JPH05325553A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH05325553A JPH05325553A JP4133212A JP13321292A JPH05325553A JP H05325553 A JPH05325553 A JP H05325553A JP 4133212 A JP4133212 A JP 4133212A JP 13321292 A JP13321292 A JP 13321292A JP H05325553 A JPH05325553 A JP H05325553A
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- JP
- Japan
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- serial
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構成でパラレルデータアクセスとシリ
アルデータアクセスが独立して行なうことのできる半導
体記憶装置を提供する。 【構成】 第1のワード線/ビット線と、第1のワード
線/ビット線と直交する第2のワード線/ビット線を備
えた記憶素子により、記憶素子列の一部あるいは全部を
構成し、第1のワード線にはパラレルデータアクセス用
の第1のアドレスデコーダが接続され、第2のワード線
にはシリアルデータアクセス用の第2のアドレスデコー
ダを接続し、シリアル転送用のカウンタ出力を第2のア
ドレスデコーダに接続した。
アルデータアクセスが独立して行なうことのできる半導
体記憶装置を提供する。 【構成】 第1のワード線/ビット線と、第1のワード
線/ビット線と直交する第2のワード線/ビット線を備
えた記憶素子により、記憶素子列の一部あるいは全部を
構成し、第1のワード線にはパラレルデータアクセス用
の第1のアドレスデコーダが接続され、第2のワード線
にはシリアルデータアクセス用の第2のアドレスデコー
ダを接続し、シリアル転送用のカウンタ出力を第2のア
ドレスデコーダに接続した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は複数のワード線/ビット
線を備えた記憶素子を用いて、シリアルデータアクセス
とパラレルデータアクセスを独立して行なうことを可能
にした半導体記憶装置に関する。
線を備えた記憶素子を用いて、シリアルデータアクセス
とパラレルデータアクセスを独立して行なうことを可能
にした半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロコンピュータの高速化・
高機能化に伴い、半導体記憶装置にも高機能化が求めら
れるようになってきている。
高機能化に伴い、半導体記憶装置にも高機能化が求めら
れるようになってきている。
【0003】以下に従来の半導体記憶装置について説明
する。図3は従来の半導体記憶装置の構成図であり、図
4は従来の記憶素子の構成図である。1はビット線をプ
リチャージするプリチャージ装置、2はワード線を駆動
するデコーダ、3は記憶素子列、4はビット線を選択す
るセレクタ、5はデータの入出力を制御する入出力制御
装置、31a、31bはトランジスタ、31c、31d
はインバータである。
する。図3は従来の半導体記憶装置の構成図であり、図
4は従来の記憶素子の構成図である。1はビット線をプ
リチャージするプリチャージ装置、2はワード線を駆動
するデコーダ、3は記憶素子列、4はビット線を選択す
るセレクタ、5はデータの入出力を制御する入出力制御
装置、31a、31bはトランジスタ、31c、31d
はインバータである。
【0004】以上のように構成された半導体記憶装置に
ついて、以下その動作を説明する。まず、プリチャージ
信号PCHGがアクティブになると、1のプリチャージ
装置により、3の記憶素子列のビット線11がプリチャ
ージされる。同時に5の入出力制御装置1により、45
のセレクタ出力もプリチャージされる。次に、データ書
き込み/読み出しタイミング信号CLKがアクティブに
なると、21のデコーダは24のアドレス入力により選
択されたワード線をアクティブにし、41〜44のセレ
クタは22のデコーダ出力により11のビット線を選択
する。データ方向制御信号WRがアクティブであれば、
55のパラレルデータ入出力のパラレルデータが41〜
44のセレクタにより選択されたビット線に出力され
る。今、21のデコーダにより23aのワード線がアク
ティブになり、22のデコーダにより41のセレクタが
31の記憶素子に接続されたビット線を選択していると
すると、パラレルデータ入出力D0のデータは、51の
入出力制御装置と41のセレクタを介して、図4のビッ
ト線11a、11bに出力される。このとき11aのビ
ット線にはD0のデータが出力され、11bのビット線
にはD0のデータを反転したデータが出力されている。
23aのワード線により31a、31bのトランジスタ
はON状態であるから、31c、31dのインバータで
構成されたデータ保持装置にビット線データが書き込ま
れる。WRが非アクティブの時は、21のデコーダによ
りアクティブにされたワード線に接続された記憶素子の
記憶データがビット線に出力され、4のセレクタと5の
入出力制御装置を介して55のパラレルデータ入出力に
出力される。
ついて、以下その動作を説明する。まず、プリチャージ
信号PCHGがアクティブになると、1のプリチャージ
装置により、3の記憶素子列のビット線11がプリチャ
ージされる。同時に5の入出力制御装置1により、45
のセレクタ出力もプリチャージされる。次に、データ書
き込み/読み出しタイミング信号CLKがアクティブに
なると、21のデコーダは24のアドレス入力により選
択されたワード線をアクティブにし、41〜44のセレ
クタは22のデコーダ出力により11のビット線を選択
する。データ方向制御信号WRがアクティブであれば、
55のパラレルデータ入出力のパラレルデータが41〜
44のセレクタにより選択されたビット線に出力され
る。今、21のデコーダにより23aのワード線がアク
ティブになり、22のデコーダにより41のセレクタが
31の記憶素子に接続されたビット線を選択していると
すると、パラレルデータ入出力D0のデータは、51の
入出力制御装置と41のセレクタを介して、図4のビッ
ト線11a、11bに出力される。このとき11aのビ
ット線にはD0のデータが出力され、11bのビット線
にはD0のデータを反転したデータが出力されている。
23aのワード線により31a、31bのトランジスタ
はON状態であるから、31c、31dのインバータで
構成されたデータ保持装置にビット線データが書き込ま
れる。WRが非アクティブの時は、21のデコーダによ
りアクティブにされたワード線に接続された記憶素子の
記憶データがビット線に出力され、4のセレクタと5の
入出力制御装置を介して55のパラレルデータ入出力に
出力される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では記憶素子列に記憶された記憶データはパラ
レルデータアクセスしかできず、シリアルデータアクセ
スするためにはシリアル転送用のデータバッファを設
け、データバッファにパラレルデータを一旦転送する必
要があった。このため頻繁にシリアルデータアクセスを
する場合には、そのたびごとにデータバッファへのパラ
レルデータ転送を行なう必要があった。
来の構成では記憶素子列に記憶された記憶データはパラ
レルデータアクセスしかできず、シリアルデータアクセ
スするためにはシリアル転送用のデータバッファを設
け、データバッファにパラレルデータを一旦転送する必
要があった。このため頻繁にシリアルデータアクセスを
する場合には、そのたびごとにデータバッファへのパラ
レルデータ転送を行なう必要があった。
【0006】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、シリアル転送用のデータバッファを必要とせず、ま
たパラレルデータアクセスとシリアルデータアクセスが
独立して行なうことのできる半導体記憶装置を提供する
ことを目的とする。
で、シリアル転送用のデータバッファを必要とせず、ま
たパラレルデータアクセスとシリアルデータアクセスが
独立して行なうことのできる半導体記憶装置を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の半導体記憶装置は、第1のワード線/ビット
線と、第1のワード線/ビット線と直交する第2のワー
ド線/ビット線を備えた記憶素子により、記憶素子列の
一部あるいは全部を構成し、第1のワード線にはパラレ
ルデータアクセス用の第1のアドレスデコーダが接続さ
れ、第2のワード線にはシリアルデータアクセス用の第
2のアドレスデコーダを接続し、シリアル転送用のカウ
ンタ出力を第2のアドレスデコーダに接続した構成を有
する。
に本発明の半導体記憶装置は、第1のワード線/ビット
線と、第1のワード線/ビット線と直交する第2のワー
ド線/ビット線を備えた記憶素子により、記憶素子列の
一部あるいは全部を構成し、第1のワード線にはパラレ
ルデータアクセス用の第1のアドレスデコーダが接続さ
れ、第2のワード線にはシリアルデータアクセス用の第
2のアドレスデコーダを接続し、シリアル転送用のカウ
ンタ出力を第2のアドレスデコーダに接続した構成を有
する。
【0008】
【作用】この構成によりシリアルデータアクセスを行な
っているデータ領域以外であれば、シリアルデータアク
セスとパラレルデータアクセスを独立して行なうことが
可能である。また、シリアルデータアクセスのタイミン
グとパラレルデータアクセスのタイミングを時分割にす
ることで、シリアルデータアクセスとパラレルデータア
クセスを完全に独立して行なうことが可能となる。
っているデータ領域以外であれば、シリアルデータアク
セスとパラレルデータアクセスを独立して行なうことが
可能である。また、シリアルデータアクセスのタイミン
グとパラレルデータアクセスのタイミングを時分割にす
ることで、シリアルデータアクセスとパラレルデータア
クセスを完全に独立して行なうことが可能となる。
【0009】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例における半導体記
憶装置の構成図を示すものであり、また、図2は本発明
の一実施例における記憶素子の構成図を示すものであ
る。図1において、6は2本のワード線/ビット線を備
えた記憶素子列、7は6の記憶素子のシリアルアクセス
用のワード線を駆動するデコーダ、8はカウンタ出力が
7のデコーダ入力に接続され、シリアル転送クロックS
CTによりカウント動作するカウンタ、10はシリアル
アクセス用のビット線をプリチャージするプリチャージ
装置、40はシリアルアクセス用のビット線を選択する
セレクタ、50はシリアルデータの入出力を制御する入
出力制御装置である。図2において、61a〜dはトラ
ンジスタ、61e、61fはインバータである。
憶装置の構成図を示すものであり、また、図2は本発明
の一実施例における記憶素子の構成図を示すものであ
る。図1において、6は2本のワード線/ビット線を備
えた記憶素子列、7は6の記憶素子のシリアルアクセス
用のワード線を駆動するデコーダ、8はカウンタ出力が
7のデコーダ入力に接続され、シリアル転送クロックS
CTによりカウント動作するカウンタ、10はシリアル
アクセス用のビット線をプリチャージするプリチャージ
装置、40はシリアルアクセス用のビット線を選択する
セレクタ、50はシリアルデータの入出力を制御する入
出力制御装置である。図2において、61a〜dはトラ
ンジスタ、61e、61fはインバータである。
【0011】以上のように構成された本実施例の半導体
記憶装置について以下その動作を説明する。まず、プリ
チャージ信号PCHGがアクティブになると、1のプリ
チャージ装置により、3と6の記憶素子列のビット線1
1とシリアルアクセス用ビット線60がプリチャージさ
れる。同時に5と50の入出力制御装置により、45と
46のセレクタ出力もプリチャージされる。次に、デー
タ書き込み/読み出しタイミング信号CLKがアクティ
ブになると、21のデコーダは24のアドレス入力によ
り選択されたワード線をアクティブにし、41〜44の
セレクタは22のデコーダ出力により11のビット線を
選択する。また、シリアルデータアクセス用のデータ書
き込み/読み出しタイミング信号SCLKがアクティブ
になると、71のデコーダは74のアドレス入力と8の
カウンタ出力により選択されたワード線をアクティブに
し、40のセレクタは72のデコーダ出力により60の
ビット線を選択する。今、データ方向制御信号WRがア
クティブ、シリアルデータ方向制御信号SWRが非アク
ティブ、21のデコーダにより23dのワード線がアク
ティブになり、22のデコーダにより44のセレクタが
31の記憶素子に接続されたビット線を選択し、71の
デコーダにより73aのワード線がアクティブになり、
72のデコーダにより40のセレクタが61の記憶素子
に接続されたビット線を選択しているとすると、パラレ
ルデータ入出力D3のデータは、54の入出力装置と4
4のセレクタを介して、図4のビット線11c、11d
に出力される。ワード線23dがアクティブ、23cが
非アクティブであるから、11c、11dに出力されて
いるデータは63の記憶素子に書き込まれる。同時に、
73aのワード線がアクティブであるから、61、63
の記憶素子の記憶データがシリアルアクセス用のビット
線60に出力される。40のセレクタは61の記憶素子
に接続されたビット線を選択しているので、61の記憶
素子の記憶データが40のセレクタと50の入出力制御
装置を介してシリアルデータ入出力SD0に出力され
る。
記憶装置について以下その動作を説明する。まず、プリ
チャージ信号PCHGがアクティブになると、1のプリ
チャージ装置により、3と6の記憶素子列のビット線1
1とシリアルアクセス用ビット線60がプリチャージさ
れる。同時に5と50の入出力制御装置により、45と
46のセレクタ出力もプリチャージされる。次に、デー
タ書き込み/読み出しタイミング信号CLKがアクティ
ブになると、21のデコーダは24のアドレス入力によ
り選択されたワード線をアクティブにし、41〜44の
セレクタは22のデコーダ出力により11のビット線を
選択する。また、シリアルデータアクセス用のデータ書
き込み/読み出しタイミング信号SCLKがアクティブ
になると、71のデコーダは74のアドレス入力と8の
カウンタ出力により選択されたワード線をアクティブに
し、40のセレクタは72のデコーダ出力により60の
ビット線を選択する。今、データ方向制御信号WRがア
クティブ、シリアルデータ方向制御信号SWRが非アク
ティブ、21のデコーダにより23dのワード線がアク
ティブになり、22のデコーダにより44のセレクタが
31の記憶素子に接続されたビット線を選択し、71の
デコーダにより73aのワード線がアクティブになり、
72のデコーダにより40のセレクタが61の記憶素子
に接続されたビット線を選択しているとすると、パラレ
ルデータ入出力D3のデータは、54の入出力装置と4
4のセレクタを介して、図4のビット線11c、11d
に出力される。ワード線23dがアクティブ、23cが
非アクティブであるから、11c、11dに出力されて
いるデータは63の記憶素子に書き込まれる。同時に、
73aのワード線がアクティブであるから、61、63
の記憶素子の記憶データがシリアルアクセス用のビット
線60に出力される。40のセレクタは61の記憶素子
に接続されたビット線を選択しているので、61の記憶
素子の記憶データが40のセレクタと50の入出力制御
装置を介してシリアルデータ入出力SD0に出力され
る。
【0012】以上のように本実施例によれば、第1のワ
ード線/ビット線と、第1のワード線/ビット線と直交
する第2のワード線/ビット線を備えた記憶素子によ
り、記憶素子列の一部あるいは全部を構成し、第1のワ
ード線にはパラレルデータアクセス用の第1のアドレス
デコーダが接続され、第2のワード線にはシリアルデー
タアクセス用の第2のアドレスデコーダを接続し、シリ
アル転送用のカウンタ出力を第2のアドレスデコーダに
接続した構成により、シリアルデータアクセスとパラレ
ルデータアクセスを完全に独立して行なうことができ
る。
ード線/ビット線と、第1のワード線/ビット線と直交
する第2のワード線/ビット線を備えた記憶素子によ
り、記憶素子列の一部あるいは全部を構成し、第1のワ
ード線にはパラレルデータアクセス用の第1のアドレス
デコーダが接続され、第2のワード線にはシリアルデー
タアクセス用の第2のアドレスデコーダを接続し、シリ
アル転送用のカウンタ出力を第2のアドレスデコーダに
接続した構成により、シリアルデータアクセスとパラレ
ルデータアクセスを完全に独立して行なうことができ
る。
【0013】
【発明の効果】本発明は複数のワード線/ビット線を備
えた記憶素子を用いることにより、シリアルデータアク
セスとパラレルデータアクセスを独立して行なうことが
でき、さらに記憶素子上にシリアル転送用のバッファを
設けたことにより、シリアル転送のための半導体記憶装
置からシリアル転送装置へのデータ転送が不要になると
いう効果を得ることができる優れた半導体記憶装置を実
現できるものである。
えた記憶素子を用いることにより、シリアルデータアク
セスとパラレルデータアクセスを独立して行なうことが
でき、さらに記憶素子上にシリアル転送用のバッファを
設けたことにより、シリアル転送のための半導体記憶装
置からシリアル転送装置へのデータ転送が不要になると
いう効果を得ることができる優れた半導体記憶装置を実
現できるものである。
【図1】本発明の一実施例の半導体記憶装置の構成図
【図2】本発明の一実施例の半導体記憶素子の構成図
【図3】従来の半導体記憶装置の構成図
【図4】従来の半導体記憶素子の構成図
1 プリチャージ装置 2 デコーダ 3 記憶素子列 4 ビット線セレクタ 5 入出力制御装置 6 記憶素子列 7 デコーダ 8 カウンタ 10 プリチャージ装置 11 ビット線 23 ワード線 24 パラレルアクセス用アドレス入力 40 ビット線セレクタ 50 入出力制御装置 55 パラレルデータ入出力 60 ビット線 73 ワード線 74 シリアルアクセス用アドレス入力
Claims (1)
- 【請求項1】第1のワード線/ビット線と、第1のワー
ド線/ビット線と直交する第2のワード線/ビット線を
備えた記憶素子により、記憶素子列の一部あるいは全部
を構成し、第1のワード線にはパラレルデータアクセス
用の第1のアドレスデコーダが接続され、第2のワード
線にはシリアルデータアクセス用の第2のアドレスデコ
ーダを接続し、シリアル転送用のカウンタ出力を第2の
アドレスデコーダに接続することにより、パラレルデー
タアクセスとシリアルデータアクセスを独立して行なう
手段を備えた半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4133212A JPH05325553A (ja) | 1992-05-26 | 1992-05-26 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4133212A JPH05325553A (ja) | 1992-05-26 | 1992-05-26 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05325553A true JPH05325553A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=15099353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4133212A Pending JPH05325553A (ja) | 1992-05-26 | 1992-05-26 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05325553A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63140483A (ja) * | 1986-12-03 | 1988-06-13 | Nec Corp | メモリ回路 |
JPH02232891A (ja) * | 1989-03-06 | 1990-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1992
- 1992-05-26 JP JP4133212A patent/JPH05325553A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63140483A (ja) * | 1986-12-03 | 1988-06-13 | Nec Corp | メモリ回路 |
JPH02232891A (ja) * | 1989-03-06 | 1990-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
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