JPH0537247Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0537247Y2 JPH0537247Y2 JP14791787U JP14791787U JPH0537247Y2 JP H0537247 Y2 JPH0537247 Y2 JP H0537247Y2 JP 14791787 U JP14791787 U JP 14791787U JP 14791787 U JP14791787 U JP 14791787U JP H0537247 Y2 JPH0537247 Y2 JP H0537247Y2
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- JP
- Japan
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- threaded portion
- tip member
- protective tube
- tip
- cylindrical member
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、測定器用プローブの改善に関するも
のである。
のである。
第4図に従来例を示す。例えばオシロスコープ
のプローブは第4図のような構成をしており、金
属で構成された“J”字状の先端(直線状の形状
もある)を測定対象の電子回路に接触させて、信
号をオシロスコープ本体に取込む。
のプローブは第4図のような構成をしており、金
属で構成された“J”字状の先端(直線状の形状
もある)を測定対象の電子回路に接触させて、信
号をオシロスコープ本体に取込む。
しかし従来の(第4図の)測定器用プローブは
先端部の長さlが固定されていた。従つて奥まつ
た所の測定点や、高密度に組込まれた測定対象の
電子部品の位置まで届かない場合があつた。ま
た、先端部の長さlを引伸ばすため、“J”字状
を“I”字状へ無理に変形して使用することもる
が、その場合は引伸ばした先端部材により他の電
子部品とシヨートしたり、先端部材が後で折れた
りしてプローブが使用できなくなる問題があつ
た。
先端部の長さlが固定されていた。従つて奥まつ
た所の測定点や、高密度に組込まれた測定対象の
電子部品の位置まで届かない場合があつた。ま
た、先端部の長さlを引伸ばすため、“J”字状
を“I”字状へ無理に変形して使用することもる
が、その場合は引伸ばした先端部材により他の電
子部品とシヨートしたり、先端部材が後で折れた
りしてプローブが使用できなくなる問題があつ
た。
本考案の目的は、プローブ先端部の長さを自由
に調節することができ、かつ被測定点以外との電
気的接触を避けることができる測定器用プローブ
を提供することである。
に調節することができ、かつ被測定点以外との電
気的接触を避けることができる測定器用プローブ
を提供することである。
本考案は、上記問題点を解決するために
一方の端部にネジ部1aが設けられ、このネジ
部で信号線と電気的に接続される先端部材と、 絶縁物で構成され、先端部材を内に通す筒状部
材であつて、先端部材の他端が露出するように配
置される保護管と、 絶縁物で構成され、信号線を中心とした円柱状
部材に固定される筒状部材であつて、ネジ部3a
を有した固定カバーと、 絶縁物で構成され、一端に前記保護管を遊挿で
きる大きさの穴を有し、他端にネジ部2aが設け
られた筒状部材であつて、前記固定カバーのネジ
部3aと螺合し、ネジ部2aにて回転させること
により固定カバーに沿つて位置を移動できるスラ
イドカバーと、 からなる手段を講じたものである。
部で信号線と電気的に接続される先端部材と、 絶縁物で構成され、先端部材を内に通す筒状部
材であつて、先端部材の他端が露出するように配
置される保護管と、 絶縁物で構成され、信号線を中心とした円柱状
部材に固定される筒状部材であつて、ネジ部3a
を有した固定カバーと、 絶縁物で構成され、一端に前記保護管を遊挿で
きる大きさの穴を有し、他端にネジ部2aが設け
られた筒状部材であつて、前記固定カバーのネジ
部3aと螺合し、ネジ部2aにて回転させること
により固定カバーに沿つて位置を移動できるスラ
イドカバーと、 からなる手段を講じたものである。
以下、図面を用いて本考案を詳しく説明する。
第1図は本考案に係る測定器用プローブの一実
施例を示した断面図、第2図は第1図の斜視図、
第3図は第1図プローブと測定器用コードとの接
続例を示す図である。
施例を示した断面図、第2図は第1図の斜視図、
第3図は第1図プローブと測定器用コードとの接
続例を示す図である。
第1図及び第2図において、1は一方の端部に
ネジ部1aが設けられ、このネジ部で信号線5と
電気的に接続される先端部材である。もちろん信
号線5の端部にもネジ部が設けられている。従つ
て、先端部材1が破損して使用できなくなつた場
合はこのネジ部1aにて取外し、新しい先端部材
と交換することができる。この先端部材1は例え
ば硬質銅合金(リン青銅)等で構成でき、これを
測定対象の電気測定点に接触させ図示していない
測定器の本体に電気信号を取込む。
ネジ部1aが設けられ、このネジ部で信号線5と
電気的に接続される先端部材である。もちろん信
号線5の端部にもネジ部が設けられている。従つ
て、先端部材1が破損して使用できなくなつた場
合はこのネジ部1aにて取外し、新しい先端部材
と交換することができる。この先端部材1は例え
ば硬質銅合金(リン青銅)等で構成でき、これを
測定対象の電気測定点に接触させ図示していない
測定器の本体に電気信号を取込む。
2は絶縁物(例えば硬質合金樹脂)で構成さ
れ、一端に後述する保護管4を遊挿できる(保護
管4が空間的に余裕のある状態で挿入できる)大
きさの穴2bを有し、他端にネジ部2aが設けら
れた筒状部材であつて、後述する固定カバー3の
ネジ部3aと螺合し、ネジ部2aにて回転させる
ことにより固定カバーに沿つて位置を移動できる
スライドカバーである。
れ、一端に後述する保護管4を遊挿できる(保護
管4が空間的に余裕のある状態で挿入できる)大
きさの穴2bを有し、他端にネジ部2aが設けら
れた筒状部材であつて、後述する固定カバー3の
ネジ部3aと螺合し、ネジ部2aにて回転させる
ことにより固定カバーに沿つて位置を移動できる
スライドカバーである。
3は絶縁物(例えば硬質合成樹脂)で構成さ
れ、信号線5を中心とした円柱状部材8(第1図
の信号線5と絶縁物6とシールド7)に固定され
る筒状部材であつて、ネジ部3aを有した固定カ
バーである。このネジ部3aはスライドカバー2
の位置を調節するためのものである。なお、本願
においては、シールドに関して特に限定しない
(本願の特徴とする部分でない)ので、円柱状部
材8は第1図のように同軸構造(シールド7は必
須の構成ではない)でなくてもよい。
れ、信号線5を中心とした円柱状部材8(第1図
の信号線5と絶縁物6とシールド7)に固定され
る筒状部材であつて、ネジ部3aを有した固定カ
バーである。このネジ部3aはスライドカバー2
の位置を調節するためのものである。なお、本願
においては、シールドに関して特に限定しない
(本願の特徴とする部分でない)ので、円柱状部
材8は第1図のように同軸構造(シールド7は必
須の構成ではない)でなくてもよい。
4は絶縁物(例えば硬質合金樹脂)で構成さ
れ、先端部材1を内に通す筒状部材であつて、先
端部材1の他端が露出するように配置される保護
管である。保護管4は先端部材1に沿つてその位
置を調節できるが、第1図プローブ全体の角度を
変化させても勝手に移動して先端部材1から抜け
落ちたり、または先端部材1のネジ部1aの方へ
勝手に移動しない構成となつている。このような
構成は容易に実現できる。例えば先端部材1の表
面と保護管4の内壁との摩擦係数を大きくする、
または、保護管4の上から図示しない締付け手段
(例えばOリング)等で締付けを行う、または、
先端部材1の表面と保護管4の内壁にネジ溝を設
ける等である。なお、この保護管4がスライドカ
バー2内に落込まないようにストツパ−4aを設
けることもできる。
れ、先端部材1を内に通す筒状部材であつて、先
端部材1の他端が露出するように配置される保護
管である。保護管4は先端部材1に沿つてその位
置を調節できるが、第1図プローブ全体の角度を
変化させても勝手に移動して先端部材1から抜け
落ちたり、または先端部材1のネジ部1aの方へ
勝手に移動しない構成となつている。このような
構成は容易に実現できる。例えば先端部材1の表
面と保護管4の内壁との摩擦係数を大きくする、
または、保護管4の上から図示しない締付け手段
(例えばOリング)等で締付けを行う、または、
先端部材1の表面と保護管4の内壁にネジ溝を設
ける等である。なお、この保護管4がスライドカ
バー2内に落込まないようにストツパ−4aを設
けることもできる。
このような第1図の測定器用プローブでは、固
定カバー3が円柱状部材8に固定されているの
で、スライドカバー2を第2図Cのように回転さ
せると、ネジ部2a,3aの作用によりスライド
カバー2の位置を第2図B方向に調節することが
できる。
定カバー3が円柱状部材8に固定されているの
で、スライドカバー2を第2図Cのように回転さ
せると、ネジ部2a,3aの作用によりスライド
カバー2の位置を第2図B方向に調節することが
できる。
一方、先端部材1は信号線5にネジ部1aにて
物理的に固定されており、また、保護管4も通常
は先端部材1がわずかに露出する位置に固定され
ているため、スライドカバーが第2図B方向に移
動すると、第2図Aの長さが等価的に変化する。
即ち、測定器用プローブの先端部の長さAをスラ
イドカバー2を回転させることで自由に調節する
ことができる。
物理的に固定されており、また、保護管4も通常
は先端部材1がわずかに露出する位置に固定され
ているため、スライドカバーが第2図B方向に移
動すると、第2図Aの長さが等価的に変化する。
即ち、測定器用プローブの先端部の長さAをスラ
イドカバー2を回転させることで自由に調節する
ことができる。
また、第1図に示すように先端部材1は保護管
4よりも長く構成されており、保護管4は先端部
材1に沿つてその位置を調節することができるの
で、保護管4から露出した先端部材1が破損した
場合でも数回ならば先端部材1の交換を要しな
い。
4よりも長く構成されており、保護管4は先端部
材1に沿つてその位置を調節することができるの
で、保護管4から露出した先端部材1が破損した
場合でも数回ならば先端部材1の交換を要しな
い。
また、第2図においてAを長く調節した場合で
も、硬質合成樹脂からなる保護管4の作用により
先端部材1の強度を補強し、また他の電子部品間
のシヨートを防ぐことができる。
も、硬質合成樹脂からなる保護管4の作用により
先端部材1の強度を補強し、また他の電子部品間
のシヨートを防ぐことができる。
なお、第1図、第2図に示す測定器用プローブ
のシールド端子(GND端子)の構成については、
ありふれた構成でよいため(本考案の要部ではな
いため)、その図示を省略した。
のシールド端子(GND端子)の構成については、
ありふれた構成でよいため(本考案の要部ではな
いため)、その図示を省略した。
また、第1図に示す円柱状部材8及び固定カバ
ー3の他端は、例えば第3図に示すように一般の
測定器用コード10に接続され、このコード10
を介して測定器本体に接続される。円柱状部材8
の信号線5と測定器用コード10の信号ラインピ
ン11との接続手段は特に限定しないが、例えば
第3図に示すように金属で構成されたバネ9を介
して容易に接続できる。また、円柱状部材8が同
軸構造の場合は、図示していないがシールド7と
測定器用コード10のシールドとが接続される。
ー3の他端は、例えば第3図に示すように一般の
測定器用コード10に接続され、このコード10
を介して測定器本体に接続される。円柱状部材8
の信号線5と測定器用コード10の信号ラインピ
ン11との接続手段は特に限定しないが、例えば
第3図に示すように金属で構成されたバネ9を介
して容易に接続できる。また、円柱状部材8が同
軸構造の場合は、図示していないがシールド7と
測定器用コード10のシールドとが接続される。
以上述べたように本考案によれば測定先端部の
長さを自由に変えることができ、長く伸ばした場
合、狭い所また奥まつた所に測定点があつても容
易に測定することができる。また伸ばした時でも
保護管のため強度を保つことができ、かつ被測定
点以外との接触を避けることができる。
長さを自由に変えることができ、長く伸ばした場
合、狭い所また奥まつた所に測定点があつても容
易に測定することができる。また伸ばした時でも
保護管のため強度を保つことができ、かつ被測定
点以外との接触を避けることができる。
第1図は本考案に係る測定器用プローブの一実
施例を示した断面図、第2図は第1図の斜視図、
第3図は第1図プローブと測定器用コードとの接
続例を示す図、第4図は従来例を示す図である。 1……先端部材、2……スライドカバー、3…
…固定カバー、4……保護管、5……信号線。
施例を示した断面図、第2図は第1図の斜視図、
第3図は第1図プローブと測定器用コードとの接
続例を示す図、第4図は従来例を示す図である。 1……先端部材、2……スライドカバー、3…
…固定カバー、4……保護管、5……信号線。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 一方の端部にネジ部1aが設けられ、このネジ
部で信号線と電気的に接続される先端部材と、 絶縁物で構成され、先端部材を内に通す筒状部
材であつて、先端部材の他端が露出するように配
置される保護管と、 絶縁物で構成され、信号線を中心とした円柱状
部材に固定される筒状部材であつて、ネジ部3a
を有した固定カバーと、 絶縁物で構成され、一端に前記保護管を遊挿で
きる大きさの穴を有し、他端にネジ部2aが設け
られた筒状部材であつて、前記固定カバーのネジ
部3aと螺合し、ネジ部2aにて回転させること
により固定カバーに沿つて位置を移動できるスラ
イドカバーと、 を備えたことを特徴とする測定器用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14791787U JPH0537247Y2 (ja) | 1987-09-28 | 1987-09-28 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14791787U JPH0537247Y2 (ja) | 1987-09-28 | 1987-09-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6451870U JPS6451870U (ja) | 1989-03-30 |
JPH0537247Y2 true JPH0537247Y2 (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=31418768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14791787U Expired - Lifetime JPH0537247Y2 (ja) | 1987-09-28 | 1987-09-28 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0537247Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0792474B2 (ja) * | 1990-08-08 | 1995-10-09 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
JP5389692B2 (ja) * | 2010-02-25 | 2014-01-15 | 日置電機株式会社 | 測定用プローブシステムおよびプローブキャップ |
JP2012194104A (ja) * | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Hasegawa Denki Kogyo Kk | 漏電検出器 |
JP5791938B2 (ja) * | 2011-04-06 | 2015-10-07 | 日置電機株式会社 | 測定器用テストプローブ |
-
1987
- 1987-09-28 JP JP14791787U patent/JPH0537247Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6451870U (ja) | 1989-03-30 |
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