JPH05290414A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

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JPH05290414A
JPH05290414A JP11217892A JP11217892A JPH05290414A JP H05290414 A JPH05290414 A JP H05290414A JP 11217892 A JP11217892 A JP 11217892A JP 11217892 A JP11217892 A JP 11217892A JP H05290414 A JPH05290414 A JP H05290414A
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JP
Japan
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layer
magnetic
film
magneto
magnetic layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP11217892A
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English (en)
Inventor
Atsuyuki Watada
篤行 和多田
Toshiaki Tokita
才明 鴇田
Yoshiko Kurosawa
美子 黒沢
Motoharu Tanaka
元治 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH05290414A publication Critical patent/JPH05290414A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁性膜の磁壁移動に対する保磁力を増大さ
せ、記録磁区形状の安定化を図り、特に、マークエッヂ
記録方式及び交換結合多層膜を使用したオーバーライト
方式における特性改善(エラーレートの減少、記録の安
定化)を行う。 【構成】 透明基板1上に保護層2、磁性層3、保護層
4、反射層5及び保護コート層6を順次積層して形成さ
れる従来タイプの層構成において、基板1と磁性層3の
間に厚さ15nm以下の超薄膜層8を設ける。真空製膜
法により作製した厚さ15nm以下の膜は連続的につな
がった平滑なものにはならず、特に厚さ8nm以下にな
ると島状構造と呼ばれる材料が点在する形になる。この
上に保護膜2を介してあるいは直接磁性層3を製膜する
と、磁性層3に微細な凹凸あるいは応力が発生する。こ
れが磁性層3の磁気特性(特に磁気異方性)の微細な不
均一を作り出し、磁壁移動に対する保磁力を増大させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザー光により書き換
え可能な記録が行なえる光磁気記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】光磁気
記録は従来の磁気記録に比べて大容量であり、しかも情
報の書換が可能であることから近年活発な開発がなされ
ており、既に実用化の段階に至っている。この光磁気記
録に用いる媒体の磁性膜(記録層)には希土類−遷移金
属アモルファス合金が一般に使用されている。希土類−
遷移金属アモルファス合金を用いた媒体では、記録磁区
が磁界に対して非常に安定であると言われているが、磁
壁移動に対する保磁力Hwは比較的小さいため比較的小
さな磁界でも磁区形状が変化するおそれがある。また、
光ビームの照射により磁性膜の温度がキュリー温度に近
くなると、保磁力Hwは更に小さくなり、磁壁は非常に
動き易くなる。その結果、記録時の記録装置内の温度、
レーザー出力、記録バイアス磁界(アクチュエータから
の漏れ磁界)、デフォーカス量、等の変化により、磁区
の形状が大きく影響される。さらに、再生ビームの照
射、隣接トラックへの記録、消去の繰り返しによっても
磁区形状がわずかずつ変化する可能性がある。これら
は、特にマークエッヂ記録方式(磁化の反転する位置す
なわち磁区の縁の位置により情報を記録する方式)にお
いてはエラーレートの増大の原因となり大きな問題とな
る。
【0003】一方、記録時のデータ転送速度を速くする
目的で検討されているダイレクトオーバーライトの一方
式として交換結合多層膜を使用する方式が提案されてい
る(特開昭62−175948号公報)が、この方式に
おいては記録を行う度に記録トラックに関係なく媒体全
体に大きな磁界をかけている。更に最近では記録を行う
度に、情報が記録されているメモリ層と交換結合してい
る補助層の磁化方向を反転させる初期化、転写工程を繰
り返す方式もいくつか提案されている。しかし、これら
の方式においても、希土類−遷移金属アモルファス合金
からなる磁性層を有する媒体は記録磁区形状が変化する
危険性が非常に高くなり、マークポジション記録におい
ても問題になる可能性がある。マークエッヂ記録方式で
の使用には大きな障害となる。
【0004】本発明は上記のような従来技術の問題点を
解決するためになされたもので、磁性膜の磁壁移動に対
する保磁力を増大させ、記録磁区形状の安定化を図り、
特に、マークエッヂ記録方式及び交換結合多層膜を使用
したオーバーライト方式における特性改善(エラーレー
トの減少、記録の安定化)を行うことのできる光磁気記
録媒体を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するため、本発明によれば、基板上に少なくとも垂直磁
気異方性を示す磁性層を設けてなる光磁気記録媒体にお
いて、基板と磁性層の間に厚さ15nm以下の超薄膜層
を設けたことを特徴とする光磁気記録媒体が提供され
る。
【0006】また、本発明によれば、基板上に少なくと
も垂直磁気異方性を示す磁性層を設けてなる光磁気記録
媒体において、磁性層に隣接して厚さ15nm以下の強
磁性体からなる超薄膜層を設けたことを特徴とする光磁
気記録媒体、及び同構成において超薄膜層が磁性層を構
成する元素のうちの1種以上からなり、磁性層と同材料
であるときは磁性層とは組成が異なることを特徴とする
光磁気記録媒体が提供される。
【0007】以下本発明の光磁気記録媒体につき図面を
参照して詳細に説明する。先ず、請求項1の発明に係る
光磁気記録媒体について説明する。図1及び図2はその
二構成例を示す断面図である(図2に示すものは後述す
る請求項2の発明に係る光磁気記録媒体にもなってい
る)。図1及び図2に示す媒体は、透明基板1上に保護
層2、磁性層3、保護層4、反射層5及び保護コート層
6を順次積層して形成される従来タイプの層構成におい
て、基板1と磁性層3の間に厚さ15nm以下の超薄膜
層8を設けたものであり、図1の場合は基板1と保護層
2の間に、図2の場合は保護層2と磁性層3の間に超薄
膜層8が設けられている。磁性層3は一般に垂直磁気異
方性を持つ希土類−遷移金属アモルファス合金により構
成され、またその他の構成要素は従来の公知のもので構
成される。
【0008】超薄膜層8の材料としては真空製膜法で作
製できるものであれば任意のものが使用でき、Au,A
g,Cu等の非磁性金属、SiO2 、Si34 、Al
N、有機薄膜等が例として挙げられる。真空製膜法によ
り厚さ15nm以下の膜を作製すると膜は連続的につな
がった平滑なものにはならない。特に厚さ8nm以下に
なると島状構造と呼ばれる材料が点在する形になる。こ
の上に直接あるいは保護層2を介して磁性層3を製膜し
た場合、磁性層3に微細な凹凸あるいは応力が発生す
る。これが磁性層3の磁気特性(特に磁気異方性)の微
細な不均一を作り出し、磁壁移動に対する保磁力(H
w)を増大させる。超薄膜層8の島状あるいは不連続性
のサイズは製膜法により異なり、一般に蒸着法を用いた
場合は大きく、スパッタ法のような高エネルギータイプ
の方法を用いた場合は小さくなる。いずれの方法によっ
ても充分に微細なものが得られるが、微妙な特性のコン
トロールは、製膜時のエネルギー等の製膜条件を制御す
る事により行なう。超薄膜層8の膜厚が15nmより大
きくなると膜は連続的につながり平滑なものとなるので
所期の効果が得られなくなる。
【0009】次に請求項2に係る光磁気記録媒体につい
て説明する。請求項2に係る媒体は、磁性膜3に隣接し
て強磁性体からなる超薄膜層8を設けたものである。そ
の二構成例を図2及び図3に示す。図2は強磁性体から
なる超薄膜層8を磁性層3の基板側の面に接して設けた
ものであり、図3は磁性層3の保護コート層側の面に接
して設けたものである。超薄膜層8の構成材料としては
強磁性体であればいずれの材料でも所望の効果は得られ
るが、一般に磁化が大きい程その効果も大きい。好まし
い例としては、Fe,Co,Ni等の単体あるいはこれ
らの合金、ホイスラー合金、酸化物磁性体、等が挙げら
れる。
【0010】請求項3に係る光磁気記録媒体は、請求項
2に係る光磁気記録媒体の構成において超薄膜層8の材
料として磁性層3を構成する元素のうちの1種以上を使
用するものである。磁性層3と同種の元素を同様用いる
場合には組成を磁性層の組成と異ならせる。例えば、磁
性層3の構成材料がTbFeCoの場合、超薄膜層8の
構成材料としては、Fe,Co,Tb,Fe+Co,C
o+Tb,Fe+Tb,TbFeCoで組成の異なるも
の、以上のものに更に別の元素を入れたもの、等が使用
される。この場合、超薄膜層8と磁性層3との間の交換
力が強く、効果が大きくなる。
【0011】以上本発明をいくつかの構成例に従って説
明してきたが、もちろん本発明はこれらのみに限定され
るものでなく、種々の変形、変更が可能である。
【0012】また、本発明は、通常の光磁気記録方式は
もちろんのこと、特にマークエッヂ記録方式あるいは交
換結合2層膜を使用したオーバーライト方式に適用した
場合その効果は大である。
【0013】
【実施例】次に本発明の実施例を述べる。
【0014】実施例1 1.2mm厚のポリカーボネート基板1上に、超薄膜層
8としてAu膜を6nm厚、基板側保護層2としてSi
N膜を100nm厚、磁性層3としてTbFeCo膜を
25nm厚、膜面側保護層4としてSiN膜を30nm
厚、反射層5としてAl膜を50nm厚、保護コート層
6として有機物膜を5μm厚に順次積層し、図1の構成
の光磁気ディスクを得た。
【0015】実施例2 実施例1において超薄膜層8を基板側保護層2と磁性層
3の間に設けるとともに該薄膜層8をCo膜(3nm
厚)で形成し、さらに磁性層3としてGdTbFe膜を
用いた以外は同様にして図2の構成の光磁気ディスクを
得た。
【0016】実施例3 実施例1において超薄膜層8を基板側保護層2と磁性層
3の間に設けるとともに該薄膜層8をFeCo膜(3n
m厚)で形成した以外は同様にして図2の構成の光磁気
ディスクを得た。
【0017】実施例4 実施例1において超薄膜層8を磁性層3と膜面側保護層
4の間に設けるとともに該薄膜層8をFeCo膜(3n
m厚)で形成した以外は同様にして図3の構成の光磁気
ディスクを得た。
【0018】比較例1 実施例1において超薄膜層8を設けないこと以外は同様
にして光磁気ディスクを得た。
【0019】比較例2 実施例2において超薄膜層8を設けないこと以外は同様
にして光磁気ディスクを得た。
【0020】以上のようにして作製した各光磁気ディス
クについて磁壁移動に対する保磁力Hwを評価したとこ
ろ、実施例1、3、4においてHwは比較例1のHwよ
り増大し、また実施例2においてHwは比較例2のHw
より増大していることが認められた。また、各光磁気デ
ィスクについて2−7変調マークエッヂ記録を行った
後、500Oeの磁界中で、1800rpmの回転速度
にて24時間繰り返し再生を行った。そして繰り返し再
生後のビットエラー率を測定したところ、記録直後ビッ
トエラー率はすべて5×10-6程度であったものが、比
較例1、2においては1×10-5以上に増大したのに対
し、実施例1〜4においては1×10-5以下であった。
【0021】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、基板と磁性層
の間に厚さ15nm以下の超薄膜層を設けたので、磁性
層の磁壁移動に対する保磁力が増大し、記録時の諸条件
の変化による記録磁区形状への影響が小さくなる。又、
記録後も磁界及び再生ビームあるいは隣接トラックへの
記録消去の繰り返しによる記録磁区形状の変化が小さく
なる。その結果、記録の安定性、ビットエラーレートが
向上する。特に、マークエッヂ記録方式においてはその
効果が大きく、更に、交換結合多層膜を使用したオーバ
ーライト方式においては、初期化時の強磁界印加、初期
化・転写による補助層の反転の繰り返しによる影響も減
少させることができ、マークエッヂ記録方式に使用する
場合はもちろんマークポジション記録方式に使用する場
合にも効果は大きい。
【0022】請求項2の発明によれば、磁性層に隣接し
て厚さ15nm以下の強磁性体からなる超薄膜層を設け
たので、超薄膜層の微細な不均一性が磁気的に磁性層に
影響し、見かけ上の磁性層の磁気特性の微細な不均一性
を発生させ、請求項1の発明と同じ効果が得られる。
【0023】請求項3の発明によれば、超薄膜層が磁性
層を構成する元素のうち1種以上からなり、磁性層と同
材料からなるときは磁性層とは組成が異なるようにした
ので、超薄膜層と磁性層間の交換力が強く効果が大きく
なる。実際にはほとんど磁性膜の磁気特性自体が微細な
不均一性を持っているのと同等になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の発明に係る光磁気記録媒体の層構成
例を示す断面図である。
【図2】請求項1及び請求項2の発明に係る光磁気記録
媒体の層構成例を示す断面図である。
【図3】請求項2の発明に係る光磁気記録媒体の層構成
例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 保護層 3 磁性層 4 保護層 5 反射層 6 保護コート層 7 レーザ光 8 超薄膜層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 元治 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に少なくとも垂直磁気異方性を示
    す磁性層を設けてなる光磁気記録媒体において、基板と
    磁性層の間に厚さ15nm以下の超薄膜層を設けたこと
    を特徴とする光磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 基板上に少なくとも垂直磁気異方性を示
    す磁性層を設けてなる光磁気記録媒体において、磁性層
    に隣接して厚さ15nm以下の強磁性体からなる超薄膜
    層を設けたことを特徴とする光磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】 超薄膜層が磁性層を構成する元素のうち
    の1種以上からなり、磁性層と同材料であるときは磁性
    層とは組成が異なることを特徴とする請求項2に記載の
    光磁気記録媒体。
JP11217892A 1992-04-03 1992-04-03 光磁気記録媒体 Pending JPH05290414A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003090217A1 (fr) * 2002-04-22 2003-10-30 Fujitsu Limited Support d'enregistrement optique, support d'enregistrement magneto-optique et appareil d'enregistrement/reproduction d'informations

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003090217A1 (fr) * 2002-04-22 2003-10-30 Fujitsu Limited Support d'enregistrement optique, support d'enregistrement magneto-optique et appareil d'enregistrement/reproduction d'informations

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