JPH0535383B2 - - Google Patents
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- JPH0535383B2 JPH0535383B2 JP59218567A JP21856784A JPH0535383B2 JP H0535383 B2 JPH0535383 B2 JP H0535383B2 JP 59218567 A JP59218567 A JP 59218567A JP 21856784 A JP21856784 A JP 21856784A JP H0535383 B2 JPH0535383 B2 JP H0535383B2
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- time
- value
- count value
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 44
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 44
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は測定パルスと時間パルスとを用いて単
位時間当りのデイジタル測定値を算出するのに好
適な測定パルス処理装置に関する。
位時間当りのデイジタル測定値を算出するのに好
適な測定パルス処理装置に関する。
［発明の技術的背景］
従来の測定パルス処理装置の構成を第３図に示
す。プラントの測定量、たとえば流量、速度など
は測定器１からパルス信号に変換されてパルス入
力装置２に伝送される。そこで、デジジタル信号
に変換され、そのデイジタル信号が記憶出来る測
定パルスカウンタ３で積算される。
す。プラントの測定量、たとえば流量、速度など
は測定器１からパルス信号に変換されてパルス入
力装置２に伝送される。そこで、デジジタル信号
に変換され、そのデイジタル信号が記憶出来る測
定パルスカウンタ３で積算される。
一方、計時モジユール４は水晶発振器などによ
つて構成されており、あらかじめ設定された時間
間隔で正確に時刻パルスを発生し、時刻パルスが
積算出来る時刻パルスカウンタ５の値を更新す
る。サンプリング管理装置６は、通常一定時間間
隔で測定パルスカウンタ３と時刻パルスカウンタ
５の内容をパルスカウント算出手段７へ送るサン
プル管理を行なつている。パルスカウント算出手
段７はサンプリング時になると、測定パルスカウ
ンタ３からデイジタル変換された測定データを読
み込むと同時に、時刻パルスカウンタ５から時刻
データを読み込ん、前回サンプリング時に読み込
んだ測定データと時刻データを前回値保存装置８
より読み出してそれぞれ今回値から前回値を引く
事により、前記サンプリング時と今回サンプリン
グ時の間（１サンプリング単位）における測定量
と時間に関するパルスカウント値を算出する。
つて構成されており、あらかじめ設定された時間
間隔で正確に時刻パルスを発生し、時刻パルスが
積算出来る時刻パルスカウンタ５の値を更新す
る。サンプリング管理装置６は、通常一定時間間
隔で測定パルスカウンタ３と時刻パルスカウンタ
５の内容をパルスカウント算出手段７へ送るサン
プル管理を行なつている。パルスカウント算出手
段７はサンプリング時になると、測定パルスカウ
ンタ３からデイジタル変換された測定データを読
み込むと同時に、時刻パルスカウンタ５から時刻
データを読み込ん、前回サンプリング時に読み込
んだ測定データと時刻データを前回値保存装置８
より読み出してそれぞれ今回値から前回値を引く
事により、前記サンプリング時と今回サンプリン
グ時の間（１サンプリング単位）における測定量
と時間に関するパルスカウント値を算出する。
前記パルスカウント算出手段７で得られた１サ
ンプリグン単位の測定量は、同じく前記パルスカ
ウント算出手段７で得られた１サンプリング単位
の時間を用いて時間補正手段９で除算される事に
より、測定量は時間基準の量（／Ｈ）へと変換さ
れる。更に、E.U.（Engineering Unit）値変換手
段１０で工学単位へと変換され、単位時間当りの
デイジタル測定値Ｐとしてデータベース１１へ更
新記憶される。
ンプリグン単位の測定量は、同じく前記パルスカ
ウント算出手段７で得られた１サンプリング単位
の時間を用いて時間補正手段９で除算される事に
より、測定量は時間基準の量（／Ｈ）へと変換さ
れる。更に、E.U.（Engineering Unit）値変換手
段１０で工学単位へと変換され、単位時間当りの
デイジタル測定値Ｐとしてデータベース１１へ更
新記憶される。
即ち、時間補正手段９とE.U.値変換手段１０
で行なわれる演算処理を式で表わすと下記(1)式の
ようになる。
で行なわれる演算処理を式で表わすと下記(1)式の
ようになる。
Ｐ＝P0−P1／Pt0−Pt1×Ｋ ……(1)
ここで、
Ｐ：求めるパルスE.U.値（単位時間当りのデイ
ジタル測定値） P0：今回のパルスカウンタの値 P1：前回のパルスカウンタの値 Pt0：今回の時刻パルスカウンタの値 Pt1：前回の時刻パルスカウンタの値 Ｋ：E.U.値変換定数 ［背景技術の問題点］ 通常、計時モジユール４のパルスは数ｍsecご
とに発生している。ここで、たとえば、火力発電
所の上記タービン回転数の時間補正を例にとる
と、計時モジユール４は５ｍsec間隔でパルスを
発生している。また、タービン回転数は一回転当
り４パルス発生するパルス検出器を用いて計測し
ている。従つて、蒸気タービンの定格回転数を
3000rpmとすると、前記(1)式よりＫ＝3000とな
る。
ジタル測定値） P0：今回のパルスカウンタの値 P1：前回のパルスカウンタの値 Pt0：今回の時刻パルスカウンタの値 Pt1：前回の時刻パルスカウンタの値 Ｋ：E.U.値変換定数 ［背景技術の問題点］ 通常、計時モジユール４のパルスは数ｍsecご
とに発生している。ここで、たとえば、火力発電
所の上記タービン回転数の時間補正を例にとる
と、計時モジユール４は５ｍsec間隔でパルスを
発生している。また、タービン回転数は一回転当
り４パルス発生するパルス検出器を用いて計測し
ている。従つて、蒸気タービンの定格回転数を
3000rpmとすると、前記(1)式よりＫ＝3000とな
る。
この状態で、サンプリング管理装置６によるサ
ンプリング周期を５秒とすると、タービン回転数
の５秒間のカウント値は3000×４×5/60＝1000カ
ウントである。一方、時刻パルスの５秒間のカウ
ント値は５／0.005＝1000カウントとなる。そこ
で、５秒間で得られるこれら測定データ、時刻デ
ータを基にタービン回転数測定値P1を前記(1)式
に従つて求めると、 P1＝1000／1000×3000＝3000（rpm） となる。
ンプリング周期を５秒とすると、タービン回転数
の５秒間のカウント値は3000×４×5/60＝1000カ
ウントである。一方、時刻パルスの５秒間のカウ
ント値は５／0.005＝1000カウントとなる。そこ
で、５秒間で得られるこれら測定データ、時刻デ
ータを基にタービン回転数測定値P1を前記(1)式
に従つて求めると、 P1＝1000／1000×3000＝3000（rpm） となる。
一方、サンプリング管理装置６のサンプリング
周期の変動により、パルスカウント算出手段７に
入力する時刻データが正常な場合より時刻パルス
を１カウント拾えなかつた場合のタービン回転数
測定値P2は前記(1)式より、 P2＝1000／999×3000≒3000（rpm） となる。
周期の変動により、パルスカウント算出手段７に
入力する時刻データが正常な場合より時刻パルス
を１カウント拾えなかつた場合のタービン回転数
測定値P2は前記(1)式より、 P2＝1000／999×3000≒3000（rpm） となる。
以上のことから明らかなように、サンプリング
周期の変動により、パルスカウント算出手段７に
入力する時刻データ（時間カウント値）が１カウ
ント狂つただけでもP2−P1＝３回転もの誤差が
発生することになる。
周期の変動により、パルスカウント算出手段７に
入力する時刻データ（時間カウント値）が１カウ
ント狂つただけでもP2−P1＝３回転もの誤差が
発生することになる。
この誤差を小さくするには、サンプリング周期
を長くとれば良いが、そうすると、測定量の細か
い変動が検出できなくなる。また、サンプリング
周期は変えずにパスル発生レートを変えるように
しても良いが、そうするとカウント数が増し桁数
の大きいカウンタが必要となるなど、これにはハ
ードウエア上の経済的制約がある。
を長くとれば良いが、そうすると、測定量の細か
い変動が検出できなくなる。また、サンプリング
周期は変えずにパスル発生レートを変えるように
しても良いが、そうするとカウント数が増し桁数
の大きいカウンタが必要となるなど、これにはハ
ードウエア上の経済的制約がある。
［発明の目的］
本発明はサンプリング周期を変えることなく、
簡単な構成で細かい変動の検出も可能とした測定
誤差の少ない高精度な測定パルス処理装置を提供
することを目的とする。
簡単な構成で細かい変動の検出も可能とした測定
誤差の少ない高精度な測定パルス処理装置を提供
することを目的とする。
［発明の概要］
このため本発明は、計時モジユールより更に高
精度パルスを取り出し、時間データとしてこのカ
ウント値も用いることにより、サンプリング周期
の変動による時間カウント値１カウント当りの測
定誤差を小さくしたことを特徴としている。
精度パルスを取り出し、時間データとしてこのカ
ウント値も用いることにより、サンプリング周期
の変動による時間カウント値１カウント当りの測
定誤差を小さくしたことを特徴としている。
［発明の実施例］
第１図は本発明の一実施例を示したもので、図
中、第３図と同一符号は同一又は相当部分を示
す。図の構成で第３図と異なる点は計時モジユー
ル４から高精度パルスを発生させると共に、この
パルスをカウントする高精度時刻パルスカウンタ
１２と、サンプリング管理装置６が定めたサンプ
リング周期ごとに高精度時刻パルスカウンタ１２
からパルスカウント値を読み込み、前回サンプリ
ング時のパルスカウント値を記憶している高精度
時刻パルス前回値保存装置１４のパルスカウント
値を用いてサンプリング間の高精度パルスカウン
ト値を求める高精度パルスカウント算出手段１３
を附加し、さらにすべてのパルス入力に対し、パ
ルス計算方法選択判定用に任意のパルスカウント
制限値を記憶してある記憶装置１５と、プラント
からのパルスカウントを算出するパルスカウント
算出手段７からの測定パルスカウント値と前記記
憶装置１５から取り出したカウント制限値を比較
して、従来通りの時刻パルスカウンタ５からの時
刻パルスカウント値を用いた計算と、その時刻パ
ルスカウント値と高精度時刻パルスカウンタ１２
から得られる高精度時刻パルスカウント値を併用
した計算を選択する比較判定手段１６と高精度時
刻パルスカウント値を加味した演算を行なう高精
度時間補正手段１７を附加した点である。
中、第３図と同一符号は同一又は相当部分を示
す。図の構成で第３図と異なる点は計時モジユー
ル４から高精度パルスを発生させると共に、この
パルスをカウントする高精度時刻パルスカウンタ
１２と、サンプリング管理装置６が定めたサンプ
リング周期ごとに高精度時刻パルスカウンタ１２
からパルスカウント値を読み込み、前回サンプリ
ング時のパルスカウント値を記憶している高精度
時刻パルス前回値保存装置１４のパルスカウント
値を用いてサンプリング間の高精度パルスカウン
ト値を求める高精度パルスカウント算出手段１３
を附加し、さらにすべてのパルス入力に対し、パ
ルス計算方法選択判定用に任意のパルスカウント
制限値を記憶してある記憶装置１５と、プラント
からのパルスカウントを算出するパルスカウント
算出手段７からの測定パルスカウント値と前記記
憶装置１５から取り出したカウント制限値を比較
して、従来通りの時刻パルスカウンタ５からの時
刻パルスカウント値を用いた計算と、その時刻パ
ルスカウント値と高精度時刻パルスカウンタ１２
から得られる高精度時刻パルスカウント値を併用
した計算を選択する比較判定手段１６と高精度時
刻パルスカウント値を加味した演算を行なう高精
度時間補正手段１７を附加した点である。
高精度時刻パルスは時刻パルスの発生周波数に
比べ、10倍以上の発生周波数をもつパルスで、時
刻パルスと時刻パルス間で高精度パルスカウンタ
１２へ積算されるもので、時刻パルスが発生する
たびに０ヘクリアされ、次の時刻パルスが発生す
るまで積算をする。
比べ、10倍以上の発生周波数をもつパルスで、時
刻パルスと時刻パルス間で高精度パルスカウンタ
１２へ積算されるもので、時刻パルスが発生する
たびに０ヘクリアされ、次の時刻パルスが発生す
るまで積算をする。
前記記憶装置１５に記憶されている任意のパル
スカウント制御値は高精度時刻パルスカウンタ１
２のカウント値を用いたパルス計算処理かそれと
も、従来通り、高精度時刻パルスカウンタ１２の
カウントを用いないで、計算するかを選択する為
のものであり、時刻パルスカウント数と同等レベ
ルの値が設定される。
スカウント制御値は高精度時刻パルスカウンタ１
２のカウント値を用いたパルス計算処理かそれと
も、従来通り、高精度時刻パルスカウンタ１２の
カウントを用いないで、計算するかを選択する為
のものであり、時刻パルスカウント数と同等レベ
ルの値が設定される。
次に以上のように構成される測定パルス処理装
置の動作を第２図のタイムチヤートを参照して説
明する。
置の動作を第２図のタイムチヤートを参照して説
明する。
測定器１より発生するパルスはパルス入力装置
２を通して測定パルスカウンタ３をカウントアツ
プする。一方、計時モジユール４より発生する通
常の時刻パルスは時刻パルスカウンタ５をカウン
トアツプし、高精度時刻パルスは高精度時刻パル
スカウンタ１２をカウントアツプする。
２を通して測定パルスカウンタ３をカウントアツ
プする。一方、計時モジユール４より発生する通
常の時刻パルスは時刻パルスカウンタ５をカウン
トアツプし、高精度時刻パルスは高精度時刻パル
スカウンタ１２をカウントアツプする。
前記測定パルスカウンタ３、時刻パルスカウン
タ５のカウンタはあらかじめ、ビツト長が決めら
れており、カウント値が満杯になるとカウンタを
０へクリアし、更新処理は続行する。これにより
常に前回サンプリング時点とのカウント値の差の
算出が可能となる。即ち、カウント値が満杯にな
る迄は後述第２図に示すP0−P1、Pt0−Pt1で算出
できる。一方、前回サンプリング時点が満杯の手
前であり、今回サンプリング時点が更新処理後の
場合は、測定パルスカウンタ３の最大カウント値
をＰ、時刻パルスカウンタ５の最大カウント値を
Ptとして、P0−P1＋Ｐ、Pt0−Pt1＋Ptで算出で
きる。
タ５のカウンタはあらかじめ、ビツト長が決めら
れており、カウント値が満杯になるとカウンタを
０へクリアし、更新処理は続行する。これにより
常に前回サンプリング時点とのカウント値の差の
算出が可能となる。即ち、カウント値が満杯にな
る迄は後述第２図に示すP0−P1、Pt0−Pt1で算出
できる。一方、前回サンプリング時点が満杯の手
前であり、今回サンプリング時点が更新処理後の
場合は、測定パルスカウンタ３の最大カウント値
をＰ、時刻パルスカウンタ５の最大カウント値を
Ptとして、P0−P1＋Ｐ、Pt0−Pt1＋Ptで算出で
きる。
高精度時刻パルスカウンタ１２は計時モジユー
ル４より、発生するパルスが時刻パルスカウンタ
５を更新する時点で０にクリアされ、引き続きカ
ウントアツプする。つまり、第２図ｃ，ｅのタイ
ミング図から判るように、高精度時刻パルスカウ
ンタ１２は、時刻パルスの発生に同期してクリア
されると同時に再び前記時刻パルスより細かい周
期の高精度時刻パルスを積算する動作を繰り返
す。
ル４より、発生するパルスが時刻パルスカウンタ
５を更新する時点で０にクリアされ、引き続きカ
ウントアツプする。つまり、第２図ｃ，ｅのタイ
ミング図から判るように、高精度時刻パルスカウ
ンタ１２は、時刻パルスの発生に同期してクリア
されると同時に再び前記時刻パルスより細かい周
期の高精度時刻パルスを積算する動作を繰り返
す。
第２図においてTtは現時点のサンプリングを
示し、Tt−1は一回前のサンプリング時点を示し
ている。
示し、Tt−1は一回前のサンプリング時点を示し
ている。
P0は測定器１よりのパルスを更新する測定パ
ルスカウンタ３のカウント値、Pt0は計時モジユ
ール４よりのパルスを更新する時刻パルスカウン
タ５のカウント値、C2は高精度時刻パルスカウ
ンタ１２のカウント値を読み込んだ値を示す。
ルスカウンタ３のカウント値、Pt0は計時モジユ
ール４よりのパルスを更新する時刻パルスカウン
タ５のカウント値、C2は高精度時刻パルスカウ
ンタ１２のカウント値を読み込んだ値を示す。
また、P1は測定器１よりのパルスを更新する
測定パルスカウンタ３の１回前のサンプリング時
点Tt−1のカウント数、Pt1は計時モジユール４
よりのパルスを更新する時刻パルスカウンタ５の
一回前のサンプリング時点Tt−1のカウント数を
前回値保存装置８より取り出したものである。
C1は高精度時刻パスウカウンタ１２の一回前の
サンプリング時点Tt−1のカウント数を高精度時
刻パルス前回値保存装置１４より取り出したもの
である。
測定パルスカウンタ３の１回前のサンプリング時
点Tt−1のカウント数、Pt1は計時モジユール４
よりのパルスを更新する時刻パルスカウンタ５の
一回前のサンプリング時点Tt−1のカウント数を
前回値保存装置８より取り出したものである。
C1は高精度時刻パスウカウンタ１２の一回前の
サンプリング時点Tt−1のカウント数を高精度時
刻パルス前回値保存装置１４より取り出したもの
である。
ここで、１サンプリング周期当り（Tt−Tt−
１）における測定器１より発生したパルスカウン
ト数、計時モジユール４より発生したパルスカウ
ント数、高精度時刻パルスカウンタ１２のカウン
ト数の差はそれぞれ（P0−P1）、（Pt0−Pt1）、
（C2−C1）となる。
１）における測定器１より発生したパルスカウン
ト数、計時モジユール４より発生したパルスカウ
ント数、高精度時刻パルスカウンタ１２のカウン
ト数の差はそれぞれ（P0−P1）、（Pt0−Pt1）、
（C2−C1）となる。
比較判定手段１６は、求められた１サンプリン
グ周期当りの測定器１より発生したパルスカウン
ト数（P0−P1）により、記憶装置１５に予め記
憶しておいた任意のパルス計算方法選択用のパル
スカウント制限値を用いて、高精度パルスカウン
ト数を用いた計算を行なうか否かを選択する。即
ち、求められた１サンプリング周期当りの測定器
１より発生したパルスカウント数（P0−P1）が
記憶装置１５に記憶してあるパルスカウン制限値
よりも少なければ、従来通りの計算を行ない、逆
に多い時には高精度時刻パルスカウンタ１２の１
サンプリング周期当りのカンウント値（C2−C1）
を用いた計算を行なう。
グ周期当りの測定器１より発生したパルスカウン
ト数（P0−P1）により、記憶装置１５に予め記
憶しておいた任意のパルス計算方法選択用のパル
スカウント制限値を用いて、高精度パルスカウン
ト数を用いた計算を行なうか否かを選択する。即
ち、求められた１サンプリング周期当りの測定器
１より発生したパルスカウント数（P0−P1）が
記憶装置１５に記憶してあるパルスカウン制限値
よりも少なければ、従来通りの計算を行ない、逆
に多い時には高精度時刻パルスカウンタ１２の１
サンプリング周期当りのカンウント値（C2−C1）
を用いた計算を行なう。
このカウント値ベースでの計算結果に、E.U.
値変換手段１０でE.U.値表現を行なう為の変換
定数Ｋを乗じ、データベース１１を更新する。
値変換手段１０でE.U.値表現を行なう為の変換
定数Ｋを乗じ、データベース１１を更新する。
上記高精度時間補正手段１７、E.U.値変換手
段１０で行なわれる高精度時刻パルスカウンタ１
２のカウント値を用いた場合の計算式を示すと以
下のようになる。
段１０で行なわれる高精度時刻パルスカウンタ１
２のカウント値を用いた場合の計算式を示すと以
下のようになる。
Ｐ＝（P0−P1）×Ｃ／（Pt0−Pt1）×Ｃ−C1＋C2×Ｋ…
…(2) Ｐ：求めるパルスE.U.値（単位時間当りのデイ
ジタル測定値） P0：今回のパルスカウンタの値 P1：前回のパルスカウンタの値 Pt0：今回の時刻パルスカウンタの値 Pt1：前回の時刻パルスカウンタの値 Ｃ：計時モジユール時刻パルス１カウント当りの
高精度時刻パルスカウント数 C1：前回の高精度時刻パルスカウンタの値 C2：今回の高精度時刻パルスカウンタの値 Ｋ：E.U.値変換定数 即ち、第２図のｄ，ｅから明らかなように、
Tt−Tt−1間の高精度時刻パルスカウンタ値は、
時刻パルス１カウントが高精度時刻パルスＣカウ
ントに相当することから、先ず、第２図ｄに示す
時刻パルスカウント値（Pt0−Pt1）を高精度時刻
パルスカウント値に変換すると、（Pt0−Pt1）×Ｃ
となる。次にその端数は第２図ｅより（C2−C1）
であるから前記(2)の右辺の分母である１サンプリ
ング周期当りの高精度時刻パルスカウント値が得
られる。次に、Tt−Tt−1間の測定パルスカウン
ト値（P0−P1）は、E.U.値変換定数Ｋを前記(1)
式と同じにした場合、Ｃ倍する必要があることか
ら、前記(2)式の右辺分子である１サンプリング周
期当りの高精度測定パルスカウント値が得られ
る。このように、従来の時刻パルス間隔よりも細
い高精度時刻パルスを用いて単位時間当りのデイ
ジタル測定値Ｐを計算することにより、サンプリ
ング周期が多少変動して誤差の少ない測定値が得
られる。
…(2) Ｐ：求めるパルスE.U.値（単位時間当りのデイ
ジタル測定値） P0：今回のパルスカウンタの値 P1：前回のパルスカウンタの値 Pt0：今回の時刻パルスカウンタの値 Pt1：前回の時刻パルスカウンタの値 Ｃ：計時モジユール時刻パルス１カウント当りの
高精度時刻パルスカウント数 C1：前回の高精度時刻パルスカウンタの値 C2：今回の高精度時刻パルスカウンタの値 Ｋ：E.U.値変換定数 即ち、第２図のｄ，ｅから明らかなように、
Tt−Tt−1間の高精度時刻パルスカウンタ値は、
時刻パルス１カウントが高精度時刻パルスＣカウ
ントに相当することから、先ず、第２図ｄに示す
時刻パルスカウント値（Pt0−Pt1）を高精度時刻
パルスカウント値に変換すると、（Pt0−Pt1）×Ｃ
となる。次にその端数は第２図ｅより（C2−C1）
であるから前記(2)の右辺の分母である１サンプリ
ング周期当りの高精度時刻パルスカウント値が得
られる。次に、Tt−Tt−1間の測定パルスカウン
ト値（P0−P1）は、E.U.値変換定数Ｋを前記(1)
式と同じにした場合、Ｃ倍する必要があることか
ら、前記(2)式の右辺分子である１サンプリング周
期当りの高精度測定パルスカウント値が得られ
る。このように、従来の時刻パルス間隔よりも細
い高精度時刻パルスを用いて単位時間当りのデイ
ジタル測定値Ｐを計算することにより、サンプリ
ング周期が多少変動して誤差の少ない測定値が得
られる。
即ち、前記タービン回転数を測定する従来例と
同様、サンプリング時間を５秒、時刻パルスの周
期を５ｍｓ、タービン回転数定格値を3000rpm、
時刻パルス１カウントに相当する高精度時刻パル
スのカウント値Ｃを10とすると、ミスパルスが無
い場合のタービン回転数測定値P3は、 P3＝1000×10／1000×10＋０×3000＝3000（rpm） となる。
同様、サンプリング時間を５秒、時刻パルスの周
期を５ｍｓ、タービン回転数定格値を3000rpm、
時刻パルス１カウントに相当する高精度時刻パル
スのカウント値Ｃを10とすると、ミスパルスが無
い場合のタービン回転数測定値P3は、 P3＝1000×10／1000×10＋０×3000＝3000（rpm） となる。
一方、サンプリング管理装置６のサンプリング
周期の変動により高精度時刻パルスが１パルス拾
えなかつた場合のタービン回転数測定値P4は、 P4＝1000×10／999×10＋９×3000≒3000.3（rpm） となり、誤差はP3−P4＝0.3回転となる。
周期の変動により高精度時刻パルスが１パルス拾
えなかつた場合のタービン回転数測定値P4は、 P4＝1000×10／999×10＋９×3000≒3000.3（rpm） となり、誤差はP3−P4＝0.3回転となる。
このように、時刻パルスの1/10周期の高精度時
刻パルスカウント値を用いて単位時間当りの高精
度デイジタル測定値Ｐを計算すれば、１パルス当
りの誤差従来の1/10程度に減少させることができ
る。
刻パルスカウント値を用いて単位時間当りの高精
度デイジタル測定値Ｐを計算すれば、１パルス当
りの誤差従来の1/10程度に減少させることができ
る。
また、このとき用いる高精度時刻パルスカウン
タ１２はＣカウントするだけの容量があれば良い
ため、廉価に構成できる。
タ１２はＣカウントするだけの容量があれば良い
ため、廉価に構成できる。
［発明の効果］
以上にように本発明によれば、高精度時刻パル
スを用いて単位時間当りのデイジタル測定値を算
出するようにしたので、サンプリング周期を短く
しても誤差を少なくすることができ、測定値の細
かい変動も検出できる高精度の測定パルス処理装
置が得られる。
スを用いて単位時間当りのデイジタル測定値を算
出するようにしたので、サンプリング周期を短く
しても誤差を少なくすることができ、測定値の細
かい変動も検出できる高精度の測定パルス処理装
置が得られる。
第１図は本発明の一実施例を示す測定パルス処
理装置のブロツク構成図、第２図ａ〜ｅは第１図
における高精度時刻パルスを用いた単位時間当り
のデイジタル測定値算出方法説明図、第３図は従
来の測定パルス処理装置のブロツク構成図であ
る。 １……測定器、２……パルス入力装置、３……
測定パルスカウンタ、４……計時モジユール、５
……時刻パルスカウンタ、６……サンプリング管
理装置、７……パルスカウント算出手段、８……
前回値保存装置、９……時間補正手段、１０……
E.U.値変換手段、１１……データベース、１２
……高精度時刻パルスカウンタ、１３……高精度
パルスカウント算出手段、１４……高精度時刻パ
ルス前回値保存装置、１５……記憶装置、１６…
…比較判定手段、１７……高精度時間補正手段。
理装置のブロツク構成図、第２図ａ〜ｅは第１図
における高精度時刻パルスを用いた単位時間当り
のデイジタル測定値算出方法説明図、第３図は従
来の測定パルス処理装置のブロツク構成図であ
る。 １……測定器、２……パルス入力装置、３……
測定パルスカウンタ、４……計時モジユール、５
……時刻パルスカウンタ、６……サンプリング管
理装置、７……パルスカウント算出手段、８……
前回値保存装置、９……時間補正手段、１０……
E.U.値変換手段、１１……データベース、１２
……高精度時刻パルスカウンタ、１３……高精度
パルスカウント算出手段、１４……高精度時刻パ
ルス前回値保存装置、１５……記憶装置、１６…
…比較判定手段、１７……高精度時間補正手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 発生する測定パルスを積算する測定パルスカ
ウンタと、 発生する時刻パルスを積算する時刻パルスカウ
ンタと、 前記時刻パルスの発生に同期てクリアされると
同時に再び前記時刻パルスにより細かい周期の高
精度時刻パルスを積算する動作を繰り返す高精度
時刻パルスカウンタと、 これら各パルスカウンタの測定パルスカウント
値、時刻パルスカウント値および高精度時刻パル
スカウント値を一定周期でサンプリングするサン
プリング管理装置と、 サンプリングされた前記測定パルスカウント値
および時刻パルスカウント値の前回値と今回値か
ら１サンプリング周期当りのカウント値を算出す
るパルスカウント算出手段と、 このパルス算出手段で算出された１サンプリン
グ周期当りの測定パルスカウント値と制限値の大
小を比較する比較手段と、 前記測定パルスカウント値が前記制限値より小
さいとき、前記測定パルスカウント値を前記パル
スカウント値で除算することにより、単位時間当
りのデイジタル測定値を算出する時間補正手段
と、 前記サンプリング管理装置によりサンプリング
された前記高精度時刻パルスカウント値の前回値
と今回値から１サンプリング周期当りのカウント
値を算出する高精度パルスカウント算出手段と、 前記比較手段での比較結果により、前記測定パ
ルスカウント値が前記制限値より大きいとき、前
記高精度パルスカウント算出手段で算出されたカ
ウント値と前記高パルスカウント算出手段で算出
されたカウント値とを用いて１サンプリング周期
当りの高精度時刻パルスカウント値と高精度測定
パルスカウント値とを算出し、この高精度測定パ
ルスカウント値を前記高精度時刻パルスカウント
値で除算することにより単位時間当りの高精度デ
イジタル測定値を算出する高精度時間補正手段 とを備えていることを特徴とする測定パルス処理
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21856784A JPS6197578A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 測定パルス処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21856784A JPS6197578A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 測定パルス処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6197578A JPS6197578A (ja) | 1986-05-16 |
| JPH0535383B2 true JPH0535383B2 (ja) | 1993-05-26 |
Family
ID=16721962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21856784A Granted JPS6197578A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 測定パルス処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6197578A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2826763B2 (ja) * | 1990-05-21 | 1998-11-18 | キヤノン株式会社 | 薄板検出装置 |
| JP6452943B2 (ja) * | 2014-02-27 | 2019-01-16 | 株式会社メガチップス | 周波数比較器 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542281U (ja) * | 1977-06-08 | 1979-01-09 | ||
| JPS5691020A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-23 | Teijin Ltd | False twister |
| JPS58213254A (ja) * | 1982-03-22 | 1983-12-12 | ザ・ベンデイツクス・コ−ポレ−シヨン | 回転している物体の速さを測定する方法および装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS609260Y2 (ja) * | 1981-12-11 | 1985-04-02 | 新田ベルト株式会社 | 撚糸用無端ベルト |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP21856784A patent/JPS6197578A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542281U (ja) * | 1977-06-08 | 1979-01-09 | ||
| JPS5691020A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-23 | Teijin Ltd | False twister |
| JPS58213254A (ja) * | 1982-03-22 | 1983-12-12 | ザ・ベンデイツクス・コ−ポレ−シヨン | 回転している物体の速さを測定する方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6197578A (ja) | 1986-05-16 |
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