JPH0548538B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、例えばCD（コンパクトデイスク）
方式のDND（デジタルオーデイオデイスク）用に
好適する光学式デイスク再生装置に係り、特にデ
イスクの透明基材上にできた傷や内部の蒸着面の
水、歪み等により生じる信号欠落部分を検出する
信号欠落検出回路の改良に関する。

［発明の技術的背景］ 従来より光学式デイスク再生装置には、デイス
クの傷部分を再生したときにトレースしているト
ラツクからはずれる（トラツクジヤンプ）ことの
ないようにトラツクジヤンプ防止回路が設けられ
ている。第６図に従来のCD方式デイスク再生装
置（以下CD再生装置と称する）に適用されるト
ラツクジヤンプ防止回路の構成を示す。

すなわち、このＣ再生装置では、周知のように
図示しない光学式ピツクアツプの出力信号から生
成されるRF信号をコンデンサ１１でAC結合した
後、波形整形回路１２で振幅を一定に揃え、
EFM信号生成回路１３でEFM信号に変換した
後、図示しないデータ復調系に導出することによ
りデイスクに記録されている情報信号を読み出し
ており、また上記ピツクアツプの出力信号に基づ
いてトラツキングエラー信号TEを生成し、この
トラツキングエラー信号TEを増幅器１４、後述
する減衰回路１５、位相補償回路１６、アクチユ
エータ駆動回路１７を介してトラツキングアクチ
ユエータコイル１８に供給することにより、ピツ
クアツプ内の対物レンズを移動制御してピツクア
ツプから放射される光ビームが常に正しくピツト
列上をトレースするようにトラツキングサーボを
施している。

このようなCD再生装置においてトラツクジヤ
ンプ防止回路は、上記RF信号のレベル変化から
デイスクの傷による信号の欠落を検出する信号欠
落検出回路と、この検出回路の検出出力により上
記トラツキングサーボの利得を制御する減衰回路
１５とで構成されており、上記信号欠落検出回路
はエンベロープ検波回路１９及びレベル比較回路
２０で構成され、上記減衰回路１５は抵抗Ｒ１，
Ｒ２及びアナログスイツチSWで構成されてい
る。すなわち、上記信号欠落検出回路は、上記波
形整形回路１２の出力信号を取出してエンベロー
プ検波回路１９に供給し、RF信号のピークエン
ベロープを検出する。そして、そのエンベロープ
信号Ｓ１９をレベル比較回路２０に供給して基準
電圧Vref１と比較し、エンベロープ信号Ｓ１９
が基準電圧Vref１以下となつたことを検出して
切換制御信号Ｓ２０を発生させるようにしたもの
で、この切換制御信号Ｓ２０は上記減衰回路１５
のアナログスイツチSWの制御入力端に供給され
る。この減衰回路１５は上記切換制御信号Ｓ２０
に応じてアナログスイツチSWを切換えることに
よりトラツキングサーボの利得を増減させるよう
にしたものである。このようにしてトラツクジヤ
ンプ防止回路はデイスクの傷部分再生時にトラツ
キングサーボ利得を低減し、トラツクジヤンプを
起こし難くしている。

つまり、デイスクの透明基材上にできた傷部分
をトレースすると、RF信号には第７図ａに示す
ような信号欠落部分が発生する。すると、上記エ
ンベロープ信号Ｓ１９は同図ｂに示すように信号
欠落部分で基準電圧Vref１以下となる。このと
き、上記トラツキングエラー信号TEは同図ｃに
示すように光ビームが正しくピツト列上をトレー
スしているにも拘らず信号欠落部分で大きく変化
することになるが、レベル比較回路２０から同図
ｄに示すように切換制御信号Ｓ２０が出力される
ので、減衰回路１５で減衰されてトラツキングア
クチユエータコイル１７に供給されることにな
る。したがつて、デイスクの傷部分再生時でも光
ビームのトラツクジヤンプを防止することができ
る。

［背景技術の問題点］ ところで、例えば上記CD方式のデイスクは、
第８図に示すように透明基材（ポリカーボネイ
ト）ａにレーザ光でピツト溝を形成し、その表面
に反射膜ｂを蒸着した後、保護膜ｃ、レーベルｄ
を重ねて形成されている。

しかしながら、上記のような従来の光学式デイ
スク再生装置のトラツクジヤンプ防止回路に用い
られる信号欠落検出回路は、第６図に示したCD
再生装置の場合、RF信号のエンベロープ信号Ｓ
１９が基準電圧Vref１レベル以下にならなけれ
ば動作しないものであるから、例えばデイスク製
造中に生じた透明基材ａと反射膜ｂとの蒸着面に
できた傷や歪み、ごみ等（以下蒸着面の傷と総称
する）があつてもこれを検出することができない
場合が多い。

つまり、この蒸着面の傷部分を再生してもRF
信号は第９図ａに示すように信号成分が全て欠落
してしまうようなことは少ない。このような場
合、そのエンベロープ信号Ｓ１９は同図ｂに示す
ように基準電圧Vref１以下にならない。ところ
が、光ビームが集光されるデイスクの反射膜ｂ、
すなわち蒸着面に傷があるとその反射光に与える
影響は大きく、信号成分を乱すためトラツキング
エラー信号TEは正しくトレースしているにも拘
らず同図ｃに示すように大きく変化してしまうこ
とになる。このとき、レベル比較回路２０は同図
ｄに示すように切換制御信号Ｓ２０を出力しない
ので、上記トラツキングエラー信号TEがそのま
まトラツキングアクチユエータコイル１８に導出
されてしまい、トラツクジヤンプを起こし易くな
る。

このようなことから、従来より信号欠落検出回
路を、デイスクの透明基材上の傷だけでなく、蒸
着面の傷をも検出できるようにすることが強く望
まれている。

［発明の目的］ この発明は上記のような事情を考慮してなされ
たもので、デイスクの透明基材上の傷だけでなく
蒸着面の傷をも検出できる光学式デイスク異常検
出装置を提供することを目的とし、さらにこの異
常検出回路を用いて確実にトラツクジヤンプを防
止することのできる光学式デイスク再生装置を提
供することを目的とする。

［発明の概要］ すなわち、この発明に係る光学式デイスク異常
検出装置は、光学式デイスクに対し、光学式ピツ
クアツプを用いて光ビームを照射しその反射光を
受光して光電変換を行なうことにより前記デイス
クに記録されている情報信号を読み出すもので、
前記光学式ピツクアツプの出力信号に基づいてト
ラツキングエラー信号を生成し該トラツキングエ
ラー信号に基づいて対物レンズを移動制御するこ
とにより前記光ビームが常にトラツクの中央に照
射されるようにしたトラツキングサーボを有する
光学式デイスク再生装置において、前記トラツキ
ングエラー信号を低域除去回路に入力して低域成
分を除去し、さらに比較回路で基準値と比較し、
その比較結果に基づいて光学式デイスクの異常を
検出し得るようにしたことを特徴とする。

また、この発明に係る光学式デイスク再生装置
は、第１の特徴とする光学式デイスク異常検出装
置の比較回路の比較結果に基づいて前記トラツキ
ングサーボの利得を制御することにより、トラツ
クジヤンプを防止するようにしたことを特徴とす
る。

［発明の実施例］ 以下、第１図乃至第３図を参照してこの発明の
一実施例を説明する。但し、第１図において第５
図と同一部分には同一部分を付して示し、ここで
は異なる部分についてのみ述べる。

第１図はCD再生装置にこの発明を適用した場
合の構成を示すもので、図中２１は光学式ピツク
アツプである。この光学式ピツクアツプ２１で検
出されるピツトの有無に対応した周波数信号
（RF信号）は増幅器２２で増幅された後、前記コ
ンデンサ１１、波形整形回路１２、EFM信号生
成回路１３を介すことによりEFMデジタル信号
に変換される。また、上記ピツクアツプ２１から
出力される周波数信号はトラツキングエラー信号
生成回路２３に供給され、前記トラツキングエラ
ー信号TEが生成される。このトラツキングエラ
ー信号TEは前記増幅器１４、減衰回路１５、位
相補償回路１６、アクチユエータ駆動回路１７を
介してトラツキングアクチユエータコイル１８に
供給され、前述したトラツキングサーボに供され
る。

上記ようなCD再生装置において、この発明に
係る光学式デイスク異常検出回路を用いたトラツ
クジヤンプ防止回路では、上記トラツキングエラ
ー信号TEを取出して減算器２４に（＋）入力端
に供給すると共に所定の時定数を有し、入力信号
から高域成分を除去して低域成分を得るスルーレ
ート制限回路２５に供給し、このスルーレート制
限回路２５の出力信号Ｓ２５を上記減算器２４の
（−）入力端に供給するようになされている。す
なわち、減算器２４からはトラツキングエラー信
号TEから低域成分を除去した信号が出力される。
この減算器２４の出力信号Ｓ２４は第１のレベル
比較回路２６で基準電圧±Vref２と比較される。
このレベル比較回路２６は入力信号Ｓ２４が基準
電圧±Vref２以上となるときＨレベル、±Vref２
以下のときＬレベルとなるパルス信号Ｓ２６を出
力するもので、このパルス信号Ｓ２６はトリガ信
号としてモノマルチバイブレータ２７に供給され
る。このモノマルチバイブレータ２７の出力信号
（第１の検出信号）Ｓ２７はオアゲート回路２８
の一方の入力端に供給される。また、上記波形整
形回路１２から出力されるRF信号は前述したよ
うにエンベロープ検波回路１９でエンベロープ検
波され、このエンベロープ信号Ｓ１９はレベル比
較回路（以下第２のレベル比較回路と称する）２
０に供給され、基準電圧Vref１と比較される。
この第２のレベル比較回路２０の出力（第２の検
出信号）Ｓ２０は上記オアゲート回路２８の他方
の入力端に供給される。このオアゲート回路２８
の出力信号Ｓ２８は前記減衰回路１５のアナログ
スイツチSWの制御入力端に供給される。

上記のような構成において、以下第２図及び第
３図を参照してその動作について説明する。

まず、再生デイスクの透明基材上に傷があると
すると、RF信号は傷部分再生時に第２図ａに示
すように信号成分が欠落し、これによつて上記エ
ンエロープ信号Ｓ１９が同図ｂに示すように基準
電圧Vref１以下となる。このため、上記第２の
レベル比較回路２０はデイスクに傷があることを
検出して同図ｃに示すような第２の検出信号Ｓ２
０を出力するようになる。このとき、トラツキン
グエラー信号TEは同図ｄに示すように大きな振
幅を発生しているが、上記第２の検出信号Ｓ２０
がオアゲート回路２８を介してアナログスイツチ
SWを駆動制御し、傷再生部分のトラツキングサ
ーボの利得を低減するので、減衰回路１５で減衰
されてアクチユエータコイル１９に導出されるこ
とになる。つまり、傷部分再生時にはトラツキン
グサーボの利得が下がり、トラツクジヤンプを起
こし難くなる。

尚、上記トラツキングエラー信号TEはスルー
レート制限回路２５にも供給されるが、このスル
ーレート制限回路２５は内部時定数により同図ｅ
に示すような信号Ｓ２５を出力するものであるか
ら、減算器２４で上記トラツキングエラー信号
TEからスルーレート制御回路２５の出力Ｓ２５
を減算すると、その減算信号Ｓ２４は同図ｆに示
すようになり、第１のレベル比較回路２６の基準
電圧±Vref２を越えない。このため、同図ｇ，
ｈに示すように、レベル比較回路２６の出力Ｓ２
６はＬ（ロー）レベルのままであるからモノマル
チバイブレータ２１から出力される第１の検出信
号Ｓ２７もＬレベルのままとなる。

次に、再生デイスクの蒸着面に傷がある場合、
RF信号は第３図ａに示すように振幅レベルに変
化が生じる。このため、上記エンベロープ信号Ｓ
１９は同図ｂに示すようになるが、基準電圧
Vref１以下とはならない。このため、第２レベ
ル比較回路２０の出力Ｓ２０は同図ｃに示すよう
にＬレベルを保つ。ところが、このようなに蒸着
面に生じている傷部分を再生すると、トラツキン
グエラー信号TEは同図ｄに示すように傷部分再
生時に大きく振幅変化しているが、スルーレート
制限回路２５の出力Ｓ２５は内部時定数により同
図ｅに示すように高域成分が除去されるので、減
算器２４でトラツキングエラー信号TEからスル
ーレート制限回路２５の出力Ｓ２５を減算する
と、その減算信号Ｓ２４は同図ｆに示すように高
域成分のみとなり、傷部分再生時には連続的に第
１のレベル比較回路２６の基準電圧±Vref２を
越えるようになる。このため、レベル比較回路２
６は同図ｇに示すように連続的にパルス信号Ｓ２
６を出力するので、このパルス信号Ｓ２６をトリ
ガ信号とするモノマルチバイブレータ２７から出
力される第１の検出信号Ｓ２７は同図ｈに示すよ
うに傷部分再生時にＨレベルとなり、ここで再生
デイスクの蒸着面に傷があることが検出される。
このため、オアゲート回路２８はモノマルチバイ
ブレータ２７の出力Ｓ２７を出力するので、やは
り傷部分再生時にはトラツキングサーボの利得が
下がり、トラツクジヤンプを起こし難くなる。

したがつて、CD再生装置に上記のような光学
式デイスク異常検出回路を用いてトラツクジヤン
プ防止回路を構成すれば、デイスクの透明基材上
の傷ばかりでなく蒸着面の傷も検出してトラツキ
ングサーボの利得を可変制御するので、確実にト
ラツクジヤンプを防止することができるようにな
り、安定したデイスク再生を行なうことができ
る。

尚、上記実施例では全ての信号をアナログ処理
しているが、第４図に示すように構成してデジタ
ル処理するようにしてもよい。すなわち、第４図
において前記エンベロープ検波回路１９の出力Ｓ
１９は、アナログコンパレータ２９、アツプダウ
ン（Ｕ／Ｄ）カウンタ３０及びデジタル・アナロ
グ（Ｄ／Ａ）変換器３１で構成される追従比較型
アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換部に入力さ
れ、その変換されたデジタルデータＤ１（TEに
対応）はデータ比較回路３２で第１図の基準電圧
Vref１に相当するスライスレベルデータＤ２と
比較される。このデータ比較回路４３はデータＤ
１がＤ２以下となるときＨレベルとなるパルス信
号（Ｓ２０に対応）を出力するもので、このパル
ス信号は前記オアゲート回路２８に供給される。
また、前記トラツキングエラー信号TEは上記
Ａ／Ｄ変換部の同様な構成によるＡ／Ｄ変換部３
３でデジタルデータＤ３に変換され、デジタルコ
ンパレータ３４とＵ／Ｄカウンタ３５で構成され
るスルーレート制限回路部に入力される。ここ
で、Ｕ／Ｄカウンタ３５を動作させるクロツクパ
ルスCP２（周波数f2）を上記Ａ／Ｄ変換部の基
準クロツクCP１（周波数f1、f1＜f2）に比較して
小さくすれば、スルーレート制限回路部の出力デ
ータＤ４（Ｓ２５に対応）はデータＤ３に追従し
なくなるので、結果的にスルーレート制限された
ことになる。上記データＤ３とＤ４をデジタル減
算器３６で減算し、この減算データＤ５をデータ
比較回路３７で第１図の基準電圧±Vref２に相
当するスライスレベルデータＤ６と比較し、この
スライスレベルを越えたときパルス信号（Ｓ２６
に対応）を発生する。このパルス信号は前記モノ
マルチバイブレータ２７を駆動する。したがつ
て、以上のような構成によれば、再生デイスクの
傷検出及びトラツキングサーボの利得の可変制御
をデジタル的に処理することができるものであ
る。

また、それぞれの実施例に用いられるものモノ
マルチバイブレータ２７は再トリガ型のものであ
り、レベル比較回路２６から出力される短いパル
ス列Ｓ２６を繋ぎ合わせ、傷部分再生期間を判断
するためのパルス信号Ｓ２７を発生させるための
ものであるから、第５図に示すように、第１及び
第２の反転器２７ａ，２７ｂと抵抗Ｒ３、ダイオ
ードＤ及びコンデンサＣよりなる時定数回路２７
ｃとで構成するようにしてもよい。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、デイス
クの透明基材上の傷だけでなく蒸着面の傷をも検
出できる光学式デイスク異常検出装置を提供する
ことができ、さらにこの異常検出回路を用いて確
実にトラツクジヤンプを防止することのできる光
学式デイスク再生装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光学式デイスク再生装
置のトラツクジヤンプ回路の一実施例を示すブロ
ツク回路構成図、第２図及び第３図はそれぞれ同
実施例の動作を説明するための各部出力波形図、
第４図はこの発明に係る他の実施例を示すブロツ
ク回路構成図、第５図は上記各実施例に用いられ
るモノマルチバイブレータの構成を示すブロツク
回路図、第６図は従来のトラツクジヤンプ回路の
構成を示すブロツク回路図、第７図は従来のトラ
ツクジヤンプ防止回路の動作を説明するための各
部出力波形図、第８図はCD方式のデイスクの構
成を示す断面図、第９図は従来のトラツクジヤン
プ防止回路の問題点を説明するための各部出力波
形図である。 １１……AC結合用コンデンサ、１２……波形
整形回路、１３……EFM信号生成回路、１４…
…増幅器、１５……減衰回路、１６……位相補償
回路、１７……アクチユエータ駆動回路、１８…
…トラツキングアクチユエータコイル、１９……
エンベロープ検波回路、２０……レベル比較回
路、２１……光学式ピツクアツプ、２２……増幅
器、２３……トラツキングエラー信号生成回路、
２４……減算器、２５……スルーレート制限回
路、２６……第１のレベル比較回路、２７……モ
ノマルチバイブレータ、２８……オアゲート回
路、２９……アナログコンパレータ、３０……
Ｕ／Ｄカウンタ、３１……Ｄ／Ａ変換器、３２…
…データ比較回路、３３……Ａ／Ｄ変換部、３４
……デジタルコンパレータ、３５……Ｕ／Ｄカウ
ンタ、３６……デジタル減算器、３７……データ
比較回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光学式デイスクに対し、光学式ピツクアツプ
   を用いて光ビームを照射しその反射光を受光して
   光電変換を行なうことにより前記デイスクに記録
   されている情報信号を読み出すもので、前記光学
   式ピツクアツプの出力信号に基づいてトラツキン
   グエラー信号を生成し該トラツキングエラー信号
   に基づいて対物レンズを移動制御することにより
   前記光ビームが常にトラツクの中央に照射される
   ようにしたトラツキングサーボを有する光学式デ
   イスク再生装置において、前記トラツキングエラ
   ー信号を入力し低域成分を除去する低域除去回路
   と、この低域除去回路の出力を入力して基準値と
   比較する比較回路とを具備し、この比較回路の比
   較結果に基づいて光学式デイスクの異常を検出し
   得るようにしたことを特徴とする光学式デイスク
   異常検出装置。 ２ 光学式デイスクに対し、光学式ピツクアツプ
   を用いて光ビームを照射しその反射光を受光し光
   電変換を行なうことにより前記デイスクに記録さ
   れている情報信号を読み出すもので、前記光学式
   ピツクアツプの出力信号に基づいてトラツキング
   エラー信号を生成し該トラツキングエラー信号に
   基づいて対物レンズを移動制御することにより前
   記光ビームが常にトラツクの中央に照射されるよ
   うにしたトラツキングサーボを有する光学式デイ
   スク再生装置において、前記トラツキングエラー
   信号を入力し低域成分を除去する低域除去回路
   と、この低域除去回路の出力を入力して基準値と
   比較する比較回路と、この比較回路の比較結果に
   基づいて前記トラツキングサーボの利得を制御す
   る利得制御手段とを具備することを特徴とする光
   学式デイスク再生装置。