JPH05298888A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH05298888A
JPH05298888A JP4096590A JP9659092A JPH05298888A JP H05298888 A JPH05298888 A JP H05298888A JP 4096590 A JP4096590 A JP 4096590A JP 9659092 A JP9659092 A JP 9659092A JP H05298888 A JPH05298888 A JP H05298888A
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JP
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circuit
signal
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semiconductor memory
output
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Koji Miyashita
幸司 宮下
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Abstract

(57)【要約】 【目的】半導体記憶装置において、CSアクセスタイム
の高速化を実現する。 【構成】チップセレクト信号を受けアドレス信号の入力
を制御するための制御信号を出力するチップセレクトバ
ッファ回路を有し、前記制御信号を受け前記アドレス信
号をデコーダ回路に伝達するアドレスバッファ回路を有
する半導体記憶装置において、前記半導体記憶装置をデ
ィスイネーブル状態からイネーブル状態にせしめる時の
み、アドレスバッファ回路の駆動能力を増加させる。 【効果】従来技術に比べ消費電流を増加させずにCSア
クセスタイムの高速化を図る事が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体記憶装置に係わ
り、特にアドレス信号をデコーダ回路に伝達するアドレ
スバッファ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図3、図4、図2(a)を参照しながら
従来技術についての説明を行う。図3における1はNO
R回路であり、一方の入力端子にはチップセレクト信号
XCSが入力され、他方の入力端子は接地されている。
前記NOR回路1の出力端子はインバータ2に接続され
る。前記インバータ2の出力はNOR回路3に入力され
る。前記NOR回路3の他方の入力端子にはアドレス信
号A1が入力される。前記NOR回路3の出力はインバ
ータ4に入力される。ここで、前記NOR回路1及び前
記インバータ2はチップセレクトバッファ回路を構成
し、前記NOR回路3及び前記インバータ4は行アドレ
スバッファ回路あるいは列アドレスバッファ回路を構成
する。図4は半導体記憶装置のブロック図を示す。5は
行デコーダ回路、6は列デコーダ回路、7はメモリーセ
ル群、8はセンスアンプ、9は出力バッファ回路を示し
ている。図2(a)のタイミングチャートを参照しなが
ら従来例の動作について以下に説明を行う。チップセレ
クト信号XCSが論理「H」から論理「L」に変化する
と半導体記憶装置が活性化されイネーブル状態となる。
すなわち前記CSバッファ回路の出力信号XCS’が論
理「L」に変化し前記アドレスバッファ回路に入力され
る。前記アドレスバッファ回路はアドレス信号A1〜A
iを受け行デコーダ回路5及び列デコーダ回路6にその
出力信号を伝達する。前記行デコーダ回路5及び列デコ
ーダ回路6により選択されたメモリーセル群中のアドレ
ス番地に対応するデータがメモリーセルから読みだされ
たのち、前記センスアンプ回路8により増幅され、前記
出力バッファ回路9を介してデータが出力される。ここ
で前記半導体装置がイネーブル状態に変化してからデー
タが出力されるまでに要する時間をCSアクセスタイム
と呼ぶ。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、前記
アドレスバッファ回路に流れる貫通電流が生じるためア
ドレスバッファ回路の駆動能力を上げる事が出来ず、結
果的にCSアクセスタイムに遅延が生じるという問題点
があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】チップセレクト信号によ
り、半導体記憶装置のイネーブル状態、ディスイネーブ
ル状態を制御するチップセレクト機能を有する半導体記
憶装置で、前記チップセレクト信号を受けアドレス信号
の入力を制御するための制御信号を出力するチップセレ
クトバッファ回路を有し、前記制御信号を受け前記アド
レス信号をデコーダ回路に伝達するアドレスバッファ回
路を有する半導体記憶装置において、前記半導体記憶装
置をディスイネーブル状態からイネーブル状態にせしめ
る時のみ駆動能力を上げるアドレスバッファ回路を有す
る事を特徴とする。
【0005】
【作用】本発明における作用を以下に示す。本発明にお
いては従来技術におけるアドレスバッファ回路の構成に
加え、チップセレクト信号を受けて発生したCSPパル
スにより制御される駆動回路を接続したアドレスバッフ
ァ回路を構成する事により、前記半導体記憶装置がイネ
ーブル状態に変化する時のみ前記アドレスバッファ回路
の駆動能力を上げる事が可能となる。
【0006】
【実施例】本発明における実施例を図1、図2(b)、
図4を参照しながら説明を行なう。本発明におけるアド
レスバッファ回路は以下のような構成を採っている。図
1(a)における3及び4はそれぞれ従来例のNOR回
路3とインバータ回路4と同様である。14はインバー
タ回路であり、CSP信号を受け、その出力はPMOS
10及びNMOS13のゲートに接続される。PMOS
10のソースは電源に接続され、ドレインはPMOS1
1のソースに接続される。PMOS12のゲートにはア
ドレス信号Aiが入力され、ドレインにはNOR回路3
の出力ノードに接続され、ソースはNMOS13のドレ
インが接続される。NMOS13のソースは接地されて
いる。なおこのアドレスバッファは図4における行アド
レスバッファ及び列アドレスバッファに適用できるもの
とする。前記CSP信号は、図1(b)におけるパルス
発生回路15によりチップセレクト信号が論理「H」か
ら論理「L」に変化した時のみ所定期間tの論理「H」
のパルスを発生される信号である。次に図2(b)を参
照しながら本実施例の動作の説明を行なう。チップセレ
クト信号XCSが論理「H」から論理「L」に変化する
と、前記チップセレクトバッファ回路の出力XCS’が
論理「L」に変化する。同時に前記パルス発生回路15
により期間T、論理「H」のCSP信号が発生される。
さらに前記NOR回路3にXCS’信号及びアドレス信
号が入力され、CSP信号がインバータ14に入力され
る。この時、アドレス信号が論理「H」であればNOR
回路3の出力は論理「L」となる。さらにNMOS1
2、NMOS13が活性化されるためNOR回路3の出
力ノードを論理「L」のレベルに引っ張る。同様にし
て、アドレス信号が論理「L」の場合NOR回路3の出
力が論理「H」となる。同時にPMOS10、PMOS
11が活性化され、NOR回路3の出力ノードのレベル
を論理「H」のレベルに引っ張る。すなわち従来のアド
レスバッファ回路に比べより高速で次段の行デコーダ回
路5あるいは、列デコーダ回路6を駆動する事が可能と
なる。加えてCSP信号は一定期間Tの後に論理「H」
から論理「L」に変化するため、半導体記憶装置がイネ
ーブル状態にあっても前記PMOS10及びNMOS1
3が非活性状態となるため貫通電流による消費電流の増
大をまねくことはない。本発明によるアドレスバッファ
回路の出力を受けた後前記行デコーダ回路5及び列デコ
ーダ回路6により選択されたメモリーセル群中のアドレ
ス番地に対応するデータがメモリーセルから読みだされ
たのち、前記センスアンプ回路8により増幅され、前記
出力バッファ回路9を介してデータが出力される。以上
のようにアドレスバッファ回路の駆動能力を増加させる
事が可能となり、従来技術に比べ消費電流を増加させず
にCSアクセスタイムにおいて時間tだけ高速化を図る
事が可能となる。
【0007】
【発明の効果】本発明の構成を採る事により、アドレス
バッファ回路の駆動能力を増加させる事が可能となり、
さらに消費電流を増加させずにCSアクセスタイムの高
速化を図る事が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す回路図。
【図2】本発明及び従来技術の動作を説明するためのタ
イミングチャート。
【図3】従来の技術を示すための回路図。
【図4】半導体記憶装置のブロック図。
【符号の説明】
1、3...NOR回路 2、4、14...インバータ 5...行デコーダ 6...列デコーダ 7...メモリーセル群 8...センスアンプ 9...出力バッファ 10、11...Pチャネル型MOSFET 12、13...Nチャネル型MOSFET 15...パルス発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チップセレクト信号により、半導体記憶装
    置のイネーブル状態、ディスイネーブル状態を制御する
    チップセレクト機能を有する半導体記憶装置で、前記チ
    ップセレクト信号を受けアドレス信号の入力を制御する
    ための制御信号を出力するチップセレクトバッファ回路
    を有し、前記制御信号を受け前記アドレス信号をデコー
    ダ回路に伝達するアドレスバッファ回路を有する半導体
    記憶装置において、前記半導体記憶装置をディスイネー
    ブル状態からイネーブル状態にせしめる時のみ駆動能力
    を上げるアドレスバッファ回路を有する事を特徴とする
    半導体記憶装置。
JP09659092A 1992-04-16 1992-04-16 半導体記憶装置 Expired - Fee Related JP3237180B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100402388B1 (ko) * 2001-09-24 2003-10-17 삼성전자주식회사 칩선택 출력 시간이 단축된 반도체 메모리 장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100402388B1 (ko) * 2001-09-24 2003-10-17 삼성전자주식회사 칩선택 출력 시간이 단축된 반도체 메모리 장치

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