JPH05308665A - テストパターン - Google Patents
テストパターンInfo
- Publication number
- JPH05308665A JPH05308665A JP11042692A JP11042692A JPH05308665A JP H05308665 A JPH05308665 A JP H05308665A JP 11042692 A JP11042692 A JP 11042692A JP 11042692 A JP11042692 A JP 11042692A JP H05308665 A JPH05308665 A JP H05308665A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lightness
- reproducibility
- test pattern
- scale
- concentric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 反射光による光学特性の再現性を広範囲に確
認できるテストパターンを提供する。 【構成】 シート１０上に、同心状に明度を段階的に変
化させた円形の明度変化スケール１５ａ，・・・，１５
ｅを有している。
認できるテストパターンを提供する。 【構成】 シート１０上に、同心状に明度を段階的に変
化させた円形の明度変化スケール１５ａ，・・・，１５
ｅを有している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はテストパターンに関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】従来から、ＴＶ、カメラ、電子写真のよ
うな分野で各種のテストパターンが使用されている。テ
ストパターンには所定の間隔に細線が描かれたパターン
の再現性をみることにより解像度を調べる解像度パター
ン、肌色などの色再現性を調べる色パターン等が知られ
ている。また、明度を段階的に変化させた帯状の明度変
化パターンも良く使用されている。
うな分野で各種のテストパターンが使用されている。テ
ストパターンには所定の間隔に細線が描かれたパターン
の再現性をみることにより解像度を調べる解像度パター
ン、肌色などの色再現性を調べる色パターン等が知られ
ている。また、明度を段階的に変化させた帯状の明度変
化パターンも良く使用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
明度変化パターンは明度を段階的に変化させた帯状のグ
レースケールが一部にあるものしかない。この場合、帯
状ゆえに極めて局部的な再現性の確認にとどまる。例え
ば、カメラ等による画像検出の時、一般に周囲光の影響
を受けるので、広範囲にわたる再現性の確認が必要にな
る場合があり、帯状のグレースケールではこの要請を満
たすことができなかった。
明度変化パターンは明度を段階的に変化させた帯状のグ
レースケールが一部にあるものしかない。この場合、帯
状ゆえに極めて局部的な再現性の確認にとどまる。例え
ば、カメラ等による画像検出の時、一般に周囲光の影響
を受けるので、広範囲にわたる再現性の確認が必要にな
る場合があり、帯状のグレースケールではこの要請を満
たすことができなかった。
【０００４】また、電子写真装置の感光体などにおいて
も、感光体上の位置において広がりを持って光感度特性
（分光感度、γ特性）が均一であるか否かを簡単に確認
できるテストチャートがなかった。
も、感光体上の位置において広がりを持って光感度特性
（分光感度、γ特性）が均一であるか否かを簡単に確認
できるテストチャートがなかった。
【０００５】
【発明の目的】この発明は画像を形成する場合におい
て、光学特性の広範囲にわたる再現性を確認できるテス
トパターンを提供することにある。
て、光学特性の広範囲にわたる再現性を確認できるテス
トパターンを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの、請求項１のテストパターンは、明度を同心状に段
階的あるいは連続的に変化させた同心状明度変化領域を
有している。請求項２のテストパターンは、同心状明度
変化領域が複数箇所に配置されている。
めの、請求項１のテストパターンは、明度を同心状に段
階的あるいは連続的に変化させた同心状明度変化領域を
有している。請求項２のテストパターンは、同心状明度
変化領域が複数箇所に配置されている。
【０００７】なお、必要に応じて上記テストパターンに
線図が描かれた線図領域を設けることもできる。
線図が描かれた線図領域を設けることもできる。
【０００８】
【作用】請求項１のテストパターンであれば、同心点を
中心にした広範囲の方向において光学特性（照度、感
度、色再現性）の再現性の確認を行なうことができる。
請求項２のテストパターンであれば、同心状明度変化領
域がテストパターンの複数箇所に配置されていることに
より、テストパターンの全範囲の光学特性の再現性を高
精度で検出することが可能になる。
中心にした広範囲の方向において光学特性（照度、感
度、色再現性）の再現性の確認を行なうことができる。
請求項２のテストパターンであれば、同心状明度変化領
域がテストパターンの複数箇所に配置されていることに
より、テストパターンの全範囲の光学特性の再現性を高
精度で検出することが可能になる。
【０００９】また、線図領域を設けることにより、画像
歪み、ピント合わせなどの調整も同時に行なうことがで
きる。
歪み、ピント合わせなどの調整も同時に行なうことがで
きる。
【００１０】
【実施例】以下、実施例を示す添付図面によって詳細に
説明する。図１はこの発明のテストパターンの一実施例
を示す平面図である。このテストパターンは、四角形の
紙などのシート１０上の４隅および中央部に設けられた
正方形の明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅと、
シート１０のほぼ全面に所定間隔で升目状に設けられた
線図１２と、シート１０の所定位置に設けられた文字や
マークなどの線図１３とを有している。
説明する。図１はこの発明のテストパターンの一実施例
を示す平面図である。このテストパターンは、四角形の
紙などのシート１０上の４隅および中央部に設けられた
正方形の明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅと、
シート１０のほぼ全面に所定間隔で升目状に設けられた
線図１２と、シート１０の所定位置に設けられた文字や
マークなどの線図１３とを有している。
【００１１】図２（Ａ），（Ｂ）は正方形の明度変化ス
ケール１１を説明するための図であり、図２（Ａ）は正
方形の明度変化スケール１１の平面図、図２（Ｂ）は、
正方形の明度変化スケール１１の位置を横軸、明度を縦
軸に取ったグラフである。正方形の明度変化スケール１
１は図２（Ｂ）に示すように、同心点Ｐを中心にして明
度を段階的に変化させたスケールであり、この正方形の
明度変化スケール１１を反射した光は、対応する位置の
明度に従って、光の性質（光の強度、波長など）が変化
するので、同心点Ｐから広範囲にわたって明度変化スケ
ールの再現性を調べることができ、従来の帯状の明度変
化スケールに比べて再現性を調べることのできる範囲お
よび方向が広がる利点がある。
ケール１１を説明するための図であり、図２（Ａ）は正
方形の明度変化スケール１１の平面図、図２（Ｂ）は、
正方形の明度変化スケール１１の位置を横軸、明度を縦
軸に取ったグラフである。正方形の明度変化スケール１
１は図２（Ｂ）に示すように、同心点Ｐを中心にして明
度を段階的に変化させたスケールであり、この正方形の
明度変化スケール１１を反射した光は、対応する位置の
明度に従って、光の性質（光の強度、波長など）が変化
するので、同心点Ｐから広範囲にわたって明度変化スケ
ールの再現性を調べることができ、従来の帯状の明度変
化スケールに比べて再現性を調べることのできる範囲お
よび方向が広がる利点がある。
【００１２】このようなテストパターンを、例えば、テ
ストパターンの反射像を画像として表示できるような形
の電気信号に変換する撮像デバイスにより取り込み、可
視画像化する装置（ＣＣＤカメラ等の画像検出装置な
ど）に使用すれば、正方形の明度変化スケール１１ａ，
・・・，１１ｅの画像再現に違いがあるか否かを調べる
ことにより、明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅ
が存在する位置の相互間において、照明の強さの違いな
どを、同心点Ｐを中心として広範囲に検出することがで
きる。特に、テストパターンの中心部と４隅などの周辺
部においては、照明の明るさの違いなどが起こりやすい
が、この実施例においては明度変化スケール１１ａ，・
・・，１１ｅが中心部と周辺部に配置されているので、
その違いを簡単に確認することができる。
ストパターンの反射像を画像として表示できるような形
の電気信号に変換する撮像デバイスにより取り込み、可
視画像化する装置（ＣＣＤカメラ等の画像検出装置な
ど）に使用すれば、正方形の明度変化スケール１１ａ，
・・・，１１ｅの画像再現に違いがあるか否かを調べる
ことにより、明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅ
が存在する位置の相互間において、照明の強さの違いな
どを、同心点Ｐを中心として広範囲に検出することがで
きる。特に、テストパターンの中心部と４隅などの周辺
部においては、照明の明るさの違いなどが起こりやすい
が、この実施例においては明度変化スケール１１ａ，・
・・，１１ｅが中心部と周辺部に配置されているので、
その違いを簡単に確認することができる。
【００１３】また、テストパターン上に升目状に設けら
れた線図１２は画像歪み確認用の直交座標軸として使用
でき、所定位置に設けられた文字、記号、模様などから
なる線図１３はテストパターンへのピント合わせに使用
できる。このようなテストパターンの再現性の不均一さ
は目で確認するのが簡単であるが、特定の装置を用いて
テストパターンの確認を自動化することも可能である。
れた線図１２は画像歪み確認用の直交座標軸として使用
でき、所定位置に設けられた文字、記号、模様などから
なる線図１３はテストパターンへのピント合わせに使用
できる。このようなテストパターンの再現性の不均一さ
は目で確認するのが簡単であるが、特定の装置を用いて
テストパターンの確認を自動化することも可能である。
【００１４】図３は確認の自動化の一例を示すものであ
り、画像検出装置によって取り込まれたテストパターン
の画像を所定の閾値で２値化した画像を概略的に示す図
であり、照明にばらつきがある場合を示したものであ
る。このようにテストパターンの画像を同じ条件で２値
化処理をしても、正方形明度変化スケール１１ａ，・・
・，１１ｅの２値化画像１４ａ，・・・，１４ｅの中央
部に位置する２値化画像１４ａが他の２値化画像１４
ｂ，１４ｃ，１４ｄ，１４ｅと大きさが異なることを検
出することにより、例えば、中心の照明の明るさが隅の
明るさと異なることを認識できる。
り、画像検出装置によって取り込まれたテストパターン
の画像を所定の閾値で２値化した画像を概略的に示す図
であり、照明にばらつきがある場合を示したものであ
る。このようにテストパターンの画像を同じ条件で２値
化処理をしても、正方形明度変化スケール１１ａ，・・
・，１１ｅの２値化画像１４ａ，・・・，１４ｅの中央
部に位置する２値化画像１４ａが他の２値化画像１４
ｂ，１４ｃ，１４ｄ，１４ｅと大きさが異なることを検
出することにより、例えば、中心の照明の明るさが隅の
明るさと異なることを認識できる。
【００１５】
【実施例２】図４はこの発明のテストパターンの他の構
成を示す平面図であり、図１の実施例と異なるのは、正
方形の明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅを円形
の明度変化スケール１５ａ，・・・，１５ｅにした点の
みである。明度変化スケールによる広範囲にわたる再現
性を調べるのに、３角形、４角形などの多角形の同心明
度変化スケールを採用することもできるが、図４に示す
ような円形の明度変化スケールを採用すれば、円の中心
周りにおいて、同じ半径距離の位置の明度はすべて一定
なので、再現性の確認および調整が行ないやすいという
利点がある。
成を示す平面図であり、図１の実施例と異なるのは、正
方形の明度変化スケール１１ａ，・・・，１１ｅを円形
の明度変化スケール１５ａ，・・・，１５ｅにした点の
みである。明度変化スケールによる広範囲にわたる再現
性を調べるのに、３角形、４角形などの多角形の同心明
度変化スケールを採用することもできるが、図４に示す
ような円形の明度変化スケールを採用すれば、円の中心
周りにおいて、同じ半径距離の位置の明度はすべて一定
なので、再現性の確認および調整が行ないやすいという
利点がある。
【００１６】
【実施例３】また、図２に示すように明度が位置により
段階的に変化した明度変化スケールではなく、図５
（Ａ），（Ｂ）に示すように明度が連続的に変化した連
続変化型スケール１６も採用することができる。この明
度連続変化型スケール１６の再現された画像が３６０度
の全方向において違いがあるか否かを目で確認すること
により、広範囲にわたる再現性を調べることができる。
また、再現された画像を所定の閾値で２値化すれば、明
度連続変化型スケール１６の２値化画像が完全な円形状
になるか否かによって、例えば、テストパターンが置か
れた位置が均一に照明されているか否かを確認すること
ができる。また、２値化画像が完全な円形にならず歪ん
だ円形状になるときは、その歪み方向を調べることによ
り再現性の不均一の方向をより高精度に知ることができ
る利点もある。
段階的に変化した明度変化スケールではなく、図５
（Ａ），（Ｂ）に示すように明度が連続的に変化した連
続変化型スケール１６も採用することができる。この明
度連続変化型スケール１６の再現された画像が３６０度
の全方向において違いがあるか否かを目で確認すること
により、広範囲にわたる再現性を調べることができる。
また、再現された画像を所定の閾値で２値化すれば、明
度連続変化型スケール１６の２値化画像が完全な円形状
になるか否かによって、例えば、テストパターンが置か
れた位置が均一に照明されているか否かを確認すること
ができる。また、２値化画像が完全な円形にならず歪ん
だ円形状になるときは、その歪み方向を調べることによ
り再現性の不均一の方向をより高精度に知ることができ
る利点もある。
【００１７】なお、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、この発明の要旨を変更しない範囲内にお
いて種々の設計変形を施すことが可能である。例えば、
前記実施例では正方形あるいは円形の明度変化スケール
をシート１０の中心部に１つ、周辺部に４つ設けた場合
を示したが、明度を同心状に段階的あるいは連続的に変
化させた明度変化スケールをシート１０の全面にちりば
めて配置しても良い。
ものではなく、この発明の要旨を変更しない範囲内にお
いて種々の設計変形を施すことが可能である。例えば、
前記実施例では正方形あるいは円形の明度変化スケール
をシート１０の中心部に１つ、周辺部に４つ設けた場合
を示したが、明度を同心状に段階的あるいは連続的に変
化させた明度変化スケールをシート１０の全面にちりば
めて配置しても良い。
【００１８】また、シート１０の中心部に同心点Ｐを持
ち、１つの明度変化スケールだけがシート１０の全面に
広がっている構成も採用することができる。さらに、こ
の発明のテストパターンは、照明を十分均一に調整して
おけば、感光体、固体撮像素子などの画像生成手段自体
の光学特性（感度、γ値、色再現性など）の再現性を広
範囲にわたり確認する用途にも使用できるものである。
ち、１つの明度変化スケールだけがシート１０の全面に
広がっている構成も採用することができる。さらに、こ
の発明のテストパターンは、照明を十分均一に調整して
おけば、感光体、固体撮像素子などの画像生成手段自体
の光学特性（感度、γ値、色再現性など）の再現性を広
範囲にわたり確認する用途にも使用できるものである。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明は、同心
点を中心にした広範囲の方向において光学特性（照度、
感度、色再現性など）の再現性の確認を行なうことがで
きるという特有の効果を奏する。請求項２の発明は、同
心状明度変化領域がテストパターンの複数箇所に配置さ
れていることにより、テストパターンの全範囲の光学特
性の再現性を高精度で検出することが可能になるという
特有の効果を奏する。
点を中心にした広範囲の方向において光学特性（照度、
感度、色再現性など）の再現性の確認を行なうことがで
きるという特有の効果を奏する。請求項２の発明は、同
心状明度変化領域がテストパターンの複数箇所に配置さ
れていることにより、テストパターンの全範囲の光学特
性の再現性を高精度で検出することが可能になるという
特有の効果を奏する。
【図１】この発明のテストパターンの一実施例の平面図
である。
である。
【図２】正方形の明度変化スケールの平面図と、位置を
横軸，明度を縦軸に取ったグラフとを示した図である。
横軸，明度を縦軸に取ったグラフとを示した図である。
【図３】この発明のテストパターンにおいて所定の閾値
で２値化された正方形明度変化スケールの取り込み画像
を概略的に示す図である。
で２値化された正方形明度変化スケールの取り込み画像
を概略的に示す図である。
【図４】この発明のテストパターンにおいて円形明度変
化スケールを採用した実施例の平面図である。
化スケールを採用した実施例の平面図である。
【図５】明度連続変化型スケールの平面図と、位置を横
軸，明度を縦軸に取ったグラフとを示した図である。
軸，明度を縦軸に取ったグラフとを示した図である。
１１ａ，・・・，１１ｅ 正方形の明度変化スケール １５ａ，・・・，１５ｅ 円形の明度変化スケール １６ 明度連続変化型スケール
Claims (2)
- 【請求項１】 明度を同心状に段階的あるいは連続的に
変化させた同心状明度変化領域（１１ａ，・・・，１１
ｅ）（１５ａ，・・・，１５ｅ）（１６）を有している
ことを特徴とするテストパターン。 - 【請求項２】 同心状明度変化領域（１１ａ，・・・，
１１ｅ）（１５ａ，・・・，１５ｅ）（１６）が複数箇
所に配置されている請求項１に記載のテストパターン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11042692A JPH05308665A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | テストパターン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11042692A JPH05308665A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | テストパターン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05308665A true JPH05308665A (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=14535458
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11042692A Pending JPH05308665A (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | テストパターン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05308665A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0834887A3 (en) * | 1996-10-04 | 2000-08-30 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Chip component |
| JP2021027498A (ja) * | 2019-08-07 | 2021-02-22 | 日本放送協会 | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム |
-
1992
- 1992-04-28 JP JP11042692A patent/JPH05308665A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0834887A3 (en) * | 1996-10-04 | 2000-08-30 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Chip component |
| JP2021027498A (ja) * | 2019-08-07 | 2021-02-22 | 日本放送協会 | 空間周波数比測定装置およびそのプログラム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9646374B2 (en) | Line width error obtaining method, line width error obtaining apparatus, and inspection system | |
| JPH05308665A (ja) | テストパターン | |
| JPH0915151A (ja) | 拡散特性測定装置 | |
| JP2020020717A (ja) | 測定装置、及び測定方法 | |
| JPH0470624B2 (ja) | ||
| JPH051950A (ja) | 車輌用ライトの照度測定方法 | |
| JPH05308664A (ja) | テストパターン | |
| JPS62249005A (ja) | 物体の形状異常検査装置 | |
| JP2001255118A (ja) | 中心位置計測用のターゲット、中心位置計測装置及び方法 | |
| JPH07103911A (ja) | 周期性パターンの欠陥検査方法 | |
| JPS6048683B2 (ja) | 物体表面状態検査方法とその検査装置 | |
| JPH01219501A (ja) | Ｃｃｄカメラによる測長方法 | |
| JPH10197226A (ja) | 光学系および撮像手段を有する装置における検査方法 | |
| JPH0652167B2 (ja) | 画像処理方法 | |
| JPH0373451U (ja) | ||
| JP2002214155A (ja) | 被検査物の欠陥検査装置 | |
| JPS62176359A (ja) | 透過原稿画像読取装置 | |
| KR100392329B1 (ko) | 전방향 영상획득 카메라 장치 | |
| SE514088C2 (sv) | Förfarande för kalibrering av utrustning för detektering av föroreningar i transparent material | |
| JPH0518905A (ja) | 表面うねり検査装置 | |
| JPH04278555A (ja) | 微少寸法測定装置 | |
| SU1167428A1 (ru) | Устройство дл обработки изображений местности | |
| JPH07167626A (ja) | 厚み検出装置及び厚み検出方法 | |
| JPS6411887B2 (ja) | ||
| JPH08240416A (ja) | 光学的形状計測方法 |