JPH0531931B2 - - Google Patents

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JPH0531931B2
JPH0531931B2 JP1795086A JP1795086A JPH0531931B2 JP H0531931 B2 JPH0531931 B2 JP H0531931B2 JP 1795086 A JP1795086 A JP 1795086A JP 1795086 A JP1795086 A JP 1795086A JP H0531931 B2 JPH0531931 B2 JP H0531931B2
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JP
Japan
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polarization
interference
wollaston prism
polarizing plate
axis
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JP1795086A
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JPS62177420A (ja
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Katsu Inoe
Shigeru Matsui
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は偏光干渉計に係り、特にフーリエ分光
などの数学的処理に好適な差動形偏光干渉計に関
する。
〔発明の背景〕
従来の偏光干渉計は特公昭54−36515号公報記
載の如く、ウオラストンプリズムの代りにバビネ
ソレイユ補正板を用い、光軸上の一点で検出して
いる。このため、干渉図形信号の湾曲は避けられ
るが、光路差の走査に補正板の機械的直線運動が
必要となる。一方、最近の偏光干渉計は特開昭59
−105508号公報に記載の如く、可動部分の無い波
面傾斜形の偏光干渉計が提案されているが、光量
の光路差軸上の変動については配慮されていな
い。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、空間的な光量の変動分を除去
し得る差動形偏光干渉計を提供することにある。
〔発明の概要〕
偏光干渉計に於ては、2個の偏光子の偏光面を
平行に配置するか直交させて配置するかにより、
干渉図形の主極大の極性が湾曲した光量レベルか
ら上に凸又は下に凸となる。本発明は、両者の場
合の光量レベルが共に、中央部が上に凸である事
から、両者の差信号では干渉信号は倍となり、光
量レベルは打消し合つて零になる点に鑑みてなさ
れたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明す
る。被測定光源10から出た光線11は、偏光軸
16を有する偏光板15に入射する。偏光板15
により偏光面が偏光軸16に平行となつた光線
は、ウオラストンプリズム20に入射する。ウオ
ラストンプリズム20は結晶軸21,22が互に
直交する2個の複屈折性(例えば水晶など)のプ
リズム25,26を接合して作られており、各プ
リズム中の屈折率は入射光線の偏光方向により異
なるから、ウオラストンプリズム20を通過する
光線の中心光軸の位置により、ウオラストンプリ
ズム中の光学的距離が異なつて来る。この事は換
言すると、プリズム25と26との接合面での屈
折率の比が、偏光軸が結晶軸21に平行な光線
と、結晶軸22に平行な光線では1以上と1以下
となるから、一方の光線は例えば左方向に微か屈
折し、他方の光線は右方向に屈折する。従つて、
偏光板15の偏光軸16を結晶軸21(又は2
2)に対し45゜傾けておけば、ウオラストンプリ
ズム20中には、各結晶軸21,22に平行な2
光線成分(振幅は45゜偏光光線の各1/√2)が
生じ、プリズム25,26の接合面付近から互に
傾斜した、2個の波面を形成する事になる。
この2個の傾斜波面が、結晶軸に対し45゜の偏
光軸36を有する第2の偏光板(検光子とも云
う)35を通過すると、夫々の波面に対し共通の
偏光成分を与える事となり、干渉現象を起す。こ
の時現われる干渉縞はいわゆる等厚干渉縞であつ
て、波面が分離したウオラストンプリズム20の
接合面附近に観測されるから、結像レンズ40に
依つて、1次元撮像素子50の受光面に水平方向
51に並んだ干渉縞52として結像される。1次
元撮像素子としてはMOS型又はCCD(電荷結合素
子)型のフオトダイオードアレイ(PDA)が適
当であるが、イメージデイセクタチユーブなどで
あつても何等かわらない。
第3図に波面傾斜形偏光干渉計を用いて得られ
た干渉信号の強度を示す。横軸は空間的距離すな
わち、干渉計の光路差に対応する値であつて、光
電検出手段により時間的な走査軸となる。
同図aは偏光板15と偏光板35の偏光軸が平
行の時の出力であり、空間的に広がつた像の光量
が周辺部で低下する結果、湾曲したベースライン
101を有する干渉信号となり、このままでは正
しい干渉図形とは云えず、フーリエ変換等のデー
タ処理ができない。
一方同図bは2個の偏光板の偏光軸を直交させ
た場合の干渉信号であつて、a同様の湾曲したベ
ースライン102を有しているが、主極大のピー
ク115はaのピーク105とは極性が逆であ
る。従つて、この2個の干渉信号105,115
の差を検出すれば、同図cのベースライン103
の様に直線状に補正され、正確な干渉図形110
を得ることができる。
第1図における偏光板45は偏光軸16に対し
直交した偏光軸46を有し、偏光板スライダ30
を矢印31の方向に移動すれば、第2の偏光板の
偏光軸を90゜回転させる事ができる。
最初、偏光板35が光路中に挿入された状態で
クロツク発生源55からの駆動信号56で、フオ
トダイオードアレイ50を電子的に走査させ、順
次読出されたビデオ信号59を増幅器60で増幅
及びサンプルホールドし、A−D変換器70でデ
イジタル値79として、デイジタルメモリ85に
順次記憶させる。この時記憶されたデータは第3
図aの信号105に相当する。
次に、偏光板スライダ30の移動31により、
偏光軸を36から46に切替え、最初と同様に干
渉縞52に対するビデオ信号59を増幅器60、
A−D変換器70を経て、デイジタル値79′と
して減算器90に入力し、同時にクロツク発生源
55に同期して、記憶データ89が読み出され減
算器90のもう一つの入力となる。従つて、減算
器の出力95には、第3図cに相当する差信号が
現われ、正確な干渉図形110となる。
又、これ等85,90は1個の記憶演算装置8
0で全てを行う事が出来る。
第2図は、第2の偏光板を回転させる他の実施
例を示したもので、同図aは2個の偏光板35′,
45′を固定した回転板65を、中心光軸から離
れた回転ピン62を中心に適当角旋回61して光
路に入る偏光板を切替える。この時2個の偏光板
の偏光軸が、旋回61によつて丁度90゜異なる様
に設定されねばならない。
同図bは、光路中に置かれた1個の偏光板4
5″を回転輪66の中央に固定し、この回転輪6
6を接触等で駆動輪67の回転68で90゜回転さ
せる。回転輪66を保持する2個のプーリ48を
備えている。更に、公知技術で以つて、2個の停
止位置検出手段が利用される事は云うまでもな
い。
第2図の実施例は各種のモータや、回転ソレノ
イドを用いて比較的簡便に所期の目的を達成する
事ができる。
第4図は、本発明の他の一実施例であつて、偏
光軸の回転のための機械的可動部分を含まないも
のである。第1図の偏光板スライダ30又はこれ
に相当する第2図の様な可動部材が無い代りに、
第4図の結像レンズ40の後に2個の偏光板3
5,45が上下に並置され、その背後に2個のフ
オト・ダイオートアレイ検知器50,57が上下
に並置されている。ここで上下方向と云うのは、
第1図、第4図の如くウオラストンプリズムの接
合面が上下方向に伸び、等厚干渉縞52が水平方
向51に出来る場合の垂直方向の事である。
クロツク源55からの同一の駆動信号56を得
て、検知器50,57は同時に走査され、2個の
ビデオ信号はそれぞれ増幅器60,86で増幅及
びサンプルホールドされ、干渉信号101,10
2となつて演算増幅器88の差動入力に印加され
る。演算増幅器88では、2信号101,102
の差をアナログ演算して干渉図形信号103(第
3図のグラフに対応)を出力する。この時両干渉
信号の零光路差の位相が一致する様に、同じ素子
位置(ビツト番号とも云う)となる様に検知器の
固定位置を調整する必要があり、或いは、駆動信
号56の一方に、検知器の空間ずれを補償する時
間的遅延回路58を設ける必要がある。
勿も、光電検出手段が2次元的撮像カメラであ
る場合はこの必要は無い。
次に第4図の方式で、第1図同様等厚干渉縞が
得られる理由を説明する。
ウオラストンプリズム20を出た互に偏光軸の
直交する2個の光束は、傾斜した2個の波面を生
み出し、結像レンズ40に入射する。ウオラスト
ンプリズム20の内部には干渉縞は観測されない
が、干渉を生ずる条件が満たされた際に観測され
る干渉縞を生み出す2個の傾斜波面は存在してい
るのである。
結像レンズ40の働きは、ウオラストンプリズ
ム20内の干渉縞像を、検知器50,57の感光
面に実像を結像させるものであり、干渉縞像を生
み出す原因となる2波面を収斂する2個の球面波
に変換するものである。従つて実際に干渉縞像が
観測されていなくても、干渉していない2個の球
面波として検知器に向つて収斂し、検知器の直前
に置かれた偏光板35又は45に依つて、両波面
内の共通偏光成分に干渉が生じ、受光面と第1図
の干渉縞52と同じものが結像する事になる。
結像レンズ40が偏光板の間に存在する時、レ
ンズ40による収差が問題となるが、この収差は
必ず存在するが少なく共、直交する偏光に対して
全く同様に寄与する。偏光に依つて変るのは光学
的異方性部材例えば複屈性結晶等を用いた時のみ
であり、一般の写真用レンズにはその様な特性は
持つていない。従つて空間を伝播する間に、途中
のレンズで干渉光路差が漂動する事は無く、実像
となつた時の像の歪として現われるのであり、こ
れは第2偏光板(35又は45)の位置に関係せ
ず存在するものである。
第5図は光電検出手段としてイメージデイセク
タチユーブ150を用いたもので、受光面155
の前面に偏光軸が互に直交する2枚の偏光膜3
5,45をはり付けたものである。光電検出手段
はこの他に2次元半導体撮像素子や、チヤネルト
ロン等も使用できる。
第6図は、第4図の検出手段を完全2重制にし
たもので、2個のフオトダイオードアレイ検知器
50,57、増幅器60,86、A−D変換器7
0,75、記憶演算処理装置80とからなり、デ
イジタル的に差演算を行うもので、両検知器によ
る零光路差位置はデイジタル的に検出補正できる
ので、アナログ的な位置調整やクロツク信号遅延
回路は不要となる。
又、検知器の素子毎の感度のバラツキの補正な
ども、両検知器感度を予め記憶して置けば容易に
達成可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば光路差走査に可動部分のない、
波面傾斜形の偏光干渉計に特有の、空間位置にお
ける光量の減小を補正し、正しい干渉図形が得ら
れるので、フーリエ分光装置までの性能を向上さ
せることができる。
更に差動方式の為、共通モードの検知器感度特
性、雑音特性などは互に打消し合つて信号のみ2
倍に増大するのでS/N比が大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は
第1図に使用する偏光板回転手段の他の説明図、
第3図は本発明によつて得られる干渉信号の説明
図、第4図は本発明の他の実施例の構成図、第5
図は光電検出手段の他の実施例図、第6図は第4
図の検出手段の他の例を示す構成図である。 10…被測定光源、15,35…偏光板、20
…ウオラストンプリズム、25,26…プリズ
ム、40…結像レンズ、50…一次元撮像素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ウオラストンプリズムおよび干渉縞検出器を
    備えた偏光干渉計において、上記ウオラストンプ
    リズムの光入射側には、上記ウオラストンプリズ
    ムの結晶軸に対して傾角が45度の偏光軸を有する
    偏光板を備えた第1の偏光装置を配置し、上記ウ
    オラストンプリズムの光出射側と上記干渉縞検出
    器の間には、上記第1の偏光装置の偏光板の偏光
    軸に対し並行な偏光軸を持つた偏光子およびこの
    偏光子とは偏光軸が90度回転した状態の偏光子か
    らなる偏光子対を備えた第2の偏光装置を配置
    し、上記偏光子対の内の一方から得られた光に基
    づく干渉信号と上記偏光子対の内の他方から得ら
    れた光に基づく干渉信号の差を演算して干渉図形
    信号を出力する記憶演算装置を設けたことを特徴
    とする差動形偏光干渉計。
JP1795086A 1986-01-31 1986-01-31 差動形偏光干渉計 Granted JPS62177420A (ja)

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JPH0217422A (ja) * 1988-07-05 1990-01-22 Terumo Corp 測温用プローブ及びその製造方法
JPH0285306U (ja) * 1988-12-22 1990-07-04
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