JPH0573327B2 - - Google Patents
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- JPH0573327B2 JPH0573327B2 JP62261403A JP26140387A JPH0573327B2 JP H0573327 B2 JPH0573327 B2 JP H0573327B2 JP 62261403 A JP62261403 A JP 62261403A JP 26140387 A JP26140387 A JP 26140387A JP H0573327 B2 JPH0573327 B2 JP H0573327B2
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Classifications
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、真空室内て高周波電極と対向して配
置された基板電極との間にプラズマを発生させ
て、容器内に導入される反応ガスを分解し、前記
基板電極に取り付けられた基板上に薄膜を形成さ
せるプラズマCVD装置に関する。
置された基板電極との間にプラズマを発生させ
て、容器内に導入される反応ガスを分解し、前記
基板電極に取り付けられた基板上に薄膜を形成さ
せるプラズマCVD装置に関する。
第2図および第3図は従来装置の概略断面図で
あり、第2図は第3図のB−B線に沿つた矢視方
向の全体的な水平断面図、第3図は第2図のA−
A矢視方向の側断面図であり、多層構造からなる
薄膜素子たとえばpin構造の非晶質シリコン層を
有する光起電力素子などの薄膜生成装置に使用さ
れているものである。図において、真空扉31を
備えた真空前室21と真空扉36を備えた出口側
の真空後室25との間にはそれぞれ真空仕切弁3
2〜35を備えた隔壁により気密に区画された
CVD処理室22,23,24が設けられ各室は
それぞれ真空源41に接続されて真空状態を保持
できるよう構成されるとともに、CVD処理室2
2〜24には、それぞれ成膜反応ガス導入管42
および電極面が鉛直になるよう器壁に絶縁支持さ
れた高周波電極5が設けられている。また高周波
電極5と対向して、対向する側の面に基板1を保
持し、ヒータ等の加熱手段61および温度制御器
62を内蔵した基板電極6が配置されている。さ
らに、第3図に示すように、高周波電極5と基板
1とが互いに平行にかつ所定の間隔Gを保持した
状態で真空前室21からCVD処理室22,23,
24を経て真空後室25へと搬送する搬送機構6
3と、基板電極の加熱手段61に移動中にも常に
電力が供給して基板電極6を所定温度に加熱する
電力供給機構部64とが備えられている。
あり、第2図は第3図のB−B線に沿つた矢視方
向の全体的な水平断面図、第3図は第2図のA−
A矢視方向の側断面図であり、多層構造からなる
薄膜素子たとえばpin構造の非晶質シリコン層を
有する光起電力素子などの薄膜生成装置に使用さ
れているものである。図において、真空扉31を
備えた真空前室21と真空扉36を備えた出口側
の真空後室25との間にはそれぞれ真空仕切弁3
2〜35を備えた隔壁により気密に区画された
CVD処理室22,23,24が設けられ各室は
それぞれ真空源41に接続されて真空状態を保持
できるよう構成されるとともに、CVD処理室2
2〜24には、それぞれ成膜反応ガス導入管42
および電極面が鉛直になるよう器壁に絶縁支持さ
れた高周波電極5が設けられている。また高周波
電極5と対向して、対向する側の面に基板1を保
持し、ヒータ等の加熱手段61および温度制御器
62を内蔵した基板電極6が配置されている。さ
らに、第3図に示すように、高周波電極5と基板
1とが互いに平行にかつ所定の間隔Gを保持した
状態で真空前室21からCVD処理室22,23,
24を経て真空後室25へと搬送する搬送機構6
3と、基板電極の加熱手段61に移動中にも常に
電力が供給して基板電極6を所定温度に加熱する
電力供給機構部64とが備えられている。
上述のように構成されたプラズマCVD装置に
おいて、真空扉31を開いて真空前室21に挿入
された複数の基板1を保持した基板電極6を、真
空状態に保持された真空前室21内で所定温度に
加熱したのち、第一のCVD処理室22を同様に
排気した状態で真空仕切弁32を開き、搬送機構
63を操作することにより基板電極6を第一の
CVD処理室22に搬送し、真空仕切弁32を閉
じる。ついで、処理室21の真空を保持しつつ成
膜反応ガス導入管42から第一膜生成用の反応ガ
スを導入し、高周波電極5に電圧を印加すると、
高周波電極5と基板電極6との間の間隔Gの空間
中にグロー放電が発生してプラズマ状態となり、
第一膜生成用の反応ガスが分解されて基板電極6
に装着した基板1の表面に反応生成物が堆積し、
第一膜を生成することができる。またこれと併行
して真空前室21には新たな基板電極6が挿入さ
れ予備加熱に行われる。また第二のCVD処理室
23、第三のCVD処理室24における操作も同
様である。このようにして3層の薄膜が形成され
た基板1を保持した基板電極6を出口側の真空後
室25に移し、所定の温度になるまで冷却したの
ち、真空後室25を大気圧状態に戻し、真空扉3
1を開放することにより外部に取出す。
おいて、真空扉31を開いて真空前室21に挿入
された複数の基板1を保持した基板電極6を、真
空状態に保持された真空前室21内で所定温度に
加熱したのち、第一のCVD処理室22を同様に
排気した状態で真空仕切弁32を開き、搬送機構
63を操作することにより基板電極6を第一の
CVD処理室22に搬送し、真空仕切弁32を閉
じる。ついで、処理室21の真空を保持しつつ成
膜反応ガス導入管42から第一膜生成用の反応ガ
スを導入し、高周波電極5に電圧を印加すると、
高周波電極5と基板電極6との間の間隔Gの空間
中にグロー放電が発生してプラズマ状態となり、
第一膜生成用の反応ガスが分解されて基板電極6
に装着した基板1の表面に反応生成物が堆積し、
第一膜を生成することができる。またこれと併行
して真空前室21には新たな基板電極6が挿入さ
れ予備加熱に行われる。また第二のCVD処理室
23、第三のCVD処理室24における操作も同
様である。このようにして3層の薄膜が形成され
た基板1を保持した基板電極6を出口側の真空後
室25に移し、所定の温度になるまで冷却したの
ち、真空後室25を大気圧状態に戻し、真空扉3
1を開放することにより外部に取出す。
しかし、非晶質シリコン光起電力素子のための
プラズマCVD装置の成膜工程においては、第二
のCVD処理室23における第二膜の厚いi膜生
成の時間が長く必要なため生産性が上がらないと
いう問題があつた。この問題を解決した装置とし
て、第4図に示したように第二のCVD処理室2
3を大きくし、基板電極6を複数組収納し、第二
膜の生成を一度に行う装置が知られている。
プラズマCVD装置の成膜工程においては、第二
のCVD処理室23における第二膜の厚いi膜生
成の時間が長く必要なため生産性が上がらないと
いう問題があつた。この問題を解決した装置とし
て、第4図に示したように第二のCVD処理室2
3を大きくし、基板電極6を複数組収納し、第二
膜の生成を一度に行う装置が知られている。
第4図に示したような一つのCVD処理室に複
数の基板電極6を収納した場合、各基板電極に対
向配置された高周波電極5は、各々の給電部53
を導体54で結合して電源55に接続される。し
かし、この場合各基板電極6の高周波電極5の間
の間隙の部分ではプラズマ反応が行われないた
め、プラズマ発生状態が均一にならず、基板1上
に生成される膜の膜厚分布が不均一になるという
問題があつた。また各高周波電極5の間に電位差
が生じ、あるいは各高周波電極5と基板電極6と
の間隔に不同が生じ、プラズマ反応の制御が不安
定となる問題があつた。この問題の対策として
は、高周波電極を1枚としてプラズマの均一化を
図ることが考えられるが、電極寸法が大きくなり
取扱い上不便となる欠点がある。また複数の高周
波電極を密着させて配置することは、処理中の温
度上昇による熱膨張によつて電極が湾曲し、その
ためにプラズマの不均一が起こるという欠点があ
る。
数の基板電極6を収納した場合、各基板電極に対
向配置された高周波電極5は、各々の給電部53
を導体54で結合して電源55に接続される。し
かし、この場合各基板電極6の高周波電極5の間
の間隙の部分ではプラズマ反応が行われないた
め、プラズマ発生状態が均一にならず、基板1上
に生成される膜の膜厚分布が不均一になるという
問題があつた。また各高周波電極5の間に電位差
が生じ、あるいは各高周波電極5と基板電極6と
の間隔に不同が生じ、プラズマ反応の制御が不安
定となる問題があつた。この問題の対策として
は、高周波電極を1枚としてプラズマの均一化を
図ることが考えられるが、電極寸法が大きくなり
取扱い上不便となる欠点がある。また複数の高周
波電極を密着させて配置することは、処理中の温
度上昇による熱膨張によつて電極が湾曲し、その
ためにプラズマの不均一が起こるという欠点があ
る。
本発明の目的は、上述の問題を解決し、一つの
CVD処理室に収納された基板装置電極と広い面
積で対向する高周波電極との間に均一なプラズマ
を発生させ、各基板上に均一な膜厚の成膜を行う
ことのできるプラズマCVD装置を提供すること
にある。
CVD処理室に収納された基板装置電極と広い面
積で対向する高周波電極との間に均一なプラズマ
を発生させ、各基板上に均一な膜厚の成膜を行う
ことのできるプラズマCVD装置を提供すること
にある。
本発明によれば、一つの真空室内に、基板が装
着される基板装着電極と、この基板装着電極に対
向して配置され高周波電源に接続される複数の高
周波電極と、を備えたプラズマCVD装置におい
て、前記複数の高周波電極を、その電極面を一平
面内に揃えて配置すると共に、各々の隣接する高
周波電極の表面に当接する平面を有し且つこの隣
接する高周波電極間の前記一平面内における間隔
を可変とする連続体により電気的に接続して成る
ことものとする。
着される基板装着電極と、この基板装着電極に対
向して配置され高周波電源に接続される複数の高
周波電極と、を備えたプラズマCVD装置におい
て、前記複数の高周波電極を、その電極面を一平
面内に揃えて配置すると共に、各々の隣接する高
周波電極の表面に当接する平面を有し且つこの隣
接する高周波電極間の前記一平面内における間隔
を可変とする連続体により電気的に接続して成る
ことものとする。
隣接高周波電極間にそれと等電位の接続体が存
在するため、接続体部分と基板電極との間にもプ
ラズマが発生し、また高周波電極の一面に当接す
る平面を有する接続体により隣接電極の表面が同
一平面となるため、基板電極と高周波電極との間
隔も均一になるため、基板電極と高周波電極およ
び接続体との間に均一なプラズマが発生し、基板
面上の成膜厚さが均一となる。さらに、接続体は
隣接高周波電極を電極間隔を可変にして結合する
ため、高周波電極が熱膨張してもその膨張が吸収
され、変形することがない。
在するため、接続体部分と基板電極との間にもプ
ラズマが発生し、また高周波電極の一面に当接す
る平面を有する接続体により隣接電極の表面が同
一平面となるため、基板電極と高周波電極との間
隔も均一になるため、基板電極と高周波電極およ
び接続体との間に均一なプラズマが発生し、基板
面上の成膜厚さが均一となる。さらに、接続体は
隣接高周波電極を電極間隔を可変にして結合する
ため、高周波電極が熱膨張してもその膨張が吸収
され、変形することがない。
以下図を引用して本発明の実施例について説明
する。第2,3,4図を含め各図において共通の
部分には同一の符号が付される。
する。第2,3,4図を含め各図において共通の
部分には同一の符号が付される。
第1図において、三つの高周波電極5は、第二
のCVD処理室23の中で搬送機構によつて真空
仕切弁33を介して移送された基板1を保持する
基板電極6と対向して配置される。高周波電極5
の数は、第二のCVD処理室23で処理しようと
する基板1の数量、寸法より決定される。このよ
うな構成において、隣接高周波電極は接続体であ
る接続板を介してボルト71によつて接続されて
一つの高周波電極を形成している。これにより第
二のCVD処理室23に搬送機構によつて真空仕
切弁33を介して移送された3組の基板電極6に
装着される基板1上への膜生成は、高周波電極5
間の隙間による電位差の影響がなくなり、また高
周波電極5と基板電極6との間隔が一定するた
め、安定したプラズマ反応が膜厚分布の均一な薄
膜を生成することができる。さらに、接続板7の
ボルト71のためのボルト穴を高周波電極5の配
列方向の長穴とすることにより、処理中の高周波
電極の熱膨張を吸収できる。
のCVD処理室23の中で搬送機構によつて真空
仕切弁33を介して移送された基板1を保持する
基板電極6と対向して配置される。高周波電極5
の数は、第二のCVD処理室23で処理しようと
する基板1の数量、寸法より決定される。このよ
うな構成において、隣接高周波電極は接続体であ
る接続板を介してボルト71によつて接続されて
一つの高周波電極を形成している。これにより第
二のCVD処理室23に搬送機構によつて真空仕
切弁33を介して移送された3組の基板電極6に
装着される基板1上への膜生成は、高周波電極5
間の隙間による電位差の影響がなくなり、また高
周波電極5と基板電極6との間隔が一定するた
め、安定したプラズマ反応が膜厚分布の均一な薄
膜を生成することができる。さらに、接続板7の
ボルト71のためのボルト穴を高周波電極5の配
列方向の長穴とすることにより、処理中の高周波
電極の熱膨張を吸収できる。
第5図は、本発明の他の実施例の部分詳細図を
示し、第1図で説明した接続機構を変形したもの
である。すなわち、隣接高周波電極5の間隙にば
ね72によつて引つぱられる2枚の接続板7によ
つて高周波電極5をはさみ込み接続した。これに
より安定したプラズマ反応が得られ膜厚分布の均
一な薄膜を生成することができる。高周波電極5
はばね力で接続板7間に挟着されているので、洗
浄、補修作業時の分解、組立が容易となり、かつ
温度上昇による熱膨張にも対応でき、大きな面積
の一つの高周波電極として働く。
示し、第1図で説明した接続機構を変形したもの
である。すなわち、隣接高周波電極5の間隙にば
ね72によつて引つぱられる2枚の接続板7によ
つて高周波電極5をはさみ込み接続した。これに
より安定したプラズマ反応が得られ膜厚分布の均
一な薄膜を生成することができる。高周波電極5
はばね力で接続板7間に挟着されているので、洗
浄、補修作業時の分解、組立が容易となり、かつ
温度上昇による熱膨張にも対応でき、大きな面積
の一つの高周波電極として働く。
第6図は、本発明のさらに別の実施例を示し、
第7図はその動作説明図である。
第7図はその動作説明図である。
第6図において各高周波電極51,52は、そ
れぞれステンレス鋼製で接地される処理室扉81
に絶縁して固定され、CVD処理室23の中で、
搬送機構によつて真空仕切弁33を介して移送さ
れた基板装着電極6と対向して配置される。しか
し、各高周波電極51,52は処理室扉81と共
に処理室壁82に固定された第一回転軸91およ
び第一回転軸91に固定された第二回転軸92の
周りにヒンジ93を介して回転可能である。一方
の高周波電極52の一面の端部に接続板7が固定
され、その接続板にさらに接触ばね板73が固定
される。接続板7が他方の高周波電極51の一面
の端部に接触すると共に、ばね板73が高周波電
極51の側面に接触することにより、両高周波電
極51,52が接続されている。
れぞれステンレス鋼製で接地される処理室扉81
に絶縁して固定され、CVD処理室23の中で、
搬送機構によつて真空仕切弁33を介して移送さ
れた基板装着電極6と対向して配置される。しか
し、各高周波電極51,52は処理室扉81と共
に処理室壁82に固定された第一回転軸91およ
び第一回転軸91に固定された第二回転軸92の
周りにヒンジ93を介して回転可能である。一方
の高周波電極52の一面の端部に接続板7が固定
され、その接続板にさらに接触ばね板73が固定
される。接続板7が他方の高周波電極51の一面
の端部に接触すると共に、ばね板73が高周波電
極51の側面に接触することにより、両高周波電
極51,52が接続されている。
次に第7図を引用してこの装置の高周波電極の
組立方法を説明する。第7図aは高周波電極52
が既に基板装着電極6と対向する位置にあり、高
周波電極51はCVD処理室扉81と共に処理室
23の外にあることを示す。第7図bにおいて
は、高周波電極51を固定した処理室扉81がヒ
ンジ93を介して第一回転軸91を中心にCVD
処理室23に向けて回転し、図示しないストツパ
により処理室壁82と間隔Fを保つ位置まで移動
する。次いでストツパを外すことにより、処理室
扉81および高周波電極51を第二回転軸92を
中心にヒンジ93を介して回転させる。その結
果、第7図cに示すように処理室扉81は処理室
壁82に接触して処理室を閉塞し、同時に高周波
電極51は第7図bに矢印10で示すように移動
して高周波電極52に固定された接続板7に接触
し、基板電極6に近接した位置に達する。その
際、高周波電極51の側面はばね板73を押しな
がら接触する。このあと両高周波電極51,52
から引き出された給電部53と高周波で電源を導
体54により接続する。このようにして接続板7
および接触ばね板73により接続された二つの高
周波電極51,52よりなる大面積の高周波電極
が形成される。三つの基板装置電極6に一定の間
隔を保つて対向するため、均一なプラズマが発生
し、安定したプラズマ反応により膜厚分布の均一
な薄膜が生成できる。そして処理中の高周波電極
の熱膨張はばね板73の変形により吸収される。
また、高周波電極および処理室扉を二つの回転軸
により回転移動することにより回転半径を小さく
することができ、CVD処理室を小型化できて設
備費の低減および原料ガスの節約を図ることがで
きる。さらに高周波電極および処理室扉の回転移
動により、CVD処理室の清掃、補修が容易とな
る。
組立方法を説明する。第7図aは高周波電極52
が既に基板装着電極6と対向する位置にあり、高
周波電極51はCVD処理室扉81と共に処理室
23の外にあることを示す。第7図bにおいて
は、高周波電極51を固定した処理室扉81がヒ
ンジ93を介して第一回転軸91を中心にCVD
処理室23に向けて回転し、図示しないストツパ
により処理室壁82と間隔Fを保つ位置まで移動
する。次いでストツパを外すことにより、処理室
扉81および高周波電極51を第二回転軸92を
中心にヒンジ93を介して回転させる。その結
果、第7図cに示すように処理室扉81は処理室
壁82に接触して処理室を閉塞し、同時に高周波
電極51は第7図bに矢印10で示すように移動
して高周波電極52に固定された接続板7に接触
し、基板電極6に近接した位置に達する。その
際、高周波電極51の側面はばね板73を押しな
がら接触する。このあと両高周波電極51,52
から引き出された給電部53と高周波で電源を導
体54により接続する。このようにして接続板7
および接触ばね板73により接続された二つの高
周波電極51,52よりなる大面積の高周波電極
が形成される。三つの基板装置電極6に一定の間
隔を保つて対向するため、均一なプラズマが発生
し、安定したプラズマ反応により膜厚分布の均一
な薄膜が生成できる。そして処理中の高周波電極
の熱膨張はばね板73の変形により吸収される。
また、高周波電極および処理室扉を二つの回転軸
により回転移動することにより回転半径を小さく
することができ、CVD処理室を小型化できて設
備費の低減および原料ガスの節約を図ることがで
きる。さらに高周波電極および処理室扉の回転移
動により、CVD処理室の清掃、補修が容易とな
る。
本発明によれば、上記の構成を採用した結果、
高周波電極間の電位差がなくなり、各高周波電極
面と基板装着電極との間〓も一定となり、さらに
高周波電極の熱膨張が吸収されるので、広い範囲
に安定したプラズマ反応が制御でき、均一な薄膜
を生成することができる。さらには、大面積基板
への均一な薄膜生成にも有効に適用できる。
高周波電極間の電位差がなくなり、各高周波電極
面と基板装着電極との間〓も一定となり、さらに
高周波電極の熱膨張が吸収されるので、広い範囲
に安定したプラズマ反応が制御でき、均一な薄膜
を生成することができる。さらには、大面積基板
への均一な薄膜生成にも有効に適用できる。
第1図は本発明の一実施例の要部水平断面図、
第2図、第3図は従来のプラズマCVD装置を示
し、第2図は第3図のB−B線矢視断面図、第3
図は第2図のA−A線矢視断面図、第4図は従来
装置の異なる例の要部水平断面図、第5図は本発
明の別の実施例の高周波電極断面図、第6図はさ
らに別の実施例の要部水平断面図、第7図a〜c
は第6図の装置の組立工程を順次示す水平断面図
である。 1:成膜基板、22,23,24:CVD処理
室、5,51,52:高周波電極、6:基板装着
電極、7:接続板、71:ボルト、72:ばね、
73:接触ばね板。
第2図、第3図は従来のプラズマCVD装置を示
し、第2図は第3図のB−B線矢視断面図、第3
図は第2図のA−A線矢視断面図、第4図は従来
装置の異なる例の要部水平断面図、第5図は本発
明の別の実施例の高周波電極断面図、第6図はさ
らに別の実施例の要部水平断面図、第7図a〜c
は第6図の装置の組立工程を順次示す水平断面図
である。 1:成膜基板、22,23,24:CVD処理
室、5,51,52:高周波電極、6:基板装着
電極、7:接続板、71:ボルト、72:ばね、
73:接触ばね板。
Claims (1)
- 1 一つの真空室内に、基板が装着される基板装
着電極と、この基板装着電極に対向して配置され
高周波電源に接続される複数の高周波電極と、を
備えたプラズマCVD装置において、前記複数の
高周波電極を、その電極面を一平面内に揃えて配
置すると共に、各々の隣接する高周波電極の表面
に当接する平面を有し且つこの隣接する高周波電
極間の前記一平面内における間隔を可変とする接
続体により電気的に接続して成ることを特徴とす
るプラズマCVD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26140387A JPH01103828A (ja) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | プラズマcvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26140387A JPH01103828A (ja) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | プラズマcvd装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01103828A JPH01103828A (ja) | 1989-04-20 |
JPH0573327B2 true JPH0573327B2 (ja) | 1993-10-14 |
Family
ID=17361384
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26140387A Granted JPH01103828A (ja) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | プラズマcvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01103828A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3513206B2 (ja) * | 1994-03-22 | 2004-03-31 | キヤノン株式会社 | 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置 |
US5855679A (en) * | 1995-03-30 | 1999-01-05 | Nec Corporation | Semiconductor manufacturing apparatus |
JP3486590B2 (ja) | 1999-12-03 | 2004-01-13 | キヤノン株式会社 | 堆積膜形成装置 |
JP2001214276A (ja) | 2000-01-31 | 2001-08-07 | Canon Inc | 堆積膜形成装置 |
JP4531247B2 (ja) * | 2000-12-19 | 2010-08-25 | 株式会社アルバック | 真空処理装置 |
JP4654738B2 (ja) * | 2005-04-05 | 2011-03-23 | パナソニック株式会社 | プラズマ処理装置 |
CN109314053B (zh) * | 2016-09-21 | 2024-01-09 | 株式会社国际电气 | 衬底处理装置、半导体器件的制造方法及电极固定单元 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6192054U (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-14 |
-
1987
- 1987-10-16 JP JP26140387A patent/JPH01103828A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01103828A (ja) | 1989-04-20 |
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