JPH0547875U - Ｃｃｄ試験装置 - Google Patents

Ｃｃｄ試験装置

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JPH0547875U
JPH0547875U JP9662291U JP9662291U JPH0547875U JP H0547875 U JPH0547875 U JP H0547875U JP 9662291 U JP9662291 U JP 9662291U JP 9662291 U JP9662291 U JP 9662291U JP H0547875 U JPH0547875 U JP H0547875U
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output
waveform
ccd
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pixel
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JP9662291U
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Inventor
林　　正樹
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来のＮＴＳＣ及びＰＡＬ方式より高速なＨ
ＤＴＶ（高品位テレビ）用ＣＣＤ対応の試験装置を実現
させる。 【構成】 クランプ回路４において被試験ＣＣＤ１の各
画素に対応した出力波形内の黒レベル期間ｔ2 の波形が
基準レベルにクランプされる。クランプ回路４の出力は
第１トラッキングホールド回路６において各画素に対応
した映像信号がトラッキングホールドされる。同回路６
の出力には、各画素に対応した映像信号の立上りの傾斜
した波形の影響による波形の山が現れるので、この波形
の山を除去するために、第２トラッキングホールド回路
１１において、その波形の山に続いて現れる平坦な所定
期間のレベルをトラッキングホールドする。同回路１１
の出力は増幅器７で増幅され、Ａ／Ｄ変換器８でディジ
タル信号に変換され、画像処理ユニット９で画像処理さ
れてＣＣＤの合否が判定される。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は、イメージセンサなどに用いられるＣＣＤ（電荷結合素子）試験装 置に関し、特にＨＤＴＶ（高品位テレビ）等に用いられる高速度ＣＣＤに対応で きるように高速化したものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のＮＴＳＣ方式やＰＡＬ方式のテレビ、ビデオ等に用いられるＣＣＤの各 画素に対応した出力波形は、図４Ａに示すように、１画素の出力信号期間Ｔが７ ０〜１００nS（ｆ＝１／Ｔ＝１０〜１４ＭHz）で、その後半の期間ｔ3 ＝Ｔ／２ ＝３５〜５０nSが映像信号期間とされる。前半のｔ1 期間にある山はＣＣＤ特有 のもので、リセットノイズと言われる。次のｔ2 期間は２０nS程度またはそれ以 上あり、無レベル期間とされる。
【０００３】 リセットノイズの影響を受けて、ｔ2 期間の黒レベルは、ブランキング期間Ｔ Ｂの基準黒レベルＬb からＶn だけレベルが上方にずらされる。また、その黒レ ベルのずれによって、ｔ3 期間の映像信号も上方にずれ、ブランキング期間ＴＢ の基準黒レベルを基準とした映像信号の負方向の振幅がＶn だけ小さくなる。 ＣＣＤ１の出力信号（図４Ａ）は、図３に示すように、ＣＣＤ試験装置の入力 端子ＩＮに印加され、パッファ２及びスイッチ３を順次介してクランプ回路４に 入力される。クランプ回路４では、各画素に対応した出力信号の黒レベルの期間 ｔ2 にＬ（低）レベルとなるクロック信号ＣＫ1 （図４Ｃ）がクロック端子に印 加され、黒レベルが基準レベル、例えば共通電位にクランプされる（図４Ｂ）。
【０００４】 クランプ回路４の出力はスイッチ５を通してトラッキングホールド回路６に与 えられ、クロックＣＫ2 （図４Ｄ）に同期して、各画素の映像信号の負方向のほ ゞ最大振幅がサンプルホールドされる。このようにｔ2 期間の黒レベルを基準レ ベルにクランプすることによって、トラッキングホールド回路６では映像信号よ りリセット雑音の影響分（Ｖn ）を除いた真の信号成分をとらえることができる 。このようなサンプリング方式を相関二重サンプリング（ＣＤＳ； Correlated Double Sampling ）方式と呼んでいる。
【０００５】 このようにＣＣＤの各画素に対応した映像信号をサンプルホールドする理由は 、このまゝではＣＣＤ出力信号の占有周波数帯域の上限が極めて高く（基本波の 周波数は１０〜１４ＭHz）、増幅器で安定に増幅できないので、占有周波数を下 げるためである。 トラッキングホールド回路６の出力（図４Ｅ）は増幅器７で増幅されて、Ａ／ Ｄ変換器８に入力される。Ａ／Ｄ変換器８のディジタル出力が画像処理ユニット ９に供給される。画像処理ユニット９では、入力画像データより、映像信号出力 の振幅が規格外の画素を抽出するなどの画像処理を行って被試験ＣＣＤの良否を 判定する。
【０００６】 図３のスイッチ３，５の可動接点ａを固定接点ｂ側に切り換えれば、無レベル 期間をクランプしない場合の測定が行える。ＣＣＤの不良品の中には、その出力 波形が、ブランキング期間の黒レベルより時間と共に例えば負の方向にずれて、 サグの存在する波形となるものがあり、そのサグがクランプ回路の働きにより修 正されて、良品と誤判定される恐れがあるので、スイッチ３，５を設けてクラン プをオフできるようにしている。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】
最近ＨＤＴＶ（高品位テレビ）の開発が進み、それに用いるＣＣＤに対応でき る試験装置が必要になってきた。ＨＤＴＶ用ＣＣＤでは、出力信号の基本波の周 波数は３7.５ＭHzと高速化され、その周期、つまり各画素に対応した出力信号の 周期Ｔは２７nS（従来は７０〜１００nS）と短くなっている。図２Ａに示すよう に、黒レベルの期間ｔ2 は５nS程度であり、映像信号期間ｔ3 における映像信号 のやゝ安定した（やゝ平坦な）期間ｔ4 も５nS程度である。そのため、従来の図 ３の装置を用いたとすれば、クランプ回路４のクロックＫ1 及びトラッキングホ ールド回路６のクロックＫ2 の幅は５nS程度にする必要がある。
【０００８】 しかしながら、現在入手できる市販のトラッキングホールド回路は５nSでは動 作できず、最高速のものでも１５nS以上必要とする（図２Ｄ）。そのため、トラ ッキングホールド回路６の出力には図２Ｅに示すように、各画素に対応した出力 信号の黒レベルの後端より映像信号の前端の傾斜した波形に対応した山の波形が 現れる。その出力信号の基本波の周波数はＣＣＤ出力と同じく、ｆ＝３7.５ＭHz で、占有周波数帯域の上限が高いので増幅器７で安定に増幅することができない 。
【０００９】 このように従来のＣＣＤ試験装置では、主にトラッキングホールド回路６が高 速動作できないために、ＨＤＴＶ用のＣＣＤを試験することができなかった。こ の考案の目的は、従来の難点を解決して、ＨＤＴＶ用ＣＣＤ対応の試験装置を提 供しようとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
この考案のＣＣＤ試験装置には、被試験ＣＣＤの各画素に対応した出力波形内 の黒レベル期間の波形を基準レベルにクランプするクランプ回路と、そのクラン プ回路の各画素に対応した出力波形内の映像信号をトラッキングホールドする第 １トラッキングホールド回路と、その第１トラッキングホールド回路の各画素に 対応した出力波形内の平坦な所定期間のレベルをトラッキングホールドする第２ トラッキングホールド回路と、その第２トラッキングホールド回路の出力を増幅 する増幅器と、その増幅器の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、そのＡ／Ｄ 変換器の出力を画像処理する画像処理ユニットとが設けられる。
【００１１】
【実施例】
この考案の実施例を図１及び図２に、図３，図４と対応する部分に同じ符号を 付し、重複説明を省略する。この考案では、従来のトラッキングホールド回路６ と増幅器７との間に第２のトラッキングホールド回路１１が挿入される。トラッ キングホールド回路６及び１１として、市販の最高速のものが用いられ、それら のクロックＣＫ2 ，ＣＫ3 の幅はほゞ１５nSに設定される（図２Ｃ，Ｄ）。既に 述べたように、トラッキングホールド回路６のみでは、その出力に図２Ｅに示す ように、各画素の出力信号の黒レベルの期間ｔ2 の後端より映像信号の初期の傾 斜した波形に対応した山の波形が現れるので、これらを除去するためにトラッキ ングホールド回路１１のクロックＣＫ3 は、クロックＣＫ2 を遅延回路１２でτ ≒１２nS程度遅らせて、図２Ｆに示すように、負極性の期間が山と山との間の平 坦期間にあるようにされる。トラッキングホールド回路１１の出力には図２Ｇに 示すように、波形の山が除去されて、比較的低い周波数帯域の信号が得られ、従 来の増幅器７で安定に増幅された後、Ａ／Ｄ変換され、画像処理ユニットでＣＣ Ｄの合否が判定される。
【００１２】 なお、図１の例ではスイッチ３，５の各接点を結んだ経路に、バッファ１３を 挿入しているが、省略してもよい。
【００１３】
【考案の効果】
この考案によれば、ＮＴＳＣやＰＡＬ方式のテレビやビデオ等に使用するＣＣ Ｄを試験するために開発された市販の最高速なトラッキングホールド回路６及び １１を縦続に接続し、前者に与える高速クロック（時間幅は１５ｎＳ程度）を多 少遅延させて、後者に印加して、実効的にトラッキングホールド回路の超高速化 を実現している。これにより従来困難とされていたＨＤＴＶ用ＣＣＤ（ＮＴＳＣ 及びＰＡＬ方式より高速に動作する）対応試験装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案の実施例を示すブロック図。
【図２】図１の要部の波形図。
【図３】従来のＣＣＤ試験装置のブロック図。
【図４】図３の要部の波形図。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被試験ＣＣＤの各画素に対応した出力波
    形内の黒レベル期間の波形を基準レベルにクランプする
    クランプ回路と、 そのクランプ回路の各画素に対応した出力波形内の映像
    信号をトラッキングホールドする第１トラッキングホー
    ルド回路と、 その第１トラッキングホールド回路の各画素に対応した
    出力波形内の平坦な所定期間のレベルをトラッキングホ
    ールドする第２トラッキングホールド回路と、 その第２トラッキングホールド回路の出力を増幅する増
    幅器と、 その増幅器の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、 そのＡ／Ｄ変換器の出力を画像処理する画像処理ユニッ
    トとを具備する、 ＣＣＤ試験装置。
JP9662291U 1991-11-26 1991-11-26 Ｃｃｄ試験装置 Pending JPH0547875U (ja)

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JP9662291U JPH0547875U (ja) 1991-11-26 1991-11-26 Ｃｃｄ試験装置

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JPH0547875U true JPH0547875U (ja) 1993-06-25

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ID=14169945

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8220485B2 (en) 2005-05-31 2012-07-17 Fisher Controls International Llc Pneumatic pilot valve

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5744867A (en) * 1980-08-29 1982-03-13 Toshiba Corp Measuring device for charge coupled element
JPS6437180A (en) * 1987-08-01 1989-02-07 Sharp Kk Digital image signal processing circuit

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A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980303