JPH0551298B2 - - Google Patents

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JPH0551298B2
JPH0551298B2 JP1120732A JP12073289A JPH0551298B2 JP H0551298 B2 JPH0551298 B2 JP H0551298B2 JP 1120732 A JP1120732 A JP 1120732A JP 12073289 A JP12073289 A JP 12073289A JP H0551298 B2 JPH0551298 B2 JP H0551298B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、人間あるいは動物の脳組織などの生
体組織(診断対象物)中の酸素濃度、分布など
を、工学的に診断する光診断装置に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
従来、このような分野の技術として、例えば米
国特許4281645号に示されるものがあつた。これ
は、レーザ光源からの出射光を光フアイバ束で脳
組織に導き、その透過散乱光を検出することによ
り、酸素の分布や濃度を測定するものである。レ
ーザ光源としては近赤外光を出力するものが用い
られ、また異なる波長のレーザ光を出力するレー
ザ光源が複数用いられている。そして、波長を切
り換えて波長ごとの透過、散乱光を検出してい
る。
ところが、レーザ光源(特に半導体レーザ)は
出力パワーを安定させるのが容易でなく、また出
力パワーの変化は波長ごとに異なるため、診断装
置による診断結果の信頼性が低下するという問題
があつた。そこで、本発明者は、特願昭62−
110467号を先に出願し、上記の問題点の克服を提
案した。第4図はその装置の概要を示している。
第4図に示す通り、生体組織1の透過散乱光
PAを測定するに際し、レーザ光源2と透過散乱
光検出器3とモニタ光検出器4と規格化装置5が
用意される。生体組織1からの出射光は光学フア
イバ束6の一方の端面から入射され、一部の光は
第1の分岐フアイバ束61を伝播して生体組織1
に導かれ、他の光は第2の分岐フアイバ束62を
伝播してモニタ光検出器4に導かれる。生体組織
1で生じた透過散乱光PAは、別の光フアイバ束
7を伝播して透過散乱光検出器3に導かれる。そ
して、透過散乱光検出器3およびモニタ光検出器
4の検出出力は電気信号として規格化装置5に送
られ、ここでモニタ光出力SMによる透過散乱光
出力SAの規格化がなされる。また、異なる波長
(λ1,λ4)の光を出力する複数(4つ)のレーザ
光源21〜24を設けたときには、第5図のように
複数(4つ)の光学フアイバ束61〜64が配設さ
れる。このように、レーザ光源2の出力パワーを
モニタし、これによつて透過散乱光出力SAを規
格化することで、出力変動による測定結果のバラ
ツキを補正できる。
ここで、光学フアイバ束6としては例えば第6
図および第7図のようなものが用いられる。第6
図は2本の光フアイバを組み合わせたものであ
る。図示の通り、レーザケース21に固設された
レーザチツプ22からのレーザ光は、ガラス窓2
3を介して出射される。出射光はレーザL1,L2
で集光され、その焦点位置に設置された導光用の
光フアイバ68に入射され、生体組織1に向けて
伝播される。一方、光フアイバ68には別の光フ
アイバ69が隣接して設けられ、ここに焦点から
ずれたレーザ光が入射される。従つて、光フアイ
バ69を伝播された光をモニタすることで、前述
の規格化が行なえる。
第7図は多数の光フアイバを組み合せたもの
で、同図aのA−A線断面図の同図bのようにな
つている。すなわち、光学フアイバ束6は生体組
織1に光を伝播するため第1の分岐フアイバ束6
1と、モニタ光検出器4に光を伝播するため第2
の分岐フアイバ束62に分岐されるが、レーザチ
ツプ22からのレーザ光が入射する端面側では、
第2の分岐フアイバ束62を構成する複数の光フ
アイバは、被覆63中の一部に偏在している(第
7図b図示)。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、レーザ光源(特に半導体レー
ザ)は出力パワーが変動するだけでなく、発光パ
ターンも同様に変化する。すなわち、第8図のよ
うな半導体レーザ90において、レーザ光は活性
層91のストライプ領域92から出力されるが、
その発生パターン93は略楕円形状をなしてい
る。すると、第9図に示すように、モニタ用の第
2の分岐フアイバ束62が光学フアイバ束6の一
部に偏在しているときには、モニタ出力が一定に
ならない。すなわち、同図aのように発光パター
ン931が大きな楕円になつているときは、モニ
タ出力は相対的に大きくなるが、同図cのように
発光パターン933が小さな楕円になつていると
きは、モニタ出力は相対的に小さくなる。
第10図にその出力特性を相対値で示す。同図
において、縦軸は導光用の第1の分岐フアイバ束
61の出力を示し、横軸はモニタ用の第2の分岐
フアイバ束62の出力を示す。測定値が直線関係
からずれていることがわかる。
そこで本発明は、レーザ光源から発光出力が変
動するだけでなく、その発光パターンも変動する
ようなときでも、正確に光診断を行なうことので
きる光診断装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る光診断装置は、半導体レーザなど
の光源と、この光源からの光の一方の端面に入射
し、他方の端面側が所定の割合で第1および第2
の分岐フアイバ束に分離された光学フアイバ束
と、第1の分岐フアイバ束の他方の端面から出射
され所定の診断対象物で透過、散乱された透過散
乱光を検出する透過散乱光検出手段と、第2の分
岐フアイバ束の他方の端面から出射されたモニタ
光を検出するモニタ光検出手段と、前記モニタ光
検出手段の出力にもとづき透過散乱検出手段の出
力を規格化する規格化手段とを備えるものにおい
て、モニタ用の第2の分岐フアイバ束を構成する
それぞれの光フアイバは、光学フアイバ束の一方
の端面において導光用の第1の分岐フアイバ束を
構成するそれぞれの光フアイバ中に分散して配置
されていることを特徴とする。
あるいは、光学フアイバ束の一方の端面と光源
との間に、モードスクランブラが介在されている
ことを特徴としてもよい。
〔作用〕
本発明によれば、半導体レーザなどの発光パタ
ーンの変化に拘りなく、モニタ用の第2の分岐フ
アイバ束62には所定割合でレーザ光が入射され
るので、発光出力の変動を正確にモニタできるこ
とになる。
〔実施例〕
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説
明する。
第1図は本発明の第1実施例に係る光診断装置
の要部を示し、第4図あるいは第5図に示す光学
フアイバ束6に適用される。ここで、第1図aは
レーザ光源と光学フアイバ束の結合部近傍の側面
図、同図bはそのA−A線断面図である。そし
て、これが第6図の従来例と異なる点は、光学フ
アイバ束6の光入射端面(一方の端面)におい
て、モニタ用の第2の分岐フアイバ束62を構成
する複数の光フアイバ602が、導光用の第1の
分岐フアイバ束61を構成する複数の光フアイバ
601中に分散して配置されていることである
(同図b図示)。このため、レーザチツプ22の発
光パターンが楕円形であつて変動するような場合
でも、この発光出力を正確にモニタすることがで
きる。
第2図は第2実施例の要部を示し、第4図ある
いは第5図の光学フアイバ束6に適用される。こ
こで、第1図aは側面図、同図bはA−A線断面
図である。この第2実施例では、モニタ用の第2
の分岐フアイバ束62は光学フアイバ6の光入射
端面においても導光用の第1の分岐フアイバ束6
1中の一部に偏在しており、この点では第6図の
従来例と異なる点はない。異なる点は、レーザ光
源2のガラス窓23と光学フアイバ束6の光入射
端面の間に、モードスクランブラ64が介在され
ていることである。このモードスクランブラ64
を用いると、レーザ光源2からの楕円パターンの
レーザ出力は常に円形パターンの均一なレーザ光
に変換されるので、モニタ用の第2の分岐フアイ
バ束62には常に一定割合の光が入射される。従
つて、出力パワーのモニタが正確に行なえる。
第3図は、上記の第2の実施例により測定した
結果を相対値で示す(第1の実施例でも同様の結
果が得られた)。同図において、縦軸は導光用の
第1の分岐フアイバ束61の出力を示し、横軸は
モニタ用の第2の分岐フアイバ束62の出力を示
している。図示の通り、双方の出力の間にはほぼ
正確な直線関係が成立し、誤差は1%以下に止ま
つている。第1図および第2図のような構成を、
第4図あるいは第5図のような光診断装置の光学
フアイバ束に適用すれば、光源に出力変動の大き
い半導体レーザを用いたときでも、診断対象物か
らの透過散乱光を正確に補正できるので、極めて
正確な診断結果を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上、詳細に説明した通りの本発明によれば、
発光パターンの変化に拘りなくモニタ用の第2の
分岐フアイバ束に所定割合でレーザ光が入射され
るので、発光出力の変動を正確にモニタできるこ
とになる。このため、レーザ光源(例えば半導体
レーザ)から発光出力が変動するだけでなく、そ
の発光パターンも変動するようなときでも、正確
に光診断を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例に係る光診断装置
の要部を示す図、第2図は本発明の第2実施例に
係る光診断装置の要部を示す図、第3図は本発明
の光学フアイバ束による出力特性を示す図、第4
図は先願に示された光診断装置の構成の概要を示
す図、第5図は光源を複数にした光診断装置の要
部の構成を示す図、第6図および第7図は従来の
光診断装置の光源および光学フアイバ束の構成を
示す図、第8図は半導体レーザの出力パターンを
示す社史図、第9図は光フアイバ束と出力パター
ンの関係を示す図、第10図は従来の光学フアイ
バ束による出力特性を示す図である。 1……生体組織、2……レーザ光源、21……
レーザケース、22……レーザチツプ、23……
ガラス窓、3……透過散乱光検出器、4……モニ
タ光検出器、5……規格化装置、6……光学フア
イバ束、61……導光用の第1の分岐フアイバ
束、62……モニタ用の第2の分岐フアイバ束、
64……モードスクランブラ、7……光フアイバ
束。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源と、この光源からの光を一方の端面に入
    射し、他方の端面側が所定の割合で第1および第
    2の分岐フアイバ束に分離された光学フアイバ束
    と、前記第1の分岐フアイバ束の他方の端面から
    出射され所定の診断対象物で透過、散乱された透
    過散乱光を検出する透過散乱光検出手段と、前記
    第2の分岐フアイバ束の他方の端面から出射され
    たモニタ光を検出するモニタ光検出手段と、前記
    モニタ光検出手段の出力にもとづき前記透過散乱
    検出手段の出力を規格化する規格化手段とを備
    え、 前記第2の分岐フアイバ束を構成するそれぞれ
    の光フアイバは、前記光学フアイバ束の一方の端
    面において前記第1の分岐フアイバ束を構成する
    それぞれの光フアイバ中に分散して配置されてい
    ることを特徴とする光診断装置。 2 前記光源は半導体レーザである請求項1記載
    の光診断装置。 3 前記光源はそれぞれ波長の異なる光を出力す
    る複数の光源からなり、前記光学フアイバ束は前
    記複数の光源ごとに設けられている請求項1記載
    の光診断装置。 4 前記光源からの出力光は近赤外光である請求
    項1記載の光診断装置。 5 光源と、この光源からの光を一方の端面に入
    射し、他方の端面側が所定の割合で第1および第
    2の分岐フアイバ束に分離された光学フアイバ束
    と、前記第1の分岐フアイバ束の他方の端面から
    出射され所定の診断対象物で透過、散乱された透
    過散乱光を検出する透過散乱光検出手段と、前記
    第2の分岐フアイバ束の他方の端面から出射され
    たモニタ光を検出するモニタ光検出手段と、前記
    モニタ光検出手段の出力にもとづき前記透過散乱
    検出手段の出力を規格化する規格化手段とを備
    え、 前記光学フアイバ束の一方の端面と前記光源と
    の間にはモードスクランブラが介在されているこ
    とを特徴とする光診断装置。 6 前記光源は半導体レーザである請求項5記載
    の光診断装置。 7 前記光源はそれぞれ波長の異なる光を出力す
    る複数の光源からなり、前記光学フアイバ束は前
    記複数の光源ごとに設けられている請求項5記載
    の光診断装置。 8 前記光源からの出力光は近赤外光である請求
    項5記載の光診断装置。
JP1120732A 1989-02-06 1989-05-15 光診断装置 Granted JPH02206478A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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GB8902562A GB2227832A (en) 1989-02-06 1989-02-06 Optical examination apparatus
GB8902562.1 1989-02-06

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Publication Number Publication Date
JPH02206478A JPH02206478A (ja) 1990-08-16
JPH0551298B2 true JPH0551298B2 (ja) 1993-08-02

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JP1120732A Granted JPH02206478A (ja) 1989-02-06 1989-05-15 光診断装置

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US (1) US5032024A (ja)
EP (1) EP0381883B1 (ja)
JP (1) JPH02206478A (ja)
DE (1) DE68920018T2 (ja)
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