JPH057535Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH057535Y2 JPH057535Y2 JP1572788U JP1572788U JPH057535Y2 JP H057535 Y2 JPH057535 Y2 JP H057535Y2 JP 1572788 U JP1572788 U JP 1572788U JP 1572788 U JP1572788 U JP 1572788U JP H057535 Y2 JPH057535 Y2 JP H057535Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive film
- film
- plane
- circuit board
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 61
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000012815 thermoplastic material Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は薄膜の貼合せ状態、特に導電性接着膜
の回路基板への接着状態を検査する装置に関す
る。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an apparatus for inspecting the bonding condition of thin films, particularly the bonding condition of a conductive adhesive film to a circuit board.
フレキシブル回路基板上に設けられた配線パタ
ーン上に、外部装置または回路との接続に用いる
ための導電性接着膜(以下単に導電膜という)を
圧着することがある。
A conductive adhesive film (hereinafter simply referred to as a conductive film) for use in connection with an external device or circuit is sometimes pressure-bonded onto a wiring pattern provided on a flexible circuit board.
第11図はフレキシブル回路基板1の配線パタ
ーン上に導電膜2を圧着した様子を示している。
フレキシブル回路基板1上には配線パターン5,
6が形成されており、集積回路などの電子部品4
がすでに取付けられている。本例では一方の配線
パターン5上に導電膜2が圧着されている。従来
は図示するように、長尺のフレキシブル回路基板
1を図示の破線Lに沿つて切断し、同じ幅に切断
された導電膜2を所定の位置に貼付していた。導
電膜2の貼付が完了すると貼付状態の検査が行わ
れ、検査に合格したものは次の工程に送られる。
しかしこの貼付状態の検査は従来非常に困難であ
つた。 FIG. 11 shows the state in which the conductive film 2 is pressed onto the wiring pattern of the flexible circuit board 1.
On the flexible circuit board 1 are wiring patterns 5,
6 is formed, and electronic components 4 such as integrated circuits are formed.
is already installed. In this example, the conductive film 2 is pressure-bonded onto one of the wiring patterns 5. Conventionally, as shown in the figure, a long flexible circuit board 1 is cut along the broken line L shown in the figure, and a conductive film 2 cut to the same width is pasted at a predetermined position. When the attachment of the conductive film 2 is completed, the attachment state is inspected, and those that pass the inspection are sent to the next process.
However, it has been extremely difficult to inspect the state of attachment.
第12図は導電膜2が貼付されたフレキシブル
回路基板1の断面図である。フレキシブル回路基
板1は配線パターン5が接着剤5Aによつてベー
スフイルムBFに接着された構造を有している。
導電膜2の厚さTは10μm程度と非常に薄く、そ
れが配線パターン5に接している部分に傷をつけ
ると導電膜の機能が低下する。さらに導電膜2は
半透明で、かつベースフイルムBFとの明暗差が
少なく、導電膜2がベースフイルムBF上に存在
するか否かの判定を自動的に行うのが困難で、人
手による検査にたよらざるを得なかつた。またベ
ースフイルムBF上に接着剤5Aの層が存在する
ので、フイルム全体の厚さHfにはばらつきがあ
り、そのために導電膜2を加えた全体の厚さHを
測定しても、導電膜2が正しく貼付されているか
否かの判定を行うことはできなかつた。 FIG. 12 is a sectional view of the flexible circuit board 1 to which the conductive film 2 is attached. The flexible circuit board 1 has a structure in which a wiring pattern 5 is adhered to a base film BF with an adhesive 5A.
The thickness T of the conductive film 2 is very thin, about 10 μm, and if the part where it contacts the wiring pattern 5 is damaged, the function of the conductive film will deteriorate. Furthermore, the conductive film 2 is semi-transparent and has little difference in brightness from the base film BF, making it difficult to automatically determine whether or not the conductive film 2 is present on the base film BF, making manual inspection difficult. I had no choice but to rely on it. In addition, since there is a layer of adhesive 5A on the base film BF, there are variations in the thickness H f of the entire film, so even if the total thickness H including the conductive film 2 is measured, the conductive film It was not possible to determine whether or not 2 was pasted correctly.
本考案は上述した従来の欠点を解消し、導電膜
の圧着検査を正確に行うことができ、かつ検査の
自動化に適した膜圧着検査装置を提供することを
目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks, to provide a film compression bonding inspection device that can accurately conduct a compression bonding inspection of a conductive film, and is suitable for automation of the inspection.
このような目的を達成するために、本考案はそ
れぞれの先端が一平面を形成するように支持体に
固定された複数の基準体と、支持体に固定され、
初期位置が平面上にあり、かつ変位可能な測定子
を有し、測定子の前期平面上からの変位量に応じ
て電気信号を出力するセンサと、先端によつて形
成される平面に向けて付勢されたばねによつて支
持された被測定物載置台と、支持体と被測定物載
置とを相対移動させる部材とを具えたことを特徴
とする。
In order to achieve such an object, the present invention includes a plurality of reference bodies fixed to a support body such that the tips of each body form a single plane, and a plurality of reference bodies fixed to the support body,
A sensor whose initial position is on a plane and has a movable probe, which outputs an electrical signal according to the amount of displacement of the probe from the plane, and a sensor that is directed toward the plane formed by the tip. It is characterized by comprising a measuring object mounting table supported by an energized spring, and a member for relatively moving the support body and the measuring object mounting table.
本考案によれば、複数個の基準ブロツクによつ
て平面を形成し、被測定物載置台をこの平面に追
随させるので、被測定物の表面は、例えその厚さ
にばらつきがあつても、同一平面上の複数点で抑
えることができる。そのために被測定物の表面の
凹凸を1μm程度の精度で検出し得るセンサによつ
て膜の貼合せ状態を正確にかつ自動的に検査する
ことができる。
According to the present invention, a plane is formed by a plurality of reference blocks, and the object mounting table is made to follow this plane, so that even if the surface of the object to be measured varies in thickness, It can be suppressed at multiple points on the same plane. Therefore, the bonding state of the membrane can be accurately and automatically inspected using a sensor that can detect irregularities on the surface of the object to be measured with an accuracy of about 1 μm.
以下に図面を参照して本考案を詳細に説明す
る。
The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は本考案の膜貼合せ検査装置の側面図、
第2図は第1図のA−A線に沿つた断面図であ
り、第3図は同装置の正面図、第4図はその底面
図である。 Figure 1 is a side view of the membrane bonding inspection device of the present invention.
2 is a sectional view taken along the line A--A in FIG. 1, FIG. 3 is a front view of the device, and FIG. 4 is a bottom view thereof.
4個の基準ブロツク101が、その下面が一平
面をなすように取付台103に固定されている。
ベース104には支持台105が固定され、支持
台105にはガイド106が固定されている。取
付台103はこのガイド106に沿つて上下動で
きるように、支持台105に固定されたシリンダ
107のピストンロツド107Aに固定されてい
る。取付台103には、さらに2個のセンサ10
2が固定されている。センサ102の先端の測定
子102Aの先端位置は定常時は4個の基準ブロ
ツク101が形成する平面内にある。そして測定
子102Aが定められた高さだけ上方へ変位する
と信号線102Bからその旨の信号を取り出せる
ようになつている。センサ102としては、例え
ば1μmの精度を有するBaumer ElectricAG社の
MY−COMを用いることができる。 Four reference blocks 101 are fixed to a mounting base 103 so that their lower surfaces form one plane.
A support stand 105 is fixed to the base 104, and a guide 106 is fixed to the support stand 105. The mounting base 103 is fixed to a piston rod 107A of a cylinder 107 fixed to a support base 105 so as to be able to move up and down along this guide 106. Two more sensors 10 are installed on the mounting base 103.
2 is fixed. The position of the tip of the probe 102A at the tip of the sensor 102 is within the plane formed by the four reference blocks 101 during normal operation. When the probe 102A is displaced upward by a predetermined height, a signal to that effect can be taken out from the signal line 102B. As the sensor 102, for example, Baumer Electric AG's sensor with an accuracy of 1 μm is used.
MY-COM can be used.
第5図に各基準ブロツクおよびセンサの下面か
ら見た配置を示す。 FIG. 5 shows the arrangement of each reference block and sensor as viewed from the bottom.
一方、ベース104には基準台108が、その
表面を4個の基準ブロツク101が形成する平面
と平行を保つように固定されている。すなわち、
基準台108に固定されたブラケツト109に軸
受110を介して十字軸111が取付けられ、こ
の十字軸111は軸受112を介してベース10
4に取付けられている。かくして基準台108は
十字軸111の直交する二つの軸の周囲で回転可
能である。さらに基準台108はベース104と
基準台108との間に設けられた4個のばね10
8Aによつて、4個の基準ブロツク101の形成
する平面と平行になるように付勢されている。 On the other hand, a reference stand 108 is fixed to the base 104 so that its surface remains parallel to the plane formed by the four reference blocks 101. That is,
A cross shaft 111 is attached to a bracket 109 fixed to a reference stand 108 via a bearing 110, and this cross shaft 111 is attached to a base 10 via a bearing 112.
It is attached to 4. Thus, the reference stand 108 is rotatable around the two orthogonal axes of the cross shaft 111. Furthermore, the reference stand 108 has four springs 10 provided between the base 104 and the reference stand 108.
8A, it is urged to be parallel to the plane formed by the four reference blocks 101.
被測定物を基準台108上に載せ、シリンダ1
07に空気などの流体を送つて取付台103を下
降させ、4個の基準ブロツク101を被測定物の
表面に接触させる。基準台108はばね108A
によつて付勢されており、かつ十字軸の2本の軸
の交差中心111Aを中心にして回転できるの
で、被測定物の厚さが一様でなくても、4個の基
準ブロツク101は一平面上で被測定物に接触
し、センサ102はその平面からの測定子102
Aの変位によつて導電膜の有無を検出することが
できる。 Place the object to be measured on the reference stand 108 and move the cylinder 1
07 to lower the mounting base 103 and bring the four reference blocks 101 into contact with the surface of the object to be measured. The reference stand 108 is a spring 108A
The four reference blocks 101 can be rotated around the intersection center 111A of the two cross axes, so even if the thickness of the object to be measured is not uniform, the four reference blocks 101 can be The sensor 102 contacts the object to be measured on one plane, and the sensor 102 receives the probe 102 from that plane.
The presence or absence of the conductive film can be detected based on the displacement of A.
第6図に導電膜が圧着されている長尺のフレキ
シブル回路基板の一例を示す。フレキシブル回路
基板1には、側端部にパーフオレーシヨン3が設
けられている。基板1上の所定の位置に集積回路
4がすでに取付けられている。5および6は配線
パターンである。一方の配線パターン5上に定め
られた寸法の導電膜2が貼合され、集積回路4に
よつて制御される例えば液晶表示器などの装置の
必要端子が、後の工程によつてこの導電膜2を介
して配線パターン5に接続される。なお、図示す
るように集積回路が取付けられていない配線パタ
ーンには、導電膜は貼合されない。ICは案内フ
イルムである。 FIG. 6 shows an example of a long flexible circuit board on which a conductive film is crimped. The flexible circuit board 1 is provided with a perforation 3 at the side end. An integrated circuit 4 is already mounted at a predetermined position on the substrate 1. 5 and 6 are wiring patterns. A conductive film 2 having a predetermined size is bonded onto one of the wiring patterns 5, and necessary terminals of a device such as a liquid crystal display controlled by the integrated circuit 4 are formed on this conductive film in a later process. It is connected to the wiring pattern 5 via 2. Note that, as shown in the figure, no conductive film is bonded to the wiring pattern to which no integrated circuit is attached. IC is a guide film.
フイルム状のフレキシブル回路基板1は、例え
ば厚さ100μm程度のポリイミド樹脂からなり、導
電膜2は、例えば特開昭61−55809号公報に開示
されている厚さ方向にのみ導電性を有する熱可塑
性樹脂膜からなり、導電膜2と保護膜2Aとが積
層されたものを用いることができる。 The film-like flexible circuit board 1 is made of polyimide resin with a thickness of about 100 μm, for example, and the conductive film 2 is made of thermoplastic material having conductivity only in the thickness direction, as disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 61-55809. It is possible to use a resin film in which a conductive film 2 and a protective film 2A are laminated.
フレキシブル回路基板を、スプロケツトによつ
て基準台108上に送り、個々の導電膜の貼合せ
状態を連続して自動的に検査することができる。 The flexible circuit board is sent onto the reference stand 108 by a sprocket, and the bonding state of each conductive film can be continuously and automatically inspected.
基準台108上に送られたフレキシブル回路基
板の被検査部位を第7図に示す。101Aは基準
ブロツク101との接触点、102Cは測定点で
ある。導電膜2の厚さが10μmの時、例えばセン
サ107の測定子102Aの変位量が8μm以上で
あればセンサはON出力を、8μm未満であれば
OFF出力を信号線102Bに出力するよう設定
する。従つて第8図に示すように導電膜が圧着貼
付されている時は2個のセンサ107からON信
号が出力され、第9図に示すように導電膜が貼付
けられている時には一方のセンサからはOFF信
号が出力されるので、貼付状態の良,不良を自動
的にかつ確実に検査することができる。 The portion to be inspected of the flexible circuit board sent onto the reference stand 108 is shown in FIG. 101A is a contact point with the reference block 101, and 102C is a measurement point. When the thickness of the conductive film 2 is 10 μm, for example, if the displacement amount of the probe 102A of the sensor 107 is 8 μm or more, the sensor outputs ON, and if it is less than 8 μm, the sensor outputs ON.
Set the OFF output to be output to the signal line 102B. Therefore, as shown in FIG. 8, when the conductive film is attached by pressure, an ON signal is output from the two sensors 107, and when the conductive film is attached, as shown in FIG. 9, an ON signal is output from one sensor. Since the OFF signal is output, it is possible to automatically and reliably inspect whether the pasting condition is good or bad.
なお、本考案の膜貼合せ検査装置は、単体とし
ても使用できるが導電膜圧着装置に組み込むこと
によつて、その機能を一層よく発揮することがで
きる。 Although the membrane bonding inspection device of the present invention can be used as a stand-alone device, it can exhibit its functions even better by incorporating it into a conductive film pressure bonding device.
第10図は本考案にかかる膜貼合せ検査装置を
適用した導電膜貼合せ機の概要を示す正面図であ
る。 FIG. 10 is a front view schematically showing a conductive film bonding machine to which the film bonding inspection device according to the present invention is applied.
図において、11は装置本体である。フレキシ
ブル回路基板1は、取付けられている集積回路を
保護するための保護フイルム1Aと重ね巻きされ
て供給リール12に巻き付けられている。供給リ
ール12の回転軸12Aを駆動してフレキシブル
回路基板1をアイドラー13、テンシヨンローラ
14およびガイドローラ15を経て作業位置Aに
送り、さらにA部を経由してスプロケツト16に
導く。この時保護フイルム1Aはアイドラー17
A、テンシヨンローラ18およびアイドラー17
Bを経て巻取りリール19に巻取られる。20は
導電膜2をフレキシブル回路基板1に貼合せる圧
着ヘツド21および導電膜2を一定の寸法に切断
するカツターを搭載するベースであつて、本体1
1のフレーム22上を上下に移動可能である。導
電膜2は保護膜2Aと積層された状態で、供給リ
ール23に巻き付けられている。リール23の回
転軸23Aを駆動して導電膜2は保護膜2Aと共
に送り出す。送り出された導電膜2はアイドラー
24,25、テンシヨンローラ26およびガイド
ローラ27を経て圧着ヘツド21に達する。導電
膜とフレキシブル回路基板との貼合せが終了した
後、保護膜2Aは送りローラ28によつて引き上
げられ、ガイドローラ29、アイドラー30,3
1およびテンシヨンローラ32を経て巻取りリー
ル33に巻取られる。貼合せ作業の終了したフレ
キシブル回路基板はテンシヨンローラ34および
ガイドローラ35を経て次のユニツト、例えばプ
レスユニツト36に供給される。 In the figure, 11 is the main body of the device. The flexible circuit board 1 is wound around the supply reel 12 in a layered manner with a protective film 1A for protecting the attached integrated circuit. The rotating shaft 12A of the supply reel 12 is driven to send the flexible circuit board 1 through an idler 13, a tension roller 14, and a guide roller 15 to a working position A, and further to a sprocket 16 through a section A. At this time, the protective film 1A is the idler 17
A, tension roller 18 and idler 17
B and is wound onto the take-up reel 19. Reference numeral 20 denotes a base on which is mounted a pressure bonding head 21 for bonding the conductive film 2 to the flexible circuit board 1 and a cutter for cutting the conductive film 2 to a predetermined size.
It is possible to move up and down on the frame 22 of 1. The conductive film 2 is wound around the supply reel 23 in a laminated state with the protective film 2A. The rotating shaft 23A of the reel 23 is driven to send out the conductive film 2 together with the protective film 2A. The conductive film 2 sent out passes through idlers 24 and 25, a tension roller 26, and a guide roller 27, and reaches the pressure bonding head 21. After the bonding of the conductive film and the flexible circuit board is completed, the protective film 2A is pulled up by the feed roller 28, and the protective film 2A is pulled up by the guide roller 29 and the idlers 30, 3.
1 and a tension roller 32, and then wound onto a take-up reel 33. The flexible circuit board that has been pasted is supplied to the next unit, for example, a press unit 36, via a tension roller 34 and a guide roller 35.
フレキシブル回路基板および導電膜の移送過程
において、各フイルムおよび膜は、供給速度と巻
取り速度の差によつて生ずる張力と、フイルムま
たは膜の強度との釣合いを保つように、テンシヨ
ンローラ14,18,26,32および34を経
由するようになつている。例えば、テンシヨンロ
ーラ14は軸14Aによつて揺動可能なアーム1
4Bの一端に支持され、アーム14Bの他端には
カウンターウエイト14Cが固定され、張力の変
動によつてテンシヨンローラ14は上下動する。
テンシヨンローラ18,26および34に対する
軸18A,26A,34A、アーム18B,26
B,34Bおよびカウンターウエイト18C,2
6C,34Cの機能はそれぞれ14A,14Bお
よび14Cと全く同様である。図示を省略した
が、テンシヨンローラ32も他のテンシヨンロー
ラと全く同様に動作する。 During the process of transferring the flexible circuit board and conductive film, each film or film is moved by a tension roller 14, so that the tension caused by the difference between the feeding speed and the winding speed is balanced with the strength of the film or film. 18, 26, 32 and 34. For example, the tension roller 14 has an arm 1 that is swingable by a shaft 14A.
A counterweight 14C is fixed to the other end of the arm 14B, and the tension roller 14 moves up and down as the tension changes.
Axes 18A, 26A, 34A, arms 18B, 26 for tension rollers 18, 26 and 34
B, 34B and counterweight 18C, 2
The functions of 6C and 34C are exactly the same as those of 14A, 14B and 14C, respectively. Although not shown, the tension roller 32 operates in exactly the same way as the other tension rollers.
本装置においては、先頭に従来例におけると同
様に案内フイルムを接続したフレキシブル回路基
板を、センサ40を用いて、最初の作業部位の位
置決めを行い、センサ50によつて位置の微調整
を行つた後、圧着ヘツド21による導電膜2の貼
合せを行う。その後カツターによつて導電膜2を
切断し、第1〜第5図に示した本考案による貼合
せ検査装置60によつて貼合せ状況を検査した後
に、次の工程に移る。 In this device, a flexible circuit board to which a guide film is connected at the top in the same manner as in the conventional example is used to first position the work area using a sensor 40, and finely adjust the position using a sensor 50. Thereafter, the conductive film 2 is bonded using the pressure bonding head 21. After that, the conductive film 2 is cut with a cutter, and the bonding condition is inspected by the bonding inspection device 60 according to the present invention shown in FIGS. 1 to 5, and then the next step is performed.
以上の一連の動作および各フイルムと膜の供給
および巻取り速度の調整は、1個の制御装置、例
えばマイクロプロセツサによつて制御されること
ができる。 The series of operations described above and the adjustment of the supply and winding speeds of each film and membrane can be controlled by a single controller, for example a microprocessor.
以上説明したように本考案によれば、複数個の
基準ブロツクによつて平面を形成し、被測定物載
置台をこの平面に追随させるので、被測定物の表
面は、例えその厚さにばらつきがあつても、同一
平面上の複数点で抑えることができる。そのため
に被測定物の表面の凹凸を1μm程度の精度で検出
し得るセンサによつて膜の貼合せ状態を正確にか
つ自動的に検査することができる。
As explained above, according to the present invention, a plane is formed by a plurality of reference blocks, and the workpiece mounting table is made to follow this plane. Even if there is a problem, it can be suppressed by using multiple points on the same plane. Therefore, the bonding state of the membrane can be accurately and automatically inspected using a sensor that can detect irregularities on the surface of the object to be measured with an accuracy of about 1 μm.
従つて本考案は単独に使用する場合のみでな
く、長尺のフレキシブル回路基板に導電膜を自動
的に圧着する貼合せ機の検査工程に本装置を導入
すると一層有効である。 Therefore, the present invention is not only useful when used alone, but is even more effective when introduced into the inspection process of a bonding machine that automatically pressure-bonds a conductive film onto a long flexible circuit board.
第1図は本考案の一実施例の側面図、第2図は
その断面図、第3図は正面図、第4図は底面図、
第5図は基準ブロツクとセンサの配置図、第6図
はフレキシブル回路基板の平面図、第7図は本考
案の装置による検査法を説明する図、第8図およ
び第9図は導電膜の貼合せ状態を示す図、第10
図は本考案の膜貼合せ検査装置を適用した導電膜
貼合せ機の正面図、第11図および第12図はそ
れぞれフレキシブル回路基板の平面図および断面
図である。
1……フレキシブル回路基板、2……導電膜、
5……配線パターン、5A……接着剤、101…
…基準ブロツク、102……センサ、102A…
…測定子、108……基準台、108A……ば
ね。
Fig. 1 is a side view of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a sectional view thereof, Fig. 3 is a front view, and Fig. 4 is a bottom view.
FIG. 5 is a layout diagram of the reference block and sensor, FIG. 6 is a plan view of the flexible circuit board, FIG. 7 is a diagram explaining the inspection method using the device of the present invention, and FIGS. Diagram showing the bonded state, No. 10
The figure is a front view of a conductive film bonding machine to which the film bonding inspection device of the present invention is applied, and FIGS. 11 and 12 are a plan view and a sectional view, respectively, of a flexible circuit board. 1... Flexible circuit board, 2... Conductive film,
5...Wiring pattern, 5A...Adhesive, 101...
...Reference block, 102...Sensor, 102A...
... Measuring head, 108... Reference stand, 108A... Spring.
Claims (1)
体に固定された複数の基準体と、 前記支持体に固定され、初期位置が前記平面上
にあり、かつ変位可能な測定子を有し、該測定子
の前記平面上からの変位量に応じて電気信号を出
力するセンサと、 前記先端によつて形成される平面に向けて付勢
されたばねによつて支持された被測定物載置台
と、 前記支持体と前記被測定物載置台とを相対移動
させる部材とを具えたことを特徴とする膜貼合せ
検査装置。[Claims for Utility Model Registration] A plurality of reference bodies fixed to a support body such that their tips form one plane; and a plurality of reference bodies fixed to the support body, whose initial position is on the plane, and which are movable. a sensor that outputs an electrical signal according to the amount of displacement of the measuring point from the plane; and a sensor supported by a spring biased toward the plane formed by the tip. What is claimed is: 1. A film bonding inspection apparatus comprising: a measuring object mounting table; and a member for relatively moving the support and the measuring object mounting table.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1572788U JPH057535Y2 (en) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1572788U JPH057535Y2 (en) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01121808U JPH01121808U (en) | 1989-08-18 |
JPH057535Y2 true JPH057535Y2 (en) | 1993-02-25 |
Family
ID=31228025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1572788U Expired - Lifetime JPH057535Y2 (en) | 1988-02-10 | 1988-02-10 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH057535Y2 (en) |
-
1988
- 1988-02-10 JP JP1572788U patent/JPH057535Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01121808U (en) | 1989-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20080088433A (en) | Method of applying elongate web | |
CN112748070A (en) | Adhesive tape viscosity detection system for adhesive tape production and application method thereof | |
US5083087A (en) | Broken wire detector for wire scribing machines | |
US4867837A (en) | Film peeler | |
JPH057535Y2 (en) | ||
JP2005236049A (en) | Tape supplying method and apparatus thereof and method and apparatus for adhering tape to substrate | |
JP3635168B2 (en) | Lead frame taping device | |
JP2009083943A (en) | Device and method for manufacturing photosensitive layered product | |
JP2008213149A (en) | Apparatus and method for producing photosensitive laminate | |
KR970004748B1 (en) | Sticking apparatus and sticking method | |
KR960007301B1 (en) | Film applying method and film applying apparatus | |
JPH06344467A (en) | Method of sticking sheet material and apparatus therefor | |
JPH0531837Y2 (en) | ||
JPH01175748A (en) | Apparatus and method for compression-bonding of conductive adhesive film | |
CN218349766U (en) | Brightness tester for LED lamp | |
JP2856887B2 (en) | Method and apparatus for crimping conductive adhesive film | |
JP3740735B2 (en) | TCP handler | |
KR20050073830A (en) | Apparatus for measuring thickness of gelatine sheet of manufacturing device for soft gelatine capsule | |
JPH07287245A (en) | Anisotropic conductive film sticking device | |
KR102301606B1 (en) | An apparatus for cutting paper and measuring length the paper | |
JPH01175746A (en) | Apparatus and method for position adjustment of flexible circuit board | |
JPH10303594A (en) | Device for applying lamination tape for adhering electronic component and method for forming cut-out of lamination tape for adhering electronic component | |
JPH01175747A (en) | Apparatus and method for cutting conductive adhesive film | |
JP2969893B2 (en) | Adhesive tape sticking device | |
KR102696367B1 (en) | Flexible device bonding clean quartz system |