JPH05298132A - 周辺制御装置 - Google Patents
周辺制御装置Info
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- JPH05298132A JPH05298132A JP4084353A JP8435392A JPH05298132A JP H05298132 A JPH05298132 A JP H05298132A JP 4084353 A JP4084353 A JP 4084353A JP 8435392 A JP8435392 A JP 8435392A JP H05298132 A JPH05298132 A JP H05298132A
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- peripheral control
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ソフトウェアが周辺装置サブシステムの障害部
位を閉塞する際に適確かつ容易に判断できるようにす
る。 【構成】周辺制御装置１に、マイクロプロセッサ２２と
サブシステム内の障害箇所を表示するエラーレジスタ１
６と障害箇所毎に障害発生回数を数えるカウンタ１７と
障害の発生頻度や発生間隔を知るための時刻記憶部１
８、タイマ１９を備え、障害発生時にマイクロプロセッ
サがその障害発生回数、発生頻度、障害間隔等から障害
発生部の閉塞の必要性を判断し、その結果をソフトウェ
アに指示する。 【効果】上記により、ソフトウェアの障害処理を適確か
つ容易にできる。
位を閉塞する際に適確かつ容易に判断できるようにす
る。 【構成】周辺制御装置１に、マイクロプロセッサ２２と
サブシステム内の障害箇所を表示するエラーレジスタ１
６と障害箇所毎に障害発生回数を数えるカウンタ１７と
障害の発生頻度や発生間隔を知るための時刻記憶部１
８、タイマ１９を備え、障害発生時にマイクロプロセッ
サがその障害発生回数、発生頻度、障害間隔等から障害
発生部の閉塞の必要性を判断し、その結果をソフトウェ
アに指示する。 【効果】上記により、ソフトウェアの障害処理を適確か
つ容易にできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、周辺装置サブシステム
の周辺制御装置に関し、特に障害処理時に障害箇所の閉
塞を上位装置に指示する周辺制御装置に関する。
の周辺制御装置に関し、特に障害処理時に障害箇所の閉
塞を上位装置に指示する周辺制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の周辺装置サブシステム、
例えば、磁気ディスクサブシステム、磁気テープサブシ
ステムなどにおいて障害を検出すると、その事象を示す
ステータスが上位装置に報告され、ソフトウェアはこれ
を解析し、必要があれば、チャネルパス、コントロー
ラ、ドライブパス、ドライブ等の単位で切り離し（閉
塞）を指示していた。
例えば、磁気ディスクサブシステム、磁気テープサブシ
ステムなどにおいて障害を検出すると、その事象を示す
ステータスが上位装置に報告され、ソフトウェアはこれ
を解析し、必要があれば、チャネルパス、コントロー
ラ、ドライブパス、ドライブ等の単位で切り離し（閉
塞）を指示していた。
【０００３】この従来の周辺装置サブシステムに対する
ソフトウェアによる事象解析方式では、ソフトウェアは
サブシステムからの詳細ステータスを解析し、障害箇所
を特定し、また、その発生頻度などを考慮して故障箇所
の論理的切り離し（閉塞）を決定していた。
ソフトウェアによる事象解析方式では、ソフトウェアは
サブシステムからの詳細ステータスを解析し、障害箇所
を特定し、また、その発生頻度などを考慮して故障箇所
の論理的切り離し（閉塞）を決定していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の周辺装
置サブシステムにおける故障箇所の切り離しは、ソフト
ウェアがサブシステムから送られたステータスを基に決
定するため、また、異なるサブシステム毎に個別の障害
解析を行う必要があり、ソフトウェアにとっても大きな
負担となるという欠点がある。
置サブシステムにおける故障箇所の切り離しは、ソフト
ウェアがサブシステムから送られたステータスを基に決
定するため、また、異なるサブシステム毎に個別の障害
解析を行う必要があり、ソフトウェアにとっても大きな
負担となるという欠点がある。
【０００５】また、短時間に、非連続的に同一の障害が
発生しても、ソフトウェアが当該故障箇所を論理的に切
り離しをするように指示することは困難である。
発生しても、ソフトウェアが当該故障箇所を論理的に切
り離しをするように指示することは困難である。
【０００６】本発明の目的は、障害部位の閉塞の必要性
をチェックし、ソフトウェアに指示することにより、上
記の欠点を解消し、ソフトウェアの負担を軽減するとと
もに、サブシステムの構成やハードウェアの特性に応じ
た適確な処置を実現できる周辺制御装置を提供すること
にある。
をチェックし、ソフトウェアに指示することにより、上
記の欠点を解消し、ソフトウェアの負担を軽減するとと
もに、サブシステムの構成やハードウェアの特性に応じ
た適確な処置を実現できる周辺制御装置を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本第一の発明の周辺制御
装置は、命令実行中または命令実行後に障害の有無を判
別する手段と、判別により障害を検出したとき障害箇所
を分類する手段と、分類された障害箇所を閉塞すべきか
否か判断する手段と、判断に基づいて障害箇所の閉塞要
求を報告するステータスに表示する手段と、ステータス
を上位装置に転送する手段とを有している。
装置は、命令実行中または命令実行後に障害の有無を判
別する手段と、判別により障害を検出したとき障害箇所
を分類する手段と、分類された障害箇所を閉塞すべきか
否か判断する手段と、判断に基づいて障害箇所の閉塞要
求を報告するステータスに表示する手段と、ステータス
を上位装置に転送する手段とを有している。
【０００８】本第二の発明の周辺制御装置は、上記第一
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
障害回数を記憶する手段と、障害回数が予め定められた
基準値を越えると障害箇所の閉塞要求を報告するステー
タスに表示する手段を有している。
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
障害回数を記憶する手段と、障害回数が予め定められた
基準値を越えると障害箇所の閉塞要求を報告するステー
タスに表示する手段を有している。
【０００９】本第三の発明の周辺制御装置は、上記第一
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
発生した障害回数を記憶する手段と、経過時間を知る手
段と、障害回数と経過時間とより単位時間に対する障害
発生率を算出する手段とを有している。
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
発生した障害回数を記憶する手段と、経過時間を知る手
段と、障害回数と経過時間とより単位時間に対する障害
発生率を算出する手段とを有している。
【００１０】本第四の発明の周辺制御装置は、上記第一
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
その部分を使用した命令実行回数を記録する手段と、障
害箇所毎に発生した障害回数を記録する手段と、命令実
行回数と障害回数とから命令実行回数に対する障害発生
率を算出する手段とを有している。
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎に
その部分を使用した命令実行回数を記録する手段と、障
害箇所毎に発生した障害回数を記録する手段と、命令実
行回数と障害回数とから命令実行回数に対する障害発生
率を算出する手段とを有している。
【００１１】本第五の発明の周辺制御装置は、上記第一
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎
に、障害の発生間隔を計測する手段を有している。
の発明の周辺制御装置において、分類した障害箇所毎
に、障害の発生間隔を計測する手段を有している。
【００１２】本第六の発明の周辺制御装置は、上記第一
〜第五の発明のいずれか一つの周辺制御装置において、
被制御装置を共有する他系周辺制御装置と互いに通信す
る手段と、通信により他系周辺制御装置の状況を知る手
段とを有している。
〜第五の発明のいずれか一つの周辺制御装置において、
被制御装置を共有する他系周辺制御装置と互いに通信す
る手段と、通信により他系周辺制御装置の状況を知る手
段とを有している。
【００１３】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１４】図１は本発明の一実施例の周辺制御装置を
使用した周辺装置サブシステムのブロック図である。
使用した周辺装置サブシステムのブロック図である。
【００１５】図１において、本実施例の周辺制御装置を
使用した周辺装置サブシステムは、本実施例の周辺制御
装置である磁気テープ制御装置（以下、ＭＴＣ）１と、
上位装置２と、複数の磁気テープ装置（以下、ＭＴＵ）
３とで構成されている。
使用した周辺装置サブシステムは、本実施例の周辺制御
装置である磁気テープ制御装置（以下、ＭＴＣ）１と、
上位装置２と、複数の磁気テープ装置（以下、ＭＴＵ）
３とで構成されている。
【００１６】ここで、ＭＴＣ１は、上位装置２と複数の
ＭＴＵ３にそれぞれチャネルインタフェース４とドライ
ブインタフェース５を通して接続している。ＭＴＣ１の
内部において、上位装置接続部（以下、ＣＨＡ）１１
は、上位装置２とのデータや命令、ステータス等の転送
を制御する。ドライブ制御部（以下、ＭＴＡ）１２は、
ＭＴＵ３とのデータ、命令、ステータス等の転送を制御
する。バッファ１３は、ＣＨＡ１１とＭＴＡ１２の間に
あり、大量のデータを一時的に蓄え、ＣＨＡ１１とＭＴ
Ａ１２の非同期な動作を可能にする。チャネルインタフ
ェース誤り検出部（以下、ＣＩＥ）１４は、上位装置と
のインタフェースにおけるシーケンスの誤りやパリティ
エラーの有無をチェックする。ドライブインタフェース
誤り検出部（以下、ＤＩＥ）１５は、ＭＴＵ３とＭＴＡ
１２の間のインタフェースにおけるシーケンスの誤りや
パリティエラーの有無をチェックする。また、ＣＨＡ１
１、ＭＴＡ１２、バッファ１３にもそれぞれチェック回
路を持ち、これらのチェック回路での判定結果はすべて
エラーレジスタ（以下、ＥＲＲ）１６に表示する。各種
の障害は、発生部位によってチャネルインタフェース
０、チャネルインタフェース１、ＭＴＣ、ドライブイン
タフェース＃１〜＃Ｎ、ドライブ＃１〜＃Ｎに分けら
れ、これに対応した種々のカウンタがカウンタ群１７に
用意されている。同じ障害発生部位毎に障害発生時刻が
時刻記憶部１８に記憶される。タイマ１９は一定時間の
経過を計測する。マイクロプロセッサ２２は、ＭＴＣ１
の全体を制御しており、さらに、ＭＴＵ３を共有制御す
る他のＭＴＣ１と信号線２０および共有メモリ２１を通
して互いに通信している。ステータス記憶部２３は上位
装置２に送出すべきステータスを一時的に記憶する。
ＭＴＵ３にそれぞれチャネルインタフェース４とドライ
ブインタフェース５を通して接続している。ＭＴＣ１の
内部において、上位装置接続部（以下、ＣＨＡ）１１
は、上位装置２とのデータや命令、ステータス等の転送
を制御する。ドライブ制御部（以下、ＭＴＡ）１２は、
ＭＴＵ３とのデータ、命令、ステータス等の転送を制御
する。バッファ１３は、ＣＨＡ１１とＭＴＡ１２の間に
あり、大量のデータを一時的に蓄え、ＣＨＡ１１とＭＴ
Ａ１２の非同期な動作を可能にする。チャネルインタフ
ェース誤り検出部（以下、ＣＩＥ）１４は、上位装置と
のインタフェースにおけるシーケンスの誤りやパリティ
エラーの有無をチェックする。ドライブインタフェース
誤り検出部（以下、ＤＩＥ）１５は、ＭＴＵ３とＭＴＡ
１２の間のインタフェースにおけるシーケンスの誤りや
パリティエラーの有無をチェックする。また、ＣＨＡ１
１、ＭＴＡ１２、バッファ１３にもそれぞれチェック回
路を持ち、これらのチェック回路での判定結果はすべて
エラーレジスタ（以下、ＥＲＲ）１６に表示する。各種
の障害は、発生部位によってチャネルインタフェース
０、チャネルインタフェース１、ＭＴＣ、ドライブイン
タフェース＃１〜＃Ｎ、ドライブ＃１〜＃Ｎに分けら
れ、これに対応した種々のカウンタがカウンタ群１７に
用意されている。同じ障害発生部位毎に障害発生時刻が
時刻記憶部１８に記憶される。タイマ１９は一定時間の
経過を計測する。マイクロプロセッサ２２は、ＭＴＣ１
の全体を制御しており、さらに、ＭＴＵ３を共有制御す
る他のＭＴＣ１と信号線２０および共有メモリ２１を通
して互いに通信している。ステータス記憶部２３は上位
装置２に送出すべきステータスを一時的に記憶する。
【００１７】図２は図１のステータス記憶部２３に記憶
された後上位装置２へ送出されるステータスバイトの概
要を示す図である。
された後上位装置２へ送出されるステータスバイトの概
要を示す図である。
【００１８】図２において、概略ステータス１０１は障
害またはサブシステムの状態の概要を示す。エラーコー
ド１０２は障害内容を示す１バイトのコードである。閉
塞要求ステータス１０３はソフトウェアに対しサブシス
テムの各部位毎に閉塞の必要性を示す１バイトのステー
タスである。詳細ステータス１０４は障害や状態の詳細
を示す。
害またはサブシステムの状態の概要を示す。エラーコー
ド１０２は障害内容を示す１バイトのコードである。閉
塞要求ステータス１０３はソフトウェアに対しサブシス
テムの各部位毎に閉塞の必要性を示す１バイトのステー
タスである。詳細ステータス１０４は障害や状態の詳細
を示す。
【００１９】図３は図２に示す閉塞要求ステータス１０
３の各ビットの詳細を示す図、図４は図１に示すカウン
タ群１７の詳細を示す図、図５は図１に示す時刻記憶部
１８の詳細を示す図、図６〜図１１は図１に示すマイク
ロプロセッサ２２の動作を示すフローチャートである。
３の各ビットの詳細を示す図、図４は図１に示すカウン
タ群１７の詳細を示す図、図５は図１に示す時刻記憶部
１８の詳細を示す図、図６〜図１１は図１に示すマイク
ロプロセッサ２２の動作を示すフローチャートである。
【００２０】次に、本実施例の周辺制御装置の動作につ
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【００２１】図１〜図１１において、ＭＴＣ１における
マイクロプロセッサ２２は命令実行の途中または最後に
障害の有無をエラーレジスタ１６の内容により判断す
る。これが図６のステップ４０４に相当する。これに先
だってステップ４０１からステップ４０３において、当
該命令の実行中のチャネルパス＃ｍとＭＴＣとＭＴＵ＃
ｎに対応する命令カウンタに＋１を加算する。ステップ
４０４で障害を検出すると、ステップ４０５からステッ
プ４０９において、障害の種類を上位装置２またはチャ
ネルインタフェース４の障害とＭＴＣ３の障害とドライ
ブインタフェース５の障害とＭＴＵ３の障害とに分類す
る。
マイクロプロセッサ２２は命令実行の途中または最後に
障害の有無をエラーレジスタ１６の内容により判断す
る。これが図６のステップ４０４に相当する。これに先
だってステップ４０１からステップ４０３において、当
該命令の実行中のチャネルパス＃ｍとＭＴＣとＭＴＵ＃
ｎに対応する命令カウンタに＋１を加算する。ステップ
４０４で障害を検出すると、ステップ４０５からステッ
プ４０９において、障害の種類を上位装置２またはチャ
ネルインタフェース４の障害とＭＴＣ３の障害とドライ
ブインタフェース５の障害とＭＴＵ３の障害とに分類す
る。
【００２２】ステップ４０５またはステップ４０６にお
いて、上位装置２またはチャネルインタフェース４の障
害を検出すると、ステップ４１２において、図４に示す
チャネルパス番号に対応するチャネルインタフェース障
害カウンタ２０５または２０６に＋１を加算する。ステ
ップ４１３および４１４では障害パスにかわる他のパス
が有効かをチェックする。すなわち、同一ＭＴＣ内の他
のチャネルインタフェースまたは他のＭＴＣ１（そのチ
ャネルインタフェース、ドライブインタフェースを含
む）が動作可能か否かを調べる。このうち他ＭＴＣ１に
ついては図１に示す信号線２０および共有メモリ２１に
よりＭＴＣ１間で互いの状態を確認することができる。
いずれのパスも使用不可のときは、該当パスの閉塞は要
求しない。いずれかのパスが利用可能なときは、ステッ
プ４１５からステップ４１８において、当該チャネルイ
ンタフェース（対応する上位装置２を含む）の障害発生
回数および発生率をチェックし、いずれかが基準値を満
足しないときにステップ４２０において、図１に示す上
位装置２へ当該チャネルインタフェースの閉塞要求（図
３に示すビット０）を報告する。
いて、上位装置２またはチャネルインタフェース４の障
害を検出すると、ステップ４１２において、図４に示す
チャネルパス番号に対応するチャネルインタフェース障
害カウンタ２０５または２０６に＋１を加算する。ステ
ップ４１３および４１４では障害パスにかわる他のパス
が有効かをチェックする。すなわち、同一ＭＴＣ内の他
のチャネルインタフェースまたは他のＭＴＣ１（そのチ
ャネルインタフェース、ドライブインタフェースを含
む）が動作可能か否かを調べる。このうち他ＭＴＣ１に
ついては図１に示す信号線２０および共有メモリ２１に
よりＭＴＣ１間で互いの状態を確認することができる。
いずれのパスも使用不可のときは、該当パスの閉塞は要
求しない。いずれかのパスが利用可能なときは、ステッ
プ４１５からステップ４１８において、当該チャネルイ
ンタフェース（対応する上位装置２を含む）の障害発生
回数および発生率をチェックし、いずれかが基準値を満
足しないときにステップ４２０において、図１に示す上
位装置２へ当該チャネルインタフェースの閉塞要求（図
３に示すビット０）を報告する。
【００２３】具体的には、まずステップ４１５におい
て、図４に示す当該チャネルインタフェースの障害発生
回数表示カウンタ２０５または２０６の値が基準値以上
であれば、閉塞要求を報告する。次にステップ４１６に
おいて、図１に示すマイクロプロセッサ２２がタイマ１
９が示す経過時間と図４の当該チャネルインタフェース
の障害発生回数カウンタ２０５または２０６の増加量と
から時間あたりの障害率を求め、その値が基準値以上で
あれば、当該チャネルインタフェースの閉塞要求を報告
する。
て、図４に示す当該チャネルインタフェースの障害発生
回数表示カウンタ２０５または２０６の値が基準値以上
であれば、閉塞要求を報告する。次にステップ４１６に
おいて、図１に示すマイクロプロセッサ２２がタイマ１
９が示す経過時間と図４の当該チャネルインタフェース
の障害発生回数カウンタ２０５または２０６の増加量と
から時間あたりの障害率を求め、その値が基準値以上で
あれば、当該チャネルインタフェースの閉塞要求を報告
する。
【００２４】続いて、ステップ４１７において、図４に
おける当該チャネルインタフェースを利用した命令実行
回数を表示しているカウンタ２０１または２０２とそれ
に対応する障害回数を示すカウンタ２０５または２０６
から命令実行数に対する障害発生率を求め、その結果が
基準値以上のとき、当該チャネルインタフェースの閉塞
要求を報告する。
おける当該チャネルインタフェースを利用した命令実行
回数を表示しているカウンタ２０１または２０２とそれ
に対応する障害回数を示すカウンタ２０５または２０６
から命令実行数に対する障害発生率を求め、その結果が
基準値以上のとき、当該チャネルインタフェースの閉塞
要求を報告する。
【００２５】最後に、ステップ４１８において、図５に
おける当該チャネルでの障害発生時刻３０１または３０
２と図１に示すマイクロプロセッサ２２内で生成される
現在時刻との差が基準値以下のとき、当該チャネルイン
タフェースの閉塞要求を報告する。もし基準値以下でな
ければ、現在の時刻を障害発生時刻３０１または３０２
に記録する。
おける当該チャネルでの障害発生時刻３０１または３０
２と図１に示すマイクロプロセッサ２２内で生成される
現在時刻との差が基準値以下のとき、当該チャネルイン
タフェースの閉塞要求を報告する。もし基準値以下でな
ければ、現在の時刻を障害発生時刻３０１または３０２
に記録する。
【００２６】以上、チャネルインタフェース障害につい
て記述したが他の場合も同様である。ステップ４０７に
おいて、ＭＴＣ１の障害と判断したときは、ステップ４
２１において、図４に示すＭＴＣ障害発生回数を表示す
るカウンタ２０８に＋１を加算する。ステップ４０８に
おいてドライブインタフェースの障害と判断したとき
は、ステップ４２２において、図４のドライブインタフ
ェース障害発生回数を表示するカウンタ２０８のうち当
該ＭＴＵ３に対応するものを＋１加算する。ＭＴＣ１の
障害、ドライブインタフェース５の障害のいずれの場合
も、次にステップ４２３において、他のＭＴＣ１とこれ
を接続するドライブインタフェース５といずれかのチャ
ネルインタフェース４が使用可能か否かをチェックす
る。他系のＭＴＣ１を経由して当該ＭＴＵ３へのアクセ
スが可能であれば、ステップ４１５以降において、前述
の上位装置２およびチャネルインタフェース４における
障害時の処理と同様に、ＭＴＣ１または当該ＭＴＵ３に
対応するドライブインタフェース５の障害発生回数およ
び発生率をチェックし、いずれかが基準値を満足しない
ときにステップ４２０において、図１に示す上位装置２
へＭＴＣ１またはドライブインタフェース５の閉塞要求
（図３に示すビット１またはビット２）を報告する。
て記述したが他の場合も同様である。ステップ４０７に
おいて、ＭＴＣ１の障害と判断したときは、ステップ４
２１において、図４に示すＭＴＣ障害発生回数を表示す
るカウンタ２０８に＋１を加算する。ステップ４０８に
おいてドライブインタフェースの障害と判断したとき
は、ステップ４２２において、図４のドライブインタフ
ェース障害発生回数を表示するカウンタ２０８のうち当
該ＭＴＵ３に対応するものを＋１加算する。ＭＴＣ１の
障害、ドライブインタフェース５の障害のいずれの場合
も、次にステップ４２３において、他のＭＴＣ１とこれ
を接続するドライブインタフェース５といずれかのチャ
ネルインタフェース４が使用可能か否かをチェックす
る。他系のＭＴＣ１を経由して当該ＭＴＵ３へのアクセ
スが可能であれば、ステップ４１５以降において、前述
の上位装置２およびチャネルインタフェース４における
障害時の処理と同様に、ＭＴＣ１または当該ＭＴＵ３に
対応するドライブインタフェース５の障害発生回数およ
び発生率をチェックし、いずれかが基準値を満足しない
ときにステップ４２０において、図１に示す上位装置２
へＭＴＣ１またはドライブインタフェース５の閉塞要求
（図３に示すビット１またはビット２）を報告する。
【００２７】ステップ４０８で、ＭＴＵ３の障害と判断
したときは、ステップ４２４にて当該ＭＴＵ３が継続動
作可能かどうかをチェックする。例えば、ＭＴＵ３のテ
ープリールを駆動するモータが故障で作動しない等の場
合は、即座に当該ＭＴＵ３の閉塞を指示する。障害が一
時的である可能性がある場合は、ステップ４２５にて、
図４のドライブ障害発生回数表示カウンタ２０９のうち
当該ＭＴＵ３に対応するものを＋１加算する。次にステ
ップ４２６にて、他に代替可能なＭＴＵ３があるかどう
かをチェックして他に使用可能なＭＴＵ３があれば、ス
テップ４１５以降で、前述の他の障害時と同様に当該Ｍ
ＴＵ３の障害発生回数および発生率を図４のカウンタを
用いてチェックし、いずれかが基準値を満足していない
ときは、ステップ４２０において、図１に示す上位装置
２へＭＴＵ３の閉塞要求（図３に示すビット３）を報告
する。
したときは、ステップ４２４にて当該ＭＴＵ３が継続動
作可能かどうかをチェックする。例えば、ＭＴＵ３のテ
ープリールを駆動するモータが故障で作動しない等の場
合は、即座に当該ＭＴＵ３の閉塞を指示する。障害が一
時的である可能性がある場合は、ステップ４２５にて、
図４のドライブ障害発生回数表示カウンタ２０９のうち
当該ＭＴＵ３に対応するものを＋１加算する。次にステ
ップ４２６にて、他に代替可能なＭＴＵ３があるかどう
かをチェックして他に使用可能なＭＴＵ３があれば、ス
テップ４１５以降で、前述の他の障害時と同様に当該Ｍ
ＴＵ３の障害発生回数および発生率を図４のカウンタを
用いてチェックし、いずれかが基準値を満足していない
ときは、ステップ４２０において、図１に示す上位装置
２へＭＴＵ３の閉塞要求（図３に示すビット３）を報告
する。
【００２８】ソフトウェアは命令実行後に図２に示すス
テータスをＭＴＣ１から受けると、閉塞要求ステータス
１０３の内容をチェックし、図３の詳細ビットに示す閉
塞要求部位に対応する部分を以後使用しないように管理
する。
テータスをＭＴＣ１から受けると、閉塞要求ステータス
１０３の内容をチェックし、図３の詳細ビットに示す閉
塞要求部位に対応する部分を以後使用しないように管理
する。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の周辺制御
装置は、マイクロプロセッサ２２と、サブシステム内の
障害箇所を表示するエラーレジスタ１６と、障害箇所毎
に障害発生回数を数えるカウンタ１７と、障害の発生頻
度や発生間隔を知るための時刻記憶部１８と、タイマ１
９とを備え、障害発生時にマイクロプロセッサがその障
害発生回数、発生頻度、障害間隔等から障害発生部の閉
塞の必要性を判断し、その結果をソフトウェアに指示す
ることにより、ソフトウェアの負担を軽減するととも
に、サブシステムの構成やハードウェアの特性に応じた
適確な処置を実現できるという効果がある。
装置は、マイクロプロセッサ２２と、サブシステム内の
障害箇所を表示するエラーレジスタ１６と、障害箇所毎
に障害発生回数を数えるカウンタ１７と、障害の発生頻
度や発生間隔を知るための時刻記憶部１８と、タイマ１
９とを備え、障害発生時にマイクロプロセッサがその障
害発生回数、発生頻度、障害間隔等から障害発生部の閉
塞の必要性を判断し、その結果をソフトウェアに指示す
ることにより、ソフトウェアの負担を軽減するととも
に、サブシステムの構成やハードウェアの特性に応じた
適確な処置を実現できるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例の周辺制御装置を使用した周
辺装置サブシステムのブロック図である。
辺装置サブシステムのブロック図である。
【図２】図１のステータス記憶部２３に記憶された後上
位装置２へ送出されるステータスバイトの概要を示す図
である。
位装置２へ送出されるステータスバイトの概要を示す図
である。
【図３】図２に示す閉塞要求ステータス１０３の各ビッ
トの詳細を示す図である。
トの詳細を示す図である。
【図４】図１に示すカウンタ群１７の詳細を示す図であ
る。
る。
【図５】図１に示す時刻記憶部１８の詳細を示す図であ
る。
る。
【図６】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図７】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図８】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図９】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図１０】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１１】図１に示すマイクロプロセッサ２２の動作を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
１ 制御装置（ＭＴＣ） ２ 上位装置 ３ 磁気テープ装置（ＭＴＵ） ４ チャネルインタフェース ５ ドライブインタフェース １１ 上位装置接続部（ＣＨＡ） １２ ドライブ制御部（ＭＴＡ） １３ バッファ １４ チャネルインタフェース誤り検出部（ＣＩＥ） １５ ドライブインタフェース誤り検出部（ＤＩＥ） １６ エラーレジスタ（ＥＲＲ） １７ カウンタ群 １８ 時刻記憶部 １９ タイマ ２０ 信号線 ２１ 共有メモリ ２２ マイクロプロセッサ ２３ ステータス記憶部 １０１ 概略ステータス １０２ エラーコード １０３ 閉塞要求ステータス １０４ 詳細ステータス ２０１〜２０４ カウンタ ２０５，２０６ 障害発生回数カウンタ ２０７，２０８ カウンタ ２０９ ドライブ障害発生回数表示カウンタ ３０１〜３０５ レジスタ
Claims (6)
- 【請求項１】 命令実行中または命令実行後に障害の有
無を判別する手段と、前記判別により障害を検出したと
き障害箇所を分類する手段と、前記分類された障害箇所
を閉塞すべきか否か判断する手段と、前記判断に基づい
て障害箇所の閉塞要求を報告するステータスに表示する
手段と、前記ステータスを上位装置に転送する手段とを
有することを特徴とする周辺制御装置。 - 【請求項２】 前記分類した障害箇所毎に障害回数を記
憶する手段と、前記障害回数が予め定められた基準値を
越えると前記障害箇所の閉塞要求を報告するステータス
に表示する手段を有することを特徴とする請求項１記載
の周辺制御装置。 - 【請求項３】 前記分類した障害箇所毎に発生した障害
回数を記憶する手段と、経過時間を知る手段と、前記障
害回数と前記経過時間とより単位時間に対する障害発生
率を算出する手段とを有することを特徴とする請求項１
記載の周辺制御装置。 - 【請求項４】 前記分類した障害箇所毎にその部分を使
用した命令実行回数を記録する手段と、前記障害箇所毎
に発生した障害回数を記録する手段と、前記命令実行回
数と前記障害回数とから前記命令実行回数に対する障害
発生率を算出する手段とを有することを特徴とする請求
項１記載の周辺制御装置。 - 【請求項５】 前記分類した障害箇所毎に、障害の発生
間隔を計測する手段を有することを特徴とする請求項１
記載の周辺制御装置。 - 【請求項６】 被制御装置を共有する他系周辺制御装置
と互いに通信する手段と、前記通信により前記他系周辺
制御装置の状況を知る手段とを有することを特徴とする
請求項１，２，３，４または５に記載の周辺制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08435392A JP3212677B2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 周辺制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08435392A JP3212677B2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 周辺制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05298132A true JPH05298132A (ja) | 1993-11-12 |
| JP3212677B2 JP3212677B2 (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=13828154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08435392A Expired - Lifetime JP3212677B2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 周辺制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3212677B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8089712B2 (en) | 2008-05-23 | 2012-01-03 | Fujitsu Limited | Abnormality determining apparatus |
| JP2014225133A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、制御装置及び制御プログラム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH028929A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 周辺制御装置 |
| JPH0232427A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Nec Corp | 周辺装置サブシステムの誤り回復処理方式 |
-
1992
- 1992-04-07 JP JP08435392A patent/JP3212677B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH028929A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nec Corp | 周辺制御装置 |
| JPH0232427A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Nec Corp | 周辺装置サブシステムの誤り回復処理方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8089712B2 (en) | 2008-05-23 | 2012-01-03 | Fujitsu Limited | Abnormality determining apparatus |
| JP2014225133A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、制御装置及び制御プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3212677B2 (ja) | 2001-09-25 |
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