。Ｅ２ＰＲＯＭ１６で記
憶した発振周波数の値と現在の電圧および温度の検出値
から、基準測定条件下での発振周波数からの周波数変動
をＣＰＵ１１によりあらかじめ決められた演算で補正
し、現在の周波数の正確な値を間接的に求める。
発振周波数の変動を合理的に補正し時間的なソフト処理
に変化が生じないようにする。 【構成】 電源電圧および周囲温度が基準測定条件にあ
るとき測定したＣＲ発振器の発振周波数を基準の発振周
波数としてＥ２ＰＲＯＭ１６で記憶しておく。一方、現
在の電圧を電圧検出器１４で検出するとともに現在の温
度を温度検出器１５で検出する。Ｅ２ＰＲＯＭ１６で記
憶した発振周波数の値と現在の電圧および温度の検出値
から、基準測定条件下での発振周波数からの周波数変動
をＣＰＵ１１によりあらかじめ決められた演算で補正
し、現在の周波数の正確な値を間接的に求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＰＵの発振周波数変
動の補正装置および補正方法に関し、より詳細には、コ
ストの低いＣＲ発振器の発振周波数の変動を補正して正
確な発振周波数が得られるＣＰＵの発振周波数補正装置
および補正方法に関するものである。
動の補正装置および補正方法に関し、より詳細には、コ
ストの低いＣＲ発振器の発振周波数の変動を補正して正
確な発振周波数が得られるＣＰＵの発振周波数補正装置
および補正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より中央処理装置（以下、「ＣＰ
Ｕ」という）の動作クロック発振素子には、水晶、セラ
ミック、ＣＲ（コンデンサと抵抗）が用いられている。
Ｕ」という）の動作クロック発振素子には、水晶、セラ
ミック、ＣＲ（コンデンサと抵抗）が用いられている。
【０００３】図６は、従来の水晶またはセラミック発振
器の回路図を示すものであり、図中の１はＣＰＵであ
り、このＣＰＵ１の発振回路入力１ａと発振回路出力１
ｂ間には、水晶またはセラミック２が接続されている。
この水晶またはセラミックと並列に、帰還抵抗Ｒ２が接
続されている。発振回路入力１ａと発振回路出力１ｂ
は、それぞれコンデンサＣ１，Ｃ２を介してアースされ
ている。
器の回路図を示すものであり、図中の１はＣＰＵであ
り、このＣＰＵ１の発振回路入力１ａと発振回路出力１
ｂ間には、水晶またはセラミック２が接続されている。
この水晶またはセラミックと並列に、帰還抵抗Ｒ２が接
続されている。発振回路入力１ａと発振回路出力１ｂ
は、それぞれコンデンサＣ１，Ｃ２を介してアースされ
ている。
【０００４】このような水晶またはセラミック発振器の
場合は、発振周波数が正確でかつ安定しているととも
に、発振周波数も数十ＫＨｚ〜数十ＭＨｚと広い利点を
有する。
場合は、発振周波数が正確でかつ安定しているととも
に、発振周波数も数十ＫＨｚ〜数十ＭＨｚと広い利点を
有する。
【０００５】しかしながら、その反面、水晶は、発振立
ち上がりが遅く、また、コストも高いという難点があ
る。
ち上がりが遅く、また、コストも高いという難点があ
る。
【０００６】一方、図７は、ＣＲ発振器の回路図であ
り、ＣＰＵ１の発振回路入力１ａは、抵抗Ｒとコンデン
サＣとの接続点に接続されている。この抵抗Ｒとコンデ
ンサＣは、電源とアース間に直列に接続されている。
り、ＣＰＵ１の発振回路入力１ａは、抵抗Ｒとコンデン
サＣとの接続点に接続されている。この抵抗Ｒとコンデ
ンサＣは、電源とアース間に直列に接続されている。
【０００７】このようなＣＲ発振器の場合、発振周波数
が不正確で、かつ不安定であり、しかも発振周波数も数
Ｈｚ〜数百ＫＨｚと、比較的周波数が低いという難点が
ある。しかしながら、その反面、コストが安いという利
点を有する。
が不正確で、かつ不安定であり、しかも発振周波数も数
Ｈｚ〜数百ＫＨｚと、比較的周波数が低いという難点が
ある。しかしながら、その反面、コストが安いという利
点を有する。
【０００８】ところで、図６の水晶またはセラミック発
振器および図７のＣＲ発振器におけるＣＰＵ１のソフト
の処理時間は、発振周波数により変わる。このため、処
理時間に精度が要求されるカメラのシャッタスピードな
どをコントロールするＣＰＵの発振素子には、精度の悪
い図７で示したようなＣＲ発振器ではなく、図６で示し
たような水晶またはセラミック発振器が使用されてきた
が、上述のように、水晶またはセラミック発振器は、Ｃ
Ｒ発振器より割高になるため、安価なＣＲ発振器を用い
ても、精度を満足できる装置の出現が望まれるところで
ある。
振器および図７のＣＲ発振器におけるＣＰＵ１のソフト
の処理時間は、発振周波数により変わる。このため、処
理時間に精度が要求されるカメラのシャッタスピードな
どをコントロールするＣＰＵの発振素子には、精度の悪
い図７で示したようなＣＲ発振器ではなく、図６で示し
たような水晶またはセラミック発振器が使用されてきた
が、上述のように、水晶またはセラミック発振器は、Ｃ
Ｒ発振器より割高になるため、安価なＣＲ発振器を用い
ても、精度を満足できる装置の出現が望まれるところで
ある。
【０００９】カメラのＣＰＵでは、多くの場合、セラミ
ック発振素子を用いているが、コストの安い低機能カメ
ラでは、それほど高速処理スピードを要しないので、コ
ストの安いＣＲ発振器を用いている。
ック発振素子を用いているが、コストの安い低機能カメ
ラでは、それほど高速処理スピードを要しないので、コ
ストの安いＣＲ発振器を用いている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＣＲ発
振器の場合には、コンデンサや抵抗の誤差（バラツキ）
およびＣＰＵの電源電圧の変動、温度変化により、周波
数が大きく変動してしまい、時間を正確に制御する処理
には相応しくない。
振器の場合には、コンデンサや抵抗の誤差（バラツキ）
およびＣＰＵの電源電圧の変動、温度変化により、周波
数が大きく変動してしまい、時間を正確に制御する処理
には相応しくない。
【００１１】そこで、コンデンサや抵抗を可変として、
周波数を調整する方法が考えられるが、コストが高くな
ってしまうばかりでなく、電源電圧変動、温度変化によ
る周波数変動は改善されない。
周波数を調整する方法が考えられるが、コストが高くな
ってしまうばかりでなく、電源電圧変動、温度変化によ
る周波数変動は改善されない。
【００１２】本発明は、上述の事情に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、ＣＲ発振器の電圧変動
あるいは温度変化等に伴う発振周波数の変動を正確に補
正でき、かつ安価に構成できるＣＰＵの発振周波数変動
の補正装置およびその補正方法を提供することにある。
ので、その目的とするところは、ＣＲ発振器の電圧変動
あるいは温度変化等に伴う発振周波数の変動を正確に補
正でき、かつ安価に構成できるＣＰＵの発振周波数変動
の補正装置およびその補正方法を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、上記
の目的を達成するために、ＣＲ発振器を用いたＣＰＵに
おいて、上記ＣＲ発振器の基準発振周波数を記憶する記
憶手段と、上記ＣＲ発振器の発振周波数変動を間接的に
検出する検出手段と、上記記憶手段で記憶された発振周
波数と上記検出手段により間接的に検出された現在の検
出値とから時間的なソフト処理に変化が生じないように
補正する中央処理装置とを具備したことを特徴としたも
のである。
の目的を達成するために、ＣＲ発振器を用いたＣＰＵに
おいて、上記ＣＲ発振器の基準発振周波数を記憶する記
憶手段と、上記ＣＲ発振器の発振周波数変動を間接的に
検出する検出手段と、上記記憶手段で記憶された発振周
波数と上記検出手段により間接的に検出された現在の検
出値とから時間的なソフト処理に変化が生じないように
補正する中央処理装置とを具備したことを特徴としたも
のである。
【００１４】また、請求項２の発明は、上記検出手段
は、温度検出器および／または上記ＣＲ発振器に印加す
る電圧を検出する電圧検出器により構成されることを特
徴としたものである。
は、温度検出器および／または上記ＣＲ発振器に印加す
る電圧を検出する電圧検出器により構成されることを特
徴としたものである。
【００１５】さらに、請求項３の発明は、ＣＲ発振器の
基準温度、基準電圧の下での基準発振周波数を測定して
記憶手段に記憶するとともに、上記ＣＲ発振器の発振周
波数の変動と周囲温度および電圧の変動との関係を予め
求めておき、適宜時点で上記周囲温度および電圧を検出
手段で検出し、上記記憶した基準発振周波数と上記適宜
時点における検出手段の値とから現在の発振周波数の変
動をあらかじめ決めた演算により補正することを特徴と
したものである。
基準温度、基準電圧の下での基準発振周波数を測定して
記憶手段に記憶するとともに、上記ＣＲ発振器の発振周
波数の変動と周囲温度および電圧の変動との関係を予め
求めておき、適宜時点で上記周囲温度および電圧を検出
手段で検出し、上記記憶した基準発振周波数と上記適宜
時点における検出手段の値とから現在の発振周波数の変
動をあらかじめ決めた演算により補正することを特徴と
したものである。
【００１６】
【作用】上記のように構成されたＣＰＵの発振周波数変
動の補正装置は、検出手段によりＣＲ発振器の発振周波
数を変動させる要因となる電圧および／または周囲温度
を検出し、この要因となる電圧あるいは周囲温度の基準
値におけるＣＲ発振器の発振周波数を記憶手段に記憶し
ておき、所定間隔おきに電圧あるいは周囲温度を検出
し、ＣＲ発振器の発振周波数の変動に対しては、中央処
理装置で、記憶手段に記憶した発振周波数と、検出手段
で検出した電圧および／または周囲温度の変化の値と、
ＣＲ発振器の現在の発振周波数とから、あらかじめ決め
られた演算により、ＣＲ発振器の現在の発振周波数の変
動を補正して、正確な発振周波数を得るようにしてい
る。
動の補正装置は、検出手段によりＣＲ発振器の発振周波
数を変動させる要因となる電圧および／または周囲温度
を検出し、この要因となる電圧あるいは周囲温度の基準
値におけるＣＲ発振器の発振周波数を記憶手段に記憶し
ておき、所定間隔おきに電圧あるいは周囲温度を検出
し、ＣＲ発振器の発振周波数の変動に対しては、中央処
理装置で、記憶手段に記憶した発振周波数と、検出手段
で検出した電圧および／または周囲温度の変化の値と、
ＣＲ発振器の現在の発振周波数とから、あらかじめ決め
られた演算により、ＣＲ発振器の現在の発振周波数の変
動を補正して、正確な発振周波数を得るようにしてい
る。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
具体的に説明する。図１は、本発明に係るＣＰＵの発振
周波数変動の補正装置の一実施例の全体構成を示すブロ
ック図である。
具体的に説明する。図１は、本発明に係るＣＰＵの発振
周波数変動の補正装置の一実施例の全体構成を示すブロ
ック図である。
【００１８】この図１において、１１はＣＰＵであり、
このＣＰＵ１１の端子Ｖｃｃには、電池１２の正極が接
続されている。電池１２は、全体の電源となるものであ
り、その負極は、ＣＰＵ１１の端子ＧＮＤに接続されて
いる。
このＣＰＵ１１の端子Ｖｃｃには、電池１２の正極が接
続されている。電池１２は、全体の電源となるものであ
り、その負極は、ＣＰＵ１１の端子ＧＮＤに接続されて
いる。
【００１９】電池１２の正極は、スイッチ１３を介し
て、ラインＬ１に接続されている。ラインＬ１は、正の
電源ラインとなるものであり、このラインＬ１には、電
圧検出器１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６が接
続されている。
て、ラインＬ１に接続されている。ラインＬ１は、正の
電源ラインとなるものであり、このラインＬ１には、電
圧検出器１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６が接
続されている。
【００２０】電圧検出器１４と温度検出器１５とによ
り、ＣＲ発振器の発振周波数変動の要因となるデータ
（電圧、温度）を検出する検出手段を構成している。Ｃ
Ｒ発振器の発振周波数は、周知のように、ＣＲ発振器に
印加される電圧の変動および周囲温度の変動によって変
化するものであり、これらの電圧の変動および温度の変
動をそれぞれ電圧検出器１４、温度検出器１５で検出す
るようにしている。
り、ＣＲ発振器の発振周波数変動の要因となるデータ
（電圧、温度）を検出する検出手段を構成している。Ｃ
Ｒ発振器の発振周波数は、周知のように、ＣＲ発振器に
印加される電圧の変動および周囲温度の変動によって変
化するものであり、これらの電圧の変動および温度の変
動をそれぞれ電圧検出器１４、温度検出器１５で検出す
るようにしている。
【００２１】これらの電圧検出器１４の検出器出力およ
び温度検出器１５の検出出力は、それぞれＣＰＵ１１に
出力するようになっている。
び温度検出器１５の検出出力は、それぞれＣＰＵ１１に
出力するようになっている。
【００２２】また、Ｅ２ＰＲＯＭ１６は、記憶手段とし
て使用するものであり、電源電圧が基準電圧のときであ
って、周囲温度が基準温度のときのＣＲ発振器の発振周
波数、換言すれば、発振周波数を変動させる要因となる
電源電圧と周囲温度の基準値における基準発振周波数を
記憶させるようになっており、このＥ２ＰＲＯＭ１６の
書込み、読出しは、ＣＰＵ１１により行われるようにな
っている。
て使用するものであり、電源電圧が基準電圧のときであ
って、周囲温度が基準温度のときのＣＲ発振器の発振周
波数、換言すれば、発振周波数を変動させる要因となる
電源電圧と周囲温度の基準値における基準発振周波数を
記憶させるようになっており、このＥ２ＰＲＯＭ１６の
書込み、読出しは、ＣＰＵ１１により行われるようにな
っている。
【００２３】さらに、上記電池１２の負極は、ラインＬ
２に接続されている。このラインＬ２は、負の電源ライ
ンとなるものであり、このラインＬ２には、電圧検出器
１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６の各負極側が
それぞれ接続されている。すなわち、これらの電圧検出
器１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６は、それぞ
れラインＬ１，Ｌ２から動作電源が供給されるようにな
っている。
２に接続されている。このラインＬ２は、負の電源ライ
ンとなるものであり、このラインＬ２には、電圧検出器
１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６の各負極側が
それぞれ接続されている。すなわち、これらの電圧検出
器１４、温度検出器１５、Ｅ２ＰＲＯＭ１６は、それぞ
れラインＬ１，Ｌ２から動作電源が供給されるようにな
っている。
【００２４】ラインＬ１とＬ２には、抵抗Ｒ１とコンデ
ンサＣ１との直列回路と、抵抗Ｒ２とコンデンサＣ２と
の直列回路がそれぞれ接続されている。これらの抵抗Ｒ
１，Ｒ２，コンデンサＣ１，Ｃ２は、ＣＲ発振器の発振
素子を構成するものである。
ンサＣ１との直列回路と、抵抗Ｒ２とコンデンサＣ２と
の直列回路がそれぞれ接続されている。これらの抵抗Ｒ
１，Ｒ２，コンデンサＣ１，Ｃ２は、ＣＲ発振器の発振
素子を構成するものである。
【００２５】抵抗Ｒ１とコンデンサＣ１との接続点は、
ＣＰＵ１１の端子ＲＥＳＥＴに接続され、抵抗Ｒ２とコ
ンデンサＣ２との接続点は、ＣＰＵ１１の端子Ｘｉｎに
接続されている。かくして、ＣＰＵ１１と抵抗Ｒ１，Ｒ
２，コンデンサＣ１，Ｃ２とにより、ＣＲ発振器を構成
している。
ＣＰＵ１１の端子ＲＥＳＥＴに接続され、抵抗Ｒ２とコ
ンデンサＣ２との接続点は、ＣＰＵ１１の端子Ｘｉｎに
接続されている。かくして、ＣＰＵ１１と抵抗Ｒ１，Ｒ
２，コンデンサＣ１，Ｃ２とにより、ＣＲ発振器を構成
している。
【００２６】このように構成されたこの実施例の動作を
説明する。工場での製造時に、ＣＰＵ１１と抵抗Ｒ１，
Ｒ２，コンデンサＣ１，Ｃ２とによるＣＲ発振器の製造
時に、スイッチ１３をオンにして、電圧検出器１４，温
度検出器１５，Ｅ２ＰＲＯＭ１６，ＣＰＵ１１を作動状
態にするとともに、所定の基準電圧でかつ、常温という
基準測定条件により、ＣＲ発振器の基準発振周波数をＥ
２ＰＲＯＭ１６に記憶しておく。
説明する。工場での製造時に、ＣＰＵ１１と抵抗Ｒ１，
Ｒ２，コンデンサＣ１，Ｃ２とによるＣＲ発振器の製造
時に、スイッチ１３をオンにして、電圧検出器１４，温
度検出器１５，Ｅ２ＰＲＯＭ１６，ＣＰＵ１１を作動状
態にするとともに、所定の基準電圧でかつ、常温という
基準測定条件により、ＣＲ発振器の基準発振周波数をＥ
２ＰＲＯＭ１６に記憶しておく。
【００２７】すなわち、測定基準電圧と、基準温度での
ＣＲ発振器の発振周波数を測定し、その測定した発振周
波数を基準発振周波数として、ＣＰＵ１１によりＥ２Ｐ
ＲＯＭ１６に記憶しておく。ＣＲ発振器の発振周波数の
変動要因は、印加電圧の変動、周囲温度の変動、抵抗や
コンデンサの容量のバラツキなどが挙げられる。
ＣＲ発振器の発振周波数を測定し、その測定した発振周
波数を基準発振周波数として、ＣＰＵ１１によりＥ２Ｐ
ＲＯＭ１６に記憶しておく。ＣＲ発振器の発振周波数の
変動要因は、印加電圧の変動、周囲温度の変動、抵抗や
コンデンサの容量のバラツキなどが挙げられる。
【００２８】図２は、図１のＣＲ発振器をＣＰＵ１１の
クロック発振器として使用した場合の電源電圧対クロッ
ク発振周波数との関係を示す特性図である。ただし、温
度は２５℃（常温）の場合である。
クロック発振器として使用した場合の電源電圧対クロッ
ク発振周波数との関係を示す特性図である。ただし、温
度は２５℃（常温）の場合である。
【００２９】この図２では、抵抗は、５６ＫΩ、１００
ＫΩ、１５０ＫΩの場合をそれぞれパラメータにして示
したものであり、いずれの抵抗値の場合にも、電源電圧
ＶＤＤが上昇するにつれて、クロック発振周波数が上昇
することがわかる。つまり、発振周波数が変動すること
を示している。
ＫΩ、１５０ＫΩの場合をそれぞれパラメータにして示
したものであり、いずれの抵抗値の場合にも、電源電圧
ＶＤＤが上昇するにつれて、クロック発振周波数が上昇
することがわかる。つまり、発振周波数が変動すること
を示している。
【００３０】また、図３は、図１のＣＲ発振器をＣＰＵ
１１のクロック発振器として使用した場合の周囲温度対
クロック発振周波数との関係を、抵抗５６ＫΩ、電源電
圧５Ｖの場合と、抵抗１００ＫΩ、電源電圧３Ｖの場合
と、抵抗１５０ＫΩ、電源電圧２．５Ｖの場合をそれぞ
れパラメータにして示した例を示している。
１１のクロック発振器として使用した場合の周囲温度対
クロック発振周波数との関係を、抵抗５６ＫΩ、電源電
圧５Ｖの場合と、抵抗１００ＫΩ、電源電圧３Ｖの場合
と、抵抗１５０ＫΩ、電源電圧２．５Ｖの場合をそれぞ
れパラメータにして示した例を示している。
【００３１】この図３から明らかなように、いずれのパ
ラメータの場合にも、周囲温度の上昇にともない、クロ
ック発振周波数が低下することがわかる。つまり温度に
対して発振周波数が変動することを示している。
ラメータの場合にも、周囲温度の上昇にともない、クロ
ック発振周波数が低下することがわかる。つまり温度に
対して発振周波数が変動することを示している。
【００３２】さらに、図４は、外付け抵抗値対クロック
発振周波数の関係を示し、温度２５℃で、電源電圧５Ｖ
の場合と２．５Ｖの場合をそれぞれパラメータにして示
したものである。この図４の場合には、抵抗値の増加に
つれて、クロック発振周波数が低下することがわかる。
発振周波数の関係を示し、温度２５℃で、電源電圧５Ｖ
の場合と２．５Ｖの場合をそれぞれパラメータにして示
したものである。この図４の場合には、抵抗値の増加に
つれて、クロック発振周波数が低下することがわかる。
【００３３】この図２〜図４の例は、いずれも図１の場
合のコンデンサＣ２は、ＣＰＵ１１に内蔵され、抵抗Ｒ
２が外付けの場合である。この図２〜図４からも明らか
なように、電源電圧や周囲温度により、あるいは抵抗の
変化に伴ってクロック発振周波数が変動することがわか
るが、コンデンサの容量でも、発振周波数が変わり、コ
ンデンサの容量が大きくなると、発振周波数が低くな
る。
合のコンデンサＣ２は、ＣＰＵ１１に内蔵され、抵抗Ｒ
２が外付けの場合である。この図２〜図４からも明らか
なように、電源電圧や周囲温度により、あるいは抵抗の
変化に伴ってクロック発振周波数が変動することがわか
るが、コンデンサの容量でも、発振周波数が変わり、コ
ンデンサの容量が大きくなると、発振周波数が低くな
る。
【００３４】一般に、抵抗精度は、±５％程度であるの
に対して、コンデンサ容量精度は、±２０％程度であ
り、また、温度、湿度による変動もコンデンサの場合の
方が大きい。
に対して、コンデンサ容量精度は、±２０％程度であ
り、また、温度、湿度による変動もコンデンサの場合の
方が大きい。
【００３５】このような発振周波数が変動する図１に示
すＣＲ発振器をＣＰＵ１１のクロック発振器として使用
し、このＣＰＵ１１をカメラに使用した場合には、上述
のように、ＣＲ発振器の発振周波数が変動するわけであ
るが、本発明では、この発振周波数の変動を以下に述べ
るように、ソフトウエア的に補正するものである。
すＣＲ発振器をＣＰＵ１１のクロック発振器として使用
し、このＣＰＵ１１をカメラに使用した場合には、上述
のように、ＣＲ発振器の発振周波数が変動するわけであ
るが、本発明では、この発振周波数の変動を以下に述べ
るように、ソフトウエア的に補正するものである。
【００３６】すなわち、カメラの動作時に、ＣＲ発振器
の発振周波数の変動要因の基準、つまり測定基準で測定
した発振周波数があらかじめＥ２ＰＲＯＭに記憶されて
おり、この記憶された発振周波数から、電圧検出器１４
で検出した現在の電源電圧と、温度検出器１５で検出し
た現在の周囲温度とから、測定基準からの周波数変動を
前もって決められた演算（図２〜図４の周波数変動特
性）により、現在の電圧と温度での正しい発振周波数を
間接的に求める。
の発振周波数の変動要因の基準、つまり測定基準で測定
した発振周波数があらかじめＥ２ＰＲＯＭに記憶されて
おり、この記憶された発振周波数から、電圧検出器１４
で検出した現在の電源電圧と、温度検出器１５で検出し
た現在の周囲温度とから、測定基準からの周波数変動を
前もって決められた演算（図２〜図４の周波数変動特
性）により、現在の電圧と温度での正しい発振周波数を
間接的に求める。
【００３７】換言すれば、現在の電圧値と温度値が測定
基準のときの値と異なっていれば、発振周波数も変動し
ているわけであるが、この発振周波数の変動を測定基準
値と異なる現在の電圧と温度とを基に現在の電圧と温度
に見合った正しい発振周波数となるように補正するもの
である。
基準のときの値と異なっていれば、発振周波数も変動し
ているわけであるが、この発振周波数の変動を測定基準
値と異なる現在の電圧と温度とを基に現在の電圧と温度
に見合った正しい発振周波数となるように補正するもの
である。
【００３８】したがって、電圧検出器１４で検出した電
圧と温度検出器１５で検出した温度とから、間接的にＣ
Ｒ発振器の発振周波数の変動を知ることができる。
圧と温度検出器１５で検出した温度とから、間接的にＣ
Ｒ発振器の発振周波数の変動を知ることができる。
【００３９】ここで、図２〜図４の特性例により具体的
に述べると、図２の電源電圧ＶＤＤ対クロック発振周波
数ｆｃｃの関係では、カメラの電池電圧が上昇すると発
振周波数が高くなる。
に述べると、図２の電源電圧ＶＤＤ対クロック発振周波
数ｆｃｃの関係では、カメラの電池電圧が上昇すると発
振周波数が高くなる。
【００４０】また、図３の周囲温度Ｔａ対発振周波数ｆ
ｃｃの関係では、カメラの使用時に、より温度が上昇す
ると、発振周波数が低くなり、図４に示す外付け抵抗Ｒ
対発振周波数ｆｃｃの関係では、外付け抵抗の部品バラ
ツキにより、抵抗値が大きくなると、発振周波数は、低
くなる。
ｃｃの関係では、カメラの使用時に、より温度が上昇す
ると、発振周波数が低くなり、図４に示す外付け抵抗Ｒ
対発振周波数ｆｃｃの関係では、外付け抵抗の部品バラ
ツキにより、抵抗値が大きくなると、発振周波数は、低
くなる。
【００４１】上記の例からも明らかなように、基準電
圧、常温などの基準測定条件下で、ＣＲ発振周波数を測
定して、Ｅ２ＰＲＯＭ１６に記憶することにより、抵抗
Ｒ２とコンデンサＣ２の精度バラツキによる発振周波数
変動を記憶することができる。このため、カメラ作動時
にＣＰＵ１１が、電圧検出器１４、温度検出器１５によ
り得られた電圧値と温度値との関係から、ＣＲ発振器の
変動を間接的に知ることができる。そして、上記基準測
定条件あるいは任意の測定条件下でＣＲ発振周波数を決
めて、ＣＰＵシステムクロックを知り、時間的な制御手
段のセットデータを変更することにより、制御スピード
を変わらないようにすることができる。
圧、常温などの基準測定条件下で、ＣＲ発振周波数を測
定して、Ｅ２ＰＲＯＭ１６に記憶することにより、抵抗
Ｒ２とコンデンサＣ２の精度バラツキによる発振周波数
変動を記憶することができる。このため、カメラ作動時
にＣＰＵ１１が、電圧検出器１４、温度検出器１５によ
り得られた電圧値と温度値との関係から、ＣＲ発振器の
変動を間接的に知ることができる。そして、上記基準測
定条件あるいは任意の測定条件下でＣＲ発振周波数を決
めて、ＣＰＵシステムクロックを知り、時間的な制御手
段のセットデータを変更することにより、制御スピード
を変わらないようにすることができる。
【００４２】ここでの時間的な制御手段とは、例えば、
ＣＰＵシステムクロックを用いている内蔵のタイマーカ
ウンタ、レジスタやＲＡＭを用いたループカウンタなど
がこれに該当し、カメラにおいて、これらの制御を受け
る対象としては、パルスモータの駆動パルス波形、シャ
ッタスピード、セルフタイマ秒時などがある。
ＣＰＵシステムクロックを用いている内蔵のタイマーカ
ウンタ、レジスタやＲＡＭを用いたループカウンタなど
がこれに該当し、カメラにおいて、これらの制御を受け
る対象としては、パルスモータの駆動パルス波形、シャ
ッタスピード、セルフタイマ秒時などがある。
【００４３】次に、ＣＲ発振器によるＣＰＵのシステム
クロックが１０μｓを基準として、変動した場合の補正
について説明する。
クロックが１０μｓを基準として、変動した場合の補正
について説明する。
【００４４】すなわち、このときのウエイト時間１ｍｓ
を作るのに、ＣＰＵシステムクロックの図５に示すルー
ププログラムにおいて、ステップＳ１でレジスタのセッ
トデータがＸ＝５０のときに、ステップＳ２でレジスタ
Ｘ＝０となった時点で１ｍｓになるように設計してある
とすると、システムクロックが５μｓ（発振周波数が基
準の２倍）となっていると判断したときは、ステップＳ
３でレジスタのセットデータとしてＸ＝１００をセット
する。
を作るのに、ＣＰＵシステムクロックの図５に示すルー
ププログラムにおいて、ステップＳ１でレジスタのセッ
トデータがＸ＝５０のときに、ステップＳ２でレジスタ
Ｘ＝０となった時点で１ｍｓになるように設計してある
とすると、システムクロックが５μｓ（発振周波数が基
準の２倍）となっていると判断したときは、ステップＳ
３でレジスタのセットデータとしてＸ＝１００をセット
する。
【００４５】また、システムクロックが２０μｓ（発振
周波数が基準の半分）となっていると判断したときに
は、ステップＳ４でレジスタのセットデータとしてＸ＝
２５をセットすることにより、発振周波数が変わって
も、ウエイト時間１ｍｓが変化しないようにする。
周波数が基準の半分）となっていると判断したときに
は、ステップＳ４でレジスタのセットデータとしてＸ＝
２５をセットすることにより、発振周波数が変わって
も、ウエイト時間１ｍｓが変化しないようにする。
【００４６】なお、上記ループログラムで、レジスタＸ
＝５０のときに、ステップＳ２でレジスタＸ＝０となっ
た時点で１ｍｓになるように設計してあるとすると、こ
のステップＳ２において、Ｘ＝０とならないときは、Ｎ
Ｏに分岐し、ステップＳ５でレジスタＸ＝Ｘ−１を行っ
て、ステップＳ５でＸ＝Ｘ−１を行って、ステップＳ２
に戻り、ここでレジスタ「Ｘ＝０」となるまで、その処
理ルーチンを繰り返すことにより、ウエイト時間１ｍｓ
が計時されることになる。
＝５０のときに、ステップＳ２でレジスタＸ＝０となっ
た時点で１ｍｓになるように設計してあるとすると、こ
のステップＳ２において、Ｘ＝０とならないときは、Ｎ
Ｏに分岐し、ステップＳ５でレジスタＸ＝Ｘ−１を行っ
て、ステップＳ５でＸ＝Ｘ−１を行って、ステップＳ２
に戻り、ここでレジスタ「Ｘ＝０」となるまで、その処
理ルーチンを繰り返すことにより、ウエイト時間１ｍｓ
が計時されることになる。
【００４７】このように、この実施例によれば、定電
圧、常温などの基準となる測定条件下でＣＲ発振器の発
振周波数を基準発振周波数として、Ｅ２ＰＲＯＭ１６に
記憶しておき、電圧検出器１４で現在の電圧を検出する
とともに、温度検出器１５で現在の温度を検出し、これ
らの検出値が基準測定条件下での検出値との間に差が生
じていれば、Ｅ２ＰＲＯＭで記憶された発振周波数に対
し、現在のＣＲ発振器の発振周波数に変動があったこと
となるので、電圧および周囲温度に対する周波数変動特
性に基づき、あらかじめ決められた演算により補正する
ようにしたので、コストが安く、発振周波数が不正確か
つ不安定なＣＲ発振器でも、正確な発振周波数が得られ
る利点を有する。
圧、常温などの基準となる測定条件下でＣＲ発振器の発
振周波数を基準発振周波数として、Ｅ２ＰＲＯＭ１６に
記憶しておき、電圧検出器１４で現在の電圧を検出する
とともに、温度検出器１５で現在の温度を検出し、これ
らの検出値が基準測定条件下での検出値との間に差が生
じていれば、Ｅ２ＰＲＯＭで記憶された発振周波数に対
し、現在のＣＲ発振器の発振周波数に変動があったこと
となるので、電圧および周囲温度に対する周波数変動特
性に基づき、あらかじめ決められた演算により補正する
ようにしたので、コストが安く、発振周波数が不正確か
つ不安定なＣＲ発振器でも、正確な発振周波数が得られ
る利点を有する。
【００４８】なお、本発明は、上記実施側に限定される
ものでなく、その要旨を逸脱しない範囲内で、種々の変
形実施ができるものである。
ものでなく、その要旨を逸脱しない範囲内で、種々の変
形実施ができるものである。
【００４９】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項１に記載の
発明によれば、基準となる測定条件下でＣＲ発振器の発
振周波数を記憶手段に記憶しておき、現在の発振周波数
の変動を間接的に検出する検出手段で検出した現在の値
と記憶手段で記憶した発振周波数とから、時間的なソフ
ト処理に変化が生じないように中央処理装置で現在の発
振周波数の変動を補正するように構成したので、発振周
波数の不正確かつ不安定なＣＲ発振器でも正確な発振周
波数が得られ、しかもＣＲ発振器の利点である低コスト
をそのまま生かせるＣＰＵの発振周波数変動の補正装置
を提供することができる。
発明によれば、基準となる測定条件下でＣＲ発振器の発
振周波数を記憶手段に記憶しておき、現在の発振周波数
の変動を間接的に検出する検出手段で検出した現在の値
と記憶手段で記憶した発振周波数とから、時間的なソフ
ト処理に変化が生じないように中央処理装置で現在の発
振周波数の変動を補正するように構成したので、発振周
波数の不正確かつ不安定なＣＲ発振器でも正確な発振周
波数が得られ、しかもＣＲ発振器の利点である低コスト
をそのまま生かせるＣＰＵの発振周波数変動の補正装置
を提供することができる。
【００５０】また、請求項２に記載の発明によれば、Ｃ
Ｒ発振器の発振周波数の変動を間接的に検出する検出手
段として、電圧検出器と温度検出器を用いて構成するよ
うにしたので、変動の主たる要因である電圧変動と温度
変動が生じてもＣＲ発振器の発振周波数の変動を間接的
に知って周波数変動を正確に補正し得るＣＰＵの発振周
波数変動の補正装置を提供することができる。
Ｒ発振器の発振周波数の変動を間接的に検出する検出手
段として、電圧検出器と温度検出器を用いて構成するよ
うにしたので、変動の主たる要因である電圧変動と温度
変動が生じてもＣＲ発振器の発振周波数の変動を間接的
に知って周波数変動を正確に補正し得るＣＰＵの発振周
波数変動の補正装置を提供することができる。
【００５１】さらに、請求項３に記載の発明によれば、
検出手段でＣＲ発振器の発振周波数の変動を間接的に検
出し、この検出値と基準測定条件で測定し且つ記憶手段
に記憶しておいた発振周波数とから現在の発振周波数の
変動をあらかじめ決められた演算により補正するように
したので、発振周波数の不正確かつ不安定なＣＲ発振器
でも、正確な発振周波数が得られ、しかも低コスト化を
実現し得るＣＰＵの発振周波数変動の補正方法を提供す
ることができる。
検出手段でＣＲ発振器の発振周波数の変動を間接的に検
出し、この検出値と基準測定条件で測定し且つ記憶手段
に記憶しておいた発振周波数とから現在の発振周波数の
変動をあらかじめ決められた演算により補正するように
したので、発振周波数の不正確かつ不安定なＣＲ発振器
でも、正確な発振周波数が得られ、しかも低コスト化を
実現し得るＣＰＵの発振周波数変動の補正方法を提供す
ることができる。
【図１】本発明に係るＣＰＵの発振周波数変動の補正装
置および方法の一実施例の全体構成を示すブロック図で
ある。
置および方法の一実施例の全体構成を示すブロック図で
ある。
【図２】図１の実施例を説明するための電源電圧対クロ
ック発振周波数の関係を示す特性図である。
ック発振周波数の関係を示す特性図である。
【図３】図１の実施例を説明するための周囲温度対クロ
ック発振周波数の関係を示す特性図である。
ック発振周波数の関係を示す特性図である。
【図４】図１の実施例を説明するための外付け抵抗の抵
抗値対クロック発振周波数の関係を示す特性図である。
抗値対クロック発振周波数の関係を示す特性図である。
【図５】図１の実施例をカメラのシステムクロックに適
用した場合のシステムクロックの変動時の補正を説明す
るためのフローチャートである。
用した場合のシステムクロックの変動時の補正を説明す
るためのフローチャートである。
【図６】従来の水晶／セラミック発振器の構成を模式的
に示す回路図である。
に示す回路図である。
【図７】従来のＣＲ発振器の構成を模式的に示す回路図
である。
である。
１１ ＣＰＵ １２ 電池 １３ スイッチ １４ 電圧検出器 １５ 温度検出器 １６ Ｅ２ＰＲＯＭ Ｒ１，Ｒ２ 抵抗 Ｃ１，Ｃ２ コンデンサ
Claims (3)
- 【請求項１】 ＣＲ発振器を用いたＣＰＵにおいて、上
記ＣＲ発振器の基準発振周波数を記憶する記憶手段と、
上記ＣＲ発振器の発振周波数変動を間接的に検出する検
出手段と、上記記憶手段で記憶された発振周波数と上記
検出手段により間接的に検出された現在の検出値とから
時間的なソフト処理に変化が生じないように補正する中
央処理装置とを具備したことを特徴とするＣＰＵの発振
周波数変動の補正装置。 - 【請求項２】 上記検出手段は、温度検出器および／ま
たは上記ＣＲ発振器に印加する電圧を検出する電圧検出
器により構成されることを特徴とする請求項１記載のＣ
ＰＵの発振周波数変動の補正装置。 - 【請求項３】 ＣＲ発振器の基準温度、基準電圧の下で
の基準発振周波数を測定して記憶手段に記憶するととも
に、上記ＣＲ発振器の発振周波数の変動と周囲温度およ
び電圧の変動との関係を予め求めておき、適宜時点で上
記周囲温度および電圧を検出手段で検出し、上記記憶し
た基準発振周波数と上記適宜時点における検出手段の値
とから現在の発振周波数の変動をあらかじめ決めた演算
により補正することを特徴とするＣＰＵの発振周波数変
動の補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21130091A JPH0575445A (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | Ｃｐｕの発振周波数変動の補正装置および補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21130091A JPH0575445A (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | Ｃｐｕの発振周波数変動の補正装置および補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0575445A true JPH0575445A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=16603663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21130091A Pending JPH0575445A (ja) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | Ｃｐｕの発振周波数変動の補正装置および補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0575445A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6721006B1 (en) | 1998-08-04 | 2004-04-13 | Ricoh Company, Ltd. | Digital camera and control method for the same |
| JP2006270917A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
| JP2008270985A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | タイマ回路及び警報装置 |
| US7554415B2 (en) | 2006-01-17 | 2009-06-30 | Denso Corporation | Microcomputer including a CR oscillator circuit |
| US7602273B2 (en) | 2004-03-29 | 2009-10-13 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device, method of manufacturing the same, and electronic device |
| US8099621B2 (en) | 2007-10-12 | 2012-01-17 | Denso Corporation | Data reception apparatus and microcomputer having the same |
| JP2013005022A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Denso Corp | Ｃｒ発振回路およびその周波数補正方法 |
| DE102015202271A1 (de) | 2014-02-13 | 2015-08-13 | Denso Corporation | Elektronische steuereinrichtung mit oszillatorschaltungen |
| WO2021241268A1 (ja) * | 2020-05-27 | 2021-12-02 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | Ｐｌｌ回路 |
-
1991
- 1991-07-30 JP JP21130091A patent/JPH0575445A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6721006B1 (en) | 1998-08-04 | 2004-04-13 | Ricoh Company, Ltd. | Digital camera and control method for the same |
| US7602273B2 (en) | 2004-03-29 | 2009-10-13 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor device, method of manufacturing the same, and electronic device |
| JP4626498B2 (ja) * | 2005-02-28 | 2011-02-09 | 株式会社デンソー | マイクロコンピュータ |
| JP2006270917A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Denso Corp | マイクロコンピュータ |
| US7356719B2 (en) | 2005-02-28 | 2008-04-08 | Denso Corporation | Microcomputer |
| US7554415B2 (en) | 2006-01-17 | 2009-06-30 | Denso Corporation | Microcomputer including a CR oscillator circuit |
| JP2008270985A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Works Ltd | タイマ回路及び警報装置 |
| US8099621B2 (en) | 2007-10-12 | 2012-01-17 | Denso Corporation | Data reception apparatus and microcomputer having the same |
| JP2013005022A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Denso Corp | Ｃｒ発振回路およびその周波数補正方法 |
| DE102015202271A1 (de) | 2014-02-13 | 2015-08-13 | Denso Corporation | Elektronische steuereinrichtung mit oszillatorschaltungen |
| JP2015154191A (ja) * | 2014-02-13 | 2015-08-24 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| DE102015202271B4 (de) | 2014-02-13 | 2024-06-06 | Denso Corporation | Elektronische steuereinrichtung mit oszillatorschaltungen |
| WO2021241268A1 (ja) * | 2020-05-27 | 2021-12-02 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | Ｐｌｌ回路 |
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