JPH0545300A - 欠陥箇所表示処理方法 - Google Patents
欠陥箇所表示処理方法Info
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- JPH0545300A JPH0545300A JP3204529A JP20452991A JPH0545300A JP H0545300 A JPH0545300 A JP H0545300A JP 3204529 A JP3204529 A JP 3204529A JP 20452991 A JP20452991 A JP 20452991A JP H0545300 A JPH0545300 A JP H0545300A
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- defective
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、欠陥箇所を示すデータの格納を効
率的に行えるとともに、画像上に欠陥位置を表示して、
製品の目視による欠陥箇所の確認作業を容易に行えるよ
うにすることを目的としている。 【構成】 画像を複数の小区画に分割し、区画毎に欠陥
が存在するかどうかの情報を０または１によるビットマ
ップにより表し、モニターの画像上に欠陥位置として、
小区画を表示し、各製品の欠陥箇所情報として、ビット
マップデータを保存するよう構成する。
率的に行えるとともに、画像上に欠陥位置を表示して、
製品の目視による欠陥箇所の確認作業を容易に行えるよ
うにすることを目的としている。 【構成】 画像を複数の小区画に分割し、区画毎に欠陥
が存在するかどうかの情報を０または１によるビットマ
ップにより表し、モニターの画像上に欠陥位置として、
小区画を表示し、各製品の欠陥箇所情報として、ビット
マップデータを保存するよう構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像処理により工業製
品の欠陥箇所を自動的に検出・表示するための技術に関
し、特に、高速に欠陥箇所を表示できるようにした欠陥
箇所表示処理方法に関する。
品の欠陥箇所を自動的に検出・表示するための技術に関
し、特に、高速に欠陥箇所を表示できるようにした欠陥
箇所表示処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、画像処理により欠陥検出を行う
場合、図５に示すように、モニター画面上に検査結果表
示画像２が表示され、その画面上に欠陥箇所が画素毎
に、点あるいは欠陥箇所を囲む円などで欠陥１として表
示される。
場合、図５に示すように、モニター画面上に検査結果表
示画像２が表示され、その画面上に欠陥箇所が画素毎
に、点あるいは欠陥箇所を囲む円などで欠陥１として表
示される。
【０００３】例えば図５のように、座標(x1,y1),(x2,y
2),(x3,y3),(x4,y4),(x5,y5) の５箇所に欠陥１が生じ
ている場合、モニター上に欠陥の位置が表示される。通
常、モニターに表示された欠陥箇所について、目視によ
り、実際の製品の対応箇所をチェックすることで、欠陥
の発生状況が確認される。
2),(x3,y3),(x4,y4),(x5,y5) の５箇所に欠陥１が生じ
ている場合、モニター上に欠陥の位置が表示される。通
常、モニターに表示された欠陥箇所について、目視によ
り、実際の製品の対応箇所をチェックすることで、欠陥
の発生状況が確認される。
【０００４】図６は検査のシステム例を示す。印刷物３
がカメラ４で撮影され、画像信号５が検査処理部６に送
られる。検査処理部６で判定された結果に基づき、欠陥
箇所などの結果データ７がオペレータ８の監視する監視
システム９のモニター１０画面に表示される。欠陥位置
表示用のデータとしては、欠陥座標データが監視システ
ムに転送される。
がカメラ４で撮影され、画像信号５が検査処理部６に送
られる。検査処理部６で判定された結果に基づき、欠陥
箇所などの結果データ７がオペレータ８の監視する監視
システム９のモニター１０画面に表示される。欠陥位置
表示用のデータとしては、欠陥座標データが監視システ
ムに転送される。
【０００５】なお、各製品の欠陥箇所の座標データはフ
ァイルに格納され、例えば、検査終了後、全製品の欠陥
発生状況の集計用として使用される。
ァイルに格納され、例えば、検査終了後、全製品の欠陥
発生状況の集計用として使用される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
欠陥箇所表示処理方法では、画素毎に欠陥箇所を示すデ
ータが転送されるので、欠陥の範囲が広大になると、検
査処理部から監視システムへ転送されるデータが膨大と
なり、多大な転送時間を要する問題がある。処理時間の
制約により、時間内に転送可能なデータだけ転送する
と、全画面の欠陥箇所を監視することができなくなると
いう問題もある。
欠陥箇所表示処理方法では、画素毎に欠陥箇所を示すデ
ータが転送されるので、欠陥の範囲が広大になると、検
査処理部から監視システムへ転送されるデータが膨大と
なり、多大な転送時間を要する問題がある。処理時間の
制約により、時間内に転送可能なデータだけ転送する
と、全画面の欠陥箇所を監視することができなくなると
いう問題もある。
【０００７】また、座標値による欠陥箇所の指定では、
検査対象毎に欠陥の個数が異なるため、保存するための
メモリ量が異なり、保存用データの構成が煩雑であると
いう問題がある。
検査対象毎に欠陥の個数が異なるため、保存するための
メモリ量が異なり、保存用データの構成が煩雑であると
いう問題がある。
【０００８】また、通常、検査対象の画像データは、微
小な欠陥を検出できるように高解像度の画像となってい
るので、サイズは通常、数百×数百画素であり、欠陥位
置を示すために画像データを保存するのはメモリ容量の
点で問題がある。
小な欠陥を検出できるように高解像度の画像となってい
るので、サイズは通常、数百×数百画素であり、欠陥位
置を示すために画像データを保存するのはメモリ容量の
点で問題がある。
【０００９】さらに、モニター画面の結果に従い、オペ
レータが欠陥箇所を目視により確認する場合、画素毎の
表示では微細な欠陥に気付きにくいという問題がある。
画素毎の欠陥表示を分かりやすくするために、画素を印
などで囲んで表示することもできるが、この場合は、欠
陥の個数が多量になると、表示画面が見にくくなるとい
う問題がある。
レータが欠陥箇所を目視により確認する場合、画素毎の
表示では微細な欠陥に気付きにくいという問題がある。
画素毎の欠陥表示を分かりやすくするために、画素を印
などで囲んで表示することもできるが、この場合は、欠
陥の個数が多量になると、表示画面が見にくくなるとい
う問題がある。
【００１０】本発明は、これらの問題点の解消を図ろう
とするもので、欠陥箇所を示すデータの格納を効率的に
行えるとともに、画像上に欠陥位置を表示して、製品の
目視による欠陥箇所の確認作業が容易に行えるようにす
ることを目的とする。
とするもので、欠陥箇所を示すデータの格納を効率的に
行えるとともに、画像上に欠陥位置を表示して、製品の
目視による欠陥箇所の確認作業が容易に行えるようにす
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】このため、本発明におい
ては、画像を複数の小区画に分割し、区画毎に欠陥が存
在するかどうかの情報を０または１によるビットマップ
により表し、モニターの画像上に欠陥位置として、小区
画を表示し、各製品の欠陥箇所情報として、ビットマッ
プデータを保存するようにしている。
ては、画像を複数の小区画に分割し、区画毎に欠陥が存
在するかどうかの情報を０または１によるビットマップ
により表し、モニターの画像上に欠陥位置として、小区
画を表示し、各製品の欠陥箇所情報として、ビットマッ
プデータを保存するようにしている。
【００１２】
【作用】本発明によれば、検査画像の小区画内の欠陥の
有無を示すビットマップデータによって、全画面の欠陥
位置を示すことにより、少ないデータ量で有効に欠陥箇
所を示すことができる。また、データの保存やモニター
画面上への欠陥箇所表示が有効に行える。
有無を示すビットマップデータによって、全画面の欠陥
位置を示すことにより、少ないデータ量で有効に欠陥箇
所を示すことができる。また、データの保存やモニター
画面上への欠陥箇所表示が有効に行える。
【００１３】
【実施例】図面により、本発明の一実施例としての欠陥
箇所表示処理方法について説明する。図１に示すよう
に、検査画像１１の画像面を小区画１２に分割する。例
えば、６×６の合計３６個の小区画に分割される。そし
て、各小区画に対して１bitを割り当てた合計３６bit
のデータ領域を用意する。ここで、検査の結果、検査画
像の図１（ａ）に示すようにＡからＥまでの５つの欠陥
が観測されたとする。この場合、欠陥Ａに対してビット
ａが１に設定され、欠陥Ｂに対してビットｂが、欠陥Ｃ
に対してビットｃが、そして、欠陥Ｄと欠陥Ｅに対して
ビットｄが各々１に設定される。他のビットは全て０の
ままとなっている。図１（ｂ）はビットマップを表して
いる。
箇所表示処理方法について説明する。図１に示すよう
に、検査画像１１の画像面を小区画１２に分割する。例
えば、６×６の合計３６個の小区画に分割される。そし
て、各小区画に対して１bitを割り当てた合計３６bit
のデータ領域を用意する。ここで、検査の結果、検査画
像の図１（ａ）に示すようにＡからＥまでの５つの欠陥
が観測されたとする。この場合、欠陥Ａに対してビット
ａが１に設定され、欠陥Ｂに対してビットｂが、欠陥Ｃ
に対してビットｃが、そして、欠陥Ｄと欠陥Ｅに対して
ビットｄが各々１に設定される。他のビットは全て０の
ままとなっている。図１（ｂ）はビットマップを表して
いる。
【００１４】このように、一つの小区画１２に対して、
１bit を割り当て、小区画内に欠陥が存在すれば１、存
在しなければ０を出力するビットマップＭとして、欠陥
の位置を示す。
１bit を割り当て、小区画内に欠陥が存在すれば１、存
在しなければ０を出力するビットマップＭとして、欠陥
の位置を示す。
【００１５】図６に示すような、検査処理部６から監視
システム９への結果データとしては、この場合、ビット
マップデータを並べた３６bit のデータ(000000 001010
000000 000000 000010 100000) が転送される。
システム９への結果データとしては、この場合、ビット
マップデータを並べた３６bit のデータ(000000 001010
000000 000000 000010 100000) が転送される。
【００１６】モニター画面での欠陥箇所の表示は次の通
り行われる。図１（ｃ）に示すように、モニター画面の
検査結果表示画像２は、前述の小区画１２に分割されて
いる。検査結果データとしてビットマップＭデータが転
送されると、値１に設定されたビットに対応するモニタ
ー画面上の小区画に斜線を施すことによって、欠陥箇所
１３を表示する。
り行われる。図１（ｃ）に示すように、モニター画面の
検査結果表示画像２は、前述の小区画１２に分割されて
いる。検査結果データとしてビットマップＭデータが転
送されると、値１に設定されたビットに対応するモニタ
ー画面上の小区画に斜線を施すことによって、欠陥箇所
１３を表示する。
【００１７】なお、モニター画面には、小区画のみを表
示するのではなく、予めカメラ入力しておいた基準画像
を表示しておき、小区画をこれに重ねて表示することに
より、欠陥箇所が表示された場合、その対応箇所を実際
の製品で目視確認することが容易に行われるようにな
る。
示するのではなく、予めカメラ入力しておいた基準画像
を表示しておき、小区画をこれに重ねて表示することに
より、欠陥箇所が表示された場合、その対応箇所を実際
の製品で目視確認することが容易に行われるようにな
る。
【００１８】また、小区画は６×６の個数に限らず、任
意の個数の設定が可能である。さらに、１つの小区画に
対して１bit を割り当てる方法のみならず、数bit を割
り当てるようにしてもよい。
意の個数の設定が可能である。さらに、１つの小区画に
対して１bit を割り当てる方法のみならず、数bit を割
り当てるようにしてもよい。
【００１９】小区画に区分けする場合、図１に示したよ
うに、全画像を格子状に分割する方法に限らず、各小区
画の位置やサイズをテーブルによって指定するようにし
てもよい。例えば図２（ａ）に示すように、画像データ
１４の印刷面１５の絵柄を覆うように小区画１２を設定
する場合には、各小区画の位置とサイズを、図２（ｂ）
に示す小区画始点アドレスとサイズとのテーブル１６に
書き込んでおけばよい。ビットマップデータとしては、
小区画の個数分のbit を有するデータを用意しておく。
うに、全画像を格子状に分割する方法に限らず、各小区
画の位置やサイズをテーブルによって指定するようにし
てもよい。例えば図２（ａ）に示すように、画像データ
１４の印刷面１５の絵柄を覆うように小区画１２を設定
する場合には、各小区画の位置とサイズを、図２（ｂ）
に示す小区画始点アドレスとサイズとのテーブル１６に
書き込んでおけばよい。ビットマップデータとしては、
小区画の個数分のbit を有するデータを用意しておく。
【００２０】検査処理における判定は小区画毎に行わ
れ、判定の結果、欠陥が存在する場合は、対応するビッ
トマップデータのビットを１に設定する。欠陥箇所を示
すデータとしては、前述と同様に、ビットマップデータ
が監視システムに転送される。
れ、判定の結果、欠陥が存在する場合は、対応するビッ
トマップデータのビットを１に設定する。欠陥箇所を示
すデータとしては、前述と同様に、ビットマップデータ
が監視システムに転送される。
【００２１】各小区画の位置やサイズの設定は任意であ
り、例えば、図３（ａ）に示すように、検査画像１１の
場所に応じて大きさを変えたり、隣接する小区画１２と
小区画の領域が重なり合うようにしてもよい。図３
（ａ）の３６個の小区画は、図２（ｂ）に示す表によっ
て、始点とサイズが予め設定されている。検査判定処理
は小区画毎に出力される。さて、検査の結果、図３
（ａ）も４，１８，３４の小区画１２に欠陥１が認めら
れた場合、図３（ｂ）に示すように、予め、小区画に番
号を振っておき、番号順にビットによる欠陥有無表示デ
ータ（ビットマップデータ）を出力するようにすればよ
い。この例では、３６個のデータ(000100 000000000001
000000 000000 000100) が出力される。モニター画面
上に欠陥位置を表示する場合は、前述と同様に、予め基
準画像データをモニターに表示し、これに重ね合わせ
て、図３（ａ）の小区画領域を表示しておき、ビットマ
ップデータをもとに、欠陥の存在する小区画に斜線を施
したり、色を付けることによって、画像上の場所を示す
ようにすればよい。この方法によれば、検査の要求に応
じて、区画を細かくしたり粗くしたりできる。
り、例えば、図３（ａ）に示すように、検査画像１１の
場所に応じて大きさを変えたり、隣接する小区画１２と
小区画の領域が重なり合うようにしてもよい。図３
（ａ）の３６個の小区画は、図２（ｂ）に示す表によっ
て、始点とサイズが予め設定されている。検査判定処理
は小区画毎に出力される。さて、検査の結果、図３
（ａ）も４，１８，３４の小区画１２に欠陥１が認めら
れた場合、図３（ｂ）に示すように、予め、小区画に番
号を振っておき、番号順にビットによる欠陥有無表示デ
ータ（ビットマップデータ）を出力するようにすればよ
い。この例では、３６個のデータ(000100 000000000001
000000 000000 000100) が出力される。モニター画面
上に欠陥位置を表示する場合は、前述と同様に、予め基
準画像データをモニターに表示し、これに重ね合わせ
て、図３（ａ）の小区画領域を表示しておき、ビットマ
ップデータをもとに、欠陥の存在する小区画に斜線を施
したり、色を付けることによって、画像上の場所を示す
ようにすればよい。この方法によれば、検査の要求に応
じて、区画を細かくしたり粗くしたりできる。
【００２２】なお、目視で欠陥箇所を確認する場合、全
画像中で、欠陥の存在する局所的領域が示されれば、目
視で実際の位置を確認する作業は容易に行われる。複数
のビットマップの結果に対して、bit 演算処理を施すよ
うにしてもよい。例えば、図４（ａ）に示すように、４
×４の小区画１２に分割した検査結果表示画像２中に、
ピンホール欠陥１−ａと薄汚れ欠陥１−ｂとの２種類の
欠陥が生じている。判定条件としては、予め、ピンホー
ル欠陥検出用の判定条件と、薄汚れ欠陥検出用の判定条
件の２種類が用意されているものとする。例えば、ピン
ホール欠陥の発生箇所表示用に、図４（ｂ）に示すビッ
トマップが作成され、薄汚れ欠陥の発生箇所表示用に、
図４（ｃ）に示すビットマップが作成される。双方のビ
ットマップに対してＡＮＤをとることにより、図４
（ｄ）に示す、総合の欠陥箇所表示用のビットマップが
作成される。
画像中で、欠陥の存在する局所的領域が示されれば、目
視で実際の位置を確認する作業は容易に行われる。複数
のビットマップの結果に対して、bit 演算処理を施すよ
うにしてもよい。例えば、図４（ａ）に示すように、４
×４の小区画１２に分割した検査結果表示画像２中に、
ピンホール欠陥１−ａと薄汚れ欠陥１−ｂとの２種類の
欠陥が生じている。判定条件としては、予め、ピンホー
ル欠陥検出用の判定条件と、薄汚れ欠陥検出用の判定条
件の２種類が用意されているものとする。例えば、ピン
ホール欠陥の発生箇所表示用に、図４（ｂ）に示すビッ
トマップが作成され、薄汚れ欠陥の発生箇所表示用に、
図４（ｃ）に示すビットマップが作成される。双方のビ
ットマップに対してＡＮＤをとることにより、図４
（ｄ）に示す、総合の欠陥箇所表示用のビットマップが
作成される。
【００２３】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明によれ
ば、画像処理による自動製品外観検査の結果出力および
保存のための処理に有用であり、高解像画像上に生じた
欠陥の位置を、少ないデータ量でまた目視による位置確
認を行う上で有効に表示することができる。
ば、画像処理による自動製品外観検査の結果出力および
保存のための処理に有用であり、高解像画像上に生じた
欠陥の位置を、少ないデータ量でまた目視による位置確
認を行う上で有効に表示することができる。
【図１】欠陥箇所をビットマップにより表示する本発明
による方法を説明する図である。
による方法を説明する図である。
【図２】小区画の位置をテーブルを用いて指定する方法
について説明する図である。
について説明する図である。
【図３】任意形状の小区画に番号付けをし、小区画番号
の順に欠陥箇所を示すデータを出力する方法について説
明する図である。
の順に欠陥箇所を示すデータを出力する方法について説
明する図である。
【図４】複数のビットマップに対するビット演算処理に
ついて説明する図である。
ついて説明する図である。
【図５】検査結果表示画像に生ずる欠陥の示す図であ
る。
る。
【図６】製品検査システムの一例を示す図である。
１ 欠陥 １−ａ ピンホール欠陥 １−ｂ 薄汚れ欠陥 ２ 検査結果表示画像 ３ 印刷物 ４ カメラ ５ 画像信号 ６ 検査処理部 ７ 結果データ ８ オペレータ ９ 監視システム １０ モニター １１ 検査画像 １２ 小区画 １３ 欠陥箇所 １４ 画像データ １５ 印刷面 １６ テーブル
Claims (1)
- 【請求項１】 送信側で、検査結果表示画像を小区画に
分割し、各小区画に対して用意された、小区画内の欠陥
の有無を示すデータによって構成されるビットマップデ
ータにより、全画面の欠陥位置を示して転送するよう構
成すると共に、 受信側で、当該ビットマップデータをもとに、画像上の
欠陥位置を小区画の位置として表示し、かつ画像の欠陥
位置を示すデータとしてビットマップデータをファイル
保存するようにしたことを特徴とする欠陥箇所表示処理
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204529A JP3025065B2 (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 欠陥箇所表示処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204529A JP3025065B2 (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 欠陥箇所表示処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545300A true JPH0545300A (ja) | 1993-02-23 |
| JP3025065B2 JP3025065B2 (ja) | 2000-03-27 |
Family
ID=16492051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3204529A Expired - Lifetime JP3025065B2 (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 欠陥箇所表示処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3025065B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001041068A1 (fr) * | 1999-11-29 | 2001-06-07 | Olympus Optical Co., Ltd. | Systeme de detection de defaut |
| JP2002277412A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-25 | Olympus Optical Co Ltd | 検査画面の表示方法及び基板検査システム |
| US6629051B2 (en) | 1999-11-25 | 2003-09-30 | Olympus Optical Co., Ltd. | Defect inspection data processing system |
| US6644577B2 (en) | 2001-08-16 | 2003-11-11 | Komatsu, Ltd. | Jaw crusher |
| JP2007178129A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-12 | Digital Electronics Corp | 目視検査支援装置、目視検査支援プログラムおよびそのプログラムを記録した記録媒体 |
| JP2011112383A (ja) * | 2009-11-24 | 2011-06-09 | Kajima Corp | 電気機器の検査装置 |
| JP2013007714A (ja) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 表面検査装置及び表面検査方法 |
| JP2015187579A (ja) * | 2014-03-27 | 2015-10-29 | 富士機械製造株式会社 | 不良製品の目視検査を実施する作業者を支援する装置 |
-
1991
- 1991-08-15 JP JP3204529A patent/JP3025065B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
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| JP4668059B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2011-04-13 | 株式会社デジタル | 目視検査支援装置、目視検査支援プログラムおよびそのプログラムを記録した記録媒体 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3025065B2 (ja) | 2000-03-27 |
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