JPH0564883A - ニツプ幅計測装置 - Google Patents
ニツプ幅計測装置Info
- Publication number
- JPH0564883A JPH0564883A JP3227178A JP22717891A JPH0564883A JP H0564883 A JPH0564883 A JP H0564883A JP 3227178 A JP3227178 A JP 3227178A JP 22717891 A JP22717891 A JP 22717891A JP H0564883 A JPH0564883 A JP H0564883A
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- Japan
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- nip
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- rollers
- nip width
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はニツプ圧の調整が容易でニツプ幅の
自動計測が可能であり、且つ測定精度の高いニツプ幅計
測装置を提供することを目的とするものである。 【構成】 任意のニツプ幅をもって接触回転する１対の
ローラにおいて、前記１対のローラの共通接線方向に移
動可能なレールと、前記レールに固定され共通接線から
各ローラ表面までの距離を計測する変位計と、前記変位
計を共通接線に沿って移動させるレール駆動装置と、前
記変位計の共通接線方向の移動量と同変位計の検出値に
基づいてローラのニツプ幅を算出する演算装置とを具え
たニツプ幅計測装置。
自動計測が可能であり、且つ測定精度の高いニツプ幅計
測装置を提供することを目的とするものである。 【構成】 任意のニツプ幅をもって接触回転する１対の
ローラにおいて、前記１対のローラの共通接線方向に移
動可能なレールと、前記レールに固定され共通接線から
各ローラ表面までの距離を計測する変位計と、前記変位
計を共通接線に沿って移動させるレール駆動装置と、前
記変位計の共通接線方向の移動量と同変位計の検出値に
基づいてローラのニツプ幅を算出する演算装置とを具え
たニツプ幅計測装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オフセツト印刷機のニ
ツプ幅を計測する装置に関するものであり、ローラを有
す機械のニツプ幅を計測する装置にも適用できる。
ツプ幅を計測する装置に関するものであり、ローラを有
す機械のニツプ幅を計測する装置にも適用できる。
【０００２】
【従来の技術】図５及び図６を用いて下記に説明する。 イ． 図５の点線で示すように対象ローラ２を基準ロー
ラ１から離す。 ロ． 対象ローラ２表面にインキ等の塗料を塗る。 ハ． 対象ローラ２と基準ローラ１間に紙８を通す。 ニ． 対象ローラ２と基準ローラ１を接触させる。 ホ． 図６に示すように紙８には対象ローラ２と基準ロ
ーラ１のニツプ幅９に応じた痕が着く。 へ． 上記ニツプ幅９をノギス等で測る。
ラ１から離す。 ロ． 対象ローラ２表面にインキ等の塗料を塗る。 ハ． 対象ローラ２と基準ローラ１間に紙８を通す。 ニ． 対象ローラ２と基準ローラ１を接触させる。 ホ． 図６に示すように紙８には対象ローラ２と基準ロ
ーラ１のニツプ幅９に応じた痕が着く。 へ． 上記ニツプ幅９をノギス等で測る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では以下の
ような問題点がある。 イ． ローラ接触が解除できるような機構のあるローラ
でなければ計測できない。 ロ． インキ等の痕はルーペ等の拡大器で見るので、正
確さに欠ける。（見る人によって評価が変わる） ハ． 接触させなければニツプ幅が分からないため、ニ
ツプ圧の調整には時間がかかる。
ような問題点がある。 イ． ローラ接触が解除できるような機構のあるローラ
でなければ計測できない。 ロ． インキ等の痕はルーペ等の拡大器で見るので、正
確さに欠ける。（見る人によって評価が変わる） ハ． 接触させなければニツプ幅が分からないため、ニ
ツプ圧の調整には時間がかかる。
【０００４】本発明はニツプ圧の調整が容易でニツプ幅
の自動計測が可能であり、且つ測定精度の高いニツプ幅
計測装置を提供することを目的とするものである。
の自動計測が可能であり、且つ測定精度の高いニツプ幅
計測装置を提供することを目的とするものである。
【０００５】
イ． 計測対象の一対ローラ１，２の接線上から垂直に
ローラ１，２の交点までの変位ｙＰを測る変位計を設け
る（図１参照）。 ロ． 上記変位ｙＰが計測不可の場合、一対のローラ
１，２の接線上から対象ローラ２が現れる位置の基準ロ
ーラ１までの変位ｙＰ′が測れれば良い（図４参照）。 ハ． 上記変位より、ニツプ幅９を計算する演算装置６
を設ける。
ローラ１，２の交点までの変位ｙＰを測る変位計を設け
る（図１参照）。 ロ． 上記変位ｙＰが計測不可の場合、一対のローラ
１，２の接線上から対象ローラ２が現れる位置の基準ロ
ーラ１までの変位ｙＰ′が測れれば良い（図４参照）。 ハ． 上記変位より、ニツプ幅９を計算する演算装置６
を設ける。
【０００６】
【作用】計測対象の一対ローラ１，２の接線上から垂直
にローラ１，２の交点までの変位ｙＰを測ることによっ
て以下の方法により、ニツプ幅９を算出することができ
る。 イ． 互いに接触する１対のローラ１，２の径をｒ１
（基準ローラ１），ｒ２（対象ローラ２）とする。 ロ． 基準ローラ１と対象ローラ２の接線方向をｘ軸と
し、その接線に直角方向をｙ軸とする。 ハ． 上述のようにｘ，ｙ軸を定めると基準ローラ１及
び対象ローラ２の断面の円方程式は以下のようになる。
にローラ１，２の交点までの変位ｙＰを測ることによっ
て以下の方法により、ニツプ幅９を算出することができ
る。 イ． 互いに接触する１対のローラ１，２の径をｒ１
（基準ローラ１），ｒ２（対象ローラ２）とする。 ロ． 基準ローラ１と対象ローラ２の接線方向をｘ軸と
し、その接線に直角方向をｙ軸とする。 ハ． 上述のようにｘ，ｙ軸を定めると基準ローラ１及
び対象ローラ２の断面の円方程式は以下のようになる。
【０００７】 ｘ2 ＋（ｙ−ｒ１）2 ＝ｒ１2 …（１） （ｘ−ｘＲ）2 ＋（ｙ−ｒ２）2 ＝ｒ２2 …（２） 但し，ｘＲは対象ローラ２とｘ軸との交点Ｒ（ｘＲ，
Ｏ）である。上述より、変位計にてｙＰが分かる故、
（１）式に代入して基準ローラ１と対象ローラ２の２つ
ある交点のうち片方の円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）を知る
ことができる。交点Ｐが分かることにより（２）式に代
入し交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よって、
（１）及び（２）式より、もう一つの円の交点Ｑ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 ニ． 計測対象の一対ローラ１，２の接線からニツプま
での変位ｙＰが分らない場合、一対のローラ１，２の接
線から対象ローラ２の表面までの変位ｙＰ′を計測す
る。前記値とｙ＝Ｏの値を（２）式に代入し交点Ｒ（ｘ
Ｒ，Ｏ）を知ることができる。よって、（１）及び
（２）式より、円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）及びＱ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 ホ． 基準ローラ１の中心をＳとしＳＱ＝ｒ１，ＳＰ＝
ｒ１，ＱＰ＝√（（ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙ
Ｑ）2 ）を辺とする二等辺三角形のＳＱ，ＳＰを挟む角
度θは余弦定理を用いると以下のようになる。 （ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ＝２×ｒ１2 ×（１−ｃｏｓθ）…（３） 上式より、逆余弦（ｃｏｓ-1）を求めればθは分かる。 ヘ． ニツプ幅９＝ｒ１×θで求められる。
Ｏ）である。上述より、変位計にてｙＰが分かる故、
（１）式に代入して基準ローラ１と対象ローラ２の２つ
ある交点のうち片方の円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）を知る
ことができる。交点Ｐが分かることにより（２）式に代
入し交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よって、
（１）及び（２）式より、もう一つの円の交点Ｑ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 ニ． 計測対象の一対ローラ１，２の接線からニツプま
での変位ｙＰが分らない場合、一対のローラ１，２の接
線から対象ローラ２の表面までの変位ｙＰ′を計測す
る。前記値とｙ＝Ｏの値を（２）式に代入し交点Ｒ（ｘ
Ｒ，Ｏ）を知ることができる。よって、（１）及び
（２）式より、円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）及びＱ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 ホ． 基準ローラ１の中心をＳとしＳＱ＝ｒ１，ＳＰ＝
ｒ１，ＱＰ＝√（（ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙ
Ｑ）2 ）を辺とする二等辺三角形のＳＱ，ＳＰを挟む角
度θは余弦定理を用いると以下のようになる。 （ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ＝２×ｒ１2 ×（１−ｃｏｓθ）…（３） 上式より、逆余弦（ｃｏｓ-1）を求めればθは分かる。 ヘ． ニツプ幅９＝ｒ１×θで求められる。
【０００８】
【実施例】本発明の実施例を図１乃至図４により説明す
る。 イ． 基準ローラ１及び対象ローラ２の共通接線方向に
移動可能なレール３を設け、共通接線から各ローラ表面
までの距離を計測するレーザ変位計等の変位計４を前記
レール３に固定する。 ロ． レール３はレール駆動装置５により駆動され、図
１に示すような共通接線方向に変位計４を移動させる。 ハ． 変位計４を基準ローラ１から対象ローラ２に向か
って移動させると変位計４出力は図３，図４のグラフに
示すような軌跡となる。 ニ． ここで、図３に示すように１対のローラ１，２の
ニツプ交点が計測できた場合、演算装置６にて以下のよ
うな演算をし、ニツプ幅９を得る。 互いに接触するローラの径をｒ１，ｒ２とする。 基準ローラ１から対象ローラ２の接線方向をｘ軸と
し、その接線から基準ローラ１に直角方向をｙ軸とす
る。 上述のようにｘ，ｙ軸を定めると基準ローラ１及び
対象ローラ２断面の円方程式は以下のようになる。
る。 イ． 基準ローラ１及び対象ローラ２の共通接線方向に
移動可能なレール３を設け、共通接線から各ローラ表面
までの距離を計測するレーザ変位計等の変位計４を前記
レール３に固定する。 ロ． レール３はレール駆動装置５により駆動され、図
１に示すような共通接線方向に変位計４を移動させる。 ハ． 変位計４を基準ローラ１から対象ローラ２に向か
って移動させると変位計４出力は図３，図４のグラフに
示すような軌跡となる。 ニ． ここで、図３に示すように１対のローラ１，２の
ニツプ交点が計測できた場合、演算装置６にて以下のよ
うな演算をし、ニツプ幅９を得る。 互いに接触するローラの径をｒ１，ｒ２とする。 基準ローラ１から対象ローラ２の接線方向をｘ軸と
し、その接線から基準ローラ１に直角方向をｙ軸とす
る。 上述のようにｘ，ｙ軸を定めると基準ローラ１及び
対象ローラ２断面の円方程式は以下のようになる。
【０００９】 ｘ2 ＋（ｙ−ｒ１）2 ＝ｒ１2 …（１） （ｘ−ｘＲ）2 ＋（ｙ−ｒ２）2 ＝ｒ２2 …（２） 但し、ｘＲは対象ローラ２とｘ軸との交点Ｒ（ｘＲ，
Ｏ）である。上述より、変位計４にてｙＰが分かる故、
（１）式に代入して基準ローラ１と対象ローラ２の２つ
ある交点のうち片方の円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）を知る
ことができる。交点Ｐが分かることにより（２）式に代
入し交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よって、
（１）及び（２）式より、もう一つの円の交点Ｑ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 基準ローラ１の中心をＳとしＳＱ＝ｒ１，ＳＰ＝ｒ
１，ＱＰ＝√（（ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ）
を辺とする二等辺三角形のＳＱ，ＳＰを挟む角度θは余
弦定理を用いると以下のようになる。 （ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ＝２×ｒ１2 ×（１−ｃｏｓθ）…（３） 上式より、逆余弦（ｃｏｓ-1）を求めればθは分かる。 ニツプ幅９＝ｒ１×θで求められる。 ホ． もし、図４に示すように１対のローラ１，２のニ
ツプ交点が計測できない場合、演算装置６は以下の処理
を行い、ニツプ幅９を得る。 計測対象の一対ローラ１，２の接線からニツプまで
の変位ｙＰが分からない場合、一対ローラ１，２の接線
上から対象ローラ２が現れる位置の基準ローラ１までの
変位ｙＰ′を計測する。前記値を（１）式に代入するこ
とにより、 Ｐ′（ｘＰ′，ｙＰ′）を知ることができ
る。 ｘＰ′は対象ローラの座標（ｘＰ′，ｒ２）に相当
する故、（２）式に代入しｘＲを求めることができ、こ
れにより交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よっ
て、（１）及び（２）式より、円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙ
Ｐ）及びＱ（ｘＱ，ｙＱ）を知ることができる。 あとの演算は、ローラのニツプ交点が計測できた場
合と同じなので説明は割愛する。 ヘ． ｘ方向の値が既知であるなら、ローラ径が分から
なくともニツプ幅９を演算することができる。以下にそ
の説明をする。先ず、図３に示すようにローラのニツプ
交点が計測できた場合、演算装置６にて以下のような演
算をし、ニツプ幅９を得る。 原点Ｏ（Ｏ，Ｏ）及び変位計４にて基準ローラ１及
び対象ローラ２の交点Ｐのｙ座標ｙＰが分かり並びにレ
ール上の位置ｘＰが既知な場合、（１）式にてｒ１を求
めることができる。 交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）及び変位計４にて基準ローラ１
及び対象ローラ２の交点Ｐのｙ座標ｙＰが分かり並びに
レール上の位置ｘＰが既知な場合、（２）式にてｒ２を
求めることができる。 上記処理して円の方程式は完成するので（１）及び
（２）式の連立方程式を解けば、円の交点Ｐ及びＱはも
とまる。 あとの演算は、上述ｘの値が不明なときのローラ・
ニツプ交点が計測できた場合と同じなので説明は割愛す
る。
Ｏ）である。上述より、変位計４にてｙＰが分かる故、
（１）式に代入して基準ローラ１と対象ローラ２の２つ
ある交点のうち片方の円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙＰ）を知る
ことができる。交点Ｐが分かることにより（２）式に代
入し交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よって、
（１）及び（２）式より、もう一つの円の交点Ｑ（ｘ
Ｑ，ｙＱ）を知ることができる。 基準ローラ１の中心をＳとしＳＱ＝ｒ１，ＳＰ＝ｒ
１，ＱＰ＝√（（ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ）
を辺とする二等辺三角形のＳＱ，ＳＰを挟む角度θは余
弦定理を用いると以下のようになる。 （ｘＰ−ｘＱ）2 ＋（ｙＰ−ｙＱ）2 ＝２×ｒ１2 ×（１−ｃｏｓθ）…（３） 上式より、逆余弦（ｃｏｓ-1）を求めればθは分かる。 ニツプ幅９＝ｒ１×θで求められる。 ホ． もし、図４に示すように１対のローラ１，２のニ
ツプ交点が計測できない場合、演算装置６は以下の処理
を行い、ニツプ幅９を得る。 計測対象の一対ローラ１，２の接線からニツプまで
の変位ｙＰが分からない場合、一対ローラ１，２の接線
上から対象ローラ２が現れる位置の基準ローラ１までの
変位ｙＰ′を計測する。前記値を（１）式に代入するこ
とにより、 Ｐ′（ｘＰ′，ｙＰ′）を知ることができ
る。 ｘＰ′は対象ローラの座標（ｘＰ′，ｒ２）に相当
する故、（２）式に代入しｘＲを求めることができ、こ
れにより交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）を知ることができる。よっ
て、（１）及び（２）式より、円の交点Ｐ（ｘＰ，ｙ
Ｐ）及びＱ（ｘＱ，ｙＱ）を知ることができる。 あとの演算は、ローラのニツプ交点が計測できた場
合と同じなので説明は割愛する。 ヘ． ｘ方向の値が既知であるなら、ローラ径が分から
なくともニツプ幅９を演算することができる。以下にそ
の説明をする。先ず、図３に示すようにローラのニツプ
交点が計測できた場合、演算装置６にて以下のような演
算をし、ニツプ幅９を得る。 原点Ｏ（Ｏ，Ｏ）及び変位計４にて基準ローラ１及
び対象ローラ２の交点Ｐのｙ座標ｙＰが分かり並びにレ
ール上の位置ｘＰが既知な場合、（１）式にてｒ１を求
めることができる。 交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）及び変位計４にて基準ローラ１
及び対象ローラ２の交点Ｐのｙ座標ｙＰが分かり並びに
レール上の位置ｘＰが既知な場合、（２）式にてｒ２を
求めることができる。 上記処理して円の方程式は完成するので（１）及び
（２）式の連立方程式を解けば、円の交点Ｐ及びＱはも
とまる。 あとの演算は、上述ｘの値が不明なときのローラ・
ニツプ交点が計測できた場合と同じなので説明は割愛す
る。
【００１０】もし、図４に示すように、ローラのニツプ
交点が計測できない場合、演算装置６は以下の処理を行
い、ニツプ幅９を得る。 原点Ｏ（Ｏ，Ｏ）及び変位計４にて原点Ｏ以外の基
準ローラ１のｙ座標ｙＰ″が分かり並びにレール３上の
位置ｘＰ″が既知な場合、（１）式にてｒ１を求めるこ
とができる。 交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）及び変位計４にて対象ローラ２
のｙ座標ｙＰ′が分かり、並びにレール３上の位置ｘ
Ｐ′が既知な場合、（２）式にてｒ２を求めることがで
きる。 上記処理にて円の方程式は完成するので（１）及び
（２）式の連立方程式を解けば、円の交点Ｐ及びＱはも
とまる。 あとの演算は、上述ｘの値が不明なときのローラ・
ニツプ交点が計測できた場合と同じなので説明は割愛す
る。 ト． ニツプ幅９を表示装置７にて表示する。
交点が計測できない場合、演算装置６は以下の処理を行
い、ニツプ幅９を得る。 原点Ｏ（Ｏ，Ｏ）及び変位計４にて原点Ｏ以外の基
準ローラ１のｙ座標ｙＰ″が分かり並びにレール３上の
位置ｘＰ″が既知な場合、（１）式にてｒ１を求めるこ
とができる。 交点Ｒ（ｘＲ，Ｏ）及び変位計４にて対象ローラ２
のｙ座標ｙＰ′が分かり、並びにレール３上の位置ｘ
Ｐ′が既知な場合、（２）式にてｒ２を求めることがで
きる。 上記処理にて円の方程式は完成するので（１）及び
（２）式の連立方程式を解けば、円の交点Ｐ及びＱはも
とまる。 あとの演算は、上述ｘの値が不明なときのローラ・
ニツプ交点が計測できた場合と同じなので説明は割愛す
る。 ト． ニツプ幅９を表示装置７にて表示する。
【００１１】
【発明の効果】本発明によるニツプ幅計測装置は、任意
のニツプ幅をもって接触回転する１対のローラにおい
て、前記１対のローラの共通接線方向に移動可能なレー
ルと、前記レールに固定され共通接線から各ローラ表面
までの距離を計測する変位計と、前記変位計を共通接線
に沿って移動させるレール駆動装置と、前記変位計の共
通接線方向の移動量と同変位計の検出値に基づいてロー
ラのニツプ幅を算出する演算装置とを具えたことによ
り、次の効果を有する。 イ． ニツプ幅の自動計測が可能になる。 ロ． ニツプ幅の測定精度が向上する。 ハ． ニツプ圧調整時間を短縮できる。 ニ． 上記イ項より、測定に熟練工が不要となる。 ホ． 上記ロ項より、ローラニツプ圧の不具合による損
紙が低減する。 ヘ． 上記イ．ロ．ハ項より、印刷コストが低減する。
のニツプ幅をもって接触回転する１対のローラにおい
て、前記１対のローラの共通接線方向に移動可能なレー
ルと、前記レールに固定され共通接線から各ローラ表面
までの距離を計測する変位計と、前記変位計を共通接線
に沿って移動させるレール駆動装置と、前記変位計の共
通接線方向の移動量と同変位計の検出値に基づいてロー
ラのニツプ幅を算出する演算装置とを具えたことによ
り、次の効果を有する。 イ． ニツプ幅の自動計測が可能になる。 ロ． ニツプ幅の測定精度が向上する。 ハ． ニツプ圧調整時間を短縮できる。 ニ． 上記イ項より、測定に熟練工が不要となる。 ホ． 上記ロ項より、ローラニツプ圧の不具合による損
紙が低減する。 ヘ． 上記イ．ロ．ハ項より、印刷コストが低減する。
【図１】本発明の実施例の構成図である。
【図２】図１の計測装置によりニツプ幅を算出する原理
図である。
図である。
【図３】変位計が両ローラの交点を計測しうる場合にお
ける変位計の出力値とローラ位置の関係を示す図であ
る。
ける変位計の出力値とローラ位置の関係を示す図であ
る。
【図４】変位計が両ローラの交点を計測し得ない場合に
おける変位計の出力値とローラ位置の関係を示す図であ
る。
おける変位計の出力値とローラ位置の関係を示す図であ
る。
【図５】従来技術によるニツプ幅計測の説明図である。
【図６】図５による紙の平面図である。
１ 基準ローラ ２ 対象ローラ ３ レール ４ 変位計 ５ レール駆動装置 ６ 演算装置 ７ 表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 任意のニツプ幅をもって接触回転する１
対のローラにおいて、前記１対のローラの共通接線方向
に移動可能なレールと、前記レールに固定され共通接線
から各ローラ表面までの距離を計測する変位計と、前記
変位計を共通接線に沿って移動させるレール駆動装置
と、前記変位計の共通接線方向の移動量と同変位計の検
出値に基づいてローラのニツプ幅を算出する演算装置と
を具えたことを特徴とするニツプ幅計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227178A JPH0564883A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | ニツプ幅計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227178A JPH0564883A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | ニツプ幅計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0564883A true JPH0564883A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=16856713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3227178A Withdrawn JPH0564883A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | ニツプ幅計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0564883A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101499587B1 (ko) * | 2013-07-16 | 2015-03-10 | 충남대학교산학협력단 | 라인 변위 센서를 이용한 인쇄압 측정방법 및 장치 |
| JP2021067470A (ja) * | 2019-10-17 | 2021-04-30 | Nok株式会社 | ニップ幅測定装置 |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP3227178A patent/JPH0564883A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101499587B1 (ko) * | 2013-07-16 | 2015-03-10 | 충남대학교산학협력단 | 라인 변위 센서를 이용한 인쇄압 측정방법 및 장치 |
| JP2021067470A (ja) * | 2019-10-17 | 2021-04-30 | Nok株式会社 | ニップ幅測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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