JPH0571855U - フォトマスク用ガラス基板 - Google Patents
フォトマスク用ガラス基板Info
- Publication number
- JPH0571855U JPH0571855U JP979292U JP979292U JPH0571855U JP H0571855 U JPH0571855 U JP H0571855U JP 979292 U JP979292 U JP 979292U JP 979292 U JP979292 U JP 979292U JP H0571855 U JPH0571855 U JP H0571855U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass substrate
- photomask
- identification
- flatness
- substrate
- Prior art date
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- Pending
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 新たな面を作成することなしに簡単なマーク
書き込み作業で、ガラス基板の表裏、材質、平坦度が全
て簡単に判別できるフォトマスク用ガラス基板。 【構成】 表面6、裏面7と端面8が交差する稜部に複
数の面取り面9が設けられてなるフォトマスク用ガラス
基板において、所定の面取り面9を砂目面10とし、残
りの面取り面9を鏡面11として両者の組合せにより、
表裏面の識別、基板材質の識別、表面又は裏面の平坦度
の識別の少なくとも何れか1つを可能にした。
書き込み作業で、ガラス基板の表裏、材質、平坦度が全
て簡単に判別できるフォトマスク用ガラス基板。 【構成】 表面6、裏面7と端面8が交差する稜部に複
数の面取り面9が設けられてなるフォトマスク用ガラス
基板において、所定の面取り面9を砂目面10とし、残
りの面取り面9を鏡面11として両者の組合せにより、
表裏面の識別、基板材質の識別、表面又は裏面の平坦度
の識別の少なくとも何れか1つを可能にした。
Description
【0001】
本考案は、半導体装置製造におけるリソグラフィー工程で用いるフォトマスク 用ガラス基板に関し、特に、表裏、材質、平坦度等の識別を容易にしたフォトマ スク用ガラス基板に関するものである。
【0002】
半導体装置集積回路の微細化に伴い、その製造に用いられるフォトマスクにも 、微細化と共に精度の向上が求められ、その精度に応じたガラス基板材質が求め られるようになってきた。特に、ソーダガラス基板の場合、その熱膨張率は、石 英ガラス基板に比べて2桁程度大きく、1℃の温度変化に対し、100mm長で 約1μm程度の変化があり、工程での温度管理が特に難しく、そのため、最近で は、石英ガラス基板のような低熱膨張率を持つ材質の使用が主となってきている 。しかしながら、ソーダガラス基板も含め、使用されるガラス材質は各種あり、 その判別が必要とされる。
【0003】 また、光露光による転写、描画、電子ビーム露光による描画、その他何れの描 画法、転写法によるにしても、フォトマスクパターン作製においては、その解像 性、精度の要求に応じて、基板はある範囲の平坦度内にある必要がある。フォト マスク作製に使用される基板の平坦度の種類も多いので、同様にその判別方法が 必要とされている。
【0004】 しかし、平坦度については、必ずしも基板の表裏で同じ必要はなく、表裏で異 なっている場合が多く、また、一般には、平坦度が良い側がマスクパターン作成 面側に使用される。したがって、基板の表裏の判別も必要である。
【0005】 ところで、従来、フォトマスク用ガラス基板において、図3(a)に示すよ うに、材質判別のためのマーク2を基板1の3面が交わる角部分に設けること( 実公昭63−8900号)、同図(b)に示すように、フォトマスクの種類を 示す記号3を基板1の側面4に設けること(特公昭62−40699号、特公昭 62−40700号)、同図(c)に示すように、ガラス基板1を着色すると 共に、4つの角部にカット面5a、5b、5c、5dを入れ、その数、位置と色 の組合せにより、ガラス素材の種類を識別すること(実開昭60−193550 号)が知られている。
【0006】
しかしながら、上記、は新たに基板角部にカット(研磨)作業が必要にな り、しかも、自動機械で基板を保持し難いカット角度になる。は側面へ記号を 入れる作業が必要になり、さらには、はガラス素材内部に着色性不純物を混入 する作業が必要があり、何れの作業も手間がかかるもので、容易な作業ではない 。また、何れも、基板のガラス材質、平坦度、表裏の判別を簡単に全てできる方 式ではない。
【0007】 本考案は上記のような従来技術の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的 は、新たな面を作成することなしに、ガラス基板の表裏、材質、平坦度が全て簡 単に判別できるフォトマスク用ガラス基板を提供することである。
【0008】
上記目的を達成する本考案のフォトマスク用ガラス基板は、表裏の面と端面が 交差する稜部に複数の面取り面が設けられてなるフォトマスク用ガラス基板にお いて、所定の面取り面を砂目面とし、残りの面取り面を鏡面として両者の組合せ により、表裏面の識別、基板材質の識別、表面又は裏面の平坦度の識別の少なく とも何れか1つを可能にしたことを特徴とするものである。
【0009】
本考案においては、フォトマスク基板に必要な面以外の特別の面を作成するこ とを必要とせず、ガラス基板作成時の工程が1つ簡略化され、しかも、従来のガ ラス基板の表裏、材質の識別に加えて、ガラス基板表面の平坦度の識別も可能と なる。また、1面全面を鏡面に加工する作業は、ポリッシング処理による極めて 簡単なものでよく、簡単なマーク書き込み作業ですむ。
【0010】
本考案のフォトマスク用ガラス基板の実施例について図1、図2を参照にして 説明する。 図1はフォトマス用ガラス基板1の斜視図(a)と図(a)の面B−Bに沿う 部分断面図(b)であり、図2はその部分側面図であり、基板1は表面6、裏面 7、側面8からなり、側面8と表面6、側面8と裏面7が交差する稜部に、取り 扱い時の危険防止等のために、面取り面9が形成されている。この形態は従来か ら一般的に用いられているものである。
【0011】 本考案においては、これらの面以外に新たな面を作成する必要がなく、面取り 面9を利用し、通常8面ある面取り面9の何れか1つ又は複数を砂目面10にし 、他の面を鏡面11として、その位置、数の組合せにより、ガラス基板1の表裏 、材質、平坦度全てを簡単に表示するようにする。所定の面取り面9を鏡面11 にするには、通常のガラス基板作製工程では面取り面9は砂目面10になってい るので、必要な面のみを鏡面状に加工すればよい。そのためには、特殊な研磨は 必要とせず、簡単なポリッシングでよい。そして、特に、基板1の角部に面取り 面9が設けられているため、及び、1面全体を鏡面にするため、このポリッシン グ作業は極めて簡単である。
【0012】 また、マークの識別は、面取り面9の表面が砂目か鏡目かにより簡単に行なえ る。
【0013】 表示としては、例えば、ガラス基板1の平坦度の良い表面6側の砂目面数を相 対的に少なくし、平坦度の劣る裏面7側の砂目面の数と位置、表面側に設けられ た砂目面との位置関係等により、ガラス基板1の表裏を簡単に識別でき、かつ、 ガラス材質、表面の平坦度の識別の少なくとも一方が可能となる。
【0014】 さらに、これらに組み合わせて、端面8も同様に全部あるいは一部を砂目にす ることによりガラス材質、表面6の平坦度のより多くの組合せの識別が可能とな る。
【0015】 以上、本考案のフォトマスク用ガラス基板について、実施例に基づいて説明し てきたが、本考案はこれら実施例に限定されず種々の変形が可能である。
【0016】
以上の説明から明らかなように、本考案のフォトマスク用ガラス基板によると 、所定の面取り面を砂目面とし、残りの面取り面を鏡面として両者の組合せによ り、表裏面の識別、基板材質の識別、表面又は裏面の平坦度の識別の少なくとも 何れか1つを可能にしたので、フォトマスク基板に必要な面以外の特別の面を作 成することを必要とせず、ガラス基板作成時の工程が1つ簡略化され、しかも、 従来のガラス基板の表裏、材質の識別に加えて、ガラス基板表面の平坦度の識別 も可能となる。また、1面全面を鏡面に加工する作業は、ポリッシング処理によ る極めて簡単なものでよく、簡単なマーク書き込み作業ですむ。
【図1】本考案による1実施例のフォトマス用ガラス基
板の斜視図(a)と部分断面図(b)である。
板の斜視図(a)と部分断面図(b)である。
【図2】図1のフォトマス用ガラス基板の部分側面図で
ある。
ある。
【図3】従来のフォトマスク用ガラス基板の識別マーク
を説明するための図である。
を説明するための図である。
1…フォトマス用ガラス基板 6…表面 7…裏面 8…側面 9…面取り面 10…砂目面 11…鏡面
Claims (1)
- 【請求項1】 表裏の面と端面が交差する稜部に複数の
面取り面が設けられてなるフォトマスク用ガラス基板に
おいて、所定の面取り面を砂目面とし、残りの面取り面
を鏡面として両者の組合せにより、表裏面の識別、基板
材質の識別、表面又は裏面の平坦度の識別の少なくとも
何れか1つを可能にしたことを特徴とするフォトマスク
用ガラス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP979292U JPH0571855U (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | フォトマスク用ガラス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP979292U JPH0571855U (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | フォトマスク用ガラス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0571855U true JPH0571855U (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=43739214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP979292U Pending JPH0571855U (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | フォトマスク用ガラス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0571855U (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101512515B1 (ko) * | 2007-08-07 | 2015-04-15 | 호야 가부시키가이샤 | 마스크 블랭크용 기판의 제조 방법, 마스크 블랭크의 제조방법, 마스크의 제조 방법, 및 마스크 블랭크용 기판 |
WO2016072311A1 (ja) * | 2014-11-04 | 2016-05-12 | Nsマテリアルズ株式会社 | 波長変換部材、及びそれを用いた発光装置、発光素子、光源装置、並びに表示装置 |
JP2018017933A (ja) * | 2016-07-28 | 2018-02-01 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像読取装置の製造方法 |
JP2018106147A (ja) * | 2016-12-22 | 2018-07-05 | Hoya株式会社 | 表示装置製造用のマスクブランク用基板、マスクブランク及びマスク、並びにそれらの製造方法 |
JP2020003547A (ja) * | 2018-06-26 | 2020-01-09 | クアーズテック株式会社 | フォトマスク用基板およびその製造方法 |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP979292U patent/JPH0571855U/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101512515B1 (ko) * | 2007-08-07 | 2015-04-15 | 호야 가부시키가이샤 | 마스크 블랭크용 기판의 제조 방법, 마스크 블랭크의 제조방법, 마스크의 제조 방법, 및 마스크 블랭크용 기판 |
WO2016072311A1 (ja) * | 2014-11-04 | 2016-05-12 | Nsマテリアルズ株式会社 | 波長変換部材、及びそれを用いた発光装置、発光素子、光源装置、並びに表示装置 |
JPWO2016072311A1 (ja) * | 2014-11-04 | 2017-08-24 | Nsマテリアルズ株式会社 | 波長変換部材、及びそれを用いた発光装置、発光素子、光源装置、並びに表示装置 |
CN107210343A (zh) * | 2014-11-04 | 2017-09-26 | Ns材料株式会社 | 波长转换部件及使用它的发光装置、发光元件、光源装置以及显示装置 |
JP2018017933A (ja) * | 2016-07-28 | 2018-02-01 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像読取装置の製造方法 |
JP2018106147A (ja) * | 2016-12-22 | 2018-07-05 | Hoya株式会社 | 表示装置製造用のマスクブランク用基板、マスクブランク及びマスク、並びにそれらの製造方法 |
JP2020003547A (ja) * | 2018-06-26 | 2020-01-09 | クアーズテック株式会社 | フォトマスク用基板およびその製造方法 |
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