JPH0537184A - 電子部品及びその並び不揃い検出方法 - Google Patents
電子部品及びその並び不揃い検出方法Info
- Publication number
- JPH0537184A JPH0537184A JP19380191A JP19380191A JPH0537184A JP H0537184 A JPH0537184 A JP H0537184A JP 19380191 A JP19380191 A JP 19380191A JP 19380191 A JP19380191 A JP 19380191A JP H0537184 A JPH0537184 A JP H0537184A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- total length
- series
- electronic component
- misalignment
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Control Of Conveyors (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 方向性を有し且つ同一のものが収納具に直列
に並べられて運搬または搬送される電子部品と、それを
収納具に直列に並べた際の相互間における方向の不揃い
有無をチェックする並び不揃い検出方法に関し、そのチ
ェックを簡便に行い得るようにすることを目的とする。 【構成】 電子部品1は、前記直列の方向で相対する側
面の一方の幅方向中心点を含む位置に凸部2を有し、他
方の側面の凸部2と対向する位置に凸部2が入る大きさ
の凹部3を有するようにし、検出方法は、並べた電子部
品1の隣接相互間を密接させた時の全長Lが、全電子部
品1の間で凸部2と凹部3が噛み合った時の全長L0より
長い時に前記不揃いが有ると判断するようにする。ま
た、前記相対する側面の幅方向中心を外した対向位置の
少なくとも一方に凸部を有するようにし、全長Lが全電
子部品の間で該凸部同士を突き合わせた時の全長より短
い時に前記不揃いが有ると判断するようにする。
に並べられて運搬または搬送される電子部品と、それを
収納具に直列に並べた際の相互間における方向の不揃い
有無をチェックする並び不揃い検出方法に関し、そのチ
ェックを簡便に行い得るようにすることを目的とする。 【構成】 電子部品1は、前記直列の方向で相対する側
面の一方の幅方向中心点を含む位置に凸部2を有し、他
方の側面の凸部2と対向する位置に凸部2が入る大きさ
の凹部3を有するようにし、検出方法は、並べた電子部
品1の隣接相互間を密接させた時の全長Lが、全電子部
品1の間で凸部2と凹部3が噛み合った時の全長L0より
長い時に前記不揃いが有ると判断するようにする。ま
た、前記相対する側面の幅方向中心を外した対向位置の
少なくとも一方に凸部を有するようにし、全長Lが全電
子部品の間で該凸部同士を突き合わせた時の全長より短
い時に前記不揃いが有ると判断するようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品及びその並び不
揃い検出方法に係り、特に、方向性を有し且つ同一のも
のが収納具に直列に並べられて運搬または搬送される電
子部品と、それを収納具に直列に並べた際の相互間にお
ける方向の不揃い有無をチェックする並び不揃い検出方
法に関する。
揃い検出方法に係り、特に、方向性を有し且つ同一のも
のが収納具に直列に並べられて運搬または搬送される電
子部品と、それを収納具に直列に並べた際の相互間にお
ける方向の不揃い有無をチェックする並び不揃い検出方
法に関する。
【0002】上記電子部品は、例えばコンテナと称する
管状の収納具を用いて顧客への出荷運搬や試験時の搬送
を行うDIP−IC ( Dual-inline-Package IC ) など
であり、端子配列に伴う方向性を有している。そこで収
納具に並べる際に、顧客での自動実装や試験機での装着
に都合が良いように相互間で方向の不揃いがないことを
求められる。顧客で自動実装を行う回路部品や継電器な
どにも同様のものがある。
管状の収納具を用いて顧客への出荷運搬や試験時の搬送
を行うDIP−IC ( Dual-inline-Package IC ) など
であり、端子配列に伴う方向性を有している。そこで収
納具に並べる際に、顧客での自動実装や試験機での装着
に都合が良いように相互間で方向の不揃いがないことを
求められる。顧客で自動実装を行う回路部品や継電器な
どにも同様のものがある。
【0003】このためその不揃い有無のチェックを行っ
ているが、本発明は、そのチェックの簡便化を図ろうと
するものである。
ているが、本発明は、そのチェックの簡便化を図ろうと
するものである。
【0004】
【従来の技術】図5は、上記電子部品としてDIP−I
Cを例にとった従来例を説明するための平面図であり、
図5(a) は単体を、図5(b) は並べた際の相互間の方向
の不揃い無しを、図5(c) は同じく方向の不揃い有りを
示し、この並び不揃いに着目することから何れもパッケ
ージの外形のみで記載してある。
Cを例にとった従来例を説明するための平面図であり、
図5(a) は単体を、図5(b) は並べた際の相互間の方向
の不揃い無しを、図5(c) は同じく方向の不揃い有りを
示し、この並び不揃いに着目することから何れもパッケ
ージの外形のみで記載してある。
【0005】同図において、11で示されるこのICは、
端子を導出するパッケージがほぼ直六面体状をなして前
記収納具に直列に並べた際に相互に触れ合い、端子配列
で定まる方向を示すために、パッケージの1側面に半円
の凹部12を設けたり、パッケージの上面片隅に捺印マー
クを付したりしている。
端子を導出するパッケージがほぼ直六面体状をなして前
記収納具に直列に並べた際に相互に触れ合い、端子配列
で定まる方向を示すために、パッケージの1側面に半円
の凹部12を設けたり、パッケージの上面片隅に捺印マー
クを付したりしている。
【0006】ところが、このICを並べる場合、それを
手で行うにしろ、機械で自動的に行うにしろ、相互間に
上記方向の不揃いが起きないという保証はない。そこ
で、その不揃い有無をチェックするために、目視または
機械による上記方向の全数検査が必要となっている。
手で行うにしろ、機械で自動的に行うにしろ、相互間に
上記方向の不揃いが起きないという保証はない。そこ
で、その不揃い有無をチェックするために、目視または
機械による上記方向の全数検査が必要となっている。
【0007】しかしながらこの全数検査は、現実的に時
間的・物理的制約があり、実施困難または不可能という
場合がある。
間的・物理的制約があり、実施困難または不可能という
場合がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このため、上記不揃い
有無のチェックが不十分のまま出荷されたり試験機に搬
送されたりして、トラブルの原因となる問題があった。
有無のチェックが不十分のまま出荷されたり試験機に搬
送されたりして、トラブルの原因となる問題があった。
【0009】そこで本発明は、方向性を有し且つ同一の
ものが収納具に直列に並べられて運搬または搬送される
電子部品と、それを収納具に直列に並べた際の相互間に
おける方向の不揃い有無をチェックする並び不揃い検出
方法に関し、そのチェックを簡便に行い得るようにする
ことを目的とする。
ものが収納具に直列に並べられて運搬または搬送される
電子部品と、それを収納具に直列に並べた際の相互間に
おける方向の不揃い有無をチェックする並び不揃い検出
方法に関し、そのチェックを簡便に行い得るようにする
ことを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。図1を参照して、上記目的を達成するため
に、本発明による第1の電子部品は、方向性を有し且つ
同一のものが収納具に直列に並べられて運搬または搬送
される電子部品1であって、前記直列の方向で相対する
側面の一方の幅方向中心点を含む位置に凸部2を有し、
他方の側面の該凸部と対向する位置に該凸部が入る大き
さの凹部3を有することを特徴としている。
図である。図1を参照して、上記目的を達成するため
に、本発明による第1の電子部品は、方向性を有し且つ
同一のものが収納具に直列に並べられて運搬または搬送
される電子部品1であって、前記直列の方向で相対する
側面の一方の幅方向中心点を含む位置に凸部2を有し、
他方の側面の該凸部と対向する位置に該凸部が入る大き
さの凹部3を有することを特徴としている。
【0011】そしてその電子部品1の場合の並び不揃い
検出方法は、電子部品1の所定数を前記収納具に直列に
並べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェック
する方法であって、並べた電子部品1の隣接相互間を密
接させた時の全長Lが、すべての電子部品1の間で凸部
2と凹部3が噛み合った時 (図1(a))の全長L0より長い
時 (図1(b))に、前記不揃いが有ると判断することを特
徴としている。
検出方法は、電子部品1の所定数を前記収納具に直列に
並べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェック
する方法であって、並べた電子部品1の隣接相互間を密
接させた時の全長Lが、すべての電子部品1の間で凸部
2と凹部3が噛み合った時 (図1(a))の全長L0より長い
時 (図1(b))に、前記不揃いが有ると判断することを特
徴としている。
【0012】また、図示を省略するが、本発明による第
2の電子部品は、方向性を有し且つ同一のものが収納具
に直列に並べられて運搬または搬送される電子部品にお
いて、前記直列の方向で相対する側面の幅方向中心を外
した対向位置の少なくとも一方に凸部を有することを特
徴としている。
2の電子部品は、方向性を有し且つ同一のものが収納具
に直列に並べられて運搬または搬送される電子部品にお
いて、前記直列の方向で相対する側面の幅方向中心を外
した対向位置の少なくとも一方に凸部を有することを特
徴としている。
【0013】そしてその電子部品の場合の並び不揃い検
出方法は、該電子部品の所定数を前記収納具に直列に並
べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェックす
る方法であって、並べた電子部品の隣接相互間を密接さ
せた時の全長が、すべての該電子部品の前記凸部が幅方
向の一方側に位置した時の全長より短い時に、前記不揃
いが有ると判断することを特徴としている。
出方法は、該電子部品の所定数を前記収納具に直列に並
べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェックす
る方法であって、並べた電子部品の隣接相互間を密接さ
せた時の全長が、すべての該電子部品の前記凸部が幅方
向の一方側に位置した時の全長より短い時に、前記不揃
いが有ると判断することを特徴としている。
【0014】
【作用】上記第1の電子部品1は、上記構成の凸部2及
び凹部3を有している。このことにより、上記収納具に
直列に密接させて並べた際に、相互間に方向の不揃いが
無い場合には隣接相互間で凸部2と凹部3が噛み合って
並びの全長LがL0と最も短くなり、その不揃いがある場
合には隣接相互間で凸部2同士の突き合わせられる箇所
が生じて並びの全長LがL0よりも長くなる。
び凹部3を有している。このことにより、上記収納具に
直列に密接させて並べた際に、相互間に方向の不揃いが
無い場合には隣接相互間で凸部2と凹部3が噛み合って
並びの全長LがL0と最も短くなり、その不揃いがある場
合には隣接相互間で凸部2同士の突き合わせられる箇所
が生じて並びの全長LがL0よりも長くなる。
【0015】従って、並びの相互間における方向の不揃
い有無のチェックは、従来例のような全数検査を必要と
しないで、上記全長Lの確認のみで済ますことが可能と
なり、そのチェックを簡便に行い得るようになる。
い有無のチェックは、従来例のような全数検査を必要と
しないで、上記全長Lの確認のみで済ますことが可能と
なり、そのチェックを簡便に行い得るようになる。
【0016】また上記第2の電子部品は、上記構成によ
る凸部を有している。このことにより、上記収納具に直
列に密接させて並べた際に、相互間に方向の不揃いが無
い場合にはすべての上記凸部が同一線上に位置して並び
の全長が最も長くなり、その不揃いがある場合には隣接
相互間で上記凸部が互い違いとなる箇所が生じて並びの
全長が短くなる。
る凸部を有している。このことにより、上記収納具に直
列に密接させて並べた際に、相互間に方向の不揃いが無
い場合にはすべての上記凸部が同一線上に位置して並び
の全長が最も長くなり、その不揃いがある場合には隣接
相互間で上記凸部が互い違いとなる箇所が生じて並びの
全長が短くなる。
【0017】従って、並びの相互間における方向の不揃
い有無のチェックは、第1の電子部品の場合と同様に、
従来例のような全数検査を必要としないで、上記全長の
確認のみで済ますことが可能となり、そのチェックを簡
便に行い得るようになる。
い有無のチェックは、第1の電子部品の場合と同様に、
従来例のような全数検査を必要としないで、上記全長の
確認のみで済ますことが可能となり、そのチェックを簡
便に行い得るようになる。
【0018】
【実施例】以下本発明の実施例について図2〜図4を用
いて説明する。図2は電子部品の実施例の平面図、図3
は並び不揃い検出の第1実施例を説明するための平面
図、図4は並び不揃い検出の第2実施例を説明するため
の平面図、である。いうまでもなくこれらの電子部品
は、先に述べたように、方向性を有し且つ同一のものが
収納具に直列に並べられて運搬または搬送されるもので
あり、該当するものに例えばDIP−IC,回路部品ま
たは継電器などがある。
いて説明する。図2は電子部品の実施例の平面図、図3
は並び不揃い検出の第1実施例を説明するための平面
図、図4は並び不揃い検出の第2実施例を説明するため
の平面図、である。いうまでもなくこれらの電子部品
は、先に述べたように、方向性を有し且つ同一のものが
収納具に直列に並べられて運搬または搬送されるもので
あり、該当するものに例えばDIP−IC,回路部品ま
たは継電器などがある。
【0019】図2において、図2(a) 〜(f) はそれぞれ
が先に述べた第1の電子部品の実施例を示し、図2(g),
(h) はそれぞれが先に述べた第2の電子部品の実施例を
示す。
が先に述べた第1の電子部品の実施例を示し、図2(g),
(h) はそれぞれが先に述べた第2の電子部品の実施例を
示す。
【0020】図2(a) 〜(f) のそれぞれに示す電子部品
1は、上記収納具に並べる直列の方向で相対する側面の
一方の幅方向中心点を含む位置に長手が高さ方向の凸部
2を有し、他方の側面の凸部2と対向する位置に凸部2
が入る大きさの凹部3を有している。
1は、上記収納具に並べる直列の方向で相対する側面の
一方の幅方向中心点を含む位置に長手が高さ方向の凸部
2を有し、他方の側面の凸部2と対向する位置に凸部2
が入る大きさの凹部3を有している。
【0021】また、図2(g),(h) のそれぞれに示す電子
部品6は、上記収納具に並べる直列の方向で相対する側
面のそれぞれの幅方向中心を外した片側の対向位置に凸
部7及び8を有している。この第2の電子部品としては
凸部7または8の一方を有すれば他方は無くとも良い。
部品6は、上記収納具に並べる直列の方向で相対する側
面のそれぞれの幅方向中心を外した片側の対向位置に凸
部7及び8を有している。この第2の電子部品としては
凸部7または8の一方を有すれば他方は無くとも良い。
【0022】そして、上述の凸部2,凹部3または凸部
7,8は、電子部品1または6を収納具に直列に並べた
際の相互間における方向の不揃い有無をチェックする並
び不揃い検出において、そのチェックを簡便に行い得る
ようにさせる。
7,8は、電子部品1または6を収納具に直列に並べた
際の相互間における方向の不揃い有無をチェックする並
び不揃い検出において、そのチェックを簡便に行い得る
ようにさせる。
【0023】即ち、図2(c) の電子部品1を例にとった
図3において、図3(a) は並び不揃いが無い場合、図3
(b) 〜(d) は並び不揃いが有る場合である。説明の簡便
化のため何れの場合も並べる数を3にして示してある
が、実際に並べる数は任意の所定数で良い。
図3において、図3(a) は並び不揃いが無い場合、図3
(b) 〜(d) は並び不揃いが有る場合である。説明の簡便
化のため何れの場合も並べる数を3にして示してある
が、実際に並べる数は任意の所定数で良い。
【0024】図3(a) では、電子部品1相互間を密接さ
せた時の全長は、隣接相互間で凸部2と凹部3が噛み合
って最も短いL0となる。これに対して、右端の電子部品
1が逆向きとなった図3(b) 、右端及び中央の電子部品
1が逆向きとなった図3(c)、中央の電子部品1が逆向
きとなった図3(d) では、隣接相互間で凸部2同士の突
き合わせられる箇所が生じて上記全長がL0より長いLと
なる。図3(b),(c) におけるL−L0は凸部2の高さの1
個分であり、図3(d) におけるL−L0は凸部2の高さの
2個分である。
せた時の全長は、隣接相互間で凸部2と凹部3が噛み合
って最も短いL0となる。これに対して、右端の電子部品
1が逆向きとなった図3(b) 、右端及び中央の電子部品
1が逆向きとなった図3(c)、中央の電子部品1が逆向
きとなった図3(d) では、隣接相互間で凸部2同士の突
き合わせられる箇所が生じて上記全長がL0より長いLと
なる。図3(b),(c) におけるL−L0は凸部2の高さの1
個分であり、図3(d) におけるL−L0は凸部2の高さの
2個分である。
【0025】この関係は、図2(a) 〜(f) における図2
(c) 以外の電子部品1においても同様に成立する。ま
た、図2(g) の電子部品6を例にとった図4において、
図4(a) は並び不揃いが無い場合、図4(b) 〜(d) は並
び不揃いが有る場合である。並べる数に関しては図3の
場合と同様である。
(c) 以外の電子部品1においても同様に成立する。ま
た、図2(g) の電子部品6を例にとった図4において、
図4(a) は並び不揃いが無い場合、図4(b) 〜(d) は並
び不揃いが有る場合である。並べる数に関しては図3の
場合と同様である。
【0026】図4(a) では、電子部品6相互間を密接さ
せた時の全長は、すべての凸部7,8が同一線上に位置
して最も長いL0となる。これに対して、右端の電子部品
1が逆向きとなった図4(b) 、右端及び中央の電子部品
1が逆向きとなった図4(c)、中央の電子部品1が逆向
きとなった図4(d) では、隣接相互間で凸部7同士や凸
部8同士の互い違いとなる箇所が生じて上記全長がL0よ
り短いLとなる。図4(b),(c) におけるL0−Lは凸部7
の1個分の高さであり、図4(d) におけるL0−Lは凸部
7と8の2個分の高さである。
せた時の全長は、すべての凸部7,8が同一線上に位置
して最も長いL0となる。これに対して、右端の電子部品
1が逆向きとなった図4(b) 、右端及び中央の電子部品
1が逆向きとなった図4(c)、中央の電子部品1が逆向
きとなった図4(d) では、隣接相互間で凸部7同士や凸
部8同士の互い違いとなる箇所が生じて上記全長がL0よ
り短いLとなる。図4(b),(c) におけるL0−Lは凸部7
の1個分の高さであり、図4(d) におけるL0−Lは凸部
7と8の2個分の高さである。
【0027】この関係は、図2(h) の電子部品6におい
ても似たように成立する。また、図2(g),(h) から凸部
7または8の一方が除かれた電子部品においても同様に
成立する。
ても似たように成立する。また、図2(g),(h) から凸部
7または8の一方が除かれた電子部品においても同様に
成立する。
【0028】従って、電子部品1または6の何れにおい
ても、並びの相互間における方向の不揃い有無のチェッ
クは、従来例のような全数検査を必要としないで、上記
全長Lが既知の全長L0と同等であるか否かという全長L
の確認のみで済ますことが可能であり、そのチェックを
簡便に行い得るようになる。
ても、並びの相互間における方向の不揃い有無のチェッ
クは、従来例のような全数検査を必要としないで、上記
全長Lが既知の全長L0と同等であるか否かという全長L
の確認のみで済ますことが可能であり、そのチェックを
簡便に行い得るようになる。
【0029】なお、図2(a) 〜(f) のそれぞれに示す電
子部品1において、相対する側面の一方の幅方向中心点
を含む位置に設ける凸部2の長手を幅方向にし、他方の
側面に設ける凹部3をこの凸部2に対応させても良く、
それによって、上述した並び不揃い検出方法を適用する
ことができる。
子部品1において、相対する側面の一方の幅方向中心点
を含む位置に設ける凸部2の長手を幅方向にし、他方の
側面に設ける凹部3をこの凸部2に対応させても良く、
それによって、上述した並び不揃い検出方法を適用する
ことができる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、方
向性を有し且つ同一のものが収納具に直列に並べられて
運搬または搬送される電子部品と、それを収納具に直列
に並べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェッ
クする並び不揃い検出方法に関し、そのチェックを並び
の全長確認で済ませるという簡便に行い得るようにする
ことができて、上記不揃い有無のチェックが不十分のま
ま出荷されたり試験機に搬送されたりして発生するトラ
ブルを解消可能にさせる効果がある。
向性を有し且つ同一のものが収納具に直列に並べられて
運搬または搬送される電子部品と、それを収納具に直列
に並べた際の相互間における方向の不揃い有無をチェッ
クする並び不揃い検出方法に関し、そのチェックを並び
の全長確認で済ませるという簡便に行い得るようにする
ことができて、上記不揃い有無のチェックが不十分のま
ま出荷されたり試験機に搬送されたりして発生するトラ
ブルを解消可能にさせる効果がある。
【図1】 本発明の原理説明図
【図2】 電子部品の実施例の平面図
【図3】 並び不揃い検出の第1実施例を説明するため
の平面図
の平面図
【図4】 並び不揃い検出の第2実施例を説明するため
の平面図
の平面図
【図5】 従来例を説明するための平面図
1,6,11 電子部品 2,7,8 凸部 3,12 凹部 L 電子部品相互間を密接させた時の全長 L0 並び不揃いが無くて密接させた時の全長
Claims (4)
- 【請求項1】 方向性を有し且つ同一のものが収納具に
直列に並べられて運搬または搬送される電子部品であっ
て、 前記直列の方向で相対する側面の一方の幅方向中心点を
含む位置に凸部を有し、他方の側面の該凸部と対向する
位置に該凸部が入る大きさの凹部を有することを特徴と
する電子部品。 - 【請求項2】 請求項1記載の電子部品の所定数を前記
収納具に直列に並べた際の相互間における方向の不揃い
有無をチェックする方法であって、 並べた電子部品の隣接相互間を密接させた時の全長が、
すべての該電子部品の間で前記凸部と凹部が噛み合った
時の全長より長い時に、前記不揃いが有ると判断するこ
とを特徴とする電子部品の並び不揃い検出方法。 - 【請求項3】 方向性を有し且つ同一のものが収納具に
直列に並べられて運搬または搬送される電子部品であっ
て、 前記直列の方向で相対する側面の幅方向中心を外した対
向位置の少なくとも一方に凸部を有することを特徴とす
る電子部品。 - 【請求項4】 請求項3記載の電子部品の所定数を前記
収納具に直列に並べた際の相互間における方向の不揃い
有無をチェックする方法であって、 並べた電子部品の隣接相互間を密接させた時の全長が、
すべての該電子部品の前記凸部が幅方向の一方側に位置
した時の全長より短い時に、前記不揃いが有ると判断す
ることを特徴とする電子部品の並び不揃い検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19380191A JPH0537184A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 電子部品及びその並び不揃い検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19380191A JPH0537184A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 電子部品及びその並び不揃い検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0537184A true JPH0537184A (ja) | 1993-02-12 |
Family
ID=16314003
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19380191A Withdrawn JPH0537184A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 電子部品及びその並び不揃い検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0537184A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7200349B2 (en) | 2002-11-29 | 2007-04-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Parts, and part supplying methods |
CN109041456A (zh) * | 2018-09-13 | 2018-12-18 | 格力电器(武汉)有限公司 | 物料状态的检测装置及焊接工艺流水线的控制装置 |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP19380191A patent/JPH0537184A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7200349B2 (en) | 2002-11-29 | 2007-04-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Parts, and part supplying methods |
CN109041456A (zh) * | 2018-09-13 | 2018-12-18 | 格力电器(武汉)有限公司 | 物料状态的检测装置及焊接工艺流水线的控制装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100414840B1 (ko) | 전자 부품용 트레이 | |
US4759488A (en) | Circuit board carrier | |
JPH0537184A (ja) | 電子部品及びその並び不揃い検出方法 | |
KR940012593A (ko) | 공정 데이타 확인/분석이 용이한 반도체 패키지 | |
JP2001106287A (ja) | 物品収納部材及び物品収納部材の判別方法 | |
JP2926587B1 (ja) | 検査用目盛り付き小型電子部品収納用トレイ | |
US5852324A (en) | Plastic body surface-mounting semiconductor power device having dimensional characteristics optimized for use of standard shipping and testing modes | |
EP1402763B1 (en) | apparatus for non-destructive testing of leaded packages | |
JPH0744043Y2 (ja) | プリント配線板 | |
KR200146688Y1 (ko) | 반도체 패키지 수납용 슬리이브 | |
JPH07183444A (ja) | 表面実装部品 | |
JPH0742199U (ja) | チップ部品振り込み治具 | |
JPH0586861B2 (ja) | ||
KR960000150Y1 (ko) | 더블 인라인 패키지 장착용 소켓 | |
CA1240405A (en) | Circuit board carrier | |
JP2697190B2 (ja) | Icデバイスの搬送装置 | |
JPH0274055A (ja) | Icパッケージ | |
KR19990000659U (ko) | 높이 측정이 용이한 포장용 박스 | |
KR940007653Y1 (ko) | 액정표시장치(lcd)용 베어 인쇄회로기판(pcb) 검사 시스템 | |
JPS6282365A (ja) | 電子部品の測定装置 | |
JPH09115949A (ja) | 位置ずれ検査パターンを有した電子装置およびその検査方法 | |
JP2788816B2 (ja) | Icパッケージ位置決め装置 | |
JPH0215658A (ja) | 半導体装置 | |
JPH09162329A (ja) | 樹脂封止型半導体装置およびその搬送方法 | |
JPS58143241A (ja) | 半導体装置の検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |