JPH0554079B2 - - Google Patents
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- JPH0554079B2 JPH0554079B2 JP57053210A JP5321082A JPH0554079B2 JP H0554079 B2 JPH0554079 B2 JP H0554079B2 JP 57053210 A JP57053210 A JP 57053210A JP 5321082 A JP5321082 A JP 5321082A JP H0554079 B2 JPH0554079 B2 JP H0554079B2
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- JP
- Japan
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- relay
- majority
- circuit
- contacts
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 12
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00392—Modifications for increasing the reliability for protection by circuit redundancy
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/12—Provision for actuation of an alarm
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B23/00—Alarms responsive to unspecified undesired or abnormal conditions
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
- G08B29/16—Security signalling or alarm systems, e.g. redundant systems
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Emergency Management (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は原子力発電所等で用いられる放射線異
常検出装置に関するものである。
常検出装置に関するものである。
第１図は、従来の放射線異常検出装置の一例を
示したものである。図示のように複数（ｎ個）の
被測定点P1〜Pnの各々に３個の検出端A1〜A3が
設けられている。そして、すべての被測定点P1
〜Pnのすべての検出端A1〜A3の出力を受けるよ
うに多数判定半導体回路Ｂが設けられている。こ
の多数判定半導体回路Ｂは、すべての被測定点
P1〜Pnの第１、第２および第３の検出端A1，A2
およびA3の出力をそれぞれ受ける第１、第２お
よび第３のオア回路O1，O2およびO3と、オア回
路O1，O2およびO3のうち２つ以上が信号を発生
しているときに、出力を発生する多数決回路Ｍと
を備えている。リレーコイルＣは、多数判定半導
体回路Ｂの出力により励磁され、常開接点Cbを
動作させる。接点Cbは電源端子Ｅと出力端子Ｄ
とを断続するように設けられており、通常は出力
端子Ｄに電源端子Ｅの電圧が現われていないが、
リレーコイルＣが励磁されると、接点Cbが動作
して、出力端子Ｄに電源端子Ｅの電圧が現われ、
これが異常信号として利用される。即ち、この異
常信号により、出力端子Ｄに接続された図示しな
い装置が、トリツプされ、または警報を発生す
る。
示したものである。図示のように複数（ｎ個）の
被測定点P1〜Pnの各々に３個の検出端A1〜A3が
設けられている。そして、すべての被測定点P1
〜Pnのすべての検出端A1〜A3の出力を受けるよ
うに多数判定半導体回路Ｂが設けられている。こ
の多数判定半導体回路Ｂは、すべての被測定点
P1〜Pnの第１、第２および第３の検出端A1，A2
およびA3の出力をそれぞれ受ける第１、第２お
よび第３のオア回路O1，O2およびO3と、オア回
路O1，O2およびO3のうち２つ以上が信号を発生
しているときに、出力を発生する多数決回路Ｍと
を備えている。リレーコイルＣは、多数判定半導
体回路Ｂの出力により励磁され、常開接点Cbを
動作させる。接点Cbは電源端子Ｅと出力端子Ｄ
とを断続するように設けられており、通常は出力
端子Ｄに電源端子Ｅの電圧が現われていないが、
リレーコイルＣが励磁されると、接点Cbが動作
して、出力端子Ｄに電源端子Ｅの電圧が現われ、
これが異常信号として利用される。即ち、この異
常信号により、出力端子Ｄに接続された図示しな
い装置が、トリツプされ、または警報を発生す
る。
上記のような構成とすれば、検出端A1〜A3の
うちの１つが誤動作をして異常を示す信号を発生
しても、多数決回路Ｍが出力を発生しないので、
出力端子Ｄの電圧は変化しない。
うちの１つが誤動作をして異常を示す信号を発生
しても、多数決回路Ｍが出力を発生しないので、
出力端子Ｄの電圧は変化しない。
上記のように、各被測定点における検出端を冗
長化することにより、真に有効な検出信号にのみ
応答して異常信号を出力させるようにすることが
できる。
長化することにより、真に有効な検出信号にのみ
応答して異常信号を出力させるようにすることが
できる。
しかしながら、第１図における多数判定半導体
回路Ｂそのもの、あるいはリレーＣそのものに単
一の異常が生じた場合には、もはや上記の検出端
の冗長化が何ら意味をなさなくなる。つまり、多
数判定半導体回路ＢあるいはリレーＣが故障する
と、これにより出力端子Ｄの電圧が変化し、誤ト
リツプ等が発生することになる。そして、一旦、
これらの機器が故障した場合には、装置全体の機
能を喪失させることにより運転を停止させて修理
作業を行なわなければならなくなる。これは、フ
エイルセーフと呼ばれる、これまでの安全保護設
計に基く考え方である。
回路Ｂそのもの、あるいはリレーＣそのものに単
一の異常が生じた場合には、もはや上記の検出端
の冗長化が何ら意味をなさなくなる。つまり、多
数判定半導体回路ＢあるいはリレーＣが故障する
と、これにより出力端子Ｄの電圧が変化し、誤ト
リツプ等が発生することになる。そして、一旦、
これらの機器が故障した場合には、装置全体の機
能を喪失させることにより運転を停止させて修理
作業を行なわなければならなくなる。これは、フ
エイルセーフと呼ばれる、これまでの安全保護設
計に基く考え方である。
放射線異常検出装置は原子力設備等において用
いられるものであり、高度の信頼性が強く要請さ
れるものであるため、このような誤トリツプ、装
置全体の運転停止等の事態は極力避けなければな
らない。
いられるものであり、高度の信頼性が強く要請さ
れるものであるため、このような誤トリツプ、装
置全体の運転停止等の事態は極力避けなければな
らない。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、誤トリツプ、装置全体の運転停止等の事態が
発生する可能性を極力小さくし、信頼性を大幅に
向上させることができる放射線異常検出装置を提
供しようとするものである。
り、誤トリツプ、装置全体の運転停止等の事態が
発生する可能性を極力小さくし、信頼性を大幅に
向上させることができる放射線異常検出装置を提
供しようとするものである。
本発明は上記課題を解決するための手段とし
て、複数の被測定点のそれぞれに設けられ、異常
状態の検出を行う第１、第２、第３の検出端と、
前記複数の被測定点に設けられた全ての第１、第
２、第３の検出端からの信号を入力し、第１、第
２、第３の検出端のうち２つ以上からの検出信号
を入力したときに信号を出力する第１、第２、第
３の多数判定半導体回路と、前記第１、第２、第
３の多数判定半導体回路のそれぞれに接続され、
それぞれの多数判定半導体回路から出力される信
号によつて励磁される第１、第２、第３のリレー
と、前記第１、第２のリレーの接点の直列接続
体、前記第２、第３のリレーの接点の直列接続
体、前記第３、第１のリレーの接点の直列接続体
を並列接続することにより形成され、第１、第
２、第３のリレーの接点のうち２つ以上の接点が
閉じたときに異常信号を出力するリレー接点回路
と、を備えたことを特徴とするものである。
て、複数の被測定点のそれぞれに設けられ、異常
状態の検出を行う第１、第２、第３の検出端と、
前記複数の被測定点に設けられた全ての第１、第
２、第３の検出端からの信号を入力し、第１、第
２、第３の検出端のうち２つ以上からの検出信号
を入力したときに信号を出力する第１、第２、第
３の多数判定半導体回路と、前記第１、第２、第
３の多数判定半導体回路のそれぞれに接続され、
それぞれの多数判定半導体回路から出力される信
号によつて励磁される第１、第２、第３のリレー
と、前記第１、第２のリレーの接点の直列接続
体、前記第２、第３のリレーの接点の直列接続
体、前記第３、第１のリレーの接点の直列接続体
を並列接続することにより形成され、第１、第
２、第３のリレーの接点のうち２つ以上の接点が
閉じたときに異常信号を出力するリレー接点回路
と、を備えたことを特徴とするものである。
このように、多数判定半導体回路を３つ設けて
冗長化したことにより、誤トリツプの発生の可能
性をさらに小さくすることができる。また３つの
多数判定半導体回路の出力信号の処理をリレー回
路を用いて行うようにしてあるので、単一の故障
では装置全体の機能を喪失せず、いずれかひとつ
の多数判定半導体回路又はリレーが故障したとし
ても、残りの多数判定半導体回路及びリレーによ
り異常検出動作を続行することができる。したが
つて、装置全体の運転を停止させることなく、故
障した多数判定半導体回路又はリレーの修理を行
うことができる。
冗長化したことにより、誤トリツプの発生の可能
性をさらに小さくすることができる。また３つの
多数判定半導体回路の出力信号の処理をリレー回
路を用いて行うようにしてあるので、単一の故障
では装置全体の機能を喪失せず、いずれかひとつ
の多数判定半導体回路又はリレーが故障したとし
ても、残りの多数判定半導体回路及びリレーによ
り異常検出動作を続行することができる。したが
つて、装置全体の運転を停止させることなく、故
障した多数判定半導体回路又はリレーの修理を行
うことができる。
第２図は本発明の一実施例を示したものであ
る。同図において、第１図と同様の部材は同一の
符号で示されている。図示のように、すべての被
測定点P1〜Pnのすべての検出端A1〜A3の出力を
受ける第１、第２および第３の多数判定半導体回
路B1〜B3が設けられている。多数判定半導体回
路B1〜B3の各々は、第１図の多数判定半導体回
路Ｂと同様、すべての被測定点P1〜Pnの第１の
検出端A1の出力を受ける第１のオア回路O1と、
すべての被測定点P1〜Pnの第２の検出端A2の出
力を受ける第２のオア回路O2と、すべての被測
定点P1〜Pnの第３の検出端A3の出力を受ける第
３のオア回路のO3と、第１〜第３のオア回路O1
〜O3のうちの２つ以上が信号を発生していると
きに出力を発生する多数決回路Ｍとを備えてい
る。多数決回路Ｍの出力は多数判定半導体回路
B1，B2，B3の出力を構成し、この出力によりそ
れぞれリレーC1，C2，C3が非励磁となる。リレ
ーC1〜C3の接点は、互いに接続されて、リレー
C1〜C3のうちの２つ以上が非励磁となつたとき
に導通状態になるリレー接点Coを形成している。
即ち、リレーC1，C2の接点C1b，C2bの直列回路、
リレーC2，C3の接点C2b，C3bの直列回路および
リレーC3，C1の接点C3b，C1bの直列回路が互い
に並列接続さされて成るものが、電源端子Ｅと出
力端子Ｄとの間に設けられている。通常は電源端
子Ｅの電圧がそのまま出力端子に現われていない
が、２つ以上のリレーが非励磁となり、その接点
が閉じると、出力端子Ｄには電源端子Ｅの電圧が
現われ、これが、異常信号として利用される。
る。同図において、第１図と同様の部材は同一の
符号で示されている。図示のように、すべての被
測定点P1〜Pnのすべての検出端A1〜A3の出力を
受ける第１、第２および第３の多数判定半導体回
路B1〜B3が設けられている。多数判定半導体回
路B1〜B3の各々は、第１図の多数判定半導体回
路Ｂと同様、すべての被測定点P1〜Pnの第１の
検出端A1の出力を受ける第１のオア回路O1と、
すべての被測定点P1〜Pnの第２の検出端A2の出
力を受ける第２のオア回路O2と、すべての被測
定点P1〜Pnの第３の検出端A3の出力を受ける第
３のオア回路のO3と、第１〜第３のオア回路O1
〜O3のうちの２つ以上が信号を発生していると
きに出力を発生する多数決回路Ｍとを備えてい
る。多数決回路Ｍの出力は多数判定半導体回路
B1，B2，B3の出力を構成し、この出力によりそ
れぞれリレーC1，C2，C3が非励磁となる。リレ
ーC1〜C3の接点は、互いに接続されて、リレー
C1〜C3のうちの２つ以上が非励磁となつたとき
に導通状態になるリレー接点Coを形成している。
即ち、リレーC1，C2の接点C1b，C2bの直列回路、
リレーC2，C3の接点C2b，C3bの直列回路および
リレーC3，C1の接点C3b，C1bの直列回路が互い
に並列接続さされて成るものが、電源端子Ｅと出
力端子Ｄとの間に設けられている。通常は電源端
子Ｅの電圧がそのまま出力端子に現われていない
が、２つ以上のリレーが非励磁となり、その接点
が閉じると、出力端子Ｄには電源端子Ｅの電圧が
現われ、これが、異常信号として利用される。
多数判定半導体回路B1〜B3の動作は、第１図
のものと同様であるが、３つの多数判定半導体回
路のうち２つ以上が出力を発生し、３つのリレー
C1〜C3のうち２つ以上が非励磁となり、これに
よつてその接点が動作したときにはじめて、出力
端子Ｄに異常信号が現われる。即ち、仮に、１つ
の多数判定半導体回路が故障により誤まつて出力
を発生しても、また１つのリレーが故障しても出
力端子には異常信号が発生せず、誤トリツプ等が
生じない。
のものと同様であるが、３つの多数判定半導体回
路のうち２つ以上が出力を発生し、３つのリレー
C1〜C3のうち２つ以上が非励磁となり、これに
よつてその接点が動作したときにはじめて、出力
端子Ｄに異常信号が現われる。即ち、仮に、１つ
の多数判定半導体回路が故障により誤まつて出力
を発生しても、また１つのリレーが故障しても出
力端子には異常信号が発生せず、誤トリツプ等が
生じない。
第２図のように構成することにより、異常検出
装置内の単一の部材（多数判定半導体回路、リレ
ー）の故障に際し、検出装置全体を停止させるこ
となく、故障した部材の修理を行なうことができ
る。故障の発見は、１つの多数判定半導体回路、
リレーの故障を図示しない手段により検出して警
報を発生させることにより、または定期点検によ
り、行なうことができる。
装置内の単一の部材（多数判定半導体回路、リレ
ー）の故障に際し、検出装置全体を停止させるこ
となく、故障した部材の修理を行なうことができ
る。故障の発見は、１つの多数判定半導体回路、
リレーの故障を図示しない手段により検出して警
報を発生させることにより、または定期点検によ
り、行なうことができる。
このため、MTBF（平均故障時間）は大幅に改
善される。第３ａ，ｂはそれぞれ第１図、第２図
のMTBFの算出のための説明図で、λ1，λ2はそ
れぞれ多数判定半導体回路、リレーの故障率
（回／hr）を示し、λ1＋λ2＝10-4／hrであると仮
定する。
善される。第３ａ，ｂはそれぞれ第１図、第２図
のMTBFの算出のための説明図で、λ1，λ2はそ
れぞれ多数判定半導体回路、リレーの故障率
（回／hr）を示し、λ1＋λ2＝10-4／hrであると仮
定する。
第１図、第３図ａの場合には、多数判定半導体
回路Ｂ又はリレーＣのうちのいずれか一方が故障
した場合には、システム全体を停止させて修理を
行なわなければならず、このときのMTBFは、 MTBF＝１／λ1＋λ2＝104／hr となる。
回路Ｂ又はリレーＣのうちのいずれか一方が故障
した場合には、システム全体を停止させて修理を
行なわなければならず、このときのMTBFは、 MTBF＝１／λ1＋λ2＝104／hr となる。
これに対し、第２図、第３図ｂの場合には、多
数判定半導体回路B1〜B3又はリレーC1〜C3のう
ちのいずれか１つが故障したとしても、残りの多
数判定半導体回路及びリレーは使用可能であるた
め、そのまま異常検出動作を続行することがで
き、その間に故障した多数判定半導体回路又はリ
レーの修理を行うことができる。
数判定半導体回路B1〜B3又はリレーC1〜C3のう
ちのいずれか１つが故障したとしても、残りの多
数判定半導体回路及びリレーは使用可能であるた
め、そのまま異常検出動作を続行することがで
き、その間に故障した多数判定半導体回路又はリ
レーの修理を行うことができる。
例えば、第２図において、多数判定半導体回路
B1が故障した場合を考えてみると、リレー接点
回路Co内では、接点C1bを含む上段及び下段の経
路は使用不可能となるが、接点C2b，C3bで形成
される中段の経路が生きているため、この経路に
より出力端子Ｄから異常信号を出力させることが
できる。このとき、多数判定半導体回路B1の修
理に要する時間を10（hr）とすると修理率μはμ
＝１／10＝0.1／hrとなる。したがつて、この場
合のMTBFは、 MTBF＝５（λ1＋λ2）＋μ／６（λ1＋λ2）2 ＝1.6×106（hr） となる。すなわち、従来の場合に比べてMTBF
の値を大幅に増加させることができ、信頼性を大
幅に向上させることができる。
B1が故障した場合を考えてみると、リレー接点
回路Co内では、接点C1bを含む上段及び下段の経
路は使用不可能となるが、接点C2b，C3bで形成
される中段の経路が生きているため、この経路に
より出力端子Ｄから異常信号を出力させることが
できる。このとき、多数判定半導体回路B1の修
理に要する時間を10（hr）とすると修理率μはμ
＝１／10＝0.1／hrとなる。したがつて、この場
合のMTBFは、 MTBF＝５（λ1＋λ2）＋μ／６（λ1＋λ2）2 ＝1.6×106（hr） となる。すなわち、従来の場合に比べてMTBF
の値を大幅に増加させることができ、信頼性を大
幅に向上させることができる。
以上のように本発明によれば、１つの多数判定
半導体回路またはリレーが故障しても、異常信号
が発生されることがなく、また、装置全体を停止
させることなく、故障した多数判定半導体回路ま
たはリレーを修理することができる。従つて
MTBFが著しく向上する。
半導体回路またはリレーが故障しても、異常信号
が発生されることがなく、また、装置全体を停止
させることなく、故障した多数判定半導体回路ま
たはリレーを修理することができる。従つて
MTBFが著しく向上する。
第１図は従来の放射線異常検出装置の一例を示
すブロツク図、第２図は本発明の実施例の放射線
異常検出装置を示すブロツク図、第３図ａ，ｂ
は、第１図、第２図の装置のMTBFを算出する
ための説明図である。 P1〜Pn……被測定点、A1〜A3……検出端、B1
〜B3……多数判定半導体回路、O1〜O3……オア
回路、Ｍ……多数決回路、C1〜C3……リレー、
C1b，C2b，C3b……接点、Co……リレー接点回
路。
すブロツク図、第２図は本発明の実施例の放射線
異常検出装置を示すブロツク図、第３図ａ，ｂ
は、第１図、第２図の装置のMTBFを算出する
ための説明図である。 P1〜Pn……被測定点、A1〜A3……検出端、B1
〜B3……多数判定半導体回路、O1〜O3……オア
回路、Ｍ……多数決回路、C1〜C3……リレー、
C1b，C2b，C3b……接点、Co……リレー接点回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の被測定点のそれぞれに設けられ、異常
状態の検出を行う第１、第２、第３の検出端と、 前記複数の被測定点に設けられた全ての第１、
第２、第３の検出端からの信号を入力し、第１、
第２、第３の検出端のうち２つ以上からの検出信
号を入力したときに信号を出力する第１、第２、
第３の多数判定半導体回路と、 前記第１、第２、第３の多数判定半導体回路の
それぞれに接続され、それぞれの多数判定半導体
回路から出力される信号によつて励磁される第
１、第２、第３のリレーと、 前記第１、第２のリレーの接点の直列接続体、
前記第２、第３のリレーの接点の直列接続体、前
記第３、第１のリレーの接点の直列接続体を並列
接続することにより形成され、第１、第２、第３
のリレーの接点のうち２つ以上の接点が閉じたと
きに異常信号を出力するリレー接点回路と、 を備えた放射線異常検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57053210A JPS58169079A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 放射線異常検出装置 |
| FR8305128A FR2524674A1 (fr) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | Dispositif de detection d'anomalies |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57053210A JPS58169079A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 放射線異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58169079A JPS58169079A (ja) | 1983-10-05 |
| JPH0554079B2 true JPH0554079B2 (ja) | 1993-08-11 |
Family
ID=12936485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57053210A Granted JPS58169079A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 放射線異常検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58169079A (ja) |
| FR (1) | FR2524674A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007040800A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出装置及び該放射線検出装置を用いた放射線検査装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2600775B1 (fr) * | 1986-06-26 | 1990-03-23 | Kis Photo Ind | Dispositif d'analyse biomedicale |
| FR2861881B1 (fr) | 2003-11-03 | 2006-01-20 | Airbus France | Systeme pour la surveillance d'une pluralite de zones |
| EP2326007B1 (en) | 2009-11-19 | 2013-01-09 | General Electric Company | Circuit and topology for very high reliability power electronics system |
| JP5537908B2 (ja) * | 2009-11-19 | 2014-07-02 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 超高信頼性パワーエレクトロニクスシステム用の回路及びトポロジー |
| RU2533317C2 (ru) * | 2009-11-23 | 2014-11-20 | Дженерал Электрик Компани | Схема и топология высоконадежной системы силовой электроники |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56123003A (en) * | 1980-02-25 | 1981-09-26 | Gen Electric | Control device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE847141A (fr) * | 1976-10-11 | 1977-04-12 | Acec | Installation de commande de processus. |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP57053210A patent/JPS58169079A/ja active Granted
-
1983
- 1983-03-29 FR FR8305128A patent/FR2524674A1/fr not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56123003A (en) * | 1980-02-25 | 1981-09-26 | Gen Electric | Control device |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007040800A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出装置及び該放射線検出装置を用いた放射線検査装置 |
| JP4738933B2 (ja) * | 2005-08-02 | 2011-08-03 | 住友重機械工業株式会社 | 放射線を放出した被検体の部位を検出する放射線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58169079A (ja) | 1983-10-05 |
| FR2524674A1 (fr) | 1983-10-07 |
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