JPH0562221A

JPH0562221A - 光ピツクアツプ装置

Info

Publication number: JPH0562221A
Application number: JP3244094A
Authority: JP
Inventors: Norisada Horie; 教禎堀江; Hayami Hosokawa; 速美細川; Tatsuo Ogaki; 龍男大垣; Hironobu Kiyomoto; 浩伸清本
Original assignee: Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1991-08-30
Filing date: 1991-08-30
Publication date: 1993-03-12

Abstract

(57)【要約】【目的】小型化，軽量化，低廉化を図った光ピックア
ップ装置におけるフォーカシング・エラー信号を安定化
させる。【構成】半導体レーザ11と集光光学系との間に，光軸
に対して傾いて配置されたガラス板14，15を設ける。光
磁気ディスク30からの反射光は集光されながら，ガラス
板14，15の表裏両面でそれぞれ反射され，検光子31，32
を経て光検出器21，22に受光される。光検出器21を２つ
の受光領域21Ａ，21Ｂで構成し，ガラス板14の表裏両面
からの反射光スポットＳＰ₁₁，ＳＰ₁₂をそれぞれ受光す
る。受光領域21Ａを３分割フォトダイオード21ａ〜21
ｃ，受光領域21Ｂを２分割フォトダイオード21ｄ，21ｅ
で構成する。光検出器22も同じ構成である。ダブル・ビ
ーム・サイズ法によりフォーカシング・エラー信号を，
プッシュプル法によりトラッキング・エラー信号を生成
する。受光領域21Ａはトラック方向に直交する分割線に
より分割されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は，光学的記録媒体に情
報を記録／再生するための光ピックアップ装置に関す
る。

【０００２】この発明において，光学的記録媒体は光デ
ィスク，光カード等の光記録媒体のみならず，光磁気デ
ィスク，光磁気カード等の光磁気記録媒体を含む。

【０００３】また，この発明において情報の記録／再生
とは，光学的記録媒体に情報を記録すること，光学的記
録媒体に記録されている情報を再生すること，ならびに
記録および再生することを含む。

【０００４】

【従来の技術】従来の光ピックアップ装置は，半導体レ
ーザからの発散光をコリメートする第１の光学系，コリ
メートされた光を光学的記録媒体上に集光させるととも
に光学的記録媒体からの反射光をコリメートする第２の
光学系，第２の光学系によってコリメートされた反射光
を偏光分離するための第１の偏光ビーム・スプリッタ，
偏光分離された光をさらにトラッキング制御用光とフォ
ーカシング制御用光とに分離するための第２の偏光ビー
ム・スプリッタ，分離された光をさらにトラッキング制
御用光検出器の受光面上に集光させるための第３の光学
系，分離された光をフォーカシング制御用光検出器の受
光面上に集光させるための第４の光学系，第３または第
４の光学系に設けられ，読取信号を得るための光検出器
に光を導くための第５の光学系等から構成されている。

【０００５】このような従来の光ピックアップ装置は数
多くの光学部品を使用しているのでその重量が大きく，
したがってアクセス・タイムが遅いという問題がある。
また，数多くの光学部品を使用しているので，部品のコ
ストが高くなるとともに，その組立て調整に手間と時間
がかかりこの点からも最終コストが高くなるという問題
点がある。

【０００６】

【発明の概要】この発明は大幅な小型化，軽量化，低コ
スト化を図ることができる光ピックアップ装置におい
て，トラッキング・エラーの有無にかかわらず常に安定
なフォーカシング・エラー信号を得ることができるよう
にすることを目的とする。

【０００７】第１の発明は，発光素子と発光素子から出
射される発散光を光学的記録媒体上に集光させるととも
に光学的記録媒体からの反射光を集光させる集光光学系
とを備えた光ピックアップ装置において，上記発光素子
と上記集光光学系との間の上記発散光の光路上に，上記
集光光学系の光軸に対して傾けて配置された透明板，お
よび光学的記録媒体によって反射されかつ上記集光光学
系によって集光される光のうち上記透明板の表裏面によ
って反射された光を受光する光検出手段を備え，上記光
検出手段は，上記透明板の表裏面で反射した光をそれぞ
れ受光する相互に独立した２つの受光領域を備え，一方
の第１の受光領域が光学的記録媒体のトラックに直交す
る方向にのびる分割線によって少なくとも３つの相互に
独立した小領域に分割され，他方の第２の受光領域が光
学的記録媒体のトラック方向にのびる分割線によって少
なくとも２つの相互に独立した小領域に分割されている
ことを特徴とする。

【０００８】フォーカシング・エラーの検出のために，
上記第１の受光領域における少なくとも３つの小領域か
ら得られる受光信号に基づいてビーム・サイズ法により
フォーカシング・エラー信号を作成する手段がさらに設
けられる。

【０００９】トラッキング・エラーの検出のために，上
記第２の受光領域における少なくとも２つの小領域から
得られる受光信号に基づいて，たとえばプッシュプル法
により，トラッキング・エラー信号を作成する手段がさ
らに設けられる。

【００１０】上記光検出手段の出力信号に基づいて読取
信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００１１】第１の発明の一実施態様においては，上記
発光素子と上記集光光学系との間の上記発散光の光路上
に２つの透明板が上記集光光学系の光軸に対して傾けて
配置されており，上記２つの透明板にそれぞれ対応して
２つの光検出手段が設けられる。

【００１２】ダブル・ビーム・サイズ法によるフォーカ
シング・エラー検出のために，上記２つの光検出手段は
上記透明板からの反射光の焦点位置の前，後にそれぞれ
配置される。そして，上記２つの光検出手段の上記第１
の受光領域からそれぞれ得られる受光信号に基づいてフ
ォーカシング・エラー信号を作成する手段がさらに設け
られる。

【００１３】上記２つの光検出手段の出力信号に基づい
て読取信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００１４】第１の発明によると，光検出手段に２つの
独立した受光領域が設けられ，各受光領域は上記透明板
の表面および裏面からの反射光をそれぞれ受光する。

【００１５】一方の第１の受光領域はフォーカシング・
エラー信号作成のために用いられ，光学的記録媒体のト
ラックに直交する方向にのびる分割線によって少なくと
も３つの相互に独立した小領域に分割される。そして，
これらの小領域からの受光信号に基づいてビーム・サイ
ズ法またはダブル・ビーム・サイズ法によりフォーカシ
ング・エラーが検出される。上記透明板の表面または裏
面からの反射光のうち第１の受光領域に入射する光のス
ポットは，上記集光光学系により光学的記録媒体上に投
射される集光ビームがトラッキング方向（トラックと直
交する方向）にゆらいだとしても，第１の受光領域上で
は小領域の分割線の方向に移動するだけであり，生成さ
れるフォーカシング・エラー信号はトラッキング・エラ
ーによる影響を受けない。したがって，常に正確でかつ
安定なフォーカシング・エラーの検出が可能である。

【００１６】他方の第２の受光領域はトラッキング・エ
ラー信号作成のために用いられ，光学的記録媒体のトラ
ック方向にのびる分割線によって少なくとも２つの相互
に独立した小領域に分割される。そして，これらの小領
域から得られる受光信号に基づいて，たとえばプッシュ
プル法によりトラッキング・エラー信号が作成される。
トラッキング・エラーはフォーカシング・エラーとは独
立に検出されることになる。

【００１７】第２の発明は，発光素子と発光素子から出
射される発散光を光学的記録媒体上に集光させるととも
に光学的記録媒体からの反射光を集光させる集光光学系
とを備えた光ピックアップ装置において，上記発光素子
と上記集光光学系との間の上記発散光の光路上に，上記
集光光学系の光軸に対して傾けて配置された透明板，お
よび光学的記録媒体によって反射されかつ上記集光光学
系によって集光される光のうち上記透明板によって反射
された光または上記透明板を透過した光を受光する光検
出手段を備え，上記光検出手段が，光学的記録媒体のト
ラックに直交する方向にのびる少なくとも２つの分割線
と，トラック方向にのびる少なくとも１つの分割線とに
よって分割された少なくとも６つの相互に独立した小領
域を有していることを特徴とする。

【００１８】第３の発明は，発光素子と発光素子から出
射される発散光を光学的記録媒体上に集光させるととも
に光学的記録媒体からの反射光を集光させる集光光学系
とを備えた光ピックアップ装置において，上記発光素子
と上記集光光学系との間の上記発散光の光路上に，上記
集光光学系の光軸に対して傾けて配置された透明板，お
よび光学的記録媒体によって反射されかつ上記集光光学
系によって集光される光のうち上記透明板の表裏面によ
って反射された光を受光する光検出手段を備え，上記光
検出手段は，上記透明板の表裏面で反射した光をそれぞ
れ受光する相互に独立した２つの受光領域を備え，上記
の各受光領域が，光学的記録媒体のトラックに直交する
方向にのびる少なくとも２つの分割線と，トラック方向
にのびる少なくとも１つの分割線とによって分割された
少なくとも６つの相互に独立した小領域を有しているこ
とを特徴とする。

【００１９】第２の発明は上記透明板の表面または裏面
のいずれか一方からの反射光を利用するものである。こ
れに対して第３の発明は上記透明板の表面および裏面の
両方からの反射光を利用する。

【００２０】第２および第３のいずれの発明において
も，フォーカシング・エラー検出のために，上記トラッ
クに直交する方向にのびる少なくとも２つの分割線によ
って分けられた小領域のグループごとに得られる受光信
号に基づいてビーム・サイズ法によりフォーカシング・
エラー信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００２１】トラッキング・エラー検出のために，上記
トラック方向にのびる少なくとも１つの分割線によって
分けられた小領域のグループごとに得られる受光信号に
基づいて，たとえばプッシュプル法により，トラッキン
グ・エラー信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００２２】上記光検出手段の出力信号に基づいて読取
信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００２３】第２および第３の発明の一実施態様におい
ては，上記発光素子と上記集光光学系との間の上記発散
光の光路上に２つの透明板が上記集光光学系の光軸に対
して傾けて配置されており，上記２つの透明板にそれぞ
れ対応して２つの光検出手段が設けられる。

【００２４】ダブル・ビーム・サイズ法によるフォーカ
シング・エラー検出のために，上記２つの光検出手段は
上記透明板からの反射光の焦点位置の前，後にそれぞれ
位置される。そして，上記２つの光検出手段における上
記トラックに直交する方向にのびる少なくとも２つの分
割線によって分けられた小領域のグループごとに得られ
る受光信号に基づいてフォーカシング・エラー信号を作
成する手段がさらに設けられる。

【００２５】上記２つの光検出手段の出力信号に基づい
て読取信号を作成する手段がさらに設けられる。

【００２６】第２および第３の発明によると，光検出手
段またはその各受光領域が，光学的記録媒体のトラック
に直交する方向にのびる少なくとも２つの分割線と，ト
ラック方向にのびる少なくとも１つの分割線とによって
分割された少なくとも６つの相互に独立した小領域を有
している。

【００２７】トラック方向に直交する方向にのびる少な
くとも２つの分割線によって分けられた小領域グループ
ごとに得られる受光信号に基づいて，ビーム・サイズ法
またはダブル・ビーム・サイズ法によりフォーカシング
・エラー信号が検出される。上記集光光学系により光学
的記録媒体上に投射される集光ビームがトラッキング方
向（トラックと直交する方向）にゆらいだとしても，光
検出手段の受光面上または受光領域上では光スポットは
トラックと直交する方向にのびる分割線にそう方向に移
動するだけであり，上記分割線によって分けられた小領
域グループごとの受光信号はその影響を受けない。すな
わち，生成されるフォーカシング・エラー信号は投射光
ビームのトラッキング・エラーによる影響を受けること
なく，常に正確でかつ安定なフォーカシング・エラーの
検出が可能となる。

【００２８】トラッキング・エラーは，トラック方向に
のびる少なくとも１つの分割線によって分けられた小領
域のグループごとに得られる受光信号に基づいて，たと
えばプッシュプル法により検出される。トラッキング・
エラーはフォーカシング・エラーの検出とは独立して検
出されることになる。

【００２９】第３の発明においては，透明板の表，裏両
面からの反射光を利用しているから光検出手段によって
受光される光量が第２の発明におけるもののほぼ２倍と
なるので，感度が高まりかつ信号が安定する。

【００３０】第１，第２および第３の発明のいずれにお
いても，発光素子と集光光学系との間に１枚または２枚
の透明板を配置することにより最低限必要な光学的構成
をもつ光ピックアップ装置が実現されるので，その小型
化，軽量化を図ることができる。

【００３１】この発明の光ピックアップ装置において不
可欠の光学部品は，発光素子，集光光学系，透明板およ
び光検出手段であり，要すれば検光子を設ければ足りる
ので，大幅な低廉化を図ることができる。

【００３２】

【実施例】図１から図４はこの第１の発明の第１の実施
例を示している。

【００３３】図１および図２において，光ピックアップ
装置は，半導体レーザ11と，この半導体レーザ11から出
射する発散光を光磁気ディスク30上に集光する集光光学
系とを含んでいる。集光光学系は，発散光をコリメート
するコリメート・レンズ12と，コリメート光を集光する
対物レンズ13とを含んでいる。

【００３４】半導体レーザ11とコリメート・レンズ12と
の間の上記発散光の光路上に，２枚のガラス板14および
15が，半導体レーザ11および集光光学系の光軸に対して
傾けた状態で配置されている。

【００３５】半導体レーザ11から出射する発散光は２枚
のガラス板14および15を透過して，集光光学系によって
光磁気ディスク30上に集光される。半導体レーザ11から
出射する発散光の一部はガラス板14で反射して光検出器
23によって受光される。光検出器23の受光信号に基づい
て半導体レーザ11の出射光強度が制御される。

【００３６】光磁気ディスク30からの反射光は集光光学
系によって集光される。この集光される反射光は，その
一部がガラス板15の表面（光磁気ディスク30側の面）に
よって反射され，他の一部がガラス板15の裏面（半導体
レーザ11側の面）によって反射され，それぞれ光検出器
22に入射する。光検出器22の受光面上において，ガラス
板15の表面からの反射光により形成される光スポットを
ＳＰ₂₁，ガラス板15の裏面からの反射光により形成され
る光スポットをＳＰ₂₂とする。光磁気ディスク30からの
反射光のうちガラス板15を透過した光の一部はガラス板
14の表面によって反射され，他の一部はガラス板14の裏
面によって反射され，それぞれ光検出器21に入射する。
光検出器21の受光面上において，ガラス板14の表面から
の反射光により形成される光スポットをＳＰ₁₁，ガラス
板14の裏面からの反射光により形成される光スポットを
ＳＰ₁₂とする。

【００３７】光磁気ディスク30からの反射光は集光光学
系によって集光されているのでガラス板15と光検出器22
との間，およびガラス板14と光検出器21との間に集光レ
ンズ等を設ける必要は必ずしもない。

【００３８】図３は，ガラス板（屈折率＝1.5 ）の面に
光が斜めに入射した場合における，その光の反射係数と
透過係数の入射角依存性を示している。

【００３９】Ｔ_pはＰ偏光成分の透過係数，Ｔ_sはＳ偏
光成分の透過係数，Ｒ_pはＰ偏光成分の反射係数，Ｒ_s
はＳ偏光成分の反射係数である。ガラス面に平行な成分
がＳ偏光成分，垂直な成分がＰ偏光成分である。

【００４０】図３から分るように，ある角度α_B（これ
をブリュースター角という）において，Ｒ_pが０％とな
り，Ｔ_pが100 ％となる。このときＲ_s，Ｔ_sは０また
は100 ％以外の値をとる。

【００４１】したがって，ガラス板を入射光に対してブ
リュースター角α_Bで傾けておけば，ガラス板からの反
射光はＳ偏光成分のみとなる。ガラス板の傾き角がブリ
ュースター角以外であってもガラス板からの反射光には
Ｐ偏光成分よりもＳ偏光成分がより多く含まれるように
なる。

【００４２】ガラス板14と15とを，集光光学系の光軸に
垂直な面がこれらのガラス板14および15と交叉すること
により形成される線分が互いに直交するように配置し，
かつ集光光学系によって集光される反射光の入射角がブ
リュースター角になるように傾けておけば，ガラス板14
および15からの反射光は互いに直交する偏光成分のみを
含むものとなり，これらの光のみが光検出器21および22
によってそれぞれ検知される。

【００４３】ガラス板14と15のその入射光に対する傾き
角がブリュースター角以外であっても，ガラス板14と15
からの反射光は互いに直交する偏光成分をより多く含む
ようになる。これらの互いに直交する偏光成分のみがそ
れぞれ通過するように，偏光方向が互いに直交するよう
に配置された検光子31および32を光検出器21および22の
前方に設けることにより，互いに直交する偏光成分のみ
が光検出器21および22によってそれぞれ検知される。

【００４４】最も好ましくは，ガラス板14，15の表，裏
面に適当な透過率または反射率を有するコート膜を施し
ておき，光検出器21，22上のスポットＳＰ₁₁，ＳＰ₁₂，
ＳＰ₂₁，ＳＰ₂₂の光強度をほぼ等しい値としておく。少
なくともフォーカシング・エラー検出に用いるスポット
ＳＰ₁₁とＳＰ₂₁の光強度が等しいことが好ましい。

【００４５】図２に最もよく示されているように，光検
出器21はその受光面が，正しくフォーカシングが行われ
ているときにおいて，ガラス板14の表裏両面からの反射
光の焦点位置の少し後方に位置するように配置されてい
る。光検出器22はその受光面が，正しくフォーカシング
が行われているときにおいて，ガラス板15の表裏両面か
らの反射光の焦点位置の少し前方に位置するように配置
されている。これは後述するように，ダブル・ビーム・
サイズ法によるフォーカシング・エラー検出のためであ
る。

【００４６】半導体レーザ11から出射する直線偏光の偏
光方向はこれらの互いに直交する偏光方向（検光子31，
32を通過する光の偏光方向）と，ともに45度の角度をな
している。

【００４７】半導体レーザ11と集光光学系のコリメート
・レンズ12との間に，半導体レーザ11から出射する楕円
形断面の光を円形断面の光に修正する光ビーム整形光学
系を設けることもできる。また，半導体レーザ11とガラ
ス板14との間に，半導体レーザ11の出射光を通過させ，
光磁気ディスク30からの反射光の半導体レーザ11への入
射を阻止するアイソレータ光学系を設けてもよい。もし
必要ならばガラス板と光検出器との間に集光光学系を設
けることもできる。

【００４８】図４は上述した配置構成におけるフォーカ
シング・エラー，トラッキング・エラーおよび読取信号
を作成するための構成の例を示している。

【００４９】光検出器21は２つの受光領域21Ａと21Ｂと
に分けることができる。受光領域21Ａは３分割フォトダ
イオードから構成されている。すなわち，相互に電気的
に絶縁された３つのフォトダイオード21ａ，21ｂおよび
21ｃがトラック方向と直交する方向にのびる２本の分割
線によって分けられている。中央のフォトダイオード21
ｂの幅が狭く，両側のフォトダイオード21ａおよび21ｃ
の幅は比較的広い。ガラス板14の表面からの反射光は，
正しくトラッキングされているときに，この受光領域21
Ａの中央にスポットＳＰ₁₁を形成し，このスポットＳＰ
₁₁は中央のフォトダイオード21ｂの一部においてその全
幅を覆いかつ両側のフォトダイオード21ａおよび21ｃま
で広がっている。受光領域21Ｂは２分割フォトダイオー
ドから構成されている。すなわち，相互に電気的に絶縁
された２つのフォトダイオード21ｄおよび21ｅがトラッ
ク方向にのびる１本の分割線によって分けられており，
この分割線は受光領域21Ｂの中心を通っている。ガラス
板14の裏面からの反射光は，正しくトラッキングされて
いるときに，受光領域21Ｂの中央にスポットＳＰ₁₂を形
成し，このスポットＳＰ₁₂は両フォトダイオード21ｄお
よび21ｅ上に等しく広がっている。受光領域21Ａのフォ
トダイオードと受光領域21Ｂのフォトダイオードも当然
電気的に絶縁されている。ここでトラック方向とは，光
磁気ディスク30のトラック方向であり，光磁気ディスク
30からの反射光によって光検出器21上に投影される上記
トラックの方向を意味する。

【００５０】光検出器22も光検出器21と全く同じ構成で
あり，２つの受光領域22Ａと22Ｂとを有している。受光
領域22Ａは３分割フォトダイオード22ａ，22ｂおよび22
ｃから構成され，受光領域22Ｂは２分割フォトダイオー
ド22ｄおよび22ｅから構成されている。ガラス板15の表
面からの反射光は受光領域22Ａ上にスポットＳＰ₂₁を形
成し，ガラス板15の裏面からの反射光は受光領域22Ｂに
スポットＳＰ₂₂を形成している。

【００５１】ガラス板14の表面からの反射光のスポット
ＳＰ₁₁を光検出器21の受光領域21Ｂ上に，ガラス板14の
裏面からの反射光のスポットＳＰ₁₂を受光領域21Ａ上に
それぞれ形成するようにしてもよい。同じように，ガラ
ス板15の表面からの反射光スポットＳＰ₂₁を光検出器22
の受光領域22Ｂ上に，ガラス板15の裏面からの反射光ス
ポットＳＰ₂₂を受光領域22Ａ上にそれぞれ形成するよう
にしてもよい。

【００５２】受光領域21Ａと21Ｂをそれぞれ別個の光検
出器によって構成することもできるし，同じように受光
領域22Ａと22Ｂをそれぞれ別個の光検出器によって構成
してもよい。

【００５３】フォトダイオード21ａ，21ｂ，21ｃ，21ｅ
および21ｄの出力信号をそれぞれ同じ符号21ａ，21ｂ，
21ｃ，21ｄおよび21ｅで表わす。同じように，フォトダ
イオード22ａ，22ｂ，22ｃ，22ｄおよび22ｅの出力信号
をそれぞれ同じ符号22ａ，22ｂ，22ｃ，22ｄおよび22ｅ
で表わす。

【００５４】フォーカシング・エラー信号は，光検出器
21，22の受光領域21Ａ，22Ａのフォトダイオードの出力
信号を用いて，ダブル・ビーム・サイズ法により作成さ
れる。すなわち，加算器41，42，減算器43，44および45
を用いて，

【数１】（21ａ＋21ｃ−21ｂ）−（22ａ＋22ｃ−22ｂ） ‥式１が算出され，この算出結果がフォーカシング・エラー信
号となる。

【００５５】フォーカシング・エラー信号はビーム・サ
イズ法により算出することもできる。この場合には受光
領域21Ａまたは22Ａのフォトダイオードの出力信号が用
いられる。すなわち，フォーカシング・エラー信号は次
式で表わされる。

【００５６】

【数２】 21ａ＋21ｃ−21ｂまたは 22ａ＋22ｃ−22ｂ ‥式２

【００５７】トラッキング・エラー信号は光検出器21の
受光領域21Ｂのフォトダイオードの出力信号を用いてプ
ッシュプル法により作成される。すなわち，減算器46に
よって，

【数３】21ｄ−21ｅ ‥式３が算出され，この演算結果がトラッキング・エラー信号
となる。

【００５８】光検出器22の受光領域22Ｂのフォトダイオ
ードの出力信号を用いてもトラッキング・エラー信号を
作成することができる。この場合，トラッキング・エラ
ー信号は次式で与えられる。

【００５９】

【数４】22ｄ−22ｅ ‥式４

【００６０】光検出器21のすべてのフォトダイオードの
出力信号が加算器41と47によって加算され，光検出器22
のすべてのフォトダイオードの出力信号が加算器42と48
によって加算され，これらの加算結果の差が減算器49で
算出されることにより，光磁気ディスク30に記録されて
いるデータの読取信号が得られる。すなわち読取信号は
次式で表わされる。

【００６１】

【数５】（21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅ）−（22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅ） ‥式５

【００６２】受光領域21Ａ，22Ａをそれぞれ５分割フォ
トダイオードで構成することもできるし，また受光領域
21Ｂ，22Ｂを３分割フォトダイオードで構成することも
できるなど種々の変形が可能である。

【００６３】第１の発明の第１の実施例によると，フォ
ーカシング・エラー信号を作成するための信号を出力す
る受光領域21Ａと22Ａはそれぞれ，トラック方向に直交
する分割線によって分割されたフォトダイオードによっ
て構成されている。光磁気ディスク30上に投射された集
束光ビームがトラッキング方向（トラック方向に直交す
る方向）にたとえゆらいだとしても，これらの受光領域
21Ａ，22Ａ上に形成されるスポットＳＰ₁₁，ＳＰ₂₁はト
ラック方向に直交する分割線にそって移動するのみであ
り，フォトダイオード21ａ〜21ｃ，22ａ〜22ｃの出力信
号に変化は生じない。すなわち，フォーカシング・エラ
ー信号はトラッキング・エラーの有無および大きさに何
ら影響されることはなく，常に安定でかつ正確なフォー
カシング・エラーを示す。

【００６４】トラッキング・エラー信号は，フォーカシ
ング・エラー信号の作成のための受光領域21Ａ，22Ａと
は独立した受光領域21Ｂ，22Ｂの出力信号を用いて作成
されている。したがって，トラッキング・エラー信号は
フォーカシング・エラー信号とは別個独立に作成されて
いる。

【００６５】図５から図８は第２の発明による第２の実
施例を示している。

【００６６】図５に示す光ピックアップ装置の光学系の
構成において，図１および図２に示すものと同一物には
同一符号を付し，重複説明を避けるとともに，第１の実
施例と異なる点についてのみ説明する。

【００６７】図５においてはガラス板14および15の裏面
に無反対コートが施され，この裏面からの反射は生じな
い。光磁気ディスク30からの反射光の一部はガラス板15
の表面で反射して光検出器22に入射する。ガラス板15を
通過した光の一部はガラス板14の表面で反射して光検出
器21に入射する。光検出器21，22上に形成される反射光
スポットをそれぞれＳＰ₁，ＳＰ₂で表わす。

【００６８】図６は光検出器21および22の構成と，読取
信号を作成する回路の例を示している。

【００６９】光検出器21は，トラック方向に直交する方
向にのびる２つの第１の分割線と，トラック方向にのび
る１つの第２の分割線とによって６個に分割され，かつ
相互に電気的に絶縁されたフォトダイオード21ａ，21
ｂ，21ｃ，21ｄ，21ｅおよび21ｆから構成されている。
２つの第１の分割線によって挟まれた中央のフォトダイ
オード21ｃと21ｄの幅は狭い。第２の分割線は中心を通
っている。ガラス板14で反射したスポットＳＰ₁は正し
くトラッキングされているときには，これらのフォトダ
イオードの中心に位置する。

【００７０】光検出器22も光検出器21と全く同じ構成で
あり，６分割フォトダイオード22ａ，22ｂ，22ｃ，22
ｄ，22ｅおよび22ｆから構成されている。

【００７１】フォトダイオードについて図６では図４に
示すものと同じ符号21ａ〜21ｅ，22ａ〜22ｅが用いられ
ているが，これらは相互に無関係である。

【００７２】加算器51によってフォトダイオード21ａ〜
21ｆの全出力信号が加算され，加算器52によって全フォ
トダイオード22ａ〜22ｆの出力信号が加算される。これ
らのフォトダイオードと加算器との間の結線は簡略化の
ために図示されていない。加算器51と52の出力信号の差
が減算器53で算出され，読取信号となる。読取信号は次
式で表わされる（ここでもフォトダイオードとその出力
信号が同じ符号で表現されている）。

【００７３】

【数６】（21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅ＋21ｆ） −（22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅ＋22ｆ） ‥式６

【００７４】図７はトラッキング・エラー信号の作成の
様子を示すものである。加算器（図示略）によってフォ
トダイオード21ａと21ｃと21ｅの出力信号が加算される
（21ａ＋21ｃ＋21ｅのブロックで示す）。同じように加
算器（図示略）によってフォトダイオード21ｂと21ｄと
21ｆの出力信号が加算される（21ｂ＋21ｄ＋21ｆのブロ
ックで示す）。これらの加算結果の差が減算器54で演算
され，トラッキング・エラー信号となる。トラッキング
・エラー信号は次式で表わされる。

【００７５】

【数７】（21ａ＋21ｃ＋21ｅ）−（21ｂ＋21ｄ＋21ｆ） ‥式７

【００７６】光検出器22の出力信号を用いても次式にし
たがってトラッキング・エラー信号の作成が可能であ
る。

【００７７】

【数８】（22ａ＋22ｃ＋22ｅ）−（22ｂ＋22ｄ＋22ｆ） ‥式８

【００７８】図８はダブル・ビーム・サイズ法によるフ
ォーカシング・エラー信号の作成の様子を示すものであ
る。ここでも図７と同じように，図示しない加算器によ
って加算された出力信号がブロックで示されている（た
とえば21ａ＋21ｂなど）。

【００７９】加算器55，57，減算器56，58，59と図示し
ない加算器により次の演算が行われ，フォーカシング・
エラー信号が作成される。

【００８０】

【数９】［（21ａ＋21ｂ＋21ｅ＋21ｆ）−（21ｃ＋21ｄ）］ −［（22ａ＋22ｂ＋22ｅ＋22ｆ）−（22ｃ＋22ｄ）］ ‥式９

【００８１】ビーム・サイズ法を用いて，光検出器21ま
たは22の出力信号によりフォーカシング・エラー信号を
得ることができる。この場合，フォーカシング・エラー
信号は次式で表わされる。

【００８２】

【数１０】（21ａ＋21ｂ＋21ｅ＋21ｆ）−（21ｃ＋21ｄ）または（22ａ＋22ｂ＋22ｅ＋22ｆ）−（22ｃ＋22ｄ） ‥式10

【００８３】図５において，ガラス板14および15の裏面
からの反射光のみを光検出器21および22にそれぞれ入射
させるようにしてもよい。

【００８４】以上のように第２の発明の第２の実施例に
おいては，光検出器はトラック方向に直交する第１の２
本の分割線とトラック方向にそう第２の１本の分割線と
によって分割された６分割フォトダイオードから構成さ
れている。上記第１の分割線によって分けられたグルー
プごとに各フォトダイオードの出力信号が加算され，こ
の加算結果を用いてフォーカシング・エラー信号が作成
されている。したがって，第１の発明の第１の実施例に
おけるものと同じ考え方により，たとえトラッキング・
エラーが生じていても，フォーカシング・エラー信号は
トラッキング・エラーの影響を全く受けることなく，単
に安定したかつ正確なフォーカシング・エラーの検出が
達成される。

【００８５】図９は第３の発明の第３の実施例を示すも
のであり，光検出器の構成のみを表わしている。

【００８６】第３の実施例においては図１および図２に
示す光学系がそのままあてはまる。

【００８７】光検出器21はガラス板14の表，裏面からの
反射光スポットＳＰ₁₁，ＳＰ₁₂をそれぞれ受光する受光
領域21Ａ，21Ｂを有している。受光領域21Ａ，21Ｂはそ
れぞれ図６に示す光検出器と同じように６分割フォトダ
イオードから構成されている。光検出器22も光検出器21
と全く同じ構成である。

【００８８】読取信号は次式で与えられる。

【００８９】

【数１１】［（21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅ＋21ｆ）＋（21ｇ＋21ｈ＋21ｉ＋21ｊ＋21ｋ＋21ｍ）］ −［（22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅ＋22ｆ）＋（22ｇ＋22ｈ＋22ｉ＋22ｊ＋22ｋ＋22ｍ）］ ‥式11

【００９０】トラッキング・エラー信号は次式で表現さ
れる。

【００９１】

【数１２】［（21ａ＋21ｃ＋21ｅ）−（21ｂ＋21ｄ＋21ｆ）］＋［（21ｇ＋21ｉ＋21ｋ）−（21ｈ＋21ｊ＋21ｍ）］ ‥式12 または，

【数１３】［（22ａ＋22ｃ＋22ｅ）−（22ｂ＋22ｄ＋22ｆ）］＋［（22ｇ＋22ｉ＋22ｋ）−（22ｈ＋22ｊ＋22ｍ）］ ‥式13

【００９２】フォーカシング・エラー信号は，ダブル・
ビーム・サイズ法にしたがうと次式で与えられる。

【００９３】

【数１４】｛［（21ａ＋21ｂ＋21ｅ＋21ｆ）−（21ｃ＋21ｄ）］ −［（22ａ＋22ｂ＋22ｅ＋22ｆ）−（22ｃ＋22ｄ）］｝＋｛［（21ｇ＋21ｈ＋21ｋ＋21ｍ）−（21ｉ＋21ｊ）］ −［（22ｇ＋22ｈ＋22ｋ＋22ｍ）−（22ｉ＋22ｊ）］｝ ‥式14

【００９４】ビーム・サイズ法によるとフォーカシンク
・エラー信号は次式で与えられる。

【００９５】

【数１５】［（21ａ＋21ｂ＋21ｅ＋21ｆ）−（21ｃ＋21ｄ）］＋［（21ｇ＋21ｈ＋21ｋ＋21ｍ）−（21ｉ＋21ｊ）］または［（22ａ＋22ｂ＋22ｅ＋22ｆ）−（22ｃ＋22ｄ）］＋［（22ｇ＋22ｈ＋22ｋ＋22ｍ）−（22ｉ＋22ｊ）］ ‥式15

【００９６】このように第３の発明の第３の実施例によ
ると，式６〜式10と式11〜式15の比較から分るように，
第２の発明の第２の実施例と比較して，読取信号，トラ
ッキング・エラー信号およびフォーカシング・エラー信
号の大きさが２倍になっているので，高感度で高いＳ／
Ｎ比の信号が得られる。

【００９７】上述した光ピックアップ装置においては，
発散光の光路上に，その光軸に対して傾けた状態でガラ
ス板が配置されている。このような光学系においては，
傾いて配置されたガラス板によって収差が生じる。

【００９８】図10は，発散する光の中にその光軸に対し
て傾いて配置されたガラス板14によって生じる収差を，
このガラス板14と逆方向に傾けてもう一枚のガラス板16
を配置することにより補正する様子を示すものである。

【００９９】図11は，図１および図２ならびに図５に示
す光学系において，上述した収差補正の原理を適用した
ものである（簡単のためにガラス板の表面からの反射光
のみが図示されている）。

【０１００】半導体レーザ11のパッケージ18は，図12に
示すように，その前端面が光軸に対して傾斜し，ここに
光の出射窓があけられている。この窓を覆うようにガラ
ス板16が取付けられている。パッケージ18の内部におい
て，ステム17にレーザ・ダイオード11Ａが取付けられて
いる。レーザ・ダイオード11Ａから発生するレーザ光は
ガラス板16を通って外部に出射する。

【０１０１】このような半導体レーザ11を用いることに
よって，ガラス板14もしくは15による収差，またはガラ
ス板14および15による収差を次のように補正することが
できる。

【０１０２】ガラス板14によって生じる収差のみを補正
する場合には，図10に示すように，ガラス板14とは正反
対にガラス板16が光軸に対して傾くように半導体レーザ
11を配置する。ガラス板15によって生じる収差のみを補
正する場合には，ガラス板15とは正反対にガラス板16が
光軸に対して傾くように半導体レーザ11を配置する。

【０１０３】ガラス板14と15による収差を補正する場合
には，この収差が最小になるように，半導体レーザ11の
パッケージを光軸を中心に回転させて調整する。

【０１０４】このようにして，半導体レーザ11のパッケ
ージ18の窓に設けられたガラス板16を利用してガラス板
14および／またはガラス板15による収差を補正できるの
で，光ピックアップ装置の光学系を簡素化できるととも
に，組立ておよび調整が容易となる。また，ガラス板16
の厚さを最適にすることにより，レーザ・ダイオードの
非点収差補正も可能となる。

【０１０５】図13は光ピックアップ装置の光学系の変形
例を示している。これは第２の発明の第２の実施例の変
形例として位置づけることができる。

【０１０５】図５に示すも６と比較すると，ガラス板の
代わりに反射率が比較的高く，透過率が比較的低いハー
フミラー14が配置されている。また，半導体レーザ11と
光検出器21の位置が交換されている。

【０１０７】半導体レーザ11の出射光はハーフミラー14
によって反射して集光光学系に導かれ，光磁気ディスク
30上に焦点を結ぶように集光される。光磁気ディスク30
からの反射光のうち，ガラス板15を透過した光のさらに
一部はハーフミラー14を透過して光検出器21に入射す
る。

【０１０８】さらに図13においては，ハーフミラー14と
ガラス板15とは，光軸に垂直な平面と交わることにより
生じる線分が互いに平行になるように配置されている。
この構成によっても，互いに直交する偏光方向成分を多
く含む光がガラス板15で反射しおよびハーフミラー14を
透過する。そして，これらの光が互いに直交する偏光方
向の光の通過を許す検光子31および32をそれぞれ通して
光検出器21および22に入射する。

【０１０９】図14はさらに他の変形例を示している。こ
れは上述した第１〜第３の実施例の変形例として位置づ
けられる。簡単のためにガラス板の表面からの反射光の
みが示されている。

【０１１０】集光光学系からコリメート・レンズ12が除
かれ，一層の小型化が図られている。対物レンズ13は半
導体レーザ11の発散する出射光を光磁気ディスク30上に
集光する。また，光磁気ディスク30からの反射光は対物
レンズ13によって集光される。

【０１１１】図15に示す光ピックアップ装置の光学系の
変形例は光ディスク，光カード等の光記録媒体に適した
ものである。

【０１１２】ガラス板14と15は，これらのガラス板が光
軸に垂直な平面と交わることにより生じる線分が互いに
平行になるように配置されている。このガラス板の配置
は図16，図17に示す変形例においても同じである。

【０１１３】光検出器21，22の前面に検光子は不要であ
る。

【０１１４】光記録媒体20のための光ピックアップ装置
では，式５，式６，式11で表わされる読取信号はそれぞ
れ次のように簡略化される。

【０１１５】

【数１６】 21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅもしくは 22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅまたはこれらの加算値 ‥式16

【０１１６】

【数１７】 21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅ＋21ｆもしくは 22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅ＋22ｆまたはこれらの加算値 ‥式17

【０１１７】

【数１８】（21ａ＋21ｂ＋21ｃ＋21ｄ＋21ｅ＋21ｆ）＋（21ｇ＋21ｈ＋21ｉ＋21ｊ＋21ｋ＋21ｍ）もしくは（22ａ＋22ｂ＋22ｃ＋22ｄ＋22ｅ＋22ｆ）＋（22ｇ＋22ｈ＋22ｉ＋22ｊ＋22ｋ＋22ｍ）またはこれらの加算値 ‥式18

【０１１８】フォーカシング・エラー信号およびトラッ
キング・エラー信号は上述した通りの演算により得るこ
とができる。

【０１１９】図16は光磁気ディスクの記録／再生に適し
た光ピックアップ装置の変形例を示している。

【０１２０】光検出器21および22の受光面の前方に検光
子31および32がそれぞれ設けられている。これらの検光
子31と32は，それらを通過する光の偏光方向が互いに直
交するように配置されている。また，半導体レーザ11か
ら出射する直線偏光の偏光方向は検光子31，32を通過す
る光の偏光方向と，ともに45度の角度をなしている。

【０１２１】読取信号，フォーカシング・エラー信号お
よびトラッキング・エラー信号は式１〜式15によって表
わされる演算により作成される。

【０１２２】図17はさらに他の変形例を示している。

【０１２３】集光光学系からコリメート・レンズ12が除
かれ，一層の小型化が図られている。図14に示す光学系
と異なる点はガラス板の配置のみである。

【０１２４】図15に示す光ピックアップ装置において
も，図17に示すように集光光学系からコリメート・レン
ズ12を取除いたりすることができるのはいうまでもな
い。

【０１２５】図15から図17に示す変形例は第１から第３
の発明に適用可能である。これらの図においても簡略化
のためにガラス板の表面からの反射光のみが図示されて
いる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の発明による第１の実施例を示すものであ
り，光ピックアップ装置の光学的構成の平面図である。

【図２】図１に示す光学系の一部を示す斜視図である。

【図３】ガラス板の反射係数および透過係数の入射角依
存性を示すグラフである。

【図４】読取信号，フォーカシング・エラー信号および
トラッキング・エラー信号を作成する回路を示す回路図
である。

【図５】第２の発明の第２の実施例を示すものであり，
光ピックアップ装置の光学的構成の一部を示す斜視図で
ある。

【図６】光検出器の構成および読取信号を作成する回路
を示す。

【図７】トラッキング・エラー信号を作成する回路を示
す回路図である。

【図８】フォーカシング・エラー信号を作成する回路を
示す回路図である。

【図９】第３の発明の第３の実施例を示すものであり，
光検出器の構成を示す。

【図１０】斜めに配置されたガラス板により生じる収差
を正反対に斜めに配置されたガラス板によって補正する
様子を示す。

【図１１】半導体レーザのパッケージ前面の斜めに取付
けられたガラス板によって収差を補正する光学系を示す
斜視図である。

【図１２】半導体レーザのパッケージの断面図である。

【図１３】光ピックアップ装置の変形例を示すものであ
る。

【図１４】光ピックアップ装置の他の変形例を示すもの
である。

【図１５】光ピックアップ装置のさらに他の変形例を示
すものである。

【図１６】光ピックアップ装置のさらに他の変形例を示
すものである。

【図１７】さらに光ピックアップ装置の変形例を示すも
のである。

【符号の説明】

11 半導体レーザ 12 コリメート・レンズ 13 対物レンズ 14，15 ガラス板 16 ガラス板 20 光ディスク 21，22 光検出器 21Ａ，21Ｂ受光領域 21ａ，21ｂ，21ｃ，21ｄ，21ｅ，21ｆ，21ｇ，21ｈ，21
ｉ，21ｊ，21ｋ，21ｍフォトダイオード 22ａ，22ｂ，22ｃ，22ｄ，22ｅ，22ｆ，22ｇ，22ｈ，22
ｉ，22ｊ，22ｋ，22ｍフォトダイオード 30 光磁気ディスク 31，32 検光子 41，42，47，48，51，52，55，57 加算器 43，44，45，46，49，53，54，56，58，59 減算器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者清本浩伸京都市右京区花園土堂町10番地オムロン株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】発光素子と発光素子から出射される発散
光を光学的記録媒体上に集光させるとともに光学的記録
媒体からの反射光を集光させる集光光学系とを備えた光
ピックアップ装置において，上記発光素子と上記集光光
学系との間の上記発散光の光路上に，上記集光光学系の
光軸に対して傾けて配置された透明板，および光学的記
録媒体によって反射されかつ上記集光光学系によって集
光される光のうち上記透明板の表裏面によって反射され
た光を受光する光検出手段を備え，上記光検出手段は，
上記透明板の表裏面で反射した光をそれぞれ受光する相
互に独立した２つの受光領域を備え，一方の第１の受光
領域が光学的記録媒体のトラックに直交する方向にのび
る分割線によって少なくとも３つの相互に独立した小領
域に分割され，他方の第２の受光領域が光学的記録媒体
のトラック方向にのびる分割線によって少なくとも２つ
の相互に独立した小領域に分割されている，光ピックア
ップ装置。
【請求項２】上記第１の受光領域における少なくとも
３つの小領域から得られる受光信号に基づいてフォーカ
シング・エラー信号を作成する手段をさらに備えている
請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】上記第２の受光領域における少なくとも
２つの小領域から得られる受光信号に基づいてトラッキ
ング・エラー信号を作成する手段をさらに備えている請
求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】上記光検出手段の出力信号に基づいて読
取信号を作成する手段をさらに備えている請求項１に記
載の光ピックアップ装置。
【請求項５】上記発光素子と上記集光光学系との間の
上記発散光の光路上に２つの透明板が上記集光光学系の
光軸に対して傾けて配置されており，上記２つの透明板
にそれぞれ対応して２つの光検出手段が設けられてい
る，請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】上記２つの光検出手段の上記第１の受光
領域から得られる受光信号に基づいてフォーカシング・
エラー信号を作成する手段をさらに備えている請求項５
に記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】上記２つの光検出手段の出力信号に基づ
いて読取信号を作成する手段をさらに備えている請求項
５に記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直な
平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線分
が互いにほぼ直交する方向に傾いて配置されている請求
項５に記載の光ピックアップ装置。
【請求項９】上記透明板が，光学的記録媒体からの反
射光の入射角がブリュースター角に等しくなる角度に配
置されている，請求項８に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直
な平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線
分が互いにほぼ平行となる方向に傾いて配置されている
請求項５に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１１】上記発光素子から出射されかつ上記透
明板によって反射された光を受光し，上記発光素子の発
光強度を制御するための信号を出力する光検出器が設け
られている，請求項１または５に記載の光ピックアップ
装置。
【請求項１２】上記光検出手段とそれに対応する透明
板との間に検光子が配置されている，請求項１または５
に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１３】上記透明板の少なくとも一面に反射率
を調整するためのコーティングが施されている，請求項
１または５に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１４】発光素子と発光素子から出射される発
散光を光学的記録媒体上に集光させるとともに光学的記
録媒体からの反射光を集光させる集光光学系とを備えた
光ピックアップ装置において，上記発光素子と上記集光
光学系との間の上記発散光の光路上に，上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置された透明板，および光学的
記録媒体によって反射されかつ上記集光光学系によって
集光される光のうち上記透明板によって反射された光ま
たは上記透明板を透過した光を受光する光検出手段を備
え，上記光検出手段は，光学的記録媒体のトラックに直
交する方向にのびる少なくとも２つの分割線と，トラッ
ク方向にのびる少なくとも１つの分割線とによって分割
された少なくとも６つの相互に独立した小領域を有して
いる，光ピックアップ装置。
【請求項１５】上記トラックに直交する方向にのびる
少なくとも２つの分割線によって分けられた小領域のグ
ループごとに得られる受光信号に基づいてフォーカシン
グ・エラー信号を作成する手段をさらに備えている請求
項14に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１６】上記トラック方向にのびる少なくとも
１つの分割線によって分けられた小領域のグループごと
に得られる受光信号に基づいてトラッキング・エラー信
号を作成する手段をさらに備えている請求項14に記載の
光ピックアップ装置。
【請求項１７】上記光検出手段の出力信号に基づいて
読取信号を作成する手段をさらに備えている請求項14に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項１８】上記発光素子と上記集光光学系との間
の上記発散光の光路上に２つの透明板が上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置されており，上記２つの透明
板にそれぞれ対応して２つの光検出手段が設けられてい
る，請求項14に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１９】上記２つの光検出手段における上記ト
ラックに直交する方向にのびる少なくとも２つの分割線
によって分けられた小領域のグループごとに得られる受
光信号に基づいてフォーカシング・エラー信号を作成す
る手段をさらに備えている請求項18に記載の光ピックア
ップ装置。
【請求項２０】上記２つの光検出手段の出力信号に基
づいて読取信号を作成する手段をさらに備えている請求
項18に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２１】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直
な平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線
分が互いにほぼ直交する方向に傾いて配置されている請
求項18に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２２】上記透明板が，光学的記録媒体からの
反射光の入射角がブリュースター角に等しくなる角度に
配置されている，請求項21に記載の光ピックアップ装
置。
【請求項２３】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直
な平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線
分が互いにほぼ平行となる方向に傾いて配置されている
請求項18に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２４】上記発光素子から出射されかつ上記透
明板によって反射された光を受光し，上記発光素子の発
光強度を制御するための信号を出力する光検出器が設け
られている，請求項14または18に記載の光ピックアップ
装置。
【請求項２５】上記光検出手段とそれに対応する透明
板との間に検光子が配置されている，請求項14または18
に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２６】上記透明板の少なくとも一面に反射率
を調整するためのコーティングが施されている，請求項
14または18に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２７】発光素子と発光素子から出射される発
散光を光学的記録媒体上に集光させるとともに光学的記
録媒体からの反射光を集光させる集光光学系とを備えた
光ピックアップ装置において，上記発光素子と上記集光
光学系との間の上記発散光の光路上に，上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置された透明板，および光学的
記録媒体によって反射されかつ上記集光光学系によって
集光される光のうち上記透明板の表裏面によって反射さ
れた光を受光する光検出手段を備え，上記光検出手段
は，上記透明板の表裏面で反射した光をそれぞれ受光す
る相互に独立した２つの受光領域を備え，上記の各受光
領域は，光学的記録媒体のトラックに直交する方向にの
びる少なくとも２つの分割線と，トラック方向にのびる
少なくとも１つの分割線とによって分割された少なくと
も６つの相互に独立した小領域を有している，光ピック
アップ装置。
【請求項２８】上記トラックに直交する方向にのびる
少なくとも２つの分割線によって分けられた小領域のグ
ループごとに得られる受光信号に基づいてフォーカシン
グ・エラー信号を作成する手段をさらに備えている請求
項27に記載の光ピックアップ装置。
【請求項２９】上記トラック方向にのびる少なくとも
１つの分割線によって分けられた小領域のグループごと
に得られる受光信号に基づいてトラッキング・エラー信
号を作成する手段をさらに備えている請求項27に記載の
光ピックアップ装置。
【請求項３０】上記光検出手段の出力信号に基づいて
読取信号を作成する手段をさらに備えている請求項27に
記載の光ピックアップ装置。
【請求項３１】上記発光素子と上記集光光学系との間
の上記発散光の光路上に２つの透明板が上記集光光学系
の光軸に対して傾けて配置されており，上記２つの透明
板にそれぞれ対応して２つの光検出手段が設けられてい
る，請求項27に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３２】上記２つの光検出手段における上記ト
ラックに直交する方向にのびる少なくとも２つの分割線
によって分けられた小領域のグループごとに得られる受
光信号に基づいてフォーカシング・エラー信号を作成す
る手段をさらに備えている請求項31に記載の光ピックア
ップ装置。
【請求項３３】上記２つの光検出手段の出力信号に基
づいて読取信号を作成する手段をさらに備えている請求
項31に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３４】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直
な平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線
分が互いにほぼ直交する方向に傾いて配置されている請
求項31に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３５】上記透明板が，光学的記録媒体からの
反射光の入射角がブリュースター角に等しくなる角度に
配置されている，請求項34に記載の光ピックアップ装
置。
【請求項３６】上記２つの透明板が，上記光軸に垂直
な平面がこれらの透明板と交わることによって生じる線
分が互いにほぼ平行となる方向に傾いて配置されている
請求項31に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３７】上記発光素子から出射されかつ上記透
明板によって反射された光を受光し，上記発光素子の発
光強度を制御するための信号を出力する光検出器が設け
られている，請求項27または31に記載の光ピックアップ
装置。
【請求項３８】上記光検出手段とそれに対応する透明
板との間に検光子が配置されている，請求項27または31
に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３９】上記透明板の少なくとも一面に反射率
を調整するためのコーティングが施されている，請求項
27または31に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４０】上記発光素子が前面に窓を有するパッ
ケージに内蔵され，上記窓を覆うように上記発光素子の
光軸に対して傾いた第２の透明板が設けられ，上記第２
の透明板が上記透明板によって生じる収差を低減するよ
うに上記パッケージが配置されている，請求項１から39
のいずれか一項に記載の光ピックアップ装置。