JPH0566451A - カメラの防振装置 - Google Patents
カメラの防振装置Info
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- JPH0566451A JPH0566451A JP25424291A JP25424291A JPH0566451A JP H0566451 A JPH0566451 A JP H0566451A JP 25424291 A JP25424291 A JP 25424291A JP 25424291 A JP25424291 A JP 25424291A JP H0566451 A JPH0566451 A JP H0566451A
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- Japan
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- displacement amount
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- feedback loop
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 外乱や環境変化等によりフィードバックル−
プのオ−プン周波数特性が大きく変化し、フィ−ドバッ
ク系全体が不安定な状態となっても、直ちに安定な状態
に戻すことが可能である。 【構成】 フィ−ドバックル−プ系内に配置される複数
のゲイン設定手段８６，８７，８８，８９と、変位量検
出手段の出力（５６出力）よりフィ−ドバックル−プ系
の発振を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えるゲイン切換手段１５１〜１５６、１００
とを設けている。
プのオ−プン周波数特性が大きく変化し、フィ−ドバッ
ク系全体が不安定な状態となっても、直ちに安定な状態
に戻すことが可能である。 【構成】 フィ−ドバックル−プ系内に配置される複数
のゲイン設定手段８６，８７，８８，８９と、変位量検
出手段の出力（５６出力）よりフィ−ドバックル−プ系
の発振を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えるゲイン切換手段１５１〜１５６、１００
とを設けている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラ本体の絶対空間
に対する振れ変位量を検出する手振れ検出手段と、撮影
レンズに入射する光路を光軸に対して可変させる光学的
補正手段と、該光学的補正手段の変位量を検出する変位
量検出手段と、該変位量検出手段と前記手振れ検出手段
の出力が所定の比例関係を保つ様にフィ−ドバック制御
を行う制御手段とを備えたカメラの防振装置に関するも
のである。
に対する振れ変位量を検出する手振れ検出手段と、撮影
レンズに入射する光路を光軸に対して可変させる光学的
補正手段と、該光学的補正手段の変位量を検出する変位
量検出手段と、該変位量検出手段と前記手振れ検出手段
の出力が所定の比例関係を保つ様にフィ−ドバック制御
を行う制御手段とを備えたカメラの防振装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の防振装置には、図４に示
した様な角変位センサが用いられている。
した様な角変位センサが用いられている。
【０００３】図４において、内部に所定の比重を持った
液体３００が封入されているケ−ス３０１中には、上記
液体３００と同比重の浮体３０２が回転軸３０３回りに
回転自在なように支持された状態で置かれている。尚、
この浮体３０２は図中の矢印ａで示した方向に着磁され
た永久磁石で構成されており、ヨ−ク３０４との間に閉
磁気回路を形成している。更に、この浮体３０２とヨ−
ク３０４の間には巻線コイル３０５があり、この巻線コ
イル３０５に電流を流すことによって、浮体３０２には
フレミングの左手法則に基く力が働く為、浮体３０２は
その力によって電気的にコントロ−ルされることにな
る。
液体３００が封入されているケ−ス３０１中には、上記
液体３００と同比重の浮体３０２が回転軸３０３回りに
回転自在なように支持された状態で置かれている。尚、
この浮体３０２は図中の矢印ａで示した方向に着磁され
た永久磁石で構成されており、ヨ−ク３０４との間に閉
磁気回路を形成している。更に、この浮体３０２とヨ−
ク３０４の間には巻線コイル３０５があり、この巻線コ
イル３０５に電流を流すことによって、浮体３０２には
フレミングの左手法則に基く力が働く為、浮体３０２は
その力によって電気的にコントロ−ルされることにな
る。
【０００４】この状態でカメラ本体と一体となって動く
ケ−ス３０１が手振れによって絶対空間に対し「θIN」
だけ回転したとすると、浮体３０２は液体３００の慣性
力によって絶対空間に対して静止状態を維持する為、相
対的には浮体３０２はケ−ス３０２に対しほぼ「θIN」
だけ回転することになる。従って、この浮体３０２の動
きを、ケ−ス３０２と一体となって動く赤外発光素子
（以下ｉＲＥＤと記す）３０６及び半導体位置検出器
（以下ＰＳＤと記す）３０７による光学手段を用いて検
出することができる。
ケ−ス３０１が手振れによって絶対空間に対し「θIN」
だけ回転したとすると、浮体３０２は液体３００の慣性
力によって絶対空間に対して静止状態を維持する為、相
対的には浮体３０２はケ−ス３０２に対しほぼ「θIN」
だけ回転することになる。従って、この浮体３０２の動
きを、ケ−ス３０２と一体となって動く赤外発光素子
（以下ｉＲＥＤと記す）３０６及び半導体位置検出器
（以下ＰＳＤと記す）３０７による光学手段を用いて検
出することができる。
【０００５】一方、上記角変位センサからの出力に基づ
いて実際に撮影レンズを通した像振れを取り除く為の補
正手段としては、図５に示した様な、内部に一定の屈接
率を持つ液体４００が封入された可変頂角プリズムを用
いている。
いて実際に撮影レンズを通した像振れを取り除く為の補
正手段としては、図５に示した様な、内部に一定の屈接
率を持つ液体４００が封入された可変頂角プリズムを用
いている。
【０００６】図５において、この可変頂角プリズムは、
内部の透明液体４００が二枚の透明板４０２によって挟
持され、かつ樹脂フィルム４０３にて外周封止され、更
に枠体４０４によって全体が挟持された構造になってい
て、それぞれの透明板４０２は回転軸４０１ａ，４０１
ｂの回りに回転自在になっている。
内部の透明液体４００が二枚の透明板４０２によって挟
持され、かつ樹脂フィルム４０３にて外周封止され、更
に枠体４０４によって全体が挟持された構造になってい
て、それぞれの透明板４０２は回転軸４０１ａ，４０１
ｂの回りに回転自在になっている。
【０００７】図５（ａ）では、被写体面上の点Ｏから発
した光は上述した可変頂角プリズム，撮影レンズＬを通
過して、カメラのフィルム面上下に結像している。ここ
で撮影者の手振れによってカメラが絶対空間に対して
「θ」だけ回転し、相対的に被写体面上の点ＯがＯ′の
位置に移ったとすると、フィルム面上の像ＦはＦ′の位
置迄移動することになる。図５（ａ）では、この可変頂
角プリズムは全く可動されていない為、上記の像振れに
対しては全く補正が行われていない。
した光は上述した可変頂角プリズム，撮影レンズＬを通
過して、カメラのフィルム面上下に結像している。ここ
で撮影者の手振れによってカメラが絶対空間に対して
「θ」だけ回転し、相対的に被写体面上の点ＯがＯ′の
位置に移ったとすると、フィルム面上の像ＦはＦ′の位
置迄移動することになる。図５（ａ）では、この可変頂
角プリズムは全く可動されていない為、上記の像振れに
対しては全く補正が行われていない。
【０００８】一方、図５（ｂ）においては、可変頂角プ
リズムの撮影レンズＬに近い側の透明板４０２は回転軸
４０１ａの回りに、平行位置から角度δだけ傾いた状態
となっている。ここで、内部の液体４００の屈接率をｎ
とすれば、 θ′＝（ｎ−１）δ の関係を満足する様に、点０´からの光線は可変頂角プ
リズムによって「θ´」だけ振られることになり、よっ
てもし「θ＝θ´」ならば、カメラの手振れのない時の
像位置下と同じところに結像することになる。
リズムの撮影レンズＬに近い側の透明板４０２は回転軸
４０１ａの回りに、平行位置から角度δだけ傾いた状態
となっている。ここで、内部の液体４００の屈接率をｎ
とすれば、 θ′＝（ｎ−１）δ の関係を満足する様に、点０´からの光線は可変頂角プ
リズムによって「θ´」だけ振られることになり、よっ
てもし「θ＝θ´」ならば、カメラの手振れのない時の
像位置下と同じところに結像することになる。
【０００９】従って、撮影者の手振れ変位量θINを上記
の角変位センサによって検出し、その出力と可変頂角プ
リズムの光軸方向の補正角θ´が常に等しくなるように
フィ−ドバック制御を行えば、外乱（例えば可変頂角プ
リズムの回転軸回りの摩擦）の影響を受けずに防振制御
を行うことができる。
の角変位センサによって検出し、その出力と可変頂角プ
リズムの光軸方向の補正角θ´が常に等しくなるように
フィ−ドバック制御を行えば、外乱（例えば可変頂角プ
リズムの回転軸回りの摩擦）の影響を受けずに防振制御
を行うことができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、外乱等の影響を低減する為にどうしても
可変頂角プリズムの動きを実際に検出しながらフィ−ド
バック制御を実行する必要がある。その為、電源電圧等
の変動（ドライバ等の方法によってはル−プゲインが変
化）や温度変化（可変頂角プリズムの場合、液体の粘性
変化）等により、フィ−ドバックル−プのオ−プン周波
数特性が大きく変化し、そのままではシステム全体が発
振してしまうという問題点があった。
来の方法では、外乱等の影響を低減する為にどうしても
可変頂角プリズムの動きを実際に検出しながらフィ−ド
バック制御を実行する必要がある。その為、電源電圧等
の変動（ドライバ等の方法によってはル−プゲインが変
化）や温度変化（可変頂角プリズムの場合、液体の粘性
変化）等により、フィ−ドバックル−プのオ−プン周波
数特性が大きく変化し、そのままではシステム全体が発
振してしまうという問題点があった。
【００１１】本発明の目的は、上記の点に鑑み、外乱や
環境変化等によりフィードバックル−プのオ−プン周波
数特性が大きく変化し、フィ−ドバック系全体が不安定
な状態となっても、直ちに安定な状態に戻すことのでき
るカメラの防振装置を提供することである。
環境変化等によりフィードバックル−プのオ−プン周波
数特性が大きく変化し、フィ−ドバック系全体が不安定
な状態となっても、直ちに安定な状態に戻すことのでき
るカメラの防振装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数のゲイン設定手段と、変
位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発振
を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲインを
切換えるゲイン切換手段とを設け、また、フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数の位相補償手段と、変位
量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発振を
検知した場合には、前記位相補償手段を切換える位相補
償切換手段とを設け、また、フィ−ドバックル−プ系内
に配置される複数のゲイン設定手段と、同じくフィ−ド
バックル−プ系内に配置される複数の位相補償手段と、
前記変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系
の発振を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えると同時に、前記位相補償手段を切換える
切換手段とを設けている。
クル−プ系内に配置される複数のゲイン設定手段と、変
位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発振
を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲインを
切換えるゲイン切換手段とを設け、また、フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数の位相補償手段と、変位
量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発振を
検知した場合には、前記位相補償手段を切換える位相補
償切換手段とを設け、また、フィ−ドバックル−プ系内
に配置される複数のゲイン設定手段と、同じくフィ−ド
バックル−プ系内に配置される複数の位相補償手段と、
前記変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系
の発振を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えると同時に、前記位相補償手段を切換える
切換手段とを設けている。
【００１３】
【作用】変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−
プ系の発振を検知した場合には、ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えるか、位相補償手段を切換えるか、或は、
これらを同時に切換え、発振を抑えるようにしている。
プ系の発振を検知した場合には、ゲイン設定手段中のゲ
インを切換えるか、位相補償手段を切換えるか、或は、
これらを同時に切換え、発振を抑えるようにしている。
【００１４】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例におけるカメラ
の防振装置を示した回路図である。
の防振装置を示した回路図である。
【００１５】従来例で説明した様に、カメラと一体とな
って動くケ−ス２が手振れの影響で絶対空間に対して回
転したとすると、中の浮体４は液体３の慣性によって絶
対空間に対して静止状態を維持する為、浮体４は相対的
にケ−ス２に対して回転したことになる。この相対変位
量はカメラと一体となって回転するｉＲＥＤ６とＰＳＤ
５を用いて光学的に検出することができる。ｉＲＥＤ６
から発せられた信号光は浮体４の表面で反射してＰＳＤ
５へ入射するが、ここで浮体４のケ−ス２に対する相対
角度によって、信号反射光のＰＳＤ５への入射位置が変
化する為、該ＰＳＤ５からの出力電流Ｉａ及びＩｂは浮
体４の回転角度に応じて比例的に変化する。
って動くケ−ス２が手振れの影響で絶対空間に対して回
転したとすると、中の浮体４は液体３の慣性によって絶
対空間に対して静止状態を維持する為、浮体４は相対的
にケ−ス２に対して回転したことになる。この相対変位
量はカメラと一体となって回転するｉＲＥＤ６とＰＳＤ
５を用いて光学的に検出することができる。ｉＲＥＤ６
から発せられた信号光は浮体４の表面で反射してＰＳＤ
５へ入射するが、ここで浮体４のケ−ス２に対する相対
角度によって、信号反射光のＰＳＤ５への入射位置が変
化する為、該ＰＳＤ５からの出力電流Ｉａ及びＩｂは浮
体４の回転角度に応じて比例的に変化する。
【００１６】この出力電流Ｉａ、及びＩｂは、オペアン
プ１０，抵抗１１，コンデンサ１２で構成される電流−
電圧変換回路、及びオペアンプ１３，抵抗１４コンデン
サ１５で構成される電流−電圧変換回路によってそれぞ
れ増幅され、更にそれぞれの出力はオペアンプ２１、抵
抗２２，２３，２４，２５で構成される加算回路、及び
オペアンプ１６、抵抗１７，１８，１９，２０で構成さ
れる減算回路へ入力される。ここで、この加算回路の出
力は、オペアンプ２６，抵抗２７，２８，３１，コンデ
ンサ２９，トランジスタ３０で構成されるｉＲＥＤドラ
イバ回路へ入力され、加算回路の出力が常に基準電圧Ｋ
ＶＣと等しくなるように光量フィ−ドバック制御が為さ
れている。
プ１０，抵抗１１，コンデンサ１２で構成される電流−
電圧変換回路、及びオペアンプ１３，抵抗１４コンデン
サ１５で構成される電流−電圧変換回路によってそれぞ
れ増幅され、更にそれぞれの出力はオペアンプ２１、抵
抗２２，２３，２４，２５で構成される加算回路、及び
オペアンプ１６、抵抗１７，１８，１９，２０で構成さ
れる減算回路へ入力される。ここで、この加算回路の出
力は、オペアンプ２６，抵抗２７，２８，３１，コンデ
ンサ２９，トランジスタ３０で構成されるｉＲＥＤドラ
イバ回路へ入力され、加算回路の出力が常に基準電圧Ｋ
ＶＣと等しくなるように光量フィ−ドバック制御が為さ
れている。
【００１７】一方、本実施例で補正光学系に用いている
可変頂角プリズム４１の変位頂角量も上記の角変位セン
サと全く同様の方法によって検出される。
可変頂角プリズム４１の変位頂角量も上記の角変位セン
サと全く同様の方法によって検出される。
【００１８】つまり、ｉＲＥＤ４４とＰＳＤ４３の間に
は、可変頂角プリズムの動きに連動するスリットが設け
られており、そのスリットの動きによってＰＳＤ４３か
ら発生する光電流がＩｃ，Ｉｄとして発生する。この光
電流Ｉｃ、及びＩｄは上記の角変位センサと全く同じ方
法で、オペアンプ５０，抵抗５１，コンデンサ５２で構
成される電流−電圧変換回路、及びオペアンプ５３，抵
抗５４，コンデンサ５５で構成される電流−電圧変換回
路でそれぞれ増幅され、更にそれぞれの出力はオペアン
プ５６，抵抗５７，５８，５９，６０で構成される減算
回路、及びオペアンプ６１、抵抗６２，６３，６４，６
５で構成される加算回路へ入力される。ここで、この加
算回路の出力はオペアンプ６６、抵抗６７，６８，７
１、コンデンサ６９、トランジスタ７０で構成されるｉ
ＲＥＤドライバ回路へ入力される為、加算回路の出力は
常に基準電位ＫＶＣと等しくなる。
は、可変頂角プリズムの動きに連動するスリットが設け
られており、そのスリットの動きによってＰＳＤ４３か
ら発生する光電流がＩｃ，Ｉｄとして発生する。この光
電流Ｉｃ、及びＩｄは上記の角変位センサと全く同じ方
法で、オペアンプ５０，抵抗５１，コンデンサ５２で構
成される電流−電圧変換回路、及びオペアンプ５３，抵
抗５４，コンデンサ５５で構成される電流−電圧変換回
路でそれぞれ増幅され、更にそれぞれの出力はオペアン
プ５６，抵抗５７，５８，５９，６０で構成される減算
回路、及びオペアンプ６１、抵抗６２，６３，６４，６
５で構成される加算回路へ入力される。ここで、この加
算回路の出力はオペアンプ６６、抵抗６７，６８，７
１、コンデンサ６９、トランジスタ７０で構成されるｉ
ＲＥＤドライバ回路へ入力される為、加算回路の出力は
常に基準電位ＫＶＣと等しくなる。
【００１９】以上のように、ＰＳＤ５及び４３からそれ
ぞれ出力される光電流の総和は常に一定となることか
ら、減算回路の出力はそれぞれ絶対空間に対する角変位
量及び可変頂角プリズムの頂角変位量を表すことにな
る。
ぞれ出力される光電流の総和は常に一定となることか
ら、減算回路の出力はそれぞれ絶対空間に対する角変位
量及び可変頂角プリズムの頂角変位量を表すことにな
る。
【００２０】又、オペアンプ１６の出力はオペアンプ３
２、トランジスタ３３，３４で構成されるコイルドライ
バ回路へ入力される為に、オペアンプ１６の出力に応じ
てコイル７への通電電流が決定される。従来例で説明し
たようにヨ−ク１と浮体４で構成される閉磁気回路中に
置かれたコイル７へ電流を供給すれば、フレミングの左
手法則に基く力が発生する為、この電流をコントロ−ル
することにより角変位センサ自体の動き及び特性をコン
トロ−ルすることが可能である。
２、トランジスタ３３，３４で構成されるコイルドライ
バ回路へ入力される為に、オペアンプ１６の出力に応じ
てコイル７への通電電流が決定される。従来例で説明し
たようにヨ−ク１と浮体４で構成される閉磁気回路中に
置かれたコイル７へ電流を供給すれば、フレミングの左
手法則に基く力が発生する為、この電流をコントロ−ル
することにより角変位センサ自体の動き及び特性をコン
トロ−ルすることが可能である。
【００２１】また、オペアンプ１６の出力はアナログス
イッチ８０を介して抵抗８３へ接続され、オペアンプ５
６の出力は抵抗８４に接続されており、共にオペアンプ
８５の反転入力端子に接続される。このオペアンプ８５
のフィ−ドバック系には、抵抗８６とアナログスイッチ
８７及び抵抗８８とアナログスイッチ８９がそれぞれ並
列に接続されている。
イッチ８０を介して抵抗８３へ接続され、オペアンプ５
６の出力は抵抗８４に接続されており、共にオペアンプ
８５の反転入力端子に接続される。このオペアンプ８５
のフィ−ドバック系には、抵抗８６とアナログスイッチ
８７及び抵抗８８とアナログスイッチ８９がそれぞれ並
列に接続されている。
【００２２】次に、オペアンプ８５の出力はオペアンプ
９０、抵抗９２，９３、コンデンサ９１で構成される位
相補償回路へ入力され、全体のフィ−ドバック系の位相
補償が為されている。更に、この出力はオペアンプ９７
で構成されるバッファ回路及びオペアンプ９４，抵抗９
５，９６で構成される反転増幅回路へ入力され、それぞ
れのアンプの出力によってコイル９８への両方向通電が
行われる。
９０、抵抗９２，９３、コンデンサ９１で構成される位
相補償回路へ入力され、全体のフィ−ドバック系の位相
補償が為されている。更に、この出力はオペアンプ９７
で構成されるバッファ回路及びオペアンプ９４，抵抗９
５，９６で構成される反転増幅回路へ入力され、それぞ
れのアンプの出力によってコイル９８への両方向通電が
行われる。
【００２３】以上のように、もしアナログスイッチ８０
がＯＮしていれば、角変位センサの出力と可変頂角プリ
ズムの変位角出力が常に常しくなるようにフィ−ドバッ
ク制御が実行されている。従って、予め角変位センサの
単位角度当りの出力と可変頂角プリズムの光軸に対する
単位補正角度当りの出力が等しくなるように、抵抗８
３，８４等を使って両者のゲインを設定しておけば、上
記のシステムでカメラの手振れに対する防振動作を制御
することができる。
がＯＮしていれば、角変位センサの出力と可変頂角プリ
ズムの変位角出力が常に常しくなるようにフィ−ドバッ
ク制御が実行されている。従って、予め角変位センサの
単位角度当りの出力と可変頂角プリズムの光軸に対する
単位補正角度当りの出力が等しくなるように、抵抗８
３，８４等を使って両者のゲインを設定しておけば、上
記のシステムでカメラの手振れに対する防振動作を制御
することができる。
【００２４】次に、制御回路１００からの制御を含め
て、本フィ−ドバックル−プ系の安定性を保つ制御方法
を説明する。
て、本フィ−ドバックル−プ系の安定性を保つ制御方法
を説明する。
【００２５】図１に示した様に制御回路１００には、カ
メラのレリ−ズ操作に連動するスイッチ１０１（ＳＷ
１）及びスイッチ１０２（ＳＷ２）、本防振動作を実行
するか否かを選択する為のスイッチ１０３（ＩＳＳＷ）
の状態が読み取れるように入力されている。
メラのレリ−ズ操作に連動するスイッチ１０１（ＳＷ
１）及びスイッチ１０２（ＳＷ２）、本防振動作を実行
するか否かを選択する為のスイッチ１０３（ＩＳＳＷ）
の状態が読み取れるように入力されている。
【００２６】通常、スイッチＩＳＳＷがＯＮしている状
態でスイッチＳＷ１がＯＮとなると、制御回路１００は
これを検知して直ちにISONの反転出力をＬレベルとする
ことから、アナログスイッチ８１はＯＦＦ，インバ−タ
８２の出力によってアナログスイッチ８０はＯＮとな
り、前述した様に角変位センサの出力が上記の可変頂角
プリズムを含むフィ−ドバック系への基準入力となっ
て、防振動作が開始される。
態でスイッチＳＷ１がＯＮとなると、制御回路１００は
これを検知して直ちにISONの反転出力をＬレベルとする
ことから、アナログスイッチ８１はＯＦＦ，インバ−タ
８２の出力によってアナログスイッチ８０はＯＮとな
り、前述した様に角変位センサの出力が上記の可変頂角
プリズムを含むフィ−ドバック系への基準入力となっ
て、防振動作が開始される。
【００２７】前述した様にオペアンプ５６の出力は可変
頂角プリズムの実際の頂角変位量を表しており、防振動
作中はほぼ手振れと同じ波形が出力されている。
頂角プリズムの実際の頂角変位量を表しており、防振動
作中はほぼ手振れと同じ波形が出力されている。
【００２８】ここで、実際の手振れの周波数帯域は最大
でもせいぜい２０〜３０Ｈｚなのに対し、可変頂角プリ
ズムを含むフィ−ドバックル−プ系は、摩擦等の影響を
充分取り除く為に数百Ｈｚ付近にゲイン交点が来るよう
に設定されているので、オペアンプ１５０，コンデンサ
１５１，抵抗１５２，１５３で構成される微分回路で
は、上記手振れの周波数帯域をカットするようにその時
定数が決められている。従って、このフィ−ドバックル
−プ系の状態が変化して発振が起きた場合、ほぼゲイン
交点付近の周波数が観測され、オペアンプ１５０から出
力されることになる。このオペアンプ１５０の出力はコ
ンパレ−タ１５４，１５５、ナンドゲ−ト１５６で構成
されるウィンドコンパレ−タで比較され、オペアンプ１
５０の出力振幅が正の基準電圧ＶＣと負の基準電圧−Ｖ
Ｃの範囲内にあるかどうかの判定が行われる。
でもせいぜい２０〜３０Ｈｚなのに対し、可変頂角プリ
ズムを含むフィ−ドバックル−プ系は、摩擦等の影響を
充分取り除く為に数百Ｈｚ付近にゲイン交点が来るよう
に設定されているので、オペアンプ１５０，コンデンサ
１５１，抵抗１５２，１５３で構成される微分回路で
は、上記手振れの周波数帯域をカットするようにその時
定数が決められている。従って、このフィ−ドバックル
−プ系の状態が変化して発振が起きた場合、ほぼゲイン
交点付近の周波数が観測され、オペアンプ１５０から出
力されることになる。このオペアンプ１５０の出力はコ
ンパレ−タ１５４，１５５、ナンドゲ−ト１５６で構成
されるウィンドコンパレ−タで比較され、オペアンプ１
５０の出力振幅が正の基準電圧ＶＣと負の基準電圧−Ｖ
Ｃの範囲内にあるかどうかの判定が行われる。
【００２９】フィ−ドバックル−プ系の発振振幅が基準
電圧ＶＣ、若しくは−ＶＣを越えた場合には、上記のウ
ィンドコンパレ−タ出力OSCDCTがＨレベルとなり、制御
回路１００はこれを検知すると直ちにGCHG出力をＨレベ
ルとする。このGCHG出力のＨレベルによってアナログス
イッチ８７がＯＮ，インバ−タ９９の出力によってアナ
ログスイッチ８９がＯＦＦとなるので、オペアンプ８５
のフィ−ドバック抵抗として、抵抗８６が選択されるこ
とになる。ここで、抵抗８６の値は抵抗８８の値に比べ
るとその抵抗値は小さい為に、その結果フィ−ドバック
ル−プゲインが下がることになり、フィ−ドバックル−
プ系の発振が停止、若しくは、システム全体に影響を与
えない程充分小さなレベルまで抑えることができる。
電圧ＶＣ、若しくは−ＶＣを越えた場合には、上記のウ
ィンドコンパレ−タ出力OSCDCTがＨレベルとなり、制御
回路１００はこれを検知すると直ちにGCHG出力をＨレベ
ルとする。このGCHG出力のＨレベルによってアナログス
イッチ８７がＯＮ，インバ−タ９９の出力によってアナ
ログスイッチ８９がＯＦＦとなるので、オペアンプ８５
のフィ−ドバック抵抗として、抵抗８６が選択されるこ
とになる。ここで、抵抗８６の値は抵抗８８の値に比べ
るとその抵抗値は小さい為に、その結果フィ−ドバック
ル−プゲインが下がることになり、フィ−ドバックル−
プ系の発振が停止、若しくは、システム全体に影響を与
えない程充分小さなレベルまで抑えることができる。
【００３０】更に、この系のル−プゲインをもっと細か
く、且つ広い範囲で変えるには、上記の抵抗を更に複数
個持たせたり、又、オペアンプ８５のフィ−ドバックル
−プにある抵抗をＭＯＳ抵抗などの電圧制御型可変抵抗
で構成し、制御回路１００に付随した不図示のＤ／Ａコ
ンバ−タ等によってその抵抗値を変えたりすることによ
って実現が可能である。
く、且つ広い範囲で変えるには、上記の抵抗を更に複数
個持たせたり、又、オペアンプ８５のフィ−ドバックル
−プにある抵抗をＭＯＳ抵抗などの電圧制御型可変抵抗
で構成し、制御回路１００に付随した不図示のＤ／Ａコ
ンバ−タ等によってその抵抗値を変えたりすることによ
って実現が可能である。
【００３１】尚、本実施例では、防振制御動作中にフィ
−ドバック系の発振状態をチェックするように構成され
ているが、ISONの反転出力がＨレベル、即ち角変位セン
サの出力がフィ−ドバックル−プに接続されていない状
態でも基本的にはフィ−ドバックル−プ特性は変らない
ので、手振れの影響を全く受けずに、より正確な系の安
定状態が確認できることは言うまでもない。
−ドバック系の発振状態をチェックするように構成され
ているが、ISONの反転出力がＨレベル、即ち角変位セン
サの出力がフィ−ドバックル−プに接続されていない状
態でも基本的にはフィ−ドバックル−プ特性は変らない
ので、手振れの影響を全く受けずに、より正確な系の安
定状態が確認できることは言うまでもない。
【００３２】図２は本発明の第２の実施例におけるカメ
ラの防振装置を示した回路図であり、角変位検出回路と
可変頂角プリズム制御回路の部分については第１の実施
例と全く同様なので説明は省略する。
ラの防振装置を示した回路図であり、角変位検出回路と
可変頂角プリズム制御回路の部分については第１の実施
例と全く同様なので説明は省略する。
【００３３】オペアンプ５６の出力から取出される可変
頂角プリズムの頂角変位量は、第１の実施例と同じよう
にオペアンプ１５０、コンデンサ１５１、抵抗１５２，
１５３で構成される微分回路で手振れ信号が除去され
る。
頂角プリズムの頂角変位量は、第１の実施例と同じよう
にオペアンプ１５０、コンデンサ１５１、抵抗１５２，
１５３で構成される微分回路で手振れ信号が除去され
る。
【００３４】次に、オペアンプ１５０の出力はオペアン
プ１６０、抵抗１６１，１６３、ダイオ−ド１６２，１
６４で構成される公知の半波整流回路で半波整流され、
更にその出力はオペアンプ１６６，抵抗１６７，１６８
で構成される反転増幅回路で増幅される。一方、オペア
ンプ１５０の出力は直接オペアンプ１６６，抵抗１６
５，１６８で構成される反転増幅回路でも増幅されるこ
とになり、ここで抵抗１６５と１６７の抵抗比を「２：
１」とすれば、オペアンプ１６６の出力は上述した半波
整流回路との組合せでオペアンプ１５０の出力を全波整
流した波形となる。
プ１６０、抵抗１６１，１６３、ダイオ−ド１６２，１
６４で構成される公知の半波整流回路で半波整流され、
更にその出力はオペアンプ１６６，抵抗１６７，１６８
で構成される反転増幅回路で増幅される。一方、オペア
ンプ１５０の出力は直接オペアンプ１６６，抵抗１６
５，１６８で構成される反転増幅回路でも増幅されるこ
とになり、ここで抵抗１６５と１６７の抵抗比を「２：
１」とすれば、オペアンプ１６６の出力は上述した半波
整流回路との組合せでオペアンプ１５０の出力を全波整
流した波形となる。
【００３５】又、コンデンサ１６９と抵抗１６８との組
合せでこの全波整流波形はある程度平滑化され、オペア
ンプ１５０出力のほぼ実効値に等しい値がオペアンプ１
６６から出力される。従って、可変頂角プリズムを含む
フィ−ドバックル−プがもし発振した場合には、この発
振波形はオペアンプ５６出力、上記微分回路及び実効値
変換回路を通してほぼＤＣ出力に変換される。このＤＣ
出力はコンパレ−タ１７０の反転入力端子に接続されて
いる正の基準電圧ＶＣＬと比較され、この値より大きく
なるとコンパレ−タ１７０のOSCDCT出力がＨレベルとな
る。制御回路１００はこの出力を検知して第１の実施例
と同様にオペアンプ８５のフィ−ドバック抵抗を小さい
値に切換え、ル−プゲインを下げて発振を停止させるよ
うに制御動作が実行される。
合せでこの全波整流波形はある程度平滑化され、オペア
ンプ１５０出力のほぼ実効値に等しい値がオペアンプ１
６６から出力される。従って、可変頂角プリズムを含む
フィ−ドバックル−プがもし発振した場合には、この発
振波形はオペアンプ５６出力、上記微分回路及び実効値
変換回路を通してほぼＤＣ出力に変換される。このＤＣ
出力はコンパレ−タ１７０の反転入力端子に接続されて
いる正の基準電圧ＶＣＬと比較され、この値より大きく
なるとコンパレ−タ１７０のOSCDCT出力がＨレベルとな
る。制御回路１００はこの出力を検知して第１の実施例
と同様にオペアンプ８５のフィ−ドバック抵抗を小さい
値に切換え、ル−プゲインを下げて発振を停止させるよ
うに制御動作が実行される。
【００３６】この様に本実施例では第１の実施例と異な
り、発振波形の実効値からシステムの発振状態を観測す
る為、より正確な検知ができる。
り、発振波形の実効値からシステムの発振状態を観測す
る為、より正確な検知ができる。
【００３７】図３は本発明の第３の実施例におけるカメ
ラの防振装置を示した回路図であり、角変位検出回路と
可変頂角プリズム制御回路の部分については第１の実施
例と全く同様なので説明は省略する。
ラの防振装置を示した回路図であり、角変位検出回路と
可変頂角プリズム制御回路の部分については第１の実施
例と全く同様なので説明は省略する。
【００３８】オペアンプ５６の出力から取出される可変
頂角プリズムの頂角変位量は、第１の実施例と同じよう
にオペアンプ１５０、コンデンサ１５１、抵抗１５２，
１５３で構成される微分回路で手振れ信号が除去され、
この出力はコンパレ−タ１５４，１５５、ナンドゲ−ト
１５６で構成されるウインドコンパレ−タで比較され、
フィ−ドバックル−プ系が発振しているかどうかのチェ
ックが行われる。一方、オペアンプ１５０の出力はＦ−
Ｖコンバ−タ１８０へ入力され、ここで周波数に比例し
たＤＣ電圧に変換される。例えば、このフィ−ドバック
ル−プ系の発振周波数が所定値よりも高く、Ｆ−Ｖコン
バ−タ１８０のＤＣ出力が定電圧ＶＣＦよりも大きい時
は、コンパレ−タ１８１によってそのHFRQ出力はＨレベ
ルとなる。制御回路１００では、第１の実施例と同様
に、OSCDCT出力がＨレベルになったことを検出すると、
GCHG出力をＨレベルとし、オペアンプ８５のフィ−ドバ
ックル−プに接続された抵抗値を切換える。更に、制御
回路１００はHFRQの状態を検知し、これがＬレベルの時
は発振周波数が基準周波数よりも低いものと判断し、制
御回路１００はCCHGをＬレベルとする。その結果、アナ
ログスイッチ１２０がＯＦＦ、インバ−タ１２４を通し
てアナログスイッチ１２２がＯＮとなることから、コン
デンサ９１，抵抗９３，１２３で構成され、低周波側の
発振を抑える位相補償回路が選択される。逆にHFRQ出力
の状態がＨレベルの時は発振周波数が基準周波数よりも
高いものと判断し、制御回路１００はCCHG出力をＨレベ
ルとする。その結果、アナログスイッチ１２０がＯＮ、
インバ−タ１２４を通してアナログSW122 がＯＦＦとな
ることから、コンデンサ９１，抵抗９３，１２１で構成
され、高周波側の発振を抑える位相補償回路が選択され
る。
頂角プリズムの頂角変位量は、第１の実施例と同じよう
にオペアンプ１５０、コンデンサ１５１、抵抗１５２，
１５３で構成される微分回路で手振れ信号が除去され、
この出力はコンパレ−タ１５４，１５５、ナンドゲ−ト
１５６で構成されるウインドコンパレ−タで比較され、
フィ−ドバックル−プ系が発振しているかどうかのチェ
ックが行われる。一方、オペアンプ１５０の出力はＦ−
Ｖコンバ−タ１８０へ入力され、ここで周波数に比例し
たＤＣ電圧に変換される。例えば、このフィ−ドバック
ル−プ系の発振周波数が所定値よりも高く、Ｆ−Ｖコン
バ−タ１８０のＤＣ出力が定電圧ＶＣＦよりも大きい時
は、コンパレ−タ１８１によってそのHFRQ出力はＨレベ
ルとなる。制御回路１００では、第１の実施例と同様
に、OSCDCT出力がＨレベルになったことを検出すると、
GCHG出力をＨレベルとし、オペアンプ８５のフィ−ドバ
ックル−プに接続された抵抗値を切換える。更に、制御
回路１００はHFRQの状態を検知し、これがＬレベルの時
は発振周波数が基準周波数よりも低いものと判断し、制
御回路１００はCCHGをＬレベルとする。その結果、アナ
ログスイッチ１２０がＯＦＦ、インバ−タ１２４を通し
てアナログスイッチ１２２がＯＮとなることから、コン
デンサ９１，抵抗９３，１２３で構成され、低周波側の
発振を抑える位相補償回路が選択される。逆にHFRQ出力
の状態がＨレベルの時は発振周波数が基準周波数よりも
高いものと判断し、制御回路１００はCCHG出力をＨレベ
ルとする。その結果、アナログスイッチ１２０がＯＮ、
インバ−タ１２４を通してアナログSW122 がＯＦＦとな
ることから、コンデンサ９１，抵抗９３，１２１で構成
され、高周波側の発振を抑える位相補償回路が選択され
る。
【００３９】このように本実施例では、フィ−ドバック
ル−プ系の発振が観測された場合、そのル−プゲインを
変えるだけでなく、位相補償回路をも切換えることによ
り、より安定な系を実現することができる。
ル−プ系の発振が観測された場合、そのル−プゲインを
変えるだけでなく、位相補償回路をも切換えることによ
り、より安定な系を実現することができる。
【００４０】以上の各実施例によれば、フィ−ドバック
制御がなされている光学的補正手段であるところの可変
頂角プリズムの変位量を検出し、その出力で発振が観測
された場合（ピ−クレベルがある値を超えたか否か、或
は、その実効値がある値を超えたか否か等により判別）
には、直ちに電気的にル−プゲイン、更には位相補償回
路の値（特性）を変化させるようにしている為、外乱や
環境変化に対して非常に安定した系を実現することがで
きる。
制御がなされている光学的補正手段であるところの可変
頂角プリズムの変位量を検出し、その出力で発振が観測
された場合（ピ−クレベルがある値を超えたか否か、或
は、その実効値がある値を超えたか否か等により判別）
には、直ちに電気的にル−プゲイン、更には位相補償回
路の値（特性）を変化させるようにしている為、外乱や
環境変化に対して非常に安定した系を実現することがで
きる。
【００４１】（変形例）本実施例では、フィ−ドバック
ル−プ系の発振を検知した場合には、ル−プゲインを下
げるか、これと同時に位相補償特性を変化させるように
しているが、これに限定されるものではなく、位相補償
特性のみを変化させるようにしてもある程度の効果を期
待できる。
ル−プ系の発振を検知した場合には、ル−プゲインを下
げるか、これと同時に位相補償特性を変化させるように
しているが、これに限定されるものではなく、位相補償
特性のみを変化させるようにしてもある程度の効果を期
待できる。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発
振を検知した場合には、ゲイン設定手段中のゲインを切
換えるか、位相補償手段を切換えるか、或は、これらを
同時に切換え、発振を抑えるようにしている。よって、
外乱や環境変化等によりフィードバックル−プのオ−プ
ン周波数特性が大きく変化し、フィ−ドバック系全体が
不安定な状態となっても、直ちに安定な状態に戻すこと
が可能となる。
変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発
振を検知した場合には、ゲイン設定手段中のゲインを切
換えるか、位相補償手段を切換えるか、或は、これらを
同時に切換え、発振を抑えるようにしている。よって、
外乱や環境変化等によりフィードバックル−プのオ−プ
ン周波数特性が大きく変化し、フィ−ドバック系全体が
不安定な状態となっても、直ちに安定な状態に戻すこと
が可能となる。
【図１】本発明の第１の実施例におけるカメラの防振装
置を示す回路図である。
置を示す回路図である。
【図２】本発明の第２の実施例におけるカメラの防振装
置を示す回路図である。
置を示す回路図である。
【図３】本発明の第３の実施例におけるカメラの防振装
置を示す回路図である。
置を示す回路図である。
【図４】この種の装置に配置される手振れ検出手段であ
るところの角変位センサの構成を示す斜視図である。
るところの角変位センサの構成を示す斜視図である。
【図５】この種の装置に配置される光学的補正手段であ
るところの可変頂角プリズムについて説明するための図
である。
るところの可変頂角プリズムについて説明するための図
である。
２ ケ−ス ３ 液体 ５ ＰＳＤ ６ ｉＲＥＤ ７ 巻線コイル ４１ 可変頂角プリズム ４３ ＰＳＤ ４４ ｉＲＥＤ ５６ オペアンプ ８６，８８ 抵抗 ８７，８９ アナログスイッチ ９９ インバ−タ １１０ 制御回路 １２１，１２３ 抵抗 １２０，１２２ アナログスイッチ １２４ インバ−タ １５０ オペアンプ １５１ コンデンサ １５２ 抵抗 １５４，１５５ オペアンプ １５６ ナンドゲ−ト １６０，１６６，１７０ オペアンプ １６１，１６３，１６５，１６７，１６８ 抵抗 １６２，１６４ ダイオ−ド １６９ コンデンサ １８０ Ｆ−Ｖコンバ−タ １８１ オペアンプ
Claims (3)
- 【請求項１】 カメラ本体の絶対空間に対する振れ変位
量を検出する手振れ検出手段と、撮影レンズに入射する
光路を光軸に対して可変させる光学的補正手段と、該光
学的補正手段の変位量を検出する変位量検出手段と、該
変位量検出手段と前記手振れ検出手段の出力が所定の比
例関係を保つ様にフィ−ドバック制御を行う制御手段と
を備えたカメラの防振装置において、前記フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数のゲイン設定手段と、前
記変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の
発振を検知した場合には、前記ゲイン設定手段中のゲイ
ンを切換えるゲイン切換手段とを設けたことを特徴とす
るカメラの防振装置。 - 【請求項２】 カメラ本体の絶対空間に対する振れ変位
量を検出する手振れ検出手段と、撮影レンズに入射する
光路を光軸に対して可変させる光学的補正手段と、該光
学的補正手段の変位量を検出する変位量検出手段と、該
変位量検出手段と前記手振れ検出手段の出力が所定の比
例関係を保つ様にフィ−ドバック制御を行う制御手段と
を備えたカメラの防振装置において、前記フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数の位相補償手段と、前記
変位量検出手段の出力よりフィ−ドバックル−プ系の発
振を検知した場合には、前記位相補償手段を切換える位
相補償切換手段とを設けたことを特徴とするカメラの防
振装置。 - 【請求項３】 カメラ本体の絶対空間に対する振れ変位
量を検出する手振れ検出手段と、撮影レンズに入射する
光路を光軸に対して可変させる光学的補正手段と、該光
学的補正手段の変位量を検出する変位量検出手段と、該
変位量検出手段と前記手振れ検出手段の出力が所定の比
例関係を保つ様にフィ−ドバック制御を行う制御手段と
を備えたカメラの防振装置において、前記フィ−ドバッ
クル−プ系内に配置される複数のゲイン設定手段と、同
じくフィ−ドバックル−プ系内に配置される複数の位相
補償手段と、前記変位量検出手段の出力よりフィ−ドバ
ックル−プ系の発振を検知した場合には、前記ゲイン設
定手段中のゲインを切換えると同時に、前記位相補償手
段を切換える切換手段とを設けたことを特徴とするカメ
ラの防振装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25424291A JPH0566451A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | カメラの防振装置 |
| US08/820,030 US5873004A (en) | 1991-09-06 | 1997-03-19 | Image stabilizing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25424291A JPH0566451A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | カメラの防振装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566451A true JPH0566451A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17262253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25424291A Pending JPH0566451A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | カメラの防振装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566451A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5852749A (en) * | 1995-09-13 | 1998-12-22 | Nikon Corporation | Vibration reduction device |
| JP2009063664A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Fujifilm Corp | 撮影装置 |
| EP2141538A1 (en) * | 2008-07-04 | 2010-01-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Vibration correcting device |
| US11863870B2 (en) | 2021-09-10 | 2024-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Image stabilization apparatus and method of controlling the same |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP25424291A patent/JPH0566451A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5852749A (en) * | 1995-09-13 | 1998-12-22 | Nikon Corporation | Vibration reduction device |
| JP2009063664A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Fujifilm Corp | 撮影装置 |
| EP2141538A1 (en) * | 2008-07-04 | 2010-01-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Vibration correcting device |
| US8878948B2 (en) | 2008-07-04 | 2014-11-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Vibration correcting device |
| US11863870B2 (en) | 2021-09-10 | 2024-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Image stabilization apparatus and method of controlling the same |
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