JPH0613992B2 - 光検出装置 - Google Patents
光検出装置Info
- Publication number
- JPH0613992B2 JPH0613992B2 JP61039491A JP3949186A JPH0613992B2 JP H0613992 B2 JPH0613992 B2 JP H0613992B2 JP 61039491 A JP61039491 A JP 61039491A JP 3949186 A JP3949186 A JP 3949186A JP H0613992 B2 JPH0613992 B2 JP H0613992B2
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- light
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- photodetector
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザー光のような測定光の投影位置を光電
的に検出するための光検出装置に関するものである。
的に検出するための光検出装置に関するものである。
従来技術 従来、測定光を受光し、その測定光の到達位置を光電的
に検出する光検出装置は各分野で応用されている。例え
ば、測量の分野においては測量機本体側からレーザー光
を投影し、これを測定地点において受光すると共に、こ
の受光したレーザー光束の投影中心位置を表示部に表示
して測定するようにした光検出装置が汎用されている。
そして、この種の光検出装置においては、例えば、レー
ザー光投影位置を二次元的に検出するもの、あるいはレ
ーザー光を水平面内で走査させ、このレーザー光により
形成されるレーザー光平面の鉛直方向の位置を一次元的
に検出するものがあるが、この場合、測定者は表示部の
状態を注視しつつ受光部の中心とレーザー光の中心とが
一致するまで光検出装置を移動させ、その一致した際に
おける光検出装置の位置に基づきレーザー光の中心位置
を検出するようになっている。
に検出する光検出装置は各分野で応用されている。例え
ば、測量の分野においては測量機本体側からレーザー光
を投影し、これを測定地点において受光すると共に、こ
の受光したレーザー光束の投影中心位置を表示部に表示
して測定するようにした光検出装置が汎用されている。
そして、この種の光検出装置においては、例えば、レー
ザー光投影位置を二次元的に検出するもの、あるいはレ
ーザー光を水平面内で走査させ、このレーザー光により
形成されるレーザー光平面の鉛直方向の位置を一次元的
に検出するものがあるが、この場合、測定者は表示部の
状態を注視しつつ受光部の中心とレーザー光の中心とが
一致するまで光検出装置を移動させ、その一致した際に
おける光検出装置の位置に基づきレーザー光の中心位置
を検出するようになっている。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、このような従来の光検出装置の構成によ
ると、受光部の中心とレーザー光の中心とが一致したこ
との検出は可能であるものの、移動後における光検出装
置の受光部の中心位置を正確に示すための手段が設けら
れていないので、この光検出装置を測量機と組合せて用
いるような場合、測定地点においてレーザー光の中心位
置を正確にマーキングすることができないという問題点
があった。
ると、受光部の中心とレーザー光の中心とが一致したこ
との検出は可能であるものの、移動後における光検出装
置の受光部の中心位置を正確に示すための手段が設けら
れていないので、この光検出装置を測量機と組合せて用
いるような場合、測定地点においてレーザー光の中心位
置を正確にマーキングすることができないという問題点
があった。
問題点を解決するための手段 本発明はかかる従来技術の問題点を解決すべくなされた
ものであり、光検出装置の受光部の中心位置に関し測定
光の走査方向に沿う方向における対称位置に一対の中心
位置設定用指標部を装置本体の両側部に設けたことを特
徴とし、これにより測定光の中心位置を簡易かつ正確に
設定し得るようにした光検出装置を提供せんとするもの
である。
ものであり、光検出装置の受光部の中心位置に関し測定
光の走査方向に沿う方向における対称位置に一対の中心
位置設定用指標部を装置本体の両側部に設けたことを特
徴とし、これにより測定光の中心位置を簡易かつ正確に
設定し得るようにした光検出装置を提供せんとするもの
である。
作用 測定者は受光部の出力に基づき適宜の表示をする表示部
を注視しつつ入射する測定光の中心と受光部の中心とが
一致するまで光検出装置を移動させ、次いで、一対の中
心位置設定用指標部を基に測定地点におけるマーキング
し、この両マーキングの中間位置を測定光の中心位置と
して定めることができる。
を注視しつつ入射する測定光の中心と受光部の中心とが
一致するまで光検出装置を移動させ、次いで、一対の中
心位置設定用指標部を基に測定地点におけるマーキング
し、この両マーキングの中間位置を測定光の中心位置と
して定めることができる。
実施例 第3図に示すように、本発明に係る光検出装置1は例え
ばレーザー測量機2と組み合わせて用いられるものであ
る。このレーザー測量機2は三脚3上に設置されてい
て、その頂部のレーザー発光部4は鉛直軸の回りに回転
可能となっていて、このレーザー発光部4から出射する
測定光としてのレーザー光5は水平面内で走査し得るよ
うになっている。一方、このレーザー測量機2から出射
したレーザー光5を受光する光検出装置1は適宜の壁面
等の直立面6に取付けられるようになっており、レーザ
ー光の光束中心に対する基準面7からの高さ位置を検出
すべく、直立面6に沿って移動可能となっている。
ばレーザー測量機2と組み合わせて用いられるものであ
る。このレーザー測量機2は三脚3上に設置されてい
て、その頂部のレーザー発光部4は鉛直軸の回りに回転
可能となっていて、このレーザー発光部4から出射する
測定光としてのレーザー光5は水平面内で走査し得るよ
うになっている。一方、このレーザー測量機2から出射
したレーザー光5を受光する光検出装置1は適宜の壁面
等の直立面6に取付けられるようになっており、レーザ
ー光の光束中心に対する基準面7からの高さ位置を検出
すべく、直立面6に沿って移動可能となっている。
したがって、光検出装置1の高さ位置を測定することに
より測定地点の高さ位置を測定し、あるいはレーザー光
5の光束中心を壁面等に適宜マーキングすることにより
基準水平面を設定し得るようになっている。
より測定地点の高さ位置を測定し、あるいはレーザー光
5の光束中心を壁面等に適宜マーキングすることにより
基準水平面を設定し得るようになっている。
第1図及び第2図は光検出装置1の詳細を示すものであ
り、その正面側の装置本体の前面1aには受光部8が設け
られており、この受光部8の受光面8aは前面1aと略同一
平面に含まれるようになっていて、この前面1aの両側に
はこの前面1aに連なって一対の傾斜した側面1b、1bが形
成されている。ここで、両側面1b、1bは互いに背面を向
き合う方向に若干傾斜して前面1aの両側に位置してお
り、この各傾斜面1b、1bにはそれぞれ表示部9が設けら
れていて、この表示部9の表示面9aは側面1bと略同一平
面に含まれるようになっている。
り、その正面側の装置本体の前面1aには受光部8が設け
られており、この受光部8の受光面8aは前面1aと略同一
平面に含まれるようになっていて、この前面1aの両側に
はこの前面1aに連なって一対の傾斜した側面1b、1bが形
成されている。ここで、両側面1b、1bは互いに背面を向
き合う方向に若干傾斜して前面1aの両側に位置してお
り、この各傾斜面1b、1bにはそれぞれ表示部9が設けら
れていて、この表示部9の表示面9aは側面1bと略同一平
面に含まれるようになっている。
ここで、受光部8は上下一対の受光部8j、8jから成って
おり、両受光部分8j、8jの境界部分、すなわち受光部8
の中間位置がレーザー光5の走査方向を含む基準水平面
位置となっている。また、光検出装置1の両側端縁(第
1図においては一方を図示省略)上には左右方向に並ぶ
一対の中心位置設定用指標としての位置決め用切欠き1
0、10が形成されており、さらに、その両側端縁(一方で
も構わない)上であって第一の切欠き10、10の下方には
第二の指標としての第一ないし第三のマーキング用切欠
き11、12、13がそれぞれ形成されている。ここで、第一の
マーキング用切欠き11と第三のマーキング用切欠き13と
の距離は上述した二つの位置決め用切欠き10、10間の距
離に等しく設定されており、第二のマーキング用切欠き
12は第一及び第三のマーキング用切欠き11、13の中間位
置に設定されている。
おり、両受光部分8j、8jの境界部分、すなわち受光部8
の中間位置がレーザー光5の走査方向を含む基準水平面
位置となっている。また、光検出装置1の両側端縁(第
1図においては一方を図示省略)上には左右方向に並ぶ
一対の中心位置設定用指標としての位置決め用切欠き1
0、10が形成されており、さらに、その両側端縁(一方で
も構わない)上であって第一の切欠き10、10の下方には
第二の指標としての第一ないし第三のマーキング用切欠
き11、12、13がそれぞれ形成されている。ここで、第一の
マーキング用切欠き11と第三のマーキング用切欠き13と
の距離は上述した二つの位置決め用切欠き10、10間の距
離に等しく設定されており、第二のマーキング用切欠き
12は第一及び第三のマーキング用切欠き11、13の中間位
置に設定されている。
なお、第1図において符号14は使用時に操作する作動ス
イッチである。
イッチである。
第4図は光検出装置1の回路構成を示すものであり、受
光部分8j、8jを構成する一対の光電素子15、15は比較判別
回路16に接続されており、この比較判別回路16は各光電
素子15、15の受光量の大きさを比較してその判別結果を
出力するようになっている。また、比較判別回路16は表
示制御部17に接続されていて、この表示制御部17は比較
判別回路16の出力に応じて表示パターンを選択し得る出
力をするものであり、その出力に応じた表示パターンを
表示する表示部9に接続されている。ここで、表示部9
による表示とは例えば、レーザー光5の中心と受光部8
の中心とが一致した場合、レーザー光5の中心が受光部
8の中心に対していずれか一方に偏位した場合の三つの
場合に応じた表示パターンを表示するようにしたもので
ある。
光部分8j、8jを構成する一対の光電素子15、15は比較判別
回路16に接続されており、この比較判別回路16は各光電
素子15、15の受光量の大きさを比較してその判別結果を
出力するようになっている。また、比較判別回路16は表
示制御部17に接続されていて、この表示制御部17は比較
判別回路16の出力に応じて表示パターンを選択し得る出
力をするものであり、その出力に応じた表示パターンを
表示する表示部9に接続されている。ここで、表示部9
による表示とは例えば、レーザー光5の中心と受光部8
の中心とが一致した場合、レーザー光5の中心が受光部
8の中心に対していずれか一方に偏位した場合の三つの
場合に応じた表示パターンを表示するようにしたもので
ある。
次に、このように構成された光検出装置1の使用例につ
き説明する。
き説明する。
まず、測定対象物に向けて測定光であるレーザー光5を
出射し、これをその対象物にセットされた光検出装置1
に照射する。次いで、第5図に示すように、表示部9の
表示に従い、受光部8の中心をレーザー光5の光通過域
Pの中心が通過する位置まで光検出装置1の移動を図
る。続いて、受光部8を挟むように設けられた一対の位
置決め用切欠き10、10の二つの位置を適宜のマーキング
手段を用いてマーキングする。
出射し、これをその対象物にセットされた光検出装置1
に照射する。次いで、第5図に示すように、表示部9の
表示に従い、受光部8の中心をレーザー光5の光通過域
Pの中心が通過する位置まで光検出装置1の移動を図
る。続いて、受光部8を挟むように設けられた一対の位
置決め用切欠き10、10の二つの位置を適宜のマーキング
手段を用いてマーキングする。
そして、二つのマーキングされた点を結ぶ直線上に沿っ
て光検出装置1の側端縁を当て、一対の位置決め用切欠
き10、10のマーキング位置に第一及び第三のマーキング
用切欠き11、13を一致させ、かかる状態で、第二のマー
キング用切欠き12の位置にマーキングをする。この第二
のマーキング用切欠き12によるマーキング位置がとりも
なおさず受光部8の中心位置となる。
て光検出装置1の側端縁を当て、一対の位置決め用切欠
き10、10のマーキング位置に第一及び第三のマーキング
用切欠き11、13を一致させ、かかる状態で、第二のマー
キング用切欠き12の位置にマーキングをする。この第二
のマーキング用切欠き12によるマーキング位置がとりも
なおさず受光部8の中心位置となる。
なお、位置決め用切欠き10、10による二つのマーキング
された点を結ぶ直線上の中間点をスケール等を用いてマ
ーキングしても受光部8の中心位置の設定は可能であ
る。
された点を結ぶ直線上の中間点をスケール等を用いてマ
ーキングしても受光部8の中心位置の設定は可能であ
る。
第6図は光検出装置1がレーザー光5の走査方向に対し
て角度θだけ傾斜した場合であるが、かかる場合にも受
光部8の中心とレーザー光5の中心とを一致させておく
ようにすれば、位置決め用切欠き10、10の間隔は不変で
あるので、受光部8の中心位置が求められることについ
ては上述の場合と同様である。
て角度θだけ傾斜した場合であるが、かかる場合にも受
光部8の中心とレーザー光5の中心とを一致させておく
ようにすれば、位置決め用切欠き10、10の間隔は不変で
あるので、受光部8の中心位置が求められることについ
ては上述の場合と同様である。
発明の効果 以上のように本発明によれば、受光部の中心位置に関し
て前記測定光の走査方向に沿う方向に対称位置であって
装置本体の両側部に配置された一対の第一の指標から成
る中心位置設定用指標部を設けるように構成したので、
測定者は一対の指標に基づき、この両指標の中間位置を
測定光の中心位置として簡易かつ正確に設定でき、しか
も、装置本体が測定光の走査方向に対し傾斜したような
場合でも測定光の中心位置は容易に設定できる。
て前記測定光の走査方向に沿う方向に対称位置であって
装置本体の両側部に配置された一対の第一の指標から成
る中心位置設定用指標部を設けるように構成したので、
測定者は一対の指標に基づき、この両指標の中間位置を
測定光の中心位置として簡易かつ正確に設定でき、しか
も、装置本体が測定光の走査方向に対し傾斜したような
場合でも測定光の中心位置は容易に設定できる。
第1図は本発明に係る光検出装置の一実施例を示す斜視
図、第2図は第1図の断面図、第3図は光検出装置とレ
ーザー測量機との関係を説明する側面図、第4図は光検
出装置の構成を示す回路図、第5図はレーザー光の中心
位置を求める一例を説明する平面図、第6図は光検出装
置が傾斜した場合における第5図と同様な平面図であ
る。 1…光検出装置、5…レーザー光、 8…受光部、 10…位置決め用切欠き(中心位置設定用の第一の指
標)、 11、12、13…マーキング用切欠き(第二の指標)。
図、第2図は第1図の断面図、第3図は光検出装置とレ
ーザー測量機との関係を説明する側面図、第4図は光検
出装置の構成を示す回路図、第5図はレーザー光の中心
位置を求める一例を説明する平面図、第6図は光検出装
置が傾斜した場合における第5図と同様な平面図であ
る。 1…光検出装置、5…レーザー光、 8…受光部、 10…位置決め用切欠き(中心位置設定用の第一の指
標)、 11、12、13…マーキング用切欠き(第二の指標)。
Claims (2)
- 【請求項1】測定光の入射位置を検出すべく光電変換す
るための受光部と、前記受光部の中心位置に関して前記
測定光の走査方向に沿う方向に対称位置であって装置本
体の両側部に配置された一対の第一の指標から成る中心
位置設定用指標部とを設けたことを特徴とする光検出装
置。 - 【請求項2】中心位置設定用指標部を構成する一対の第
一の指標は、装置本体の両側部の端縁に形成された切欠
きである特許請求の範囲第1項記載の光検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61039491A JPH0613992B2 (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61039491A JPH0613992B2 (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62197717A JPS62197717A (ja) | 1987-09-01 |
JPH0613992B2 true JPH0613992B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=12554520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61039491A Expired - Fee Related JPH0613992B2 (ja) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | 光検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0613992B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259215A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-16 | Sokkisha Co Ltd | 回転照射型自動レベルの受光器 |
JPH064251Y2 (ja) * | 1988-11-08 | 1994-02-02 | 株式会社ソキア | 受光器 |
-
1986
- 1986-02-25 JP JP61039491A patent/JPH0613992B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DIODENLASER QL300D * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62197717A (ja) | 1987-09-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |