JPH0537287A - 超高周波発振器/共振器 - Google Patents

超高周波発振器/共振器

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JPH0537287A
JPH0537287A JP2418551A JP41855190A JPH0537287A JP H0537287 A JPH0537287 A JP H0537287A JP 2418551 A JP2418551 A JP 2418551A JP 41855190 A JP41855190 A JP 41855190A JP H0537287 A JPH0537287 A JP H0537287A
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resonator
piezoelectric
semiconductor
piezoelectric layer
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JP2418551A
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Ronald Legge
ロナルド・レツジ
Curtis D Moyer
カーテイス・デー・モイヤー
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Motorola Inc
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Piezo-Electric Transducers For Audible Bands (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 超高周波発振波を生成するために、圧電ビー
ムを用いてAC信号をろ波する方法を提供する。また、
他の半導体デバイスとモノリシック集積化が可能な、圧
電共振器を提供する。 【構成】 圧電層13は機械的支持体14上に形成さ
れ、その一部がビーム16を形成する。このビーム16
は機械的支持体14から伸び、空隙12がビーム16の
下に形成されている。音波が圧電層13内で伝播する
と、ビーム16は空隙内において共振周波数で自由に振
動する。駆動電極17は圧電層13に対してショットキ
接觸をし、その下に空乏領域19が形成される。共振周
波数成分を有し、ろ波されていないAC信号が、駆動電
極17に結合されて、音波を生成する。ビームの振動に
よって圧電層上に生じる表面電荷によって、共振周波数
成分は空乏領域19を通り抜ける。また共振周波数成分
は、トンネル電流により空隙を通り抜けることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一般に共振器および発
振器に関し、さらに詳しくは他の電子デバイスと集積回
路を組むことが可能な圧電共振器および発振器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ラジオ受信装置、特にページング受信
器、セルラ無線機およびマイクロ波衛星通信システムを
設計する際に、システムを構成するコンポーネントはで
きるだけスペースをとらないことが望ましい。また、で
きるだけ多くのコンポーネントを1つの集積回路に組み
入れることが望ましい。このように集積化することによ
り、無線装置を製造するのに必要な接続箇所を少なく
し、信頼性を大幅に向上させ、製造コストを削減でき
る。
【0003】コンパクト化の他に、動作周波数の高周波
数化が進んでいる。このため、電子コンポーネントで使
用するギガヘルツ(GHz)で動作可能な半導体材料が
利用されている。ガリウムヒ素集積回路はギガヘルツで
動作可能である。高周波無線装置の動作で基本的な問題
の1つに、情報の送受信に用いる高周波発振信号を生成
するという問題がある。同様に、ギガヘルツ周波数範囲
で高周波フィルタとして利用可能な共振回路が必要とさ
れる。
【0004】特定の結晶材料は圧電特性を有することが
以前から知られている。具体的には、外部応力を加える
と結晶表面に電荷が生じる、いわゆる直接的圧電効果が
ある。また、結晶表面に外部から電荷を印加すると結晶
が歪んだり変形する、いわゆる逆圧電効果がある。これ
らの効果は、バルク音波(bulk acoustic
wave)を結晶中、一般的には結晶の相対する面に
配置した電極間を伝播させる結晶発振器やその他のデバ
イスで長年利用されてきた。
【0005】一般に、高周波発振器および共振器を製作
するのに水晶が用いられる。このような水晶発振器は、
音波が水晶本体(バルク)全体にわたって伝播するた
め、バルク音波デバイス(bulk acoustic
wave device)と呼ばれている。しかし、
水晶発振器は他のコンポーネントとの集積化が不可能で
あり、従って、回路板やハイブリッド基板上で他のコン
ポーネントに結合しなければならない。また、水晶発振
器技術では、高周波数における発振器能力が限定され
る。このようにバルク波を用いることにより、水晶発振
器やフィルタは良好な温度安定性が得られるが、その周
波数は過大な静電容量により約200メガヘルツ(MH
z)、より一般的には50MHz以下に制限される。そ
の結果、高周波化を達成するためには、周波数逓倍器な
どのコンポーネントを追加しなければならない。また、
逓倍器により高周波数が得られても、精度と安定性が犠
牲になる。周波数逓倍回路のコスト、精度およびサイズ
は必要な倍数に比例するため、できるだけ周波数倍数を
小さくすることが有利である。
【0006】バルク音波デバイスとは別に、電気音響デ
バイス(electroacoustic devic
e)と呼ばれる他の圧電デバイスは2種類に分類され
る:すなわち、表面音波型(surface acou
stic wave:SAW)と浅深バルク音波型(s
hallow bulk acousticwave:
SBAW)である。その名前が示すように、各タイプ
は、圧電膜に対する音波の位置を示している:すなわ
ち、SAW型では音波が表面にあり、SBAW型では表
面のすぐ下にある。SBAW方式を用いたデバイスはS
AW型デバイスに比較して安定しており、また高周波で
動作可能であるため広く普及している。
【0007】音波は、圧電膜に電界を加えることにより
膜内に生じる。ほとんどの圧電膜は絶縁体であるので、
膜に電界を加えることは簡単である。縦波は、圧電膜の
相対する表面にわたって電界を加えることで得られ、ま
た横波は単一表面上に配置した2本の電極により得られ
る。発振電界またはパルス電界を膜に加えると、発振音
波が生じる。音波発振器/共振器を作るためには、定在
音波を膜内に発生させなければならない。定在音波の周
波数は、デバイスの形状および圧電材料の物性に応じて
変化する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】また、シリコン構造を
ミクロ形成(micormachining)して、内
部に音波を生成すると発振できる振動板(diaphr
agm)、ビーム(beam)およびカンチレバー・ビ
ーム(cantilever beam)を作る技術も
知られている。シリコンは圧電材料ではないので、ミク
ロ形成したシリコン構造の上に圧電層を形成しないと電
気音響デバイスは作ることができなかった。これらのミ
クロ形成構造は従来の半導体製造技術を用いて形成でき
ることから、ミクロ形成された構造では形状を小さくで
きるので高周波動作が可能となる。しかし、圧電膜は非
圧電半導体構造上に付着されるので、ミクロ形成法を用
いたとしても、圧電膜はさもなければ静止状態にある構
造(quiescent structure)によっ
て支持されていた。圧電膜と非圧電材料を機械的に結合
させると、音波が減衰され、音波フィルタおよび発振器
のQ(qualityfactor)は低下する。これ
まで、圧電層が支持されていないデバイスは入手できな
かった。
【0009】従って、本発明の目的は、超高周波数の発
振波を生成する方法を提供することである。
【0010】本発明の他の目的は、他の半導体デバイス
とモノリシック集積化が可能な圧電共振器を提供するこ
とである。
【0011】さらに、本発明の目的は、改善された信頼
性を有する共振器を提供することである。
【0012】本発明の別の目的は、圧電素子が非圧電材
料によって支持されていない圧電共振器を提供すること
である。
【0013】さらに、本発明の他の目的は、圧電半導体
材料を用いる電気音響共振器/発振器を提供することで
ある。
【0014】本発明のさらに別の目的は、ショットキ・
ゲートを用いて音波を発生する電気音響共振器を提供す
ることである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明のこれらおよび他
の目的および利点は、電気発振信号をろ波する方法によ
って得られ、ここで、圧電膜が機械的支持体上に形成さ
れ、圧電膜の一部が機械的支持体から伸びるビームを形
成し、それによりビームの下に空隙が形成され、音波が
圧電層中を伝播する時、このビームは空隙内において共
振周波数で自由に振動する。
【0016】少なくとも1つの駆動電極が圧電膜に結合
され、この圧電膜に対してショットキ接触を形成するこ
とが望ましい。空乏領域が、ショットキ接触により駆動
電極の下に形成される。ろ波されていないAC信号が駆
動電極に結合されると、このろ波されていないAC信号
に共振周波数成分が含まれている時、音波が生じる。ビ
ームの振動により圧電膜に生じる表面電荷により、ろ波
されていないAC信号の共振周波数成分が空乏領域中を
通り抜けるか、あるいは半導体デバイスをスイッチング
する。または、共振周波数成分はトンネル電流(tun
nel current)により空隙内を通り抜けさせ
ることができる。
【0017】
【実施例】図1は、本発明の圧電共振器の第1実施例に
ついて製造工程初期におけるきわめて簡略な断面図であ
る。この基本構造について多くの変形例が本発明の方法
を用いて可能であり、容易に想像できることが理解され
る。圧電共振器は個別のコンポーネンとして製造でき、
また集積回路上で他の電子デバイスと集積させて、同調
増幅器または発振器機能を得ることができる。同調増幅
器は、共振器にゲイン構造を追加することにより得ら
れ、また発振器は、共振器にゲイン構造と適切な帰還
(feedback)を追加することにより得られる。
共振器として機能する本発明の第1および第2実施例に
ついて説明し、また第3実施例はトンネル・ゲイン素子
(tunneling gain element)を
有する共振器について説明する。これら3つの実施例
は、構造的にはそれほど変わりなく、本発明の異なる動
作モードについて説明するものである。
【0018】第1実施例において、半導体層11は半絶
縁または高抵抗層から成り、またガリウムヒ素(GaA
s)等のIII−V族化合物材料から成る。GaAsで
は、他の高周波デバイスを同一層上に形成できかつ既知
の半導体製造技術を用いて共振構造を製造できるため、
GaAsが有用である。半導体層11は、エピタキシャ
ル成長技術を用いて他の半導体または半絶縁基板上に形
成することができる。
【0019】第1実施例において、半導体層14はドー
ピングされた半導体材料から成る。半導体層14は、半
導体層11を覆う連続した層として形成される。圧電層
13は、ビーム支持体14上に形成される。圧電層13
については、従来の半導体技術を用いてパターン形成
し、エッチングされる。また、圧電層13は半導体層1
4に対して選択的エッチングが可能でなくてはならな
い。この選択的エッチングは、半導体層14がガリウム
ヒ素(GaAs)から成り、また圧電層13がアルミニ
ウム・ガリウムヒ素(AlGaAs)または同様な半導
体から成る場合、容易に実現できる。ビーム支持体14
として適切な材料を選ぶ限り、他の組成の圧電層も圧電
層13として利用できる。
【0020】図2は、製造工程を進めた図1の構造を示
す。圧電層13においてパターン形成を行い、エッチン
グした後、半導体層14に選択的エッチングを行い、圧
電層13の下をカットする。このようにエッチングを施
すことにより、圧電層13のビーム部16の下に空隙1
2が形成される。ビ−ム16は、図2の点線で示す撓ん
だビーム16’,16”からわかるように空隙12内に
おいて自由に振動する。
【0021】電極17は、圧電層13に対してショット
キ接触を形成し、ビーム16に隣接して設けられる。電
極18は、機械的支持体14に対してオーム接触を形成
し、ビーム16から離間して形成される。第1実施例で
は、図3に示すバイアス供給源22によって電極17に
電圧を印加することができ、そのため動作中にショット
キ電極はバイアスされる。この接触に逆バイアスが加え
られると、図2の電極17の下に半絶縁領域19が生
じ、圧電層13において電界を発生する。ショットキ接
触を用いる場合、半絶縁領域19は逆バイアスが加えら
れると、ショットキ接触の空乏領域にすぎなくなる。適
切な設計により、ショットキ接触の空乏深さをゼロバイ
アスにすることで、バイアス供給源22は不要となる。
この空乏領域により、発振電界(励振電界とも呼ばれ
る)が圧電層13に生成される。空乏領域19が電極1
8から電極17に電流が流れるのを妨げているため、電
極18は圧電層13と接触してもよい。
【0022】従来、圧電半導体では励振電界を生成する
ことが困難であるため、圧電半導体は音波共振器または
音波発振器として使用されなかった。しかし、ショット
キ・ダイオードの空乏領域を用いることにより、この問
題が解決される。空乏領域とは別に、接触17の下にプ
ロトンを注入して半導体AlGaAsまたはGaAs材
料を半絶縁材料に変える方法など他の関連技術も利用で
きる。圧電層13の一部を絶縁層に変えるか、あるいは
その部分を空乏化するだけで、励振電界を生成すること
が可能となる。
【0023】図3は、図2の共振器の上面図である。ビ
ーム16は、1ミクロン×1ミクロンの方形であること
が望ましく、空隙12上に伸びている。電極17は、図
3では見えない機械的支持体14上に設けられたビーム
16の端部近くに形成される。相互接続15は、電極1
7を外部信号21およびバイアス電圧22に結合する。
前述のように、バイアス電圧22は、ショットキ接触の
ゼロ・バイアス電位により供給してもよく、したがって
実際の電圧源は必要なくてもよい。図では1つの電極し
か図示していないが、複数の電極17を圧電層13に結
合させて形成してもよい。第1実施例において、電極1
7は、動作中ショットキ接触を逆バイアス状態に保つD
Cバイアス22に結合される。また、電極17は、カン
チレバ・ビーム(cantilever beam)1
6に振動を生成する発振信号21に結合される。発振信
号21は、例えば、共振器に結合されたアンテナによっ
て受信された信号でもよい。
【0024】電極17を形成・配置してビーム16に対
する圧電結合を最大限にする方法は、表面音波(sur
face acoustic wave:SAW)では
なく浅深バルク音波(shallow bulk∵ac
oustic wave:SBAW)を励振する電極1
7の形成方法同様によく知られている。SBAWデバイ
スのほうが寿命が長く、また圧電層13への異物の混入
や老化によってそれほど影響を受けないので、SAWよ
りもSBAWのほうが好まれる。
【0025】カンチレバ・ビームの代わりに、図4,5
の第2実施例に示されるような完全に支持されたビーム
としてビーム16を形成することができる。同様な技術
を用いて、ビーム16の代わりに振動板(diaphr
agm)を形成することができる。図4,5におけるす
べての参照番号は、図2.3における同様な構造素子と
同一ものである。図5に示すように、完全に支持された
ビームを用いると、ビーム16の相対する両端に電極1
7を形成するのに都合がよく、したがって、電極17を
配置する際の柔軟性が向上する。電極17の一方は、ビ
ーム16内でSBAWを励振するために用いられ、また
他方の電極はSBAWを検知し、その機械的エネルギを
電気信号に変換するのに用いられる。図3に示すDCバ
イアス22は、図4では省略してあり、空乏領域19
は、ショットキ接触17のゼロ・バイアス電位によって
形成される。ろ波されていないAC信号21(図示せ
ず)は、一方のポート23に印加され、また他方のポー
ト23はろ波された出力を検出するのに用いられる。基
本周波数および調波周波数(harmonic fre
quency)は、使用する発振構造に応じて異なる
が、動作原理はカンチレバ・ビーム(図2.3)につい
ても完全に支持されたビーム(図4,5)についても同
じである。本発明の動作は、カンチレバ・ビーム構造に
ついてのみ説明する。
【0026】図2.3に示す構造は、直列共振構造とし
て機能する。ビーム16は、その形状によって決まる共
振周波数を有する。共振周波数成分を有するろ波されて
いないAC信号21が半絶縁領域19に印加されると、
ビーム16はその共振周波数で振動する。ろ波されてい
ないAC信号21は、S/N比(signal−to−
noise ratio)の低い信号でもよく、例え
ば、アンテナからの信号でもよい。共振周波数とは異な
る周波数の不要信号は、ビーム16の発振に対してわず
かな影響しか及ぼさない。ビーム16の振動、特に機械
的支持体14の端部近傍における振動により、ビーム1
6の支持された端部近傍で、発振表面電荷が圧電層13
の上面および底面において生成される。この表面電荷
は、共振周波数で発振し、そのため共振周波数の信号を
空乏領域内で圧電的に通過させる。共振周波数のろ波さ
れていないAC信号の成分のみが空乏領域19を通過で
きるので、AC信号がろ波される。
【0027】ショットキ接触の代わりに、他の半導体ス
イッチを用いることもできる。例えば、圧電層13によ
って駆動されるベースを有するバイポーラ・トランジス
タまたは圧電層13に隣接したあるいは圧電層13によ
って駆動されるチャネルを有する電界効果トランジスタ
は、共振表面電荷から共振信号を検知するよう機能でき
る。これらのデバイスは、図4.5に示す第2実施例に
おいて等しく有用である。トランジスタを検出素子とし
て使用することにより、共振ゲイン構造が提供される。
【0028】図6に示す第3実施例の断面図は、構造的
には図2の実施例に類似している。ただし、図示の素子
の抵抗率および使用材料はこの2つの実施例で異なる。
第3実施例において、層31は導電材料から成り、n型
GaAsまたはAlGaAsが好ましい。信号強度が層
31における抵抗加熱で失われないように層31の抵抗
率は小さいほうが有利である。層31は、必要に応じ
て、エピタキシャル成長方法により半絶縁基板または半
導体基板上に形成してもよい。
【0029】絶縁層42は、導電層31を上層から電気
的に絶縁するために形成される。絶縁層42は、バンド
ギャップの広い半絶縁材料でもよく、または導電層31
と反対の導電型の領域であってもよい。絶縁領域42
は、主にビーム36を導電層31から絶縁する機能を持
つ。絶縁層を圧電層33の下に形成するなど、その他多
くの配置や方法を用いて絶縁を施すことができる。
【0030】機械的支持層34、圧電層33およびビー
ム36は、図2で説明したものと同様な選択的エッチン
グ処理により形成される。しかし、第3実施例において
は、ビーム36の抵抗率は小さくなくてはならず、また
オーム接触38をビーム36に形成しなければならな
い。オーム接触38を圧電層33と機械的支持体34の
両方に結合することが好ましい。しかし、第1実施例と
同様に、励振電界を圧電層33に発生させて音波を付勢
しなければならない。ショットキ接触37は空乏領域3
9を形成し、この空乏領域により励振電界が生成でき
る。ショットキ接触37が、励振電極として機能し、図
2.3で説明したショットキ接触と同様に機能する。
【0031】図7は、図6に示す共振器の上面図であ
る。この構造は、電極37に設けた開口部43を除けば
図3に示した構造と基本的には同じである。電極37の
両方は、ビーム36と離間して互いに接合している。た
だし、簡単に示すため電極37の両方が接合している部
分は図示されていない。開口部43は、図6に示す空乏
領域39が電極38とビーム36との間に電流が流れる
ことを妨ぐことがないようにビーム36を電極38に結
合する機能を有する。
【0032】動作中、励振信号44を電極37と電極3
8との間に印加することにより、振動がカンチレバ・ビ
ーム36内に生じる。励振信号44は、ビーム36がそ
の励振周波数で絶えず発振するように、正の帰還回路網
で与えられることが好ましい。この振動が、カンチレバ
・ビーム36を半導体層31に近づけたり遠ざけたりす
る。空隙32は、カンチレバ・ビーム36と導電層31
との間の電流の流れを阻止する絶縁バリアを形成する。
ビーム36が、点線のビーム36”で図示されるように
導電層31の近くで発振すると、電子がビーム36から
導電層31に通り抜ける(tunneling)。空隙
バリアを通り抜ける電子の数は、ビーム36から導電層
31までの距離と密接に関係している。電子の通り抜け
は、ファウラ・ノルトハイム・トンネル(Fowler
−Nordheim tunneling)という現象
により生じる。ファウラ・ノルトハイム・トンネルが生
じるためには、空隙32の深さが5〜100オングスト
ローム台でなくてはならない。ビーム36と導電層31
との距離が0.1ナノメータ変化するたびに、トンネル
電流は約1桁増加する。
【0033】ビーム36が発振すると、発振電流が空隙
32内を通り抜ける。従って、空隙32を通り抜ける発
振電流の振幅は、ビーム36の発振周波数と密接に関係
している。空隙32を流れて導電層31に至る電流は、
電極41を介して外部回路に結合される。わかりやすい
ように、電極41は導電層31の底面に図示している
が、導電層31は上面から接触するほうがより一般的で
あることが理解される。
【0034】カンチレバ・ビーム36の発振周波数は、
厚さ、幅および長さを含むカンチレバ・ビーム36の寸
法によって決まる。寸法すべては、薄膜付着法(fil
mdeposition)、フォトリトグラフ法(ph
otolithography)およびエッチング等の
よく知られた半導体製造方法によって制御されるので、
数十オングストローム台から数ミクロメータ台までの寸
法は正確かつ再現性よく実現できる。
【0035】きわめて微少な寸法で形成できるため超高
周波発振器が実現できることに加え、第3実施例は周波
数逓倍器を用いずに超高周波発振を達成できるという利
点を有する。ファウラ・ノルトハイム・トンネル現象は
電流のスイッチング動作に関連しているため、非常に多
くの非直線性(nonlinearity)が発振電流
信号に付加される。この非直線性は、時間領域では共振
周波数において反復する急峻な電流パルスとしてみなさ
れる。しかし、周波数領域では、この急峻なパルスは、
共振周波数の高次調波(high order har
monics)成分を多く含んだ電流出力としてみなす
ことができる。1GHz程度の共振周波数はビーム36
により得られるが、発振信号は9GHz以上の出力によ
り得られる。周波数領域信号を取り出す方法はよく知ら
れている。
【発明の効果】
【0036】以上から、本発明の圧電共振器/発振器を
製造するために用いる一切の構造および材料は、半導体
デバイス製造方法と整合性がとれており、特にガリウム
ヒ素基板等のIII−V族化合物半導体材料におけるデ
バイス製造力法と整合性がとれている。以上説明してき
た共振器それぞれは、適切な帰還を与えることにより発
振器にすることができる。増幅器、フィルタなどを本発
明の圧電発振器と共に容易に集積回路化することがで
き、回路の動作周波数および信頼性を大幅に向上させる
と同時にコストの節減が図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】製造工程初期の1ポート共振器から成る本発明
の第1実施例の拡大断面図である。
【図2】製造工程を進めた図1の1ポート共振器の断面
図である。
【図3】図2の共振器の上面図である。
【図4】2ポート共振器からなる本発明の第2実施例の
断面図である。
【図5】図4の2ポート共振器の上面図である。
【図6】ゲインを有する共振器からなる本発明の第3実
施例の断面図である。
【図7】図6の共振器の上面図である。
【符号の説明】
11 半導体層 12 空隙 13 圧電層 14 機械的支持体 16,16’,16” (カンチレバ)ビーム 17,18 電極 19 空乏領域 21 外部信号 22 バイアス電圧 23 ポート 31 導電層 32 空隙 33 圧電層 34 機械的支持体 36,36’,36” ビーム 37 ショットキ接触 38 オーム接触 39 空乏層 41 電極 42 絶縁層 43 開口部 44 励振信号

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】導電層を設ける段階;所定の深さの空隙に
    よって導電層から離間した圧電層を設ける段階であっ
    て、当該圧電層が当該空隙内で自由に振動するところの
    段階;圧電層内で浅深バルク音波(shallow b
    ulk acousticwave;SBAW)を付勢
    する段階;および空隙を通り抜けて圧電層と導電層との
    間に流れる電流から発振電気信号を検出するする段階;
    によって構成されることを特徴とする発振電気信号生成
    方法。
  2. 【請求項2】導電層がドーピングされた半導体から成る
    ことを特徴とする請求項1の方法。
  3. 【請求項3】所定の深さが5オングストロームから10
    0オングストロームであることを特徴とする請求項1の
    方法。
  4. 【請求項4】圧電層が導電層上を伸びるカンチレバ・ビ
    ームから成ることを特徴とする請求項1の方法。
  5. 【請求項5】圧電層が支持された2つの端部を有しかつ
    導電層上に伸びるビームから成ることを特徴とする請求
    項1の方法。
  6. 【請求項6】所定の深さが空隙を通り抜けさせる(tu
    nneling)ことにより電流が空隙を流れることが
    できる深さであることを特徴とする請求項1の方法。
  7. 【請求項7】空隙を含む導電層;導電層上に形成された
    圧電層であって、導電層から伸びてビームを形成し、ビ
    ームが共振周波数で自由に振動するところの圧電層;圧
    電層に形成され圧電層内で振動を付勢する第1電極;第
    1電極の下の半絶縁領域;および導電層に結合される第
    2電極から構成され、圧電電荷が共振周波数の電気信号
    を半絶縁領域において結合することを特徴とする直列共
    振器。
  8. 【請求項8】導電層がドーピングされたガリウムヒ素か
    ら成ることを特徴とする請求項7の共振器。
  9. 【請求項9】圧電層がカンチレバ・ビームを形成するこ
    とを特徴とする請求項7の共振器。
  10. 【請求項10】圧電層が支持された2つの端部を有する
    ビームを形成することを特徴とする請求項7の共振器。
  11. 【請求項11】空隙の深さが100オングストローム以
    下であることを特徴とする請求項7の共振器。
  12. 【請求項12】電流発振周波数がカンチレバ・ビームの
    寸法によって決まることを特徴とする請求項9の共振
    器。
  13. 【請求項13】III−V族化合物半導体基板;基板の
    一部から上に伸びる機械的支持体;第1部分が機械的支
    持体に形成され、第2部分が機械的支持体から伸びかつ
    自由に振動する半導体層;半導体層内で音波を伝播させ
    る手段;および機械的支持体の近傍の半導体層に形成さ
    れた半導体スイッチから構成され、前記半導体スイッチ
    が半導体層の表面電荷によって制御されることを特徴と
    する圧電共振器。
  14. 【請求項14】半導体スイッチが半導体層の第1部分に
    おいて形成されることを特徴とする請求項13の共振
    器。
  15. 【請求項15】半導体スイッチがショットキ・ダイオー
    ドから成ることを特徴とする請求項14の共振器。
  16. 【請求項16】半導体スイッチが電解効果トランジスタ
    から成ることを特徴とする請求項14の共振器。
  17. 【請求項17】半導体層が圧電材料から成ることを特徴
    とする請求項14の共振器。
  18. 【請求項18】基板が導体であり、電流が量子トンネル
    効果により半導体スイッチを通り抜けて半導体層の第2
    部分から基板に流れることを特徴とする請求項13の共
    振器。
  19. 【請求項19】半導体スイッチがさらに半導体層に対す
    る整流接触およびオーム接触から成ることを特徴とする
    請求項13の共振器。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004502374A (ja) * 2000-06-30 2004-01-22 セントレ・ナショナル・デ・ラ・レシェルシェ・サイエンティフィーク ナノサイズの電気機械的フィルタ
JP2007533186A (ja) * 2004-04-06 2007-11-15 セイコーエプソン株式会社 マイクロフラップ型ナノ・マイクロ機械素子、及びその製造方法
JP2008066800A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Seiko Instruments Inc 発振器
JP2008066799A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Seiko Instruments Inc 発振器
JP2008199570A (ja) * 2007-01-18 2008-08-28 Seiko Epson Corp 圧電振動子およびその製造方法、発振器、リアルタイムクロック、並びに、電波時計受信モジュール
JP2010056929A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品
US7830215B2 (en) 2007-01-25 2010-11-09 Seiko Epson Corporation Piezoelectric oscillator and method for manufacturing the same
JP2012204870A (ja) * 2011-03-23 2012-10-22 Toshiba Corp 音響半導体装置
JP2014039152A (ja) * 2012-08-16 2014-02-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 機械振動子およびその製造方法

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5260596A (en) * 1991-04-08 1993-11-09 Motorola, Inc. Monolithic circuit with integrated bulk structure resonator
US5283458A (en) * 1992-03-30 1994-02-01 Trw Inc. Temperature stable semiconductor bulk acoustic resonator
EP0596522A1 (en) * 1992-11-06 1994-05-11 AVANCE TECHNOLOGY, Inc. High frequency crystal resonator
US5425750A (en) * 1993-07-14 1995-06-20 Pacesetter, Inc. Accelerometer-based multi-axis physical activity sensor for a rate-responsive pacemaker and method of fabrication
JPH07335951A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Philips Japan Ltd 圧電アクチュエータ
US5666093A (en) * 1995-08-11 1997-09-09 D'ostilio; James Phillip Mechanically tunable ceramic bandpass filter having moveable tabs
US5856722A (en) * 1996-01-02 1999-01-05 Cornell Research Foundation, Inc. Microelectromechanics-based frequency signature sensor
US5821836A (en) * 1997-05-23 1998-10-13 The Regents Of The University Of Michigan Miniaturized filter assembly
US6124765A (en) * 1997-10-24 2000-09-26 Stmicroelectronics, Inc. Integrated released beam oscillator and associated methods
DE19821527A1 (de) * 1998-05-13 1999-12-02 Siemens Ag Schwingkreis
JP2000180250A (ja) * 1998-10-09 2000-06-30 Ngk Insulators Ltd 質量センサ及び質量検出方法
US6534838B1 (en) * 2001-09-07 2003-03-18 Atr Advanced Telecommunications Research Institute International Semiconductor device and method of fabricating the same
US20040135473A1 (en) * 2003-01-15 2004-07-15 Byers Charles L. Piezoelectric devices mounted on integrated circuit chip
GB0612754D0 (en) * 2006-06-27 2006-08-09 Univ Cambridge Tech Semiconductor device transducer and method
US20100270547A1 (en) * 2009-04-27 2010-10-28 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Semiconductor device
US8097999B2 (en) * 2009-04-27 2012-01-17 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Piezoelectric actuator
US20100276730A1 (en) * 2009-04-29 2010-11-04 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Semiconductor device
US8253145B2 (en) * 2009-04-29 2012-08-28 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Semiconductor device having strong excitonic binding
US20100270592A1 (en) * 2009-04-27 2010-10-28 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Semiconductor device
US20100270591A1 (en) * 2009-04-27 2010-10-28 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation High-electron mobility transistor
US20100327278A1 (en) * 2009-06-29 2010-12-30 University Of Seoul Industry Cooperation Foundation Laminated structures
US8427249B1 (en) 2011-10-19 2013-04-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Resonator with reduced acceleration sensitivity and phase noise using time domain switch
US9128496B2 (en) 2011-10-26 2015-09-08 The United States Of America As Represented By Secretary Of The Navy Auto-ranging for time domain extraction of perturbations to sinusoidal oscillation
US8490462B2 (en) 2011-10-26 2013-07-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Auto-ranging for time domain inertial sensor
US8683862B2 (en) 2011-11-03 2014-04-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Oscillation apparatus with atomic-layer proximity switch
US8650955B2 (en) 2012-01-18 2014-02-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Time domain switched gyroscope
US8875576B2 (en) 2012-03-21 2014-11-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Apparatus and method for providing an in-plane inertial device with integrated clock
US8991250B2 (en) 2012-09-11 2015-03-31 The United States Of America As Represented By Secretary Of The Navy Tuning fork gyroscope time domain inertial sensor
JP2014212410A (ja) * 2013-04-18 2014-11-13 セイコーエプソン株式会社 振動子、発振器、電子機器、移動体、および振動子の製造方法
US10122475B1 (en) * 2017-11-14 2018-11-06 Honeywell International Inc. Systems and methods for generating and transmitting ULF/VLF signals

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52134481A (en) * 1976-05-04 1977-11-10 Nippon Gakki Seizo Kk Piezo-electric conversion device
JPS5313884A (en) * 1976-07-23 1978-02-07 Nippon Gakki Seizo Kk Piezoelectric transducer
JPS5957595A (ja) * 1982-09-25 1984-04-03 Shin Meiwa Ind Co Ltd 超音波素子
JPS6183328U (ja) * 1984-11-05 1986-06-02
JPS6263828A (ja) * 1985-09-06 1987-03-20 Yokogawa Electric Corp 振動式トランスジューサ
JPS6361920A (ja) * 1986-09-03 1988-03-18 Komatsu Ltd 音響振動解析装置およびその製造方法
JPH0114714B2 (ja) * 1983-10-28 1989-03-14 Eastern Steel

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4191905A (en) * 1977-06-17 1980-03-04 Citizen Watch Company Limited Sealed housings for a subminiature piezoelectric vibrator
JPS5421295A (en) * 1977-07-19 1979-02-17 Matsushima Kogyo Kk Crystal oscillator
JPS5456785A (en) * 1977-10-14 1979-05-08 Citizen Watch Co Ltd Container for microminiature piezoelectric oscillator
JPS6041868B2 (ja) * 1978-09-22 1985-09-19 松島工業株式会社 回路ユニット
US4282454A (en) * 1979-04-27 1981-08-04 Motorola, Inc. Piezoelectric crystal mounting and connection arrangement
US4633124A (en) * 1982-03-16 1986-12-30 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha Mount for quartz crystal resonator
US4906840A (en) * 1988-01-27 1990-03-06 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr., University Integrated scanning tunneling microscope

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52134481A (en) * 1976-05-04 1977-11-10 Nippon Gakki Seizo Kk Piezo-electric conversion device
JPS5313884A (en) * 1976-07-23 1978-02-07 Nippon Gakki Seizo Kk Piezoelectric transducer
JPS5957595A (ja) * 1982-09-25 1984-04-03 Shin Meiwa Ind Co Ltd 超音波素子
JPH0114714B2 (ja) * 1983-10-28 1989-03-14 Eastern Steel
JPS6183328U (ja) * 1984-11-05 1986-06-02
JPS6263828A (ja) * 1985-09-06 1987-03-20 Yokogawa Electric Corp 振動式トランスジューサ
JPS6361920A (ja) * 1986-09-03 1988-03-18 Komatsu Ltd 音響振動解析装置およびその製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004502374A (ja) * 2000-06-30 2004-01-22 セントレ・ナショナル・デ・ラ・レシェルシェ・サイエンティフィーク ナノサイズの電気機械的フィルタ
JP2007533186A (ja) * 2004-04-06 2007-11-15 セイコーエプソン株式会社 マイクロフラップ型ナノ・マイクロ機械素子、及びその製造方法
JP2008066800A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Seiko Instruments Inc 発振器
JP2008066799A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Seiko Instruments Inc 発振器
JP2008199570A (ja) * 2007-01-18 2008-08-28 Seiko Epson Corp 圧電振動子およびその製造方法、発振器、リアルタイムクロック、並びに、電波時計受信モジュール
US7830215B2 (en) 2007-01-25 2010-11-09 Seiko Epson Corporation Piezoelectric oscillator and method for manufacturing the same
JP2010056929A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品
JP2012204870A (ja) * 2011-03-23 2012-10-22 Toshiba Corp 音響半導体装置
US8648431B2 (en) 2011-03-23 2014-02-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Acoustic semiconductor device
JP2014039152A (ja) * 2012-08-16 2014-02-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 機械振動子およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5023503A (en) 1991-06-11
CA2033318C (en) 1995-10-24
MX167068B (es) 1993-03-01
DE4100060A1 (de) 1991-08-08
CA2033318A1 (en) 1991-07-04
DE4100060C2 (de) 1995-06-08

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