JPH0572967B2 - - Google Patents
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- JPH0572967B2 JPH0572967B2 JP61039492A JP3949286A JPH0572967B2 JP H0572967 B2 JPH0572967 B2 JP H0572967B2 JP 61039492 A JP61039492 A JP 61039492A JP 3949286 A JP3949286 A JP 3949286A JP H0572967 B2 JPH0572967 B2 JP H0572967B2
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- Japan
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- light receiving
- light
- section
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Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 24
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
- G01C15/004—Reference lines, planes or sectors
- G01C15/006—Detectors therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、例えばレーザー光の測定光を受光す
る受光部とこの受光部からの信号に基づき、測定
結果を表示する表示部とを有する光検出装置に関
するものである。
る受光部とこの受光部からの信号に基づき、測定
結果を表示する表示部とを有する光検出装置に関
するものである。
従来技術
従来、光の強度あるいは光の投影位置等を測定
すべく光電的に検出し、この測定結果を表示する
ように構成した光検出装置は各分野で応用されて
いる。例えば、測量の分野においては測量機本体
側からレーザー光を投影し、これを測定対象にて
受光すると共に、この受光したレーザー光の投影
中心位置を測定するようにした光検出装置が汎用
されている。そして、この種の光検出装置におい
ては、通常、光を受けるための受光部と、この受
光部からの信号に基づき測定結果を外部に表示す
る表示部とが、同一平面上に並設されている。
すべく光電的に検出し、この測定結果を表示する
ように構成した光検出装置は各分野で応用されて
いる。例えば、測量の分野においては測量機本体
側からレーザー光を投影し、これを測定対象にて
受光すると共に、この受光したレーザー光の投影
中心位置を測定するようにした光検出装置が汎用
されている。そして、この種の光検出装置におい
ては、通常、光を受けるための受光部と、この受
光部からの信号に基づき測定結果を外部に表示す
る表示部とが、同一平面上に並設されている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、このような従来の光検出装置の
構成によると、測定結果を表示するための表示部
が受光部と同一の平面上に並設されているので、
測定者が測定結果を正確に読み取るためには、表
示部に正対するように位置する必要があり、その
結果、受光部に入射する測定光が測定者自身によ
り遮られるという、極めて不都合な問題点があつ
た。
構成によると、測定結果を表示するための表示部
が受光部と同一の平面上に並設されているので、
測定者が測定結果を正確に読み取るためには、表
示部に正対するように位置する必要があり、その
結果、受光部に入射する測定光が測定者自身によ
り遮られるという、極めて不都合な問題点があつ
た。
問題点を解決するための手段
本発明はかかる従来技術の問題点を解決すべく
なされたものであり、測定光を前面で受光して光
電変換するための受光部と、この受光部の出力に
基づき測定結果を表示するための表示部とを有す
る光検出装置において、その受光部を狭んで両側
に形成され、互いに背面を近づける方向に前記前
面に対して若干傾斜させている側面に、それぞれ
少なくとも一つの表示面を有する一対の表示部を
設けたことを特徴とし、受光部に入射する測定光
を遮ることなく測定効果を常時正確に注視し得る
光検出装置を提供せんとすることを目的とするも
のである。
なされたものであり、測定光を前面で受光して光
電変換するための受光部と、この受光部の出力に
基づき測定結果を表示するための表示部とを有す
る光検出装置において、その受光部を狭んで両側
に形成され、互いに背面を近づける方向に前記前
面に対して若干傾斜させている側面に、それぞれ
少なくとも一つの表示面を有する一対の表示部を
設けたことを特徴とし、受光部に入射する測定光
を遮ることなく測定効果を常時正確に注視し得る
光検出装置を提供せんとすることを目的とするも
のである。
作 用
一対の表示部の表示面は受光部を狭むように位
置する側面上に形成され、かつ、この両側面は互
いに背面を近づける方向に受光部を含む面に対し
て若干傾斜しているので、各表示部の表示面は受
光面に略連なつた状態で斜め前方に位置すること
となり、測定者は逐一前面に正対することなく斜
め側方から測定結果を正確に読み取ることができ
る。
置する側面上に形成され、かつ、この両側面は互
いに背面を近づける方向に受光部を含む面に対し
て若干傾斜しているので、各表示部の表示面は受
光面に略連なつた状態で斜め前方に位置すること
となり、測定者は逐一前面に正対することなく斜
め側方から測定結果を正確に読み取ることができ
る。
実施例
本発明に係る光検出装置１は例えばレーザー測
量機２と組み合わせて用いられるものである。第
３図に示すように、このレーザー測量機２は三脚
３上に設置されていて、その頂部のレーザー発光
部４は鉛直軸の回りに回転可能となつていて、こ
のレーザー発光部４から出射する測定光としての
レーザー光５は水平面内で走査し得るようになつ
ている。一方、このレーザー測量機２から出射し
たレーザー光５を受光する光検出装置１は適宜の
壁面等の直立面６に取付けられるようになつてお
り、レーザー光の光束中心に対する基準面７から
の高さ位置を検出すべく、直立面６に沿つて移動
可能となつている。
量機２と組み合わせて用いられるものである。第
３図に示すように、このレーザー測量機２は三脚
３上に設置されていて、その頂部のレーザー発光
部４は鉛直軸の回りに回転可能となつていて、こ
のレーザー発光部４から出射する測定光としての
レーザー光５は水平面内で走査し得るようになつ
ている。一方、このレーザー測量機２から出射し
たレーザー光５を受光する光検出装置１は適宜の
壁面等の直立面６に取付けられるようになつてお
り、レーザー光の光束中心に対する基準面７から
の高さ位置を検出すべく、直立面６に沿つて移動
可能となつている。
したがつて、光検出装置１の高さ位置を測定す
ることにより測定地点の高さ位置を測定し、ある
いはレーザー光５の光束中心を直立面６に適宜マ
ーキングすることによりレーザー光の走査面であ
る基準水平面を設定し得るようになつている。
ることにより測定地点の高さ位置を測定し、ある
いはレーザー光５の光束中心を直立面６に適宜マ
ーキングすることによりレーザー光の走査面であ
る基準水平面を設定し得るようになつている。
第１図及び第２図は光検出装置１の詳細を示す
ものであり、その正面側の前面１ａには入射する
測定光を光電変換するための受光部８が設けられ
ており、この受光部８の受光面８ａは前面１ａと
略同一平面に含まれるようになつていて、この前
面１ａの両側にはこの前面１ａに連なつて一対の
傾斜した側面１ｂ，１ｂが形成されている。ここ
で、両側面１ｂ，１ｂは互いに背面側が向き合う
方向に若干傾斜して前面１ａの両側の位置してお
り、この各側面１ｂ，１ｂにはそれぞれ表示部９
が設けられていて、この表示部９の表示面９ａは
側面１ｂと略同一平面に含まれるようになつてい
る。
ものであり、その正面側の前面１ａには入射する
測定光を光電変換するための受光部８が設けられ
ており、この受光部８の受光面８ａは前面１ａと
略同一平面に含まれるようになつていて、この前
面１ａの両側にはこの前面１ａに連なつて一対の
傾斜した側面１ｂ，１ｂが形成されている。ここ
で、両側面１ｂ，１ｂは互いに背面側が向き合う
方向に若干傾斜して前面１ａの両側の位置してお
り、この各側面１ｂ，１ｂにはそれぞれ表示部９
が設けられていて、この表示部９の表示面９ａは
側面１ｂと略同一平面に含まれるようになつてい
る。
ここで、受光部８は上下一対の受光部分８ｊ，
８ｊから成つており、画受光部分８ｊ，８ｊの境
界部分、すなわち受光部８の中間位置がレーザー
光５と基準水平面の通過位置となつている。ま
た、光検出装置１の両側端縁（第１図においては
一方を図示省略）上には水平方向（第１図におい
ては左右方向）に並ぶ一対の中心位置設定用切欠
き１０，１０が形成されており、さらに、その両
側端縁上であつて中心位置設定用切欠き１０，１
０の下方位置には第一ないし第三のマーキング用
切欠き１１，１２，１３がそれぞれ形成されてい
る。
８ｊから成つており、画受光部分８ｊ，８ｊの境
界部分、すなわち受光部８の中間位置がレーザー
光５と基準水平面の通過位置となつている。ま
た、光検出装置１の両側端縁（第１図においては
一方を図示省略）上には水平方向（第１図におい
ては左右方向）に並ぶ一対の中心位置設定用切欠
き１０，１０が形成されており、さらに、その両
側端縁上であつて中心位置設定用切欠き１０，１
０の下方位置には第一ないし第三のマーキング用
切欠き１１，１２，１３がそれぞれ形成されてい
る。
なお、第１図において符号１４は使用時に操作
する作動スイツチである。
する作動スイツチである。
第４図は光検出装置１の回路構成を示すもので
あり、受光部分８ｊ，８ｊを構成する一対の光電
素子１５，１５は比較判別回路１６に接続されて
おり、この比較判別回路１６は各光電素子１５，
１５の受光量の大きさを比較してその判別結果を
出力するようになつている。また、比較判別回路
１６は表示制御部１７に接続されていて、この表
示制御部１７は比較判別回路１６の出力に応じて
表示パターンを選択し得る出力をするものであ
り、その出力に応じて表示パターンを表示する表
示部９に接続されている。
あり、受光部分８ｊ，８ｊを構成する一対の光電
素子１５，１５は比較判別回路１６に接続されて
おり、この比較判別回路１６は各光電素子１５，
１５の受光量の大きさを比較してその判別結果を
出力するようになつている。また、比較判別回路
１６は表示制御部１７に接続されていて、この表
示制御部１７は比較判別回路１６の出力に応じて
表示パターンを選択し得る出力をするものであ
り、その出力に応じて表示パターンを表示する表
示部９に接続されている。
次に、このように構成された光検出装置１の使
用例につき説明する。
用例につき説明する。
測定者は測定対象位置において、表示部９の表
示を注視しつつ光検出装置１をレーザー光５の基
準水平面と直交する方向に移動させながら次のよ
うな手順によりレーザー光５の中心位置の設定を
行なう。
示を注視しつつ光検出装置１をレーザー光５の基
準水平面と直交する方向に移動させながら次のよ
うな手順によりレーザー光５の中心位置の設定を
行なう。
第５図ａに示すように、レーザー光５の光束５
ａが両受光部分８ｊ，８ｊの間に均等に入射する
ように、即ちレーザー光５の光束通過域Ｐの中心
が両受光部分８ｊ，８ｊの中間点、すなわち受光
部８の中心点８ｃを通過したときは、第６図ａに
示すように、レーザー光５の光束５ａの中心と光
検出装置１の受光部８の中心点８ｃとが一致した
ことを示すべく、第一の表示パターンH1が表示
部９に表示される。
ａが両受光部分８ｊ，８ｊの間に均等に入射する
ように、即ちレーザー光５の光束通過域Ｐの中心
が両受光部分８ｊ，８ｊの中間点、すなわち受光
部８の中心点８ｃを通過したときは、第６図ａに
示すように、レーザー光５の光束５ａの中心と光
検出装置１の受光部８の中心点８ｃとが一致した
ことを示すべく、第一の表示パターンH1が表示
部９に表示される。
また、第５図ｂに示すように、レーザー光５の
光束通過域Ｐが同図の上方の受光部分８ｊの側に
偏位して入射するように通過したときは、第６図
ｂに示すように、レーザー光５の光束５ａの中心
が受光部８の中心点８ｃの上方に偏位したことを
示すべく、第二の表示パターンH2が表示部９に
表示される。したがつて、この場合は光検出装置
１を上方に移動させる必要がある。
光束通過域Ｐが同図の上方の受光部分８ｊの側に
偏位して入射するように通過したときは、第６図
ｂに示すように、レーザー光５の光束５ａの中心
が受光部８の中心点８ｃの上方に偏位したことを
示すべく、第二の表示パターンH2が表示部９に
表示される。したがつて、この場合は光検出装置
１を上方に移動させる必要がある。
さらに、第５図ｃに示すように、レーザー光５
の光束５ａが同図の下方の受光部分８ｊの側に偏
位して入射するように通過したときは、第６図ｃ
に示すように、レーザー光５の光束５ａの中心が
光検出装置１の受光部８の中心点８ｃの下方に偏
位したことを示すべく、第三の表示パターンH2
が表示部９に表示される。したがつて、この場合
は光検出装置１を下方に移動させる必要がある。
の光束５ａが同図の下方の受光部分８ｊの側に偏
位して入射するように通過したときは、第６図ｃ
に示すように、レーザー光５の光束５ａの中心が
光検出装置１の受光部８の中心点８ｃの下方に偏
位したことを示すべく、第三の表示パターンH2
が表示部９に表示される。したがつて、この場合
は光検出装置１を下方に移動させる必要がある。
上述の各場合において、第２図に示すように測
定者Ｍは前面１ａに正対することなく斜め側方
（左右両方）から表示部９に表示された測定結果
（各表示パターンH1、H2、H3）を読み取ること
が可能となる。
定者Ｍは前面１ａに正対することなく斜め側方
（左右両方）から表示部９に表示された測定結果
（各表示パターンH1、H2、H3）を読み取ること
が可能となる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、受光部の両側に
互いに背面を対向するように若干傾斜した側面に
沿うような表示面を有する一対の表示部を設けた
ので、測定者は装置の斜め前方の両方向から表示
部の測定結果を読み取ることができ、従来のよう
に測定光が遮るような恐れがなくなり、いずれの
方向からも常時正確な測定を行なうことが可能と
なつて、測定誤差の介入防止や測定効率向上に大
きく貢献できる。
互いに背面を対向するように若干傾斜した側面に
沿うような表示面を有する一対の表示部を設けた
ので、測定者は装置の斜め前方の両方向から表示
部の測定結果を読み取ることができ、従来のよう
に測定光が遮るような恐れがなくなり、いずれの
方向からも常時正確な測定を行なうことが可能と
なつて、測定誤差の介入防止や測定効率向上に大
きく貢献できる。
第１図は本発明に係る光検出装置の一実例例を
示す斜視図、第２図は第１図の断面図、第３図は
光検出装置とレーザー測量機との関係を説明する
側面図、第４図は光検出装置の構成を示す回路
図、第５図はａ，ｂ，ｃは測定光と受光部との関
係を示す模式平面図、第６図ａ，ｂ，ｃは表示部
の各表示パターンを示す平面図である。 １……光検出装置、１ａ……前面、８……受光
部、１ｂ……側面、９……表示部。
示す斜視図、第２図は第１図の断面図、第３図は
光検出装置とレーザー測量機との関係を説明する
側面図、第４図は光検出装置の構成を示す回路
図、第５図はａ，ｂ，ｃは測定光と受光部との関
係を示す模式平面図、第６図ａ，ｂ，ｃは表示部
の各表示パターンを示す平面図である。 １……光検出装置、１ａ……前面、８……受光
部、１ｂ……側面、９……表示部。
Claims (1)
- １ 測定光を前面で受光して光電変換するための
受光部と、前記受光部の出力に基づき測定結果を
表示するための表示部とを有する光検出装置にお
いて、前記受光部を挟んで両側に形成され、互い
に背面を近づける方向に前記前面に対して若干傾
斜させている側面に、それぞれ少なくとも一つの
表示面を有する一対の表示部を設けたことを特徴
とする光検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61039492A JPS62197716A (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
| EP87400409A EP0235044A3 (en) | 1986-02-25 | 1987-02-24 | A light detector |
| US07/017,616 US4934812A (en) | 1986-02-25 | 1987-02-24 | Light detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61039492A JPS62197716A (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62197716A JPS62197716A (ja) | 1987-09-01 |
| JPH0572967B2 true JPH0572967B2 (ja) | 1993-10-13 |
Family
ID=12554549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61039492A Granted JPS62197716A (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4934812A (ja) |
| EP (1) | EP0235044A3 (ja) |
| JP (1) | JPS62197716A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5293221A (en) * | 1991-03-08 | 1994-03-08 | Nikon Corporation | Level sensor |
| US6606798B2 (en) * | 2001-02-23 | 2003-08-19 | Black & Decker Inc. | Laser level |
| JP5724910B2 (ja) * | 2012-03-12 | 2015-05-27 | コニカミノルタ株式会社 | 測光装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1915935B2 (de) * | 1969-03-28 | 1971-09-02 | Vorrichtung zur messung der lagekoordinaten eines punktes mittels eines horizontierten laserstrahls | |
| US4023908A (en) * | 1974-07-29 | 1977-05-17 | Sanders Associates, Inc. | Direction determining method and apparatus |
| US4240208A (en) * | 1979-10-01 | 1980-12-23 | John V. Pehrson | Hand-held laser surveying rod |
| US4676634A (en) * | 1985-08-05 | 1987-06-30 | Spectra-Physics, Inc. | Detector device for a rotating light beam |
| US4674870A (en) * | 1985-10-18 | 1987-06-23 | Spectra-Physics, Inc. | Laser alignment system with modulated field |
-
1986
- 1986-02-25 JP JP61039492A patent/JPS62197716A/ja active Granted
-
1987
- 1987-02-24 EP EP87400409A patent/EP0235044A3/en not_active Withdrawn
- 1987-02-24 US US07/017,616 patent/US4934812A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0235044A2 (en) | 1987-09-02 |
| EP0235044A3 (en) | 1990-02-07 |
| JPS62197716A (ja) | 1987-09-01 |
| US4934812A (en) | 1990-06-19 |
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