JPH0540691A - キヤツシユメモリの故障検出装置 - Google Patents

キヤツシユメモリの故障検出装置

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JPH0540691A
JPH0540691A JP3193378A JP19337891A JPH0540691A JP H0540691 A JPH0540691 A JP H0540691A JP 3193378 A JP3193378 A JP 3193378A JP 19337891 A JP19337891 A JP 19337891A JP H0540691 A JPH0540691 A JP H0540691A
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JP
Japan
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circuit
signal
tag
output
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JP3193378A
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Inventor
Hideyo Takeuchi
英代 竹内
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【構成】CPUのアドレス情報によりタグメモリ回路の
検索及び比較結果、一致したアドレス情報が存在しなか
ったとき毎に、その置き換えの対象となるアドレス管理
タグ情報の位置に対し、故障テスト情報による書き込み
と読み出しとを実施して、読み出した故障テスト情報と
の比較結果により、キャッシュのタグメモリ回路での故
障と比較回路の故障とを容易に検出する。 【効果】通常のキャッシュ動作を切り離して実施する必
要なく、動作中に実行することが出来る。そして、置き
換えの必要なものだけを故障検出の対象とするので大変
効率のよい故障検出となり、高い信頼性を容易に得るこ
とが可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は情報処理分野のキャッシ
ュメモリシステムに関し、特にキャッシュメモリシステ
ムでのタグメモリ回路や比較回路での故障を動作中に検
出するキャッシュメモリの故障検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のキャッシュメモリの故障
検出装置では、キャッシュメモリのアドレス管理タグ情
報を格納したタグメモリ回路に対し、自己診断装置から
の故障テスト情報による書き込みと、読み出しを実施す
ることによる故障検出の方法とが取られている。
【0003】この自己診断装置は、図4に示すように、
故障テスト情報を発生する診断情報発生回路33と、タ
グメモリ回路9へ故障テスト情報を書き込むための書き
込み制御信号31とタグメモリ回路から書き込まれた故
障テスト情報を読み出すための読み出し制御信号32と
を出力する診断制御回路35と、タグメモリ回路9での
書き込みと読み込みの対象位置を順次指定するインデッ
クスカウンター回路37と、タグメモリ回路へ書き込ん
だときの故障テスト情報とタグメモリ回路より読み出さ
れた故障テスト情報とを比較する自己診断用比較回路3
4と、自己診断用比較回路34の累積結果を記憶するフ
ラグ回路35とから構成されている。
【0004】このキャッシュメモリでの自己診断装置
は、キャッシュメモリシステム構成から切り離した状態
で、診断情報発生回路33の故障テスト情報19が出力
され、インデックスカウンター回路37により示された
タグメモリ回路9のアドレス管理タグ情報の位置に対
し、診断制御回路36からタグメモリ回路9への書き込
み制御信号31により故障テスト情報での書き込みが実
行され、これをタグメモリ回路9の全位置に対して実施
される。
【0005】書き込み実施後、インデックスカウンター
回路37により示されるタグメモリ回路9の全位置に書
き込まれた故障テスト情報が、診断制御回路36からの
タグメモリ回路9への読み出し制御信号32によりタグ
メモリ回路9の全位置から順次書き込んだ故障テスト情
報が読み出される。
【0006】順次読み出された故障テスト情報と、書き
込み実施時の故障テスト情報とが自己診断用比較回路3
4に入力され、自己診断用比較34からの結果情報の累
積した情報がフログ回路35において記憶される。
【0007】このフラグ回路35での情報により、タグ
メモリ回路9において、故障の発生を判断している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のキャッ
シュメモリの故障検出装置では、自己診断装置により、
キャッシュメモリ内部のタグメモリ回路に対し故障テス
ト情報での書き込みと読み出しを実施し、その書き込み
実施時の故障テスト情報と書き込み実施後のタグメモリ
回路から読み出した故障テスト情報とを比較することに
より、タグメモリ回路の全ての位置に対する故障検出を
実施している。
【0009】しかし、自己診断が動作しているときは、
キャッシュメモリのタグメモリ回路に対して、故障テス
ト情報にて書き込み又は読み出しを実施しているため
に、通常のキャッシュ動作中では、タグメモリ回路のア
ドレス管理タグ情報を書き換えることになり、キャッシ
ュデータメモリ回路との対応が一致しなくなるので、キ
ャッシュメモリシステム構成上から切り離した状態でし
か実施出来ないという問題点と、タグメモリ回路の全部
のアドレス管理タグ情報の位置に対して故障検出のため
の書き込みと読み出しとを実施完了するには多くのテス
ト時間を必要する問題点がある。
【0010】本発明の目的は、通常のキャッシュ動作を
切り離すことなく故障検出が実施できるキャッシュメモ
リシステムの故障検出装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のキャッシュメモ
リの故障検出装置は、キャッシュメモリシステムにおい
て、任意の情報を入力し故障テスト情報を出力する情報
発生回路と、CPUのアドレス情報の上位ビットの情報
と前記情報発生回路からの故障テスト情報とを入力する
選択回路と、前記選択回路からの出力情報をアドレス管
理タグ情報として格納する手段と、格納したアドレス管
理タグ情報を取り出す手段とを有するタグメモリ回路
と、前記選択回路の出力情報とタグメモリ回路から取り
出されるアドレス管理タグ情報とを入力する比較回路
と、前記比較回路の結果情報を入力し、CPUへの応答
信号を伝達する出力回路と、キャッシュメモリでのミス
ヒットにより主記憶装置からキャッシュデータメモリ回
路へデータの置き換え発生時に、前記比較回路からの結
果情報を入力とし、タグメモリ回路への書き込み制御信
号とタグメモリ回路への読み出し制御信号と選択回路へ
の選択信号と情報発生回路への制御信号と出力回路への
抑制信号とCPUへの故障信号とを出力する制御手段
と、前記CPUへの故障信号をCPUへ伝達する手段と
を有している。
【0012】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例のブロック図である。図1
は、CPU1と、アドレスラッチ回路4と、タグメモリ
回路9と、情報発生回路14と選択回路13と、制御手
段15と、伝達手段25と、出力回路16と、比較回路
12と、キャッシュデータメモリ回路10と、キャッシ
ュデータメモリ用デコード回路11と、主記憶装置2
と、入出力装置3とから構成されている。
【0013】次に図を用いて具体的動作を説明すると、
まずCPU1のアドレス情報がアドレスバス5を介して
アドレスラッチ回路4に記憶される。そのアドレスラッ
チ回路4に記憶したアドレス情報の一部の情報(以降、
インデックス情報17という)がデコード回路8に入力
され、タグメモリ回路9内を検索し、アドレス管理タグ
情報28が読み出される。読み出されたアドレス管理タ
グ情報28と選択回路13から出力されたアクセスタグ
情報18側の情報とが比較回路12において比較され、
その結果情報24によりCPU1のデータが、キャッシ
ュデータメモリ回路10上に存在するかを判定する。
【0014】アドレス管理タグ回路28と選択回路13
からの出力情報との比較が一致した場合に、CPU1の
データがキャッシュデータメモリ回路10上に存在する
ので、出力回路16からキャッシュデータメモリ回路1
0に対し読み出し信号29とCPU1への応答信号26
とを出力する。
【0015】キャッシュデータメモリ回路10は読み出
し信号29によりCPU1のデータをデータバス6に出
力する。一方、応答信号26を入力されたCPU1は、
データバス6から求めるデータを受取り、動作を終了す
る、しかし、アドレス管理タグ情報28と選択回路13
からの出力情報との比較が不一致の結果を示した場合に
は、インデックス情報17により選択されたアドレス管
理タグ情報の位置が置き換え対象として選ばれ、そのア
ドレス管理タグ情報の位置に対応したキャッシュデータ
メモリ回路10上に主記憶装置2からCPU1のデータ
を含む一定単位でのデータをシステムバス7を介し、複
数回数のバスサイクルによって書き込みが実施される。
【0016】これと並行して、比較回路12からの結果
情報24により不一致になることにより起動される制御
手段15は、出力回路16へCPU1への応答信号23
の出力を抑制する抑制信号23と、選択回路13に対し
アクセスタグ情報18から故障テスト情報19への選択
信号21とを出力する。
【0017】そして、インデックス情報17より選ばれ
た置き換えの対象となるアドレス管理タグ情報の位置に
対し、制御手段15からのタグメモリ回路への書き込み
制御信号31による故障テスト情報19側の選択回路1
3の出力情報での書き込みを実施する。
【0018】書き込み実施後に、書き込みを実施したア
ドレス管理タグ情報の位置に対して、制御手段15から
タグメモリ回路への読み出し制御信号32が出力され、
タグメモリ回路9からそのアドレス管理タグ情報28が
読み出される。この読み出されたアドレス管理タグ情報
28と書き込んだ故障テスト情報19側の出力情報との
比較回路12において行われ、その結果情報24を制御
手段15に出力する。
【0019】結果情報24がタグメモリ回路9からのア
ドレス管理タグ情報28と書き込んだ故障テスト情報1
9側の出力情報とが一致を示した場合には故障が検出さ
れなかったので、次に制御手段15から情報発生回路1
4へ制御信号20が出力され、入力情報を反転した故障
テスト情報19が選択回路13から出力される。反転し
た故障テスト情報19側の選択回路13の出力情報を上
記と同じインデックス情報17により選択された置き換
え対象のアドレス管理タグ情報の位置に対し、制御手段
15から出力されたタグメモリ回路への書き込み制御信
号31により、書き込みが実施される。
【0020】書き込み実施後、その書き込まれたアドレ
ス管理タグ情報の位置に対し、制御手段15からタグメ
モリ回路への読み出し制御信号32が出力され、読み出
されたアドレス管理タグ情報28と反転した故障テスト
情報19側の出力情報とを比較回路12に入力し、結果
情報24により故障検出の判定を実施する。
【0021】結果情報24において故障が検出されなか
った場合には、制御手段15は情報発生回路14に対し
て、反転した故障テスト情報を正転した故障テスト情報
19に変更する制御信号20を出力する。
【0022】上記の動作と同様に、置き換えの対象とな
ったタグメモリ回路9のアドレス管理タグ情報の位置に
対し、故障テスト情報19側の選択回路13の出力情報
での書き込みを制御手段15からタグメモリ回路への書
き込み制御信号31により実施し、そして制御手段15
からのタグメモリ回路への読み出し制御信号32によ
り、タグメモリ回路9から書き込んだアドレス管理情報
の位置での読み出しを実施し、その故障テスト情報19
側の選択回路13の出力情報と読み出したアドレス管理
タグ情報28とを比較する。
【0023】結果情報24が故障テスト情報19側の出
力情報と読み出したアドレス管理タグ情報28とが一致
している場合には、故障検出の動作を終了する。
【0024】終了により制御信号15から出力回路16
へ抑制信号23による解除と、選択回路13に対してア
クセスタグ情報10側の出力が選択回路13より出力さ
れるようにする選択信号21とを出力する。選択回路1
3より出力されるアクセスタグ情報18側の出力情報を
タグメモリ回路9の置き換え位置に登録を実施する。
【0025】一方、主記憶装置2からキャッシュデーダ
メモリ回路10へのデータの置き換えが完了した時点
で、CPU1に対する応答信号26を出力回路16と出
力するとともに、キャッシュデータメモリ回路10に対
しての読み出し信号29を出力回路16より出力する。
【0026】これにより、CPU1は、要求のデータを
データバス6を介して、受取ることができる。
【0027】さて、比較回路12の結果情報24が故障
テスト情報19側の選択回路13の出力情報と読み出さ
れたアドレス管理タグ情報28とが一致しなかった場合
には、制御手段15から故障信号22が出力され、それ
をCPU1への伝達手段により通知し、CPU1に対し
その処置を任せ、かつ置き換え動作の中止を実施する。
【0028】以上述べた本発明での故障検出装置では、
上記の故障検出により、タグメモリ回路9のアドレス管
理タグ情報に対し、1又は0の固定故障や1から0又は
0から1への遷移故障を検出することが容易にでき、併
せて比較回路12での故障も故障検出することが可能で
ある。
【0029】また、タグメモリ回路9での置き換えの対
象となり、アドレス管理タグ情報を格納する必要のある
部分に対してだけ故障検出のテストを行なうために大変
効率よく実施が出来、そして故障検出に必要とする時間
は、主記憶装置2からキャッシュデータメモリ回路10
へのデータの置き換え期間と並行して動作するので、特
にテスト時間というのが不必要になる。
【0030】従ってデータの置き換え期間中に、置き換
えの対象となるアドレス管理タグ情報の位置に対し、書
き込みと読み出しによる故障検出を実施することによ
り、タグメモリ回路9とアドレス比較回路12との故障
検出がシステムでの動作中に実行することが可能にな
り、このキャッシュメモリシステム自体の信頼性が大き
く向上することが出来る。以上述べた本発明のキャーシ
ュの故障検出装置での動作のフローチャートを図2に示
す。
【0031】図3は本発明の第2の実施例のブロック図
である。図3の構成は、2つの連想単位を持った場合で
のキャッシュメモリシステムである。
【0032】図3では、CPU1とデコード回路8と2
つのタグメモリ回路9a,bと、2つのタグメモリ回路
9a,bに対応した2つのキャシュデータメモリ回路1
0a,bと、キャシュデータメモリ用デコード回路11
と、比較回路12と、アドレスラッチ回路4と、選択回
路13と、情報発生回路14と、出力回路16と、制御
手段15と、伝達手段25と、置き換えの順序情報を格
納したLRUメモリ回路27とから構成されている。
【0033】本実施例の基本的動作は、第1の実施例と
同じ動作であるが、2つの連想単位を有するので、アド
レス情報によるタグメモリ回路9a,bの検索及び比較
の結果、不一致が発生したときには、2つの連想単位の
タグメモリ回路9a,bの内、LRUメモリ回路27の
置き換え順序信号30により示される連想単位のアドレ
ル管理タグ情報の位置が置き換える対象となり、その置
き換えの対象となったアドレス管理タグ情報の位置が、
本発明での故障検出の実施対象となる。そのため、LR
Uメモリ回路27からの置き換え順序信号30が、制御
手段15に入力され、これにより実施対象を選択してい
る。
【0034】また、本実施例では、情報発生回路14に
おいて、アクセスタグ情報18を入力し、それを基にし
た故障テスト情報として利用している。これにより、ア
クセス毎のアドレス情報で故障検出用テスト情報が常に
変化するためダイナミックに故障検出を実施できる。
【0035】この実施例の場合、2つの連想単位のキャ
ッシュの構成にすることによりタグ情報を格納する自由
度が増加するので、このキャッシュメモリシステムでの
ヒット率がより大きく向上することが可能であるが、一
方、より複雑な構造になるので信頼性が特に問題になる
が、本発明により高い信頼性を得ることが可能である。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、キャッシ
ュメモリシステムにおいて、CPUのアドレス情報によ
りタグメモリ回路の検索及び比較結果、一致したアドレ
ス情報が存在しなかったとき毎に、その置き換えの対象
となるアドレス管理タグ情報の位置に対し、故障テスト
情報による書き込みと読み出しとを実施して、読み出し
た故障テスト情報との比較結果により、キャッシュのタ
グメモリ回路での故障と比較回路の故障とを容易に検出
する。この動作は、通常のキャッシュ動作を切り離して
実施する必要なく、動作中に実行することが出来る。そ
して、置き換えの必要なものだけを故障検出の対象とす
るので大変効率のよい故障検出となり、高い信頼性を容
易に得ることが可能である。また、この故障検出の動作
は、主記憶装置からキャッシュデータメモリ回路へのデ
ータの置き換え動作と並行して動作するので、特に故障
検出するための時間が不必要である。
【0037】従って、キャッシュメモリシステム構成す
る上での信頼性の向上に大いに寄与することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図3】他の実施例のブロック図である。
【図4】従来例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 CPU 2 主記憶装置 3 入出力装置 4 アドレスラッチ回路 5 アドレスバス 6 データバス 7 システムバス 8 デコード回路 9 タグメモリ回路 10 キャッシュデータメモリ回路 11 キャッシュデータメモリ用デコード回路 12 アドレス比較回路 13 選択回路 14 情報発生回路 15 制御手段 16 出力回路 17 インデックス情報 18 アクセスタグ情報 19 故障テスト情報 20 制御信号 21 選択信号 22 故障信号 23 抑制信号 24 結果信号 25 伝達手段 26 応答信号 27 LRUメモリ回路 28 アドレス管理タグ情報 29 キャッシュデータメモリ回路への読み出し信号 30 置き換え順序信号 31 書き込み制御信号 32 読み出し制御信号 33 診断情報発生回路 34 自己診断用比較回路 35 フラグ回路 36 診断制御回路 37 インデックスアウンター回路 38 自己診断装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 任意の情報を入力し故障テスト情報を出
    力する情報発生回路と、CPUのアドレス情報の上位ビ
    ットの情報と前記情報発生回路からの故障テスト情報と
    を入力する選択回路と、前記選択回路からの出力情報を
    アドレス管理タグ情報として格納する手段と、格納した
    アドレス管理タグ情報を取り出す手段とを有するタグメ
    モリ回路と、前記選択回路の出力情報と前記タグメモリ
    回路から取り出されるアドレス管理タグ情報とを入力す
    る比較回路と、前記比較回路の結果情報を入力しCPU
    への応答信号を伝達する出力回路と、キャッシングメモ
    リでのミスヒットにより主記憶装置からキャッシュデー
    タメモリ回路へデータの置き換え発生時に前記比較回路
    からの結果情報を入力としタグメモリ回路への書き込み
    制御信号と前記タグメモリ回路への読み出し制御信号と
    前記選択回路への選択信号と情報発生回路への制御信号
    と前記出力回路への抑制信号と前記CPUへの故障信号
    とを出力する制御手段と、故障信号を前記CPUへ伝達
    する手段とから構成されることを特徴とするキャッシュ
    メモリの故障検出装置。
  2. 【請求項2】 前記制御手段としてキャッシュメモリで
    のミスヒットの発生時に前記比較回路の結果情報により
    起動しミスヒット期間中に前記出力回路に対てし前記C
    PUへの応答信号の出力を抑制する抑制信号を生成する
    手段と、前記情報発生回路の入力情報を正転又は反転し
    て故障テスト情報を作成する制御信号を生成する手段
    と、前記情報発生回路の故障テスト情報を前記選択回路
    の出力情報として選択させる選択信号を生成する手段
    と、前記選択回路の出力信号の出力情報をアドレス管理
    タグ情報として前記タグメモリ回路に格納させる書き込
    み制御信号を生成する手段と、前記タグメモリ回路に格
    納された前記アドレル管理タグ情報を前記比較回路に出
    力させる読み出し信号制御信号を生成する手段と、前読
    み出し信号がアクティブである期間の比較回路の結果情
    報により前記CPUへの故障信号を生成する手段とを有
    することを特徴とする請求項1記載のキャッシュメモリ
    の故障検出装置。
JP3193378A 1991-08-02 1991-08-02 キヤツシユメモリの故障検出装置 Pending JPH0540691A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7174418B2 (en) 2003-04-30 2007-02-06 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device for enhancing refresh operation in high speed data access
US7363460B2 (en) 2003-04-30 2008-04-22 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device having tag block for reducing initialization time

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7174418B2 (en) 2003-04-30 2007-02-06 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device for enhancing refresh operation in high speed data access
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