JPH0568962U - Ic搬送装置 - Google Patents

Ic搬送装置

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JPH0568962U
JPH0568962U JP1027192U JP1027192U JPH0568962U JP H0568962 U JPH0568962 U JP H0568962U JP 1027192 U JP1027192 U JP 1027192U JP 1027192 U JP1027192 U JP 1027192U JP H0568962 U JPH0568962 U JP H0568962U
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JP
Japan
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socket
suction head
tested
untested
suction
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Withdrawn
Application number
JP1027192U
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English (en)
Inventor
成人 山田
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 IC吸着ヘッドによりICを吸着して未試験
ICをICソケットに装着し、ICソケットでICを試
験し、試験終了時点で再びICをIC吸着ヘッドで吸着
し、IC排出装置に試験済ICを排出する構造のIC搬
送装置において、動作を高速化することができるIC搬
送装置を提供する。 【構成】 2組の搬送機構のそれぞれに、IC吸着ヘッ
ド6と7を支持させ、2個のIC吸着ヘッド6と7を別
々に動作させてICソケット3に未試験IC1を交互に
装着し、試験済のIC2を2つのIC吸着ヘッド6と7
を使って交互に排出させる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、例えばIC試験装置に利用することができるIC搬送装置に関す る。
【0002】
【従来の技術】
面実装型のICはパッケージの四辺から端子ピンが導出されている型式のIC が多い。このようなICは傾斜させたICガイドレールに流して搬送することは できない。このため従来より空気の吸引力によってICを吸着ヘッドに吸着し、 この吸着ヘッドを例えばX−Y−Z駆動装置によって移動させてICを搬送する 方法が採られている。
【0003】 図3はその従来技術の一例を示す。図中1はこれから試験を行なう未試験IC 、2は試験を終了した試験済ICを示す。3は未試験IC1を装着して動作試験 を行なうためのICソケットを示す。ICソケットの両側にIC供給装置4と、 IC排出装置5とが設けられる。これらIC供給装置4及びIC排出装置5は例 えばベルトコンベア型式の搬送装置によって構成される。
【0004】 ICソケット3及びIC供給装置4との間の間隔で支持されてIC吸着ヘッド 6と7が設けられる。これらIC吸着ヘッド6と7はエアシリンダ6A,7Aに よって支持されてZ軸方向つまり上下方向に移動できるように支持され、更にエ アシリンダ6A,7Aは共通のアーム8に支持される。この共通のアーム8は直 線駆動装置9によって図の例ではX軸方向に移動できるように支持する。
【0005】 吸着ヘッド6はIC供給装置4から未試験IC1を吸着してICソケット3に 搬送し、吸着ヘッド7はICソケット3から試験済IC3を吸着してIC排出装 置5に搬送する動作を行なう。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
従来は2つの吸着ヘッド6と7を同時に移動させて動作させているから、例え ばICソケット3に装着した状態、つまり試験に要する時間が長く掛る場合は、 吸着ヘッド6はIC供給装置4から未試験IC1を吸着してIC供給装置4の上 部位置でICソケット3が空くのを待つ必要がある。ICの試験が終って吸着ヘ ッド7がICソケット3から試験済IC2を吸着して上昇したタイミングで2つ の吸着ヘッド6と7は同時にX軸方向に移動し、吸着ヘッド6は未試験IC1を ICソケット3に降し、吸着ヘッド7は試験済IC2をIC排出装置5に降す動 作を行なう。このように従来はICの試験に要する時間TTES に加えて、未試験 IC1をIC供給装置1から取り出してICソケット3に装着するまでの時間T SET を加えた時間TTES +TSET がICの排出周期となり、動作が遅い欠点があ る。
【0007】 この考案の目的は一部に動作速度が遅い部分が存在しても、全体の動作を遅れ させることのないIC搬送装置を提供しようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この考案では直線駆動装置を2組設け、これら2組の直線駆動装置によってI C吸着ヘッドを別々に動作させ、これら2つのIC吸着ヘッドによりICソケッ トに交互に未試験ICを供給し、ICソケットから、試験済ICを交互にIC排 出装置に排出させるように構成する。
【0009】 この考案の構成によれば直線駆動装置を2組設けこの2組の直線駆動装置のそ れぞれにIC吸着ヘッドを支持させる構造としたから、この2組のIC吸着ヘッ ドは、それぞれ独立して単独に動作することができる。この結果、ICの試験中 は、この試験中のICをICソケットに運んだIC吸着ヘッドと、次に試験を行 なうICを吸着保持しているIC吸着ヘッドとをICソケットの上部位置に上下 に重ねて待機させることができる。
【0010】 つまり試験中のICを運んで来た第1IC吸着ヘッドを上下方向の中間位置に 待機させ、その更に上部に次に試験を行なうICを吸着保持している第2IC吸 着ヘッドを待機させることができる。この結果、試験中のICの試験が終了する と第1IC吸着ヘッドが直ちにICソケットから試験済ICを吸着してIC排出 装置に移動することができ、これと同時に第2IC吸着ヘッドは降下して吸着し ている未試験ICをICソケットに装着することができる。
【0011】 第2IC吸着ヘッドが中間位置に待機した状態で第1IC吸着ヘッドは試験済 ICをIC排出装置に排出させた後、単独でIC供給位置に移動して未試験IC を吸着し、更に待機中の第2IC吸着ヘッドの上部位置に移動して待機状態に入 ることができる。よってICが試験されている間に他方のIC吸着ヘッドは試験 済ICの排出と、未試験ICの吸着動作及びICソケットの上部位置への移動と を済ませることができる。よってICの試験に要する時間TTES に上部からIC をICソケットに降すに要する時間TDOWNを加えた時間の周期で試験済ICを排 出させることができ、試験を高速化することができる。
【0012】
【実施例】
図1にこの考案の一実施例を示す。図中1は未試験IC、2は試験済IC、3 はICソケット、4はIC供給装置、5はIC排出装置、6は第1IC吸着ヘッ ド、7は第2IC吸着ヘッドをそれぞれ示す。 この考案ではこれら第1IC吸着ヘッド6と第2IC吸着ヘッド7を別々に設 けた直線駆動装置11と12に支持させる。つまり直線駆動装置11はZ軸駆動 装置を構成するエアシリンダ6AをX軸方向に移動自在に支持し、直線駆動装置 12はエアシリンダ7AをX軸方向に移動自在に支持する。
【0013】 エアシリンダ6Aと7Aに支持された第1IC吸着ヘッド6及び第2IC吸着 ヘッド7は互に向き合う方向に突出してエアシリンダ6Aと7Aの各シャフトに 取付ける。この構造によって第1IC吸着ヘッド6と第2IC吸着ヘッド7とが 互にすれ違うことができる。尚図では第1IC吸着ヘッド6及び第2IC吸着ヘ ッド7には、空気の吸引ホース等の構成は省略して示している。
【0014】 第1IC吸着ヘッド6はIC供給装置4から未試験IC1を吸着してICソケ ット3の上部位置に移動する。このとき第2IC吸着ヘッド7はICソケット3 に未試験IC1を装着し、ICソケット3の上部に待機する。この待機位置は図 2に示すように、エアシリンダ7A及び6Aの全ストロークの約中間位置H1 に 採られる。
【0015】 第1IC吸着ヘッド6はIC供給装置4から未試験IC1を吸着するとICソ ケット3の上部に移動し、第2IC吸着ヘッド7の上部位置H2 に待機する。 ICソケット3に装着したICの試験が終了すると、第2IC吸着ヘッド7は ICソケット3から試験済IC2を吸着し、IC排出装置5に移動する。これと 同時に第1IC吸着ヘッド6は降下し、ICソケット3に未試験IC1を装着す る。従って試験済IC2の排出時間間隔はICソケット3の装着されている時間 、つまり試験に要する時間TTES に位置H2 から未試験IC1を降下させる時間 TDOWNを加えたTTES +TDOWNとなる。
【0016】
【考案の効果】
以上説明したように、この考案によれば1個のICが試験されて排出された時 点から、次のICが排出されるまでの時間はICの試験に要する時間TTES に次 のICをICソケット3に実装するまでの時間、つまり図2の例では第1吸着ヘ ッド6がICソケット3に未試験IC1を降下させる時間TDOWNを加えたTTES +TDOWNとなる。TDOWNは従来の技術で説明した移動時間TSET と比較してTDO WN <TSET とすることができる。従ってこの考案によれば従来より短かい周期T TES +TDOWNでICを排出することができ試験速度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の一実施例を示す斜視図。
【図2】この考案の動作を説明するための側面図。
【図3】従来の技術を説明するための側面図。
【符号の説明】
1 未試験IC 2 試験済IC 3 ICソケット 4 IC供給装置 5 IC排出装置 6 第1IC吸着ヘッド 7 第2IC吸着ヘッド 6A,7A エアシリンダ 11,12 直線駆動装置

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 未試験ICを1個ずつ供給するIC供給
    装置と、このIC供給装置に並設されたICソケット
    と、このICソケットに並設され試験済のICを排出す
    るIC排出装置と、上記IC供給装置とIC排出装置と
    の間を移動することができるIC吸着ヘッドと、によっ
    て構成されるIC搬送装置において、 上記IC吸着ヘッドを2組設け、これら2組のIC吸着
    ヘッドによって上記ICソケットに交互に未試験ICを
    供給し、ICソケットから交互に試験済ICを上記IC
    排出装置に排出させるように構成したIC搬送装置。
JP1027192U 1992-03-03 1992-03-03 Ic搬送装置 Withdrawn JPH0568962U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1027192U JPH0568962U (ja) 1992-03-03 1992-03-03 Ic搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP1027192U JPH0568962U (ja) 1992-03-03 1992-03-03 Ic搬送装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0568962U true JPH0568962U (ja) 1993-09-17

Family

ID=11745658

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1027192U Withdrawn JPH0568962U (ja) 1992-03-03 1992-03-03 Ic搬送装置

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JP (1) JPH0568962U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002162438A (ja) * 2000-11-24 2002-06-07 Yamaha Motor Co Ltd 部品試験装置
JP2014163943A (ja) * 2013-02-27 2014-09-08 Infineon Technologies Ag タレットハンドラおよびその動作方法

Cited By (3)

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Legal Events

Date Code Title Description
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19960606