JPH0569609U - 赤外線厚さ計 - Google Patents

赤外線厚さ計

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JPH0569609U
JPH0569609U JP826992U JP826992U JPH0569609U JP H0569609 U JPH0569609 U JP H0569609U JP 826992 U JP826992 U JP 826992U JP 826992 U JP826992 U JP 826992U JP H0569609 U JPH0569609 U JP H0569609U
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JP
Japan
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measured
infrared
arithmetic processing
transmission wavelength
processing unit
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Pending
Application number
JP826992U
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English (en)
Inventor
誠治 上原
鉄人 仁神
重男 高橋
Original Assignee
横河電機株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定体に最適な吸収用及び参照用の赤外光
波長を照射して高精度の厚さ測定を行う。 【構成】 赤外線を被測定体に照射してそのときの被測
定体の厚さを測定する赤外線厚さ計において、光源Lか
らの赤外線を音響光学素子フィルタ3で分光し、この分
光後の赤外線を前記被測定体Fに照射し、被測定体透過
後の赤外線を検出器1で検出して演算処理部5に導き、
該演算処理部には前記音響光学素子フィルタの透過波長
を決定するスイープ・オシレータ4が接続されて成り、
該演算処理部で、導かれた前記検出信号の処理を行い前
記スイープ・オシレータからの透過波長の情報と共に検
出信号を保持すると共に前記スイープ・オシレータに前
記音響光学素子フィルタの透過波長の指令を行う。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、赤外線を用いて被測定体(ウエブ)の厚さを測定する赤外線厚さ計 に係わるものであり、詳しくは、可動部の無い、高精度な厚さ測定を可能とする 赤外線厚さ計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の赤外線の吸収を利用した厚さ計の技術としては、赤外線発生源 からの光を複数個の分光フィルタをチョッピングすることにより吸収及び参照に 適した赤外光を取り出して、演算部分で必要な演算を施して被測定体であるウエ ブの厚さを測定する装置が知られている(例えば、実開昭60−65612号公 報参照)。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
このような従来の技術にあっては、以下のような問題点があった。 (イ)取り出す赤外光の波長範囲は分光フィルタにより予め決まっており、被測 定体に応じたフィルタを用意しなければならない。 (ロ)最適な波長範囲の選択が困難な場合が発生する。
【0004】 本考案は、従来の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その 目的とするところは、被測定体に最適な吸収用及び参照用の赤外光波長を照射し て高精度の厚さ測定を行うことができる赤外線厚さ計を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本考案は、赤外線を被測定体に照射してそのとき の被測定体の厚さを測定する赤外線厚さ計において、光源Lからの赤外線を音響 光学素子フィルタ3で分光し、この分光後の赤外線を前記被測定体Fに照射し、 被測定体透過後の赤外線を検出器1で検出して演算処理部5に導き、該演算処理 部には前記音響光学素子フィルタの透過波長を決定するスイープ・オシレータ4 が接続されて成り、該演算処理部で、導かれた前記検出信号の処理を行い前記ス イープ・オシレータからの透過波長の情報と共に検出信号を保持すると共に前記 スイープ・オシレータに前記音響光学素子フィルタの透過波長の指令を行うよう にしたことを特徴とするものである。
【0006】
【作用】
このような本考案では、光源、信号増幅部を含む検出器部、分光手段及び演算 処理部を有してなり、前記分光手段として従来の分光フィルタの代わりに音響光 学素子フィルタを使用することによって、可動部を無くして、常に被測定体につ いて最適な吸収用及び参照用の赤外光波長を利用可能に構成する。
【0007】
【実施例】
実施例に付いて図面を参照して説明する。
【0008】 図1は本考案の具体的な実施例を示す図である。 図2は図1の説明に供するフローチャートである。 図3は図1の説明に供する特性図である。 図4及び図5はその他の説明に供する図である。
【0009】 図1において、Lは光源、Fは被測定体(ウェブ)、1は光源Lからの光の被 測定体を透過した後の透過光を検出する検出器、2は検出器1からの検出信号を 増幅して出力する信号増幅部である。3は光源Lからの赤外線を分光する分光手 段として従来の分光フィルタの代わりに設けた音響光学素子フィルタ(以下「音 響フィルタ」という)である。4は透過波長を決定するスイープ・オシレータで ある。5は信号増幅部2とスイープ・オシレータ4が接続されて成り、検出信号 の処理及び音響フィルタ3の透過波長の指令を行う演算機能や記憶要素等を具備 する演算処理部(以下「CPU」という)である。従って、この演算処理部5に おいて、導かれた検出信号の処理を行い、スイープ・オシレータ4からの透 過波長の情報と共に検出信号を保持し、更にはスイープ・オシレータ4に対し て音響フィルタ3の透過波長の指令を行う。
【0010】 このような構成において、その動作は以下のようになる。
【0011】 (イ)光源Lの光は音響フィルタ3(i:分光可能範囲0〜n)により分光され (波長:λi)、被測定体Fを透過する。
【0012】 (ロ)被測定体Fを透過した光は検出器1で検出され(検出信号をIλiとする )、信号増幅部2で増幅された後にCPU5に導かれる。
【0013】 (ハ)CPU5でスイープ・オシレータ4からの透過波長の情報λiと共に検出 信号Iλiを保持する。
【0014】 (ヘ)スイープ・オシレータ4は連続的に音響フィルタ3の透過波長を変化させ て、(イ)〜(ハ)の動作を音響フィルタ3の分光可能範囲分(i=i+1、i =n/又はi=i−1、i=0)まで繰り返す。
【0015】 (ト)最終的に被測定体Fの吸収スペクトルがCPU5内の記憶要素に蓄積され る。
【0016】 (チ)得られたスペクトルの内、被測定体Fに最適な複数の測定波長範囲と参照 用波長範囲とについて、検出強度を積分する。
【0017】 (リ)更に、得られた積分値の相互間の演算を行い、最終的な被測定体Fの厚さ の定量化、即ち、吸収の度合について定量化を行う。
【0018】 以上をフローチャートで表わすと図2のようになる。得られた結果は図3のよ うになる。
【0019】 尚、本考案は図1の構成に限定されない。例えば図4のような、発光部と受 光部とを被測定体Fに対して一方の側に設置するような構成とした場合において も同様の結果を得ることができる。但し、図4において、6はミラーである。従 って、この場合は、音響フィルタ3を通った光は被測定体Fを通過した後にミラ ー6で反射した後、再び被測定体Fを通過し、その後に検出器1で受光すること となる。
【0020】 ところで被測定体の厚さが非常に薄い場合(例えば、1〜10μm程度の場合 )は、吸収スペクトルは被測定体Fにおける光の干渉により被測定体の厚さと屈 折率に依存するパターンが発生する。この場合は、前記吸収による定量ではなく 、図5に示すように干渉縞の間隔δを求める(縞のピークとピークの間の波長間 )ことにより、厚さの定量を行うことが可能となる。
【0021】
【考案の効果】
本考案は、以上説明したように構成されているので、次に記載するような効果 を奏する。
【0022】 (イ)可動部を無くして、常に被測定体について最適な吸収用及び参照用の赤外 光波長を利用可能に構成できる。 (ロ)音響フィルタの使用により、機構的な信頼性の向上がはかれる。 (ハ)吸収定量における被測定体に最適な波長帯を自由に設定可能である。 (ニ)薄物における干渉パターンでの定量が可能となることでより高精度の厚さ 測定が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の具体的な実施例を示す図である。
【図2】図1の説明に供するフローチャートである。
【図3】図1の説明に供する特性図である。
【図4】その他の説明に供する図である。
【図5】その他の説明に供する図である。
【符号の説明】
L 光源 F 被測定体(ウェブ) 1 検出器 2 信号増幅部 3 音響光学素子フィルタ(音響フィルタ) 4 スイープ・オシレータ 5 演算処理部(CPU)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 赤外線を被測定体に照射してそのときの
    被測定体の厚さを測定する赤外線厚さ計において、光源
    Lからの赤外線を音響光学素子フィルタ3で分光し、こ
    の分光後の赤外線を前記被測定体Fに照射し、被測定体
    透過後の赤外線を検出器1で検出して演算処理部5に導
    き、該演算処理部には前記音響光学素子フィルタの透過
    波長を決定するスイープ・オシレータ4が接続されて成
    り、該演算処理部で、導かれた前記検出信号の処理を行
    い前記スイープ・オシレータからの透過波長の情報と共
    に検出信号を保持すると共に前記スイープ・オシレータ
    に前記音響光学素子フィルタの透過波長の指令を行うよ
    うにしたことを特徴とする赤外線厚さ計。
JP826992U 1992-02-25 1992-02-25 赤外線厚さ計 Pending JPH0569609U (ja)

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JPH0569609U true JPH0569609U (ja) 1993-09-21

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58206903A (ja) * 1982-05-01 1983-12-02 Yokogawa Hokushin Electric Corp シ−ト状物体の厚さ測定装置
JPS62255810A (ja) * 1986-04-30 1987-11-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 微少溝深さ測定方法および装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58206903A (ja) * 1982-05-01 1983-12-02 Yokogawa Hokushin Electric Corp シ−ト状物体の厚さ測定装置
JPS62255810A (ja) * 1986-04-30 1987-11-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 微少溝深さ測定方法および装置

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