JPH0537240Y2 - - Google Patents
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- JPH0537240Y2 JPH0537240Y2 JP1987047454U JP4745487U JPH0537240Y2 JP H0537240 Y2 JPH0537240 Y2 JP H0537240Y2 JP 1987047454 U JP1987047454 U JP 1987047454U JP 4745487 U JP4745487 U JP 4745487U JP H0537240 Y2 JPH0537240 Y2 JP H0537240Y2
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- Japan
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- electrode
- temperature
- tip
- temperature compensation
- ion concentration
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- Expired - Lifetime
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- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 16
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 17
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 16
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、塩化物イオンの電極等のイオン濃度
測定用複合電極の改良に関する。
測定用複合電極の改良に関する。
一般に、塩化物イオン濃度を測定する場合、塩
化物イオン電極と比較電極と温度補償用電極とを
ボデイ先端部に設けた所謂複合形の電極が用いら
れる。こにおいて、温度補償用電極は測定対象物
であるサンプルの温度変化に対する電位変化を補
償するものであるが、測定誤差の発生を小さくす
るため、内部液の等温交点（サンプルの温度が変
化しても電極電位が変化しない点）を、サンプル
の温度範囲内にもつてくるようにしている。
化物イオン電極と比較電極と温度補償用電極とを
ボデイ先端部に設けた所謂複合形の電極が用いら
れる。こにおいて、温度補償用電極は測定対象物
であるサンプルの温度変化に対する電位変化を補
償するものであるが、測定誤差の発生を小さくす
るため、内部液の等温交点（サンプルの温度が変
化しても電極電位が変化しない点）を、サンプル
の温度範囲内にもつてくるようにしている。
従来は、比較電極の液間電位の発生を小さくす
るために、高濃度のKCl溶液を内部液として充填
している。しかし、温度補償には液温体の精度に
基づく誤差が伴うので、この場合、第３図におい
て上のグラフで示すように、サンプル温度が５〜
45℃の範囲で、その等温交点は約10％Cl-にあり、
低濃度（0.01〜1.0％Cl-）における温度補償によ
る誤差の発生は大きい。なお、同図において、横
軸、縦軸はそれぞれCl-濃度（％）、出力を示して
いる。又、直線Ａ，Ｂ，Ｃはそれぞれサンプル温
度が５℃，25℃，45℃における出力を示すグラフ
である。
るために、高濃度のKCl溶液を内部液として充填
している。しかし、温度補償には液温体の精度に
基づく誤差が伴うので、この場合、第３図におい
て上のグラフで示すように、サンプル温度が５〜
45℃の範囲で、その等温交点は約10％Cl-にあり、
低濃度（0.01〜1.0％Cl-）における温度補償によ
る誤差の発生は大きい。なお、同図において、横
軸、縦軸はそれぞれCl-濃度（％）、出力を示して
いる。又、直線Ａ，Ｂ，Ｃはそれぞれサンプル温
度が５℃，25℃，45℃における出力を示すグラフ
である。
これに対して、0.012mol／1KCl溶液と1mol／
1KNO3との混合液を内部液として用いて、その
等温交点を0.1％Cl-に位置するようにすれば、第
３図において下のグラフで示すように、低濃度
（0.01〜1.0％Cl-）における誤差の発生を小さく
することができる。なお、同図において、直線
A′，B′，C′はそれぞれサンプル温度が５℃，25
℃、45℃における出力を示すグラフである。
1KNO3との混合液を内部液として用いて、その
等温交点を0.1％Cl-に位置するようにすれば、第
３図において下のグラフで示すように、低濃度
（0.01〜1.0％Cl-）における誤差の発生を小さく
することができる。なお、同図において、直線
A′，B′，C′はそれぞれサンプル温度が５℃，25
℃、45℃における出力を示すグラフである。
しかしながら、上記のように比較電極内の内部
液を調整しても、比較電極の内極が配置される位
置によつては、内部液の温度とサンプルの温度と
の温度勾配の影響を受けて、内極の温度特性に伴
う等温交点の移動が生じ、等温交点が不明確にな
り、折角内部液を調整しても精度の高い測定を行
えないことがあつた。これは、この種イオン濃度
測定用複合電極においては、イオン電極と比較電
極と温度補償用電極とをボデイ先端部に設けてい
るため、ボデイ先端部を大径にせざるを得なくな
ると共に、ボデイ先端部を熱伝導性が余りよくな
いプラスチツクによつて形成しているため、比較
電極の内極の温度が電極外部のサンプルの温度変
化に追従し難くなつているためと考えられる。
液を調整しても、比較電極の内極が配置される位
置によつては、内部液の温度とサンプルの温度と
の温度勾配の影響を受けて、内極の温度特性に伴
う等温交点の移動が生じ、等温交点が不明確にな
り、折角内部液を調整しても精度の高い測定を行
えないことがあつた。これは、この種イオン濃度
測定用複合電極においては、イオン電極と比較電
極と温度補償用電極とをボデイ先端部に設けてい
るため、ボデイ先端部を大径にせざるを得なくな
ると共に、ボデイ先端部を熱伝導性が余りよくな
いプラスチツクによつて形成しているため、比較
電極の内極の温度が電極外部のサンプルの温度変
化に追従し難くなつているためと考えられる。
本考案は、上述の事柄に留意してなされたもの
で、その目的とするところは、比較電極の内極の
温度をサンプルの温度変化に可及的に追従させる
ことにより、明確な等温交点が得られるように
し、もつて精度の高い測定を行い得るイオン濃度
測定用複合電極を提供することにある。
で、その目的とするところは、比較電極の内極の
温度をサンプルの温度変化に可及的に追従させる
ことにより、明確な等温交点が得られるように
し、もつて精度の高い測定を行い得るイオン濃度
測定用複合電極を提供することにある。
上述の目的を達成するため、本考案に係るイオ
ン濃度測定用複合電極は、比較電極の内極を前記
ボデイ先端部端面から突出させ、この突出した内
極と前記イオン電極、温度補償用電極とを近接さ
せた点に特徴がある。
ン濃度測定用複合電極は、比較電極の内極を前記
ボデイ先端部端面から突出させ、この突出した内
極と前記イオン電極、温度補償用電極とを近接さ
せた点に特徴がある。
上記特徴的構成を有するイオン濃度測定用複合
電極においては、比較電極の内極がボデイ先端部
端面から突出しているので、内極はサンプルによ
り近くなり、内極の温度はサンプルの温度変化に
追従することができる。
電極においては、比較電極の内極がボデイ先端部
端面から突出しているので、内極はサンプルによ
り近くなり、内極の温度はサンプルの温度変化に
追従することができる。
従つて、明確な等温交点を得ることができるの
で、温度補償をより正確に行え、極めて精度の高
いイオン濃度の測定を行うことができる。
で、温度補償をより正確に行え、極めて精度の高
いイオン濃度の測定を行うことができる。
以下、本考案の一実施例を、図面に基づいて説
明する。
明する。
第１図Ａ，Ｂ及び第２図は本考案を適用した塩
化物イオン濃度測定用複合電極を示し、図におい
て、１はボデイ本体、２はこのボデイ本体１より
もやや小径に形成されたボデイ先端部で、両者
１，２は例えばプラスチツクを用いて一体的に成
形してある。
化物イオン濃度測定用複合電極を示し、図におい
て、１はボデイ本体、２はこのボデイ本体１より
もやや小径に形成されたボデイ先端部で、両者
１，２は例えばプラスチツクを用いて一体的に成
形してある。
ボデイ先端部２のボデイ本体１側との段差部３
近傍には、例えばプラスチツクよりなるキヤツプ
４を螺着するためのねじ部５が形成してある。
近傍には、例えばプラスチツクよりなるキヤツプ
４を螺着するためのねじ部５が形成してある。
６はボデイ先端部２の端面２ａに突設された検
出部で、この検出部６は、塩化物イオンに応答す
る応答部７ａを備えた塩化物イオン電極７、液絡
部８ａが形成された比較電極８、サーミスタ等よ
りなる温度補償用電極９より構成されている。
出部で、この検出部６は、塩化物イオンに応答す
る応答部７ａを備えた塩化物イオン電極７、液絡
部８ａが形成された比較電極８、サーミスタ等よ
りなる温度補償用電極９より構成されている。
前記塩化物イオン電極７及び温度補償用電極９
は従来よりある電極の構造と大差なないので、説
明は省略する。
は従来よりある電極の構造と大差なないので、説
明は省略する。
前記比較電極８は、その液絡保持部１０が従来
のこの種電極に比べて、ボデイ先端部２の端面２
ａから外方に突出するように形成してあり、この
液絡保持部１０の先端には液絡部８ａが設けられ
ている。そして、液絡保持部１０の内部には、約
0.01mol／1KCl溶液と約0.5〜1mol／1KNO3溶液
との混合液よりなる内部液１１が充填されると共
に、例えばAgClよりなる内極１２もボテイ先端
部２の端面２ａから外側に突出しており、液絡部
８ａの近傍まで延設されている。１３はこの内極
１に先端部を所定長さだけ残して内極１２を被覆
する例えばプラスチツクチユーブよりなる被覆体
である。１４はシール部材としてのパツキンであ
る。又、１５は段差部３に設けられるシール部材
としてのパツキンである。
のこの種電極に比べて、ボデイ先端部２の端面２
ａから外方に突出するように形成してあり、この
液絡保持部１０の先端には液絡部８ａが設けられ
ている。そして、液絡保持部１０の内部には、約
0.01mol／1KCl溶液と約0.5〜1mol／1KNO3溶液
との混合液よりなる内部液１１が充填されると共
に、例えばAgClよりなる内極１２もボテイ先端
部２の端面２ａから外側に突出しており、液絡部
８ａの近傍まで延設されている。１３はこの内極
１に先端部を所定長さだけ残して内極１２を被覆
する例えばプラスチツクチユーブよりなる被覆体
である。１４はシール部材としてのパツキンであ
る。又、１５は段差部３に設けられるシール部材
としてのパツキンである。
而して、上記構成の塩化物イオン濃度測定用複
合電極においては、比較電極８の内極１２をボデ
イ先端部２の端面２ａから突出させることによつ
て、この内極１２ができるだけイオン電極および
温度補償用電極に近接するようにしているので、
内極１２の温度もサンプルの温度変化に追従する
ことができるようになる。その結果、明確な等温
交点が得られるようになり、温度補償が正確に行
えるので、精度の高い測定を行うことができるよ
うになつた。
合電極においては、比較電極８の内極１２をボデ
イ先端部２の端面２ａから突出させることによつ
て、この内極１２ができるだけイオン電極および
温度補償用電極に近接するようにしているので、
内極１２の温度もサンプルの温度変化に追従する
ことができるようになる。その結果、明確な等温
交点が得られるようになり、温度補償が正確に行
えるので、精度の高い測定を行うことができるよ
うになつた。
本考案は、上記塩化物イオン濃度測定用複合電
極にのみ限られるものではなく、PH測定用複合電
極等他のイオン濃度測定用複合電極にも適用でき
ることは云うまでもない。
極にのみ限られるものではなく、PH測定用複合電
極等他のイオン濃度測定用複合電極にも適用でき
ることは云うまでもない。
以上説明したように、本考案に係るイオン濃度
測定用複合電極は、比較電極の内極を前記ボデイ
先端部端面から突出させ、この突出した内極と前
記イオン電極、温度補償用電極とを近接させてい
るので、内部液によつて覆われる内極の温度もイ
オン電極、温度補償電極と同じく外部のサンプル
の温度変化に追従させることができ、従つて、明
確な等温交点が得られるようになり、温度補償が
正確に行えるので、精度の高い測定を行うことが
できるようになつた。
測定用複合電極は、比較電極の内極を前記ボデイ
先端部端面から突出させ、この突出した内極と前
記イオン電極、温度補償用電極とを近接させてい
るので、内部液によつて覆われる内極の温度もイ
オン電極、温度補償電極と同じく外部のサンプル
の温度変化に追従させることができ、従つて、明
確な等温交点が得られるようになり、温度補償が
正確に行えるので、精度の高い測定を行うことが
できるようになつた。
又、内部液又は大気保存温度とサンプルとの温
度差がある場合においても、誤差の発生が少なく
なつた。
度差がある場合においても、誤差の発生が少なく
なつた。
第１図Ａ，Ｂ及び第２図は本考案の一実施例を
示し、第１図Ａはイオン濃度測定用複合電極の展
開断面図、同図Ｂはボデイ先端部端面の平面図、
第２図は前記複合電極の要部を示す一部破断斜視
図である。第３図は従来技術を説明するための温
度補償図である。 ２……ボデイ先端部、２ａ……端面、７……イ
オン電極、８……比較電極、１０……液絡保持
部、１２……内極。
示し、第１図Ａはイオン濃度測定用複合電極の展
開断面図、同図Ｂはボデイ先端部端面の平面図、
第２図は前記複合電極の要部を示す一部破断斜視
図である。第３図は従来技術を説明するための温
度補償図である。 ２……ボデイ先端部、２ａ……端面、７……イ
オン電極、８……比較電極、１０……液絡保持
部、１２……内極。
Claims (1)
- イオン電極と比較電極と温度補償用電極とをボ
デイ先端部に設けたイオン濃度測定用複合電極に
おいて、前記比較電極の内極を前記ボデイ先端部
端面から突出させ、この突出した内極と前記イオ
ン電極、温度補償用電極とを近接させたことを特
徴とするイオン濃度測定用複合電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987047454U JPH0537240Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987047454U JPH0537240Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63153164U JPS63153164U (ja) | 1988-10-07 |
| JPH0537240Y2 true JPH0537240Y2 (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=30868080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987047454U Expired - Lifetime JPH0537240Y2 (ja) | 1987-03-28 | 1987-03-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0537240Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010111531A2 (en) * | 2009-03-25 | 2010-09-30 | Senova Systems, Inc. | Device for detecting an analyte |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6175254A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Ｐｈ計センサ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0210459Y2 (ja) * | 1979-05-22 | 1990-03-15 |
-
1987
- 1987-03-28 JP JP1987047454U patent/JPH0537240Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6175254A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Ｐｈ計センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63153164U (ja) | 1988-10-07 |
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