JPH0542141B2 - - Google Patents
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- JPH0542141B2 JPH0542141B2 JP62320755A JP32075587A JPH0542141B2 JP H0542141 B2 JPH0542141 B2 JP H0542141B2 JP 62320755 A JP62320755 A JP 62320755A JP 32075587 A JP32075587 A JP 32075587A JP H0542141 B2 JPH0542141 B2 JP H0542141B2
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
〈産業上の利用分野〉
本発明は高水素希釈法を用いた非晶質半導体太
陽電池の製造方法に関するものである。 〈従来の技術〉 従来より、pin構造を有する非晶質半導体太陽
電池の光電変換に対する高効率化が各種の方法で
試みられてきているが、その1つとして、pin構
造におけるp層よi層との間にp/i界面層を形
成することによつて太陽電池の変換効率特に開放
電圧の上昇することが知られている。p/i界面
層に適用する非晶質半導体材料が満たすべき要件
としては次の2点があげられる。 (1) i層よりも光学的バンドギヤツプが広いこ
と。 (2) 光電流を取り出すに充分な光導電率を持つこ
と。 上記第1項の要件は、光学的バンドギヤツプを
p層側よりi層側へ減少させて素子内部電界を設
け、光照射により発生したキヤリアをこの電界に
よりi層側へ押し出すためである。また上記第2
項の要件は発生したキヤリア(電子及び正孔)が
p/i界面層中で再結合することなく、外部に電
流として取り出されるために必要である。 従来、かかる要件を満たすp/i界面層材料と
して非晶質シリコンカーボンが用いられてきた。
これは、シリコン(Si)の原料としてシラン系の
ガスを、またカーボン(C)の原料としてハイド
ロカーボンガスを用い、これら原料ガスを高周波
グロー放電法によつて分解することによつて形成
される。最近広い光学バンドギヤツプを有しかつ
高い光導電率を有する高品質の非晶質シリコンカ
ーボン膜を形成する方法として、原料ガスを高倍
率の水素で希釈する方法(以下高水素希釈法と記
す)が知られるようになつた。 〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、i層上又はp層上に高品質の非
晶質シリコンカーボンから成るp/i界面層を高
水素希釈法によつて形成したところ、太陽電池特
性としては曲線因子が低下し、予測した変換効率
の改善は認められなかつた。これはp/i界面層
形成時に水素の分解によつて発生した水素原子及
び水素イオンが下地のi層あるいはp層にダメー
ジを与えていることが原因であると考えられる。 〈発明の背景〉 上記ダメージは放電プラズマの発光分光分析に
より観測される水素原子の発光種(H*)の発光
強度と堆積速度との比(単位時間に膜表面に到着
する水素原子や水素イオンと膜として堆積する原
子との比に相当)に相関があることを発明者は見
い出した。これを第4図に示す。図より明らかな
如く、従来、堆積速度を速めるために採用してい
た高周波電力密度0.1w/cm2以上の領域では、(H*
の発光強度)/(堆積速度)は急速に増加してい
る。また、これに対応して曲線因子も低下するこ
とが確かめられた。 一方、高周波電力密度を0.1w/cm2以下とする
ことは、従来堆積速度が極度に遅くなるため、工
業的見地からは現実的でない。また、ダメージを
減らすため希釈する水素の倍率を減らすことも考
えられるが、この方法では非晶質シリコンカーボ
ン膜の光導電率は急速に低下し、その結果太陽電
池の変換効率も低下する。以上の如く、p/i界
面層として有効な非晶質シリコンカーボン膜の形
成方法の確立が効率向上にとつて大きな課題とな
つていた。 〈問題点を解決するための手段〉 本発明はp/i界面層を有するpin構造非晶質
半導体太陽電池の変換効率をさらに向上させる製
造方法を提供することを目的とし、グロー放電の
際の高周波電力密度を極端に小さくする一方で堆
積速度を落さずにpin構造非晶質半導体太陽電池
を作製することを特徴とする。即ち、上記本発明
目的はp/i界面層の形成に際しグロー放電の高
周波電力密度を0.1w/cm2以下に抑える一方で、
原料ガス及び希釈水素ガスの流量を大流量とし、
堆積速度を1Å/sec以上に設定して成膜するこ
とによつて達成される。 〈実施例〉 以下第1図に示す構造を有する太陽電池を例に
とつて、本発明の1実施例を説明する。第1図の
構造は、金属基板1の上にPH3とSiH4との混合
ガスをグロー放電分解してn型非晶質シリコン
(a−Si)層2を堆積し次いでSiH4又はこれに微
量のB2H6を混合したガスでi型a−Si層3を堆
積し、次に、SiH4,CH4及びH2の混合ガスによ
り非晶質シリコンカーボン膜のp/i界面層4を
堆積する。さらにB2H6,SiH4,CH4及びH2の混
合ガスによりp型a−Si層5を堆積し、最後に透
明導電膜6及び櫛型A電極7を形成することに
より得られる。このp/i界面層4作製時の原料
ガス流量と堆積速度の違いによる曲線因子と変換
効率の違いを第1表に示す。
陽電池の製造方法に関するものである。 〈従来の技術〉 従来より、pin構造を有する非晶質半導体太陽
電池の光電変換に対する高効率化が各種の方法で
試みられてきているが、その1つとして、pin構
造におけるp層よi層との間にp/i界面層を形
成することによつて太陽電池の変換効率特に開放
電圧の上昇することが知られている。p/i界面
層に適用する非晶質半導体材料が満たすべき要件
としては次の2点があげられる。 (1) i層よりも光学的バンドギヤツプが広いこ
と。 (2) 光電流を取り出すに充分な光導電率を持つこ
と。 上記第1項の要件は、光学的バンドギヤツプを
p層側よりi層側へ減少させて素子内部電界を設
け、光照射により発生したキヤリアをこの電界に
よりi層側へ押し出すためである。また上記第2
項の要件は発生したキヤリア(電子及び正孔)が
p/i界面層中で再結合することなく、外部に電
流として取り出されるために必要である。 従来、かかる要件を満たすp/i界面層材料と
して非晶質シリコンカーボンが用いられてきた。
これは、シリコン(Si)の原料としてシラン系の
ガスを、またカーボン(C)の原料としてハイド
ロカーボンガスを用い、これら原料ガスを高周波
グロー放電法によつて分解することによつて形成
される。最近広い光学バンドギヤツプを有しかつ
高い光導電率を有する高品質の非晶質シリコンカ
ーボン膜を形成する方法として、原料ガスを高倍
率の水素で希釈する方法(以下高水素希釈法と記
す)が知られるようになつた。 〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、i層上又はp層上に高品質の非
晶質シリコンカーボンから成るp/i界面層を高
水素希釈法によつて形成したところ、太陽電池特
性としては曲線因子が低下し、予測した変換効率
の改善は認められなかつた。これはp/i界面層
形成時に水素の分解によつて発生した水素原子及
び水素イオンが下地のi層あるいはp層にダメー
ジを与えていることが原因であると考えられる。 〈発明の背景〉 上記ダメージは放電プラズマの発光分光分析に
より観測される水素原子の発光種(H*)の発光
強度と堆積速度との比(単位時間に膜表面に到着
する水素原子や水素イオンと膜として堆積する原
子との比に相当)に相関があることを発明者は見
い出した。これを第4図に示す。図より明らかな
如く、従来、堆積速度を速めるために採用してい
た高周波電力密度0.1w/cm2以上の領域では、(H*
の発光強度)/(堆積速度)は急速に増加してい
る。また、これに対応して曲線因子も低下するこ
とが確かめられた。 一方、高周波電力密度を0.1w/cm2以下とする
ことは、従来堆積速度が極度に遅くなるため、工
業的見地からは現実的でない。また、ダメージを
減らすため希釈する水素の倍率を減らすことも考
えられるが、この方法では非晶質シリコンカーボ
ン膜の光導電率は急速に低下し、その結果太陽電
池の変換効率も低下する。以上の如く、p/i界
面層として有効な非晶質シリコンカーボン膜の形
成方法の確立が効率向上にとつて大きな課題とな
つていた。 〈問題点を解決するための手段〉 本発明はp/i界面層を有するpin構造非晶質
半導体太陽電池の変換効率をさらに向上させる製
造方法を提供することを目的とし、グロー放電の
際の高周波電力密度を極端に小さくする一方で堆
積速度を落さずにpin構造非晶質半導体太陽電池
を作製することを特徴とする。即ち、上記本発明
目的はp/i界面層の形成に際しグロー放電の高
周波電力密度を0.1w/cm2以下に抑える一方で、
原料ガス及び希釈水素ガスの流量を大流量とし、
堆積速度を1Å/sec以上に設定して成膜するこ
とによつて達成される。 〈実施例〉 以下第1図に示す構造を有する太陽電池を例に
とつて、本発明の1実施例を説明する。第1図の
構造は、金属基板1の上にPH3とSiH4との混合
ガスをグロー放電分解してn型非晶質シリコン
(a−Si)層2を堆積し次いでSiH4又はこれに微
量のB2H6を混合したガスでi型a−Si層3を堆
積し、次に、SiH4,CH4及びH2の混合ガスによ
り非晶質シリコンカーボン膜のp/i界面層4を
堆積する。さらにB2H6,SiH4,CH4及びH2の混
合ガスによりp型a−Si層5を堆積し、最後に透
明導電膜6及び櫛型A電極7を形成することに
より得られる。このp/i界面層4作製時の原料
ガス流量と堆積速度の違いによる曲線因子と変換
効率の違いを第1表に示す。
【表】
第1表から明らかなように、本実施例による1
Å/sec以上の堆積速度で形成したp/i界面層
を有する太陽電池は曲線因子の向上及び変換効率
の向上が認められた。 上記特性の向上が水素原子や水素イオンのダメ
ージの低減によるものであることを明らかにする
ため(H*の発光強度)/(堆積速度)と堆積速
度との関係を示したのが第2図である。原料ガス
を増し、堆積速度を高めるに従つて(H*の発光
強度)/(堆積速度)は低下し、堆積速度を1
Å/sec以上とすることで、ダメージが充分に低
減されているとが明らかである。また、ダメージ
の低減に対応してして曲線因子することも確かめ
られた。またこのように流量を増加させた場合の
単層膜特性は第3図に示す如く光学的バンドギヤ
ツプは若干低下するものの光導電率は大幅に上昇
し、高品質膜が形成されていることがわかる。 上記実施例においては、金属基板を用いた構造
の太陽電池を例としたがガラス基板を用いた構造
の太陽電池に対しても本発明は適用できる。また
p/i界面層だけでなくn/i界面層に対しても
本発明は適用可能である。 〈発明の効果〉 以上述べたように本発明は0.1w/cm2以下の低
電力密度でかつ1Å/sec以上の堆積速度で、
p/i界面層を高水素希釈法を用いたグロー放電
により形成することによつて変換効率の高い太陽
電池を得るものである。
Å/sec以上の堆積速度で形成したp/i界面層
を有する太陽電池は曲線因子の向上及び変換効率
の向上が認められた。 上記特性の向上が水素原子や水素イオンのダメ
ージの低減によるものであることを明らかにする
ため(H*の発光強度)/(堆積速度)と堆積速
度との関係を示したのが第2図である。原料ガス
を増し、堆積速度を高めるに従つて(H*の発光
強度)/(堆積速度)は低下し、堆積速度を1
Å/sec以上とすることで、ダメージが充分に低
減されているとが明らかである。また、ダメージ
の低減に対応してして曲線因子することも確かめ
られた。またこのように流量を増加させた場合の
単層膜特性は第3図に示す如く光学的バンドギヤ
ツプは若干低下するものの光導電率は大幅に上昇
し、高品質膜が形成されていることがわかる。 上記実施例においては、金属基板を用いた構造
の太陽電池を例としたがガラス基板を用いた構造
の太陽電池に対しても本発明は適用できる。また
p/i界面層だけでなくn/i界面層に対しても
本発明は適用可能である。 〈発明の効果〉 以上述べたように本発明は0.1w/cm2以下の低
電力密度でかつ1Å/sec以上の堆積速度で、
p/i界面層を高水素希釈法を用いたグロー放電
により形成することによつて変換効率の高い太陽
電池を得るものである。
第1図は本発明の1実施例の説明に供する太陽
電池の構成図である。第2図は、本発明による原
料ガス流量を増した場合の(H*の発光強度)/
(堆積速度)と堆積速度との関係を示す説明図で
ある。第3図は本発明によるp/i界面層の光学
的バンドギヤツプと光導電率との関係を示す説明
図である。第4図は、(H*の発光強度)/(堆積
速度)と高周波電力密度との関係を示す説明図で
ある。 1……金属基板、2……n型a−Si層、3……
i型a−Si層、4……p/i界面層、5……p型
a−Si層、6……透明導電膜、7……櫛型A電
極。
電池の構成図である。第2図は、本発明による原
料ガス流量を増した場合の(H*の発光強度)/
(堆積速度)と堆積速度との関係を示す説明図で
ある。第3図は本発明によるp/i界面層の光学
的バンドギヤツプと光導電率との関係を示す説明
図である。第4図は、(H*の発光強度)/(堆積
速度)と高周波電力密度との関係を示す説明図で
ある。 1……金属基板、2……n型a−Si層、3……
i型a−Si層、4……p/i界面層、5……p型
a−Si層、6……透明導電膜、7……櫛型A電
極。
Claims (1)
- 1 p型非晶質シリコン層とi型非晶質シリコン
層との間に非晶質シリコン・カーボン層から成る
p/i界面層を挿設したpin型非晶質半導体太陽
電池の製造方法において、前記p/i界面層をグ
ロー放電の際の高周波電力密度0.1w/cm2以下
でかつ堆積速度1Å/sec以上の条件に設定され
た高水素希釈法を用いて形成することを特徴とす
る非晶質半導体太陽電池の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62320755A JPH01161777A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 非晶質半導体太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62320755A JPH01161777A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 非晶質半導体太陽電池の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01161777A JPH01161777A (ja) | 1989-06-26 |
JPH0542141B2 true JPH0542141B2 (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18124911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62320755A Granted JPH01161777A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 非晶質半導体太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01161777A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2784820B2 (ja) * | 1989-10-17 | 1998-08-06 | キヤノン株式会社 | 光起電力素子 |
JP4829394B2 (ja) * | 2000-04-05 | 2011-12-07 | Tdk株式会社 | 光起電力素子の製造方法 |
KR100555526B1 (ko) * | 2003-11-12 | 2006-03-03 | 삼성전자주식회사 | 포토 다이오드 및 그 제조방법 |
TWI475704B (zh) * | 2012-06-14 | 2015-03-01 | Nexpower Technology Corp | 薄膜太陽能電池及其製造方法 |
-
1987
- 1987-12-17 JP JP62320755A patent/JPH01161777A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01161777A (ja) | 1989-06-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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