JPH05287521A - スパッタ装置 - Google Patents

スパッタ装置

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JPH05287521A
JPH05287521A JP11686892A JP11686892A JPH05287521A JP H05287521 A JPH05287521 A JP H05287521A JP 11686892 A JP11686892 A JP 11686892A JP 11686892 A JP11686892 A JP 11686892A JP H05287521 A JPH05287521 A JP H05287521A
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JP
Japan
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target
vacuum chamber
chamber
back plate
vacuum
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Application number
JP11686892A
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English (en)
Inventor
Tadatoshi Suda
忠利 須田
Hatsuo Osada
初雄 長田
Shigetoshi Hosaka
重敏 保坂
Sunao Muraoka
直 村岡
Masamichi Hara
正道 原
Hiroshi Yamaguchi
博史 山口
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Tel Varian Ltd
Original Assignee
Tel Varian Ltd
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Abstract

(57)【要約】 [目的]スパッタガンから真空チャンバへの水漏れ等を
防止して、真空チャンバ内に良好な真空空間を得る。 [構成]スパッタガン30は、ヒンジ機構60によって
回動可能であり、、ターゲット38およびターゲット背
板36で真空チャンバ10の開口12を塞ぐようにして
真空チャンバ10に装着される。スパッタガン30にお
けるターゲット裏側室40は真空チャンバ10の室内と
は完全に遮断され、ターゲット裏側室40内の冷却水が
壁部の接合部分つまりフランジ部32aとターゲット背
板36との接合部分から外へ漏れたとしても、大気中へ
抜け、真空チャンバ10の室内には入ってこない。ま
た、絶縁材24とチャンバ側壁10b、補強材26との
各接合部にメタルシール27,29を設けたので、密閉
性がよく、大気から真空チャンバ10内への空気の侵入
を防止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スパッタ装置に係り、
より詳細にはスパッタ装置を構成するスパッタガンおよ
び真空チャンバの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】スパッタ装置は、真空チャンバ内で陰極
側のターゲット(蒸着材料)の表面にプラズマのイオン
を衝突させ、そこからはじき飛ばされた粒子を対向する
陽極側の被処理体上に堆積させて膜を形成する装置であ
る。このようなスパッタリングにおいて、ターゲット
は、成膜処理量と比例して徐々に侵食されるため、所定
の侵食度に達した時点で新しいターゲットと交換される
必要がある。
【0003】そこで、一般のスパッタ装置では、ターゲ
ットを随時交換できるように、スパッタガンと称される
組立体にターゲットを取付し、このスパッタガンを真空
チャンバに着脱可能に装着するようにしている。スパッ
タガンには、ターゲットを裏側から冷却するための冷却
機構が設けられるほか、マグネトロン方式のスパッタ装
置の場合はターゲット表面付近のプラズマ密度を高める
ための磁界をターゲット裏側から与えるマグネット機構
等が設けられる。
【0004】図2に、従来のマグネトロンスパッタ装置
の典型的な構成を示す。このスパッタ装置では、有底円
筒形の真空チャンバ100の上面開口102にスパッタ
ガン120が下向きに着脱可能に装着される。真空チャ
ンバ100は、たとえばアルミニウムからなり、その底
部には加熱機構104が配設され、この加熱機構104
の載置台106上に被処理体として、たとえば半導体ウ
エハ108が載置される。真空チャンバ100の側壁に
は、チャンバ内にプラズマ生成用のガスたとえばArガ
スを導入するためのガス導入管110およびチャンバ内
を真空排気するためのガス排出管112が接続されてい
る。
【0005】スパッタガン120は、たとえばアルミニ
ウムからなる有底筒状のケーシング122を有し、この
ケーシング122の内側にリング状の絶縁材124、た
とえばアルミニウムからなる円筒状の冷却ジャケット1
26を介してターゲット背板128およびターゲット1
30を取付してなる。図示のように、真空チャンバ10
0にスパッタガン120が装着された状態において、タ
ーゲット130は半導体ウエハ108と向き合う。
【0006】ターゲット130の裏側には、ケーシング
122、絶縁材124、冷却ジャケット126およびタ
ーゲット背板128によって、密閉された室132が形
成されている。このターゲット裏側室132内には配管
134,136を介して冷却水供給装置(図示せず)よ
り冷却水が供給され、冷却ジャケット126,ターゲッ
ト背板128を介してターゲット130が冷却される。
また、このターゲット裏側室132内には、ターゲット
130の表面付近のプラズマ密度を高めるための磁界を
与えるマグネット・アッセンブリ138が配置されてい
る。このマグネット・アッセンブリ138は、スパッタ
ガン120の外側に配設されたモータ140により回転
軸142を介して回転駆動される。144は軸受であ
る。
【0007】ケーシング122の側壁端部にはフランジ
部122aが一体に設けられ、、このフランジ部122
aを真空チャンバ100の開口縁部100aに載せ、ボ
ルト146を締めることで、スパッタガン120を真空
チャンバ100に装着する。ターゲット130を交換す
るときは、ボルト146を外してスパッタガン120を
上方に持ち上げることによって、スパッタガン120を
真空チャンバ100より取り外す。もっとも、スパッタ
ガン120の自重に加えて、真空チャンバ100の室内
(真空室)と室外(大気圧)間の大きな差圧が重力方向
にスパッタガン120に作用するため、ボルト146の
代えて簡易な抑え部材を用いてもよく、あるいは単にス
パッタガン120を真空チャンバ100の開口縁部10
0aに載置するだけでもよい。また、ケーシング122
の側壁端部より薄い筒状の板148が垂直下方に延在し
ている。この板148は、ターゲット130より側方へ
飛んだスパッタ粒子がチャンバ内壁に付着するのを防止
するための防着板である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ターゲット
130と半導体ウエハ108との間にはターゲット13
0側を陰極側、半導体ウエハ108側を陽極側として所
定の電圧源(図示せず)より両電極間に高い電圧が印加
され、真空チャンバ100は載置台106を介して陽極
側電位になる。したがって、ターゲット130と真空チ
ャンバ100とを電気的に絶縁する必要があり、そのた
めにケーシング122と冷却ジャケット126との間に
絶縁材124が挿入されるとともに、冷却ジャケット1
26、ターゲット背板128およびターゲット130の
それぞれの外周面とケーシング122の側壁の内周面と
の間にギャップ150が設けられている。また、ターゲ
ット裏側室132から冷却水が漏れないように、ケーシ
ング122と絶縁部材124との接合部、絶縁材124
と冷却ジャケット126との接合部、冷却ジャケット1
26とターゲット背板128との接合部に、それぞれフ
ッ素系ゴムからなるOリング152,154,156が
設けられている。
【0009】しかし、ターゲット裏側室132の外側の
真空チャンバ100の室内およびこれに連通したギャッ
プ部150は真空空間であるうえ、ターゲット裏側室1
32内は冷却水で満たされるので、ターゲット裏側室1
32を側面および底面を構成する絶縁材124、冷却ジ
ャケット126およびターゲット背板128に極めて大
きな圧力または重力がかかる。このため、ターゲット裏
側室132より冷却水がOリング152,154,15
6の隙間を通って真空チャンバ100内に入り込み、こ
れによって真空チャンバ100内の真空排気能率が低下
したり、半導体ウエハ108の加工品質が劣化するとい
う不具合があった。
【0010】特に、ターゲット裏側室132の底面を構
成するターゲット背板128にかかる圧力が大きく、タ
ーゲット背板128がその中心部を沈めるようにして反
る結果、端部つまり冷却ジャケット126との接合面に
隙間ができて、Oリング156のシール機能が効かなく
なるおそれがあった。
【0011】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、スパッタガンから真空チャンバへの水漏れ等を
防止して、真空チャンバ内に良好な真空空間を得るよう
にしたスパッタ装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のスパッタ装置は、真空チャンバに設けられ
た所定の開口に、ターゲットを取付したスパッタガンを
着脱可能に装着してなるスパッタ装置において、前記タ
ーゲットおよび前記ターゲットを支持する部材で前記真
空チャンバの開口を塞ぐようにして前記スパッタガンを
前記開口に装着してなる構成とした。
【0013】また、絶縁材回りの密閉性を高めるため
に、前記ターゲットと前記真空チャンバとを絶縁するた
めの絶縁部材と他の部材との接合部にメタルシールを設
ける構成とした。
【0014】
【作用】本発明のスパッタ装置では、ターゲットおよび
ターゲット背板で真空チャンバの開口を塞ぐようにし
て、スパッタガンが真空チャンバに装着される。これに
より、真空チャンバからみてターゲットの裏側の部分、
特にターゲット冷却室は真空チャンバの室内とは完全に
遮断される。したがって、ターゲット裏側から冷却水等
が外へ漏れたとしても、大気中へ抜け、真空チャンバの
室内には入ってこない。
【0015】また、絶縁材と他の部材との接合部にメタ
ルシールを設けることで、ガス抜けを効果的に遮断する
とともに、シール自体から発生するガスの量を少なくす
ることができ、真空チャンバ内の真空度を高めることが
できる。
【0016】
【実施例】以下、図1を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明の一実施例によるマグネトロンス
パッタ装置の構成を示す断面図である。
【0017】このスパッタ装置では、有底円筒形の真空
チャンバ10の上面開口12にスパッタガン30が下向
きに着脱可能に装着される。真空チャンバ10は、たと
えばアルミニウムからなり、その底部には加熱機構14
が配設され、この加熱機構14の載置台16上に被処理
体として、たとえば半導体ウエハ18が載置される。1
9は遮蔽板である。真空チャンバ10の側壁には、チャ
ンバ内にプラズマ生成用のガス、たとえばArガスを導
入するためのガス導入管20よびチャンバ内を真空排気
するためのガス排出管22が接続されている。
【0018】スパッタガン30は、有底筒状のケーシン
グ32を有し、このケーシング32のフランジ部32a
にボルト等でターゲット背板36およびターゲット38
を着脱可能に取付してなる。フランジ部32aとターゲ
ット背板36との接合部にはフッ素系ゴムからなるOリ
ング37が設けられる。ケーシング32はたとえばアル
ミニウムからなり、ターゲット背板36はたとえば無酸
化銅からなり、ターゲット38はたとえばアルミニウム
銅(AlCu)からなる。図示のように、真空チャンバ
10にスパッタガン30が装着された状態において、タ
ーゲット38は半導体ウエハ18と所定の間隔を置いて
向き合う。
【0019】ターゲット38の裏側には、ケーシング3
2とターゲット背板36とによって密閉された室40が
形成されている。このターゲット裏側室40には配管4
2,44を介して冷却水供給装置(図示せず)からの冷
却水が供給され、ケーシング32およびターゲット背板
36を介してターゲット38が冷却される。
【0020】また、このターゲット裏側室40には、タ
ーゲット38の表面付近のプラズマ密度を高めるための
磁界を与えるマグネット・アッセンブリ46が配置され
ている。このマグネット・アッセンブリ46は、スパッ
タガン30の外側に配設されたモータ48により回転軸
50を介して回転駆動される。52は軸受である。
【0021】真空チャンバ10の側壁10bの上端には
リング状の絶縁材24とリング状の補強材26とが固着
されている。真空チャンバ10の側壁10bと絶縁材2
4との接合部および絶縁材24と補強材26との接合部
にはそれぞれメタルシールからなるOリング27,29
が設けられている。ターゲット38の外周部には、スパ
ッタ粒子がチャンバ側壁に付着するのを防止するための
防護板60が設けられている。
【0022】スパッタガン30が真空チャンバ10に装
着された状態において、スパッタガン30側のターゲッ
ト背板36の周縁部が真空チャンバ10の開口縁部の補
強材26の上に重なる。補強材26の上面には、ターゲ
ット背板36との接合面をシールするためのフッ素系ゴ
ムからなるOリング23が設けられている。
【0023】なお、ターゲット38と半導体ウエハ18
との間にはターゲット38側を陰極側、半導体ウエハ1
8側を陽極側として所定の電圧源(図示せず)より両電
極間に高い電圧が印加される。真空チャンバ10は載置
台14を介して陽極側の電位になる。真空チャンバ10
とターゲット38とは、真空チャンバ10の側壁10b
の上端に設けられた絶縁材24によって電気的に分離さ
れる。
【0024】本実施例のスパッタ装置では、スパッタガ
ン30が、ターゲット38およびターゲット背板36で
真空チャンバ10の開口12を塞ぐようにして真空チャ
ンバ10に装着される。これにより、スパッタガン30
におけるターゲット裏側室40は真空チャンバ10の室
内とは完全に遮断され、ターゲット裏側室40内の冷却
水が壁部の接合部分つまりフランジ部32aとターゲッ
ト背板36との接合部分から外へ漏れたとしても、大気
中へ抜け、真空チャンバ10の室内には入ってこない。
【0025】また、絶縁材24とチャンバ側壁10b、
補強材26との各接合部にメタルシール27,29を設
けたので、密閉性がよく、大気から真空チャンバ10内
への空気の侵入を防止することができる。なお、フッ素
系ゴムシールの場合はシール自体からガスが発生される
が、メタルシールの場合はガスの発生量が極めて少な
い。
【0026】また、スパッタガン30側で真空チャンバ
10の真空空間に触れるものはターゲット38とターゲ
ット背板36だけであり、スパッタガン30側から真空
チャンバ10内へガスを放出する表面部分は極めて少な
い。この点、図2に示すような従来のスパッタ装置で
は、スパッタガン30のケーシング122の内壁面、冷
却ジャケット126の外壁面等が真空チャンバ10の真
空空間に露出するため、それらの壁面から発生したガス
が真空チャンバ10内へ入り込み、真空チャンバ10内
の真空度を低下させていた。
【0027】また、ターゲット裏側室40の底面を構成
するターゲット背板36には大きな圧力または重力がか
かるが、ターゲット背板36は真空チャンバ10の開口
縁部で支持されているため、その大きな圧力が真空チャ
ンバ10によって受け止められ、ターゲット背板36の
反りは少ない。このため、ターゲット背板36とケーシ
ング32のフランジ部32aとの接合部からの水漏れが
少なくなっている。
【0028】また、ターゲット38を取り囲む防護板6
0が真空チャンバ10側に設けられているため、防護板
60の冷却効率がよく、防護板60に付着したスパッタ
粒子が剥がれにくくなっている。
【0029】このように、本実施例のスパッタ装置によ
れば、スパッタガン30側から真空チャンバ10への水
漏れ、ガス放出等がないので、真空チャンバ10内の清
浄度・真空度を容易に高めることができる。
【0030】さらに、本実施例のスパッタ装置では、ヒ
ンジ機構62によりスパッタガン30の装着・取外し作
業が簡単に行えるようになっている。このヒンジ機構6
2は真空チャンバ10の外壁に取付されており、その可
動アーム64の先端部は真空チャンバ10のケーシング
32のフランジ部32aに固着されている。これによ
り、スパッタガン30は、ヒンジ機構62の回転軸66
を中心として矢印Aの方向に回動可能になっている。そ
して、ケーシング32の上面には把手68が取付されて
おり、この把手68を掴んで真空チャンバ10に対する
スパッタガン30の装着・取外しを容易に行うことがで
きるようになっている。なお、本実施例において、スパ
ッタガン30は、真空チャンバ10の開口縁部に載置さ
れる状態で真空チャンバ10に装着される。通常は、ス
パッタガン30の自重に加えて、真空チャンバ10の室
内(真空室)と室外(大気圧)間の大きな差圧が重力方
向にスパッタガン30に作用するため、このように単に
載置するだけでスパッタガン30を真空チャンバ10に
密着固定させることができる。しかし、必要に応じて抑
え部材やボルト等の締付部材を用いることも可能であ
る。
【0031】上記した実施例では、真空チャンバ10の
開口縁部に重なる部材はターゲット背板36であった
が、これに限るものではなく、ターゲット38を支持す
る任意の部材が可能である。また、上記実施例では、タ
ーゲット背板36の接合部にフッ素系ゴムシール製のO
リング23,37を用いたが、これらのOリングをメタ
ルシールで構成することも可能である。また、上述した
実施例のスパッタ装置はマグネトロンスパッタ装置であ
ったが、他の型のスパッタ装置にも本発明は適用可能で
ある。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のスパッタ
装置によれば、ターゲットおよびターゲットを支持する
部材で真空チャンバの開口を塞ぐようにしてスパッタガ
ンを該開口に装着してなる構成により、ターゲットの裏
側の部分と真空チャンバの室内とを完全に遮断し、ター
ゲット裏側から真空チャンバへの冷却水等の漏れを防止
することができ、真空チャンバ内の清浄度および真空度
を高めることができる。また、ターゲットと真空チャン
バとを絶縁するための絶縁部材と他の部材との接合部に
メタルシールを設けることで、絶縁材回りの密閉性を高
め、真空チャンバ内の真空度を一層高めることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるマグネトロンスパッタ
装置の構成を示す図である。
【図2】従来の典型的なマグネトロンスパッタ装置の構
成を示す図である。
【符号の説明】
10 真空チャンバ 12 開口 24 絶縁材 26 補強材 27 メタルシール 29 メタルシール 30 スパッタガン 32 ケーシング 36 ターゲット背板 38 ターゲット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村岡 直 山梨県韮崎市藤井町北下条2381番地の1 テル・バリアン株式会社内 (72)発明者 原 正道 山梨県韮崎市藤井町北下条2381番地の1 テル・バリアン株式会社内 (72)発明者 山口 博史 山梨県韮崎市藤井町北下条2381番地の1 テル・バリアン株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空チャンバに設けられた所定の開口
    に、ターゲットを取付したスパッタガンを着脱可能に装
    着してなるスパッタ装置において、 前記ターゲットおよび前記ターゲットを支持する部材で
    前記真空チャンバの開口を塞ぐようにして前記スパッタ
    ガンを前記開口に装着する構成としたことを特徴とする
    スパッタ装置。
  2. 【請求項2】 前記ターゲットと前記真空チャンバとを
    絶縁するための絶縁材と他の部材との接合部にメタルシ
    ールを設けてなることを特徴とする請求項1記載のスパ
    ッタ装置。
JP11686892A 1992-04-09 1992-04-09 スパッタ装置 Pending JPH05287521A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030016188A (ko) * 2001-08-20 2003-02-26 에이에스엠엘 유에스, 인코포레이티드 처리 챔버 내의 밀봉부의 단열을 위한 장치 및 단열 방법
JP2006501609A (ja) * 2002-09-30 2006-01-12 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理システムにおける、堆積シールドを有する改良された上部電極板のための方法及び装置
JP2007043058A (ja) * 2005-08-04 2007-02-15 Avms Corp Ltd シリコン低温結晶化のための金属触媒ドーピング装置及びこれを利用したドーピング方法
WO2008032489A1 (fr) * 2006-09-11 2008-03-20 Shinmaywa Industries, Ltd. Structure pour fixer un canon à plasma à une chambre

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030016188A (ko) * 2001-08-20 2003-02-26 에이에스엠엘 유에스, 인코포레이티드 처리 챔버 내의 밀봉부의 단열을 위한 장치 및 단열 방법
JP2006501609A (ja) * 2002-09-30 2006-01-12 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理システムにおける、堆積シールドを有する改良された上部電極板のための方法及び装置
JP2007043058A (ja) * 2005-08-04 2007-02-15 Avms Corp Ltd シリコン低温結晶化のための金属触媒ドーピング装置及びこれを利用したドーピング方法
JP4546405B2 (ja) * 2005-08-04 2010-09-15 株式会社ディエムエス シリコン低温結晶化のための金属触媒ドーピング装置を利用したドーピング方法
WO2008032489A1 (fr) * 2006-09-11 2008-03-20 Shinmaywa Industries, Ltd. Structure pour fixer un canon à plasma à une chambre
JP2008066240A (ja) * 2006-09-11 2008-03-21 Shin Meiwa Ind Co Ltd プラズマガンのチャンバへの取り付け構造

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