JP2008115445A - ターゲットホルダ及び成膜装置並びに成膜方法 - Google Patents

ターゲットホルダ及び成膜装置並びに成膜方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ターゲットとターゲットホルダとの密着性を事前に確認することのできるターゲットホルダを提供する。
【解決手段】本発明のターゲットホルダ10は、ターゲット13が取り付けられるターゲット取付面11cと、前記ターゲット取付面11cに、前記取り付けられるターゲット13によってその開口が塞がれるように形成された凹部11aと、前記凹部11aにターゲットホルダ10を貫通するように形成された冷却水供給孔1と、前記凹部11aにターゲットホルダ10を貫通するように形成された冷却水排出孔2と、前記凹部11aにターゲットホルダ10を貫通するように形成された真空引き孔3と、を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、ターゲットを冷却するための冷却水を通流させるターゲットホルダ、及びこのターゲットホルダを備えた成膜装置、並びにこの成膜装置を用いた成膜方法に関する。
近年、種々の基材に膜を形成する成膜装置が用いられている。このような成膜装置では、通常、ターゲットホルダが備えられていて、このターゲットホルダが膜の材料で構成されるターゲットを保持する。保持されたターゲットはスパッタされる際に加熱されるため、ターゲットホルダにはターゲットを冷却するための冷却機構が設けられていることがある(特許文献1の第1図参照)。
さらに、特許文献1の第2図には、ターゲット支持体(ターゲットホルダ)に冷却水を供給する冷却水供給配管を設けると共に、この冷却水供給配管の所望位置に冷却水パージ用ガス配管を設けた成膜装置が開示されている。
このような成膜装置によれば、ターゲットホルダを介してターゲットを冷却することができると共に、ターゲットの交換時においては冷却水パージ用ガス配管からパージガスを送り込んで冷却水を除去できるため、ターゲットを交換する際にチャンバ内に冷却水がこぼれることが抑制され、チャンバ内の汚染原因を除去することができる。
実開昭58−97163号公報
しかしながら、特許文献1の構成においては、ターゲットを直接、冷却水で冷却することが可能なように、ターゲットをターゲット支持体に装着することによって冷却水流路が形成されるようになっている。このため、ターゲットを交換した後にチャンバ内を真空引きすると、チャンバ内の圧力と冷却水流路の圧力との差圧により、ターゲットとターゲットホルダとの間から冷却水のもれが発見される場合があり、この場合には、再度、チャンバ内を大気圧に戻した後、ターゲットをターゲットホルダから取り外して冷却水のもれの原因を探す必要があった。
本発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、チャンバ内を真空引きするときに冷却水のもれが発見されることを抑制可能なターゲットホルダ及び成膜装置並びに成膜方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明のターゲットホルダは、ターゲットが取り付けられるターゲット取付面と、前記ターゲット取付面に、前記取り付けられるターゲットによってその開口が塞がれるように形成された凹部と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水供給孔と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水排出孔と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された真空引き孔と、を備える。
このような構成とすると、ターゲット取付面にターゲットを取り付けた場合において、冷却水供給孔及び冷却水排出孔を介してターゲットホルダに形成された凹部に冷却水を通流させることができる。これにより、ターゲットが冷却される。
また、ターゲットホルダに形成された凹部から冷却水を排出し、ターゲットホルダに取り付けられたターゲットを交換した後に、真空引き孔を介してターゲットホルダに形成された凹部を真空引きすることができる。これにより、ターゲットホルダの凹部とターゲットとにより閉鎖された空間の圧力が所定の圧力以下になれば、ターゲットとターゲットホルダとの密着性が確認される。
本発明のターゲットホルダは、柱状の本体部と前記本体部の周面に形成されたフランジ部とを備え、前記本体部の一端に前記ターゲット取付面が形成され、前記ターゲット取付面に前記本体部の軸方向に窪むように前記凹部が形成され、前記冷却水供給孔、前記冷却水排出孔、及び前記真空引き孔が前記凹部に前記本体部の前記フランジ部より他端側の部分を貫通するように形成されていてもよい。
本発明の成膜装置は、チャンバと、前記チャンバ内に配設された基材ホルダと、前記チャンバ内に配設された上記いずれかのターゲットホルダと、冷却水通流装置と、真空引き装置と、を備え、前記ターゲットホルダは、前記ターゲット取付面が前記チャンバの内部に位置しかつ前記冷却水供給孔、前記冷却水排出孔、及び前記真空引き孔の前記凹部への開口と反対側の開口(以下、外側開口という)が前記チャンバの外に位置するようにして気密に前記チャンバに取り付けられ、前記冷却水供給孔の外側開口及び前記冷却水排出孔の外側開口に前記冷却水通流装置が接続され、前記真空引き孔の外側開口に前記真空引き装置が接続されている。
このような構成とすると、チャンバ内を真空引きする前に、ターゲットとターゲットホルダとの間にリークが発生しているかどうかを検知することができる。
また、本発明の成膜装置は、チャンバと、前記チャンバ内に配設された基材ホルダと、前記チャンバ内に配設されたターゲットホルダと、冷却水供給配管及び冷却水排出配管を備えた冷却水通流装置と、真空引き装置と、を備え、前記ターゲットホルダは、ターゲットが取り付けられるターゲット取付面と、前記ターゲット取付面に、前記取り付けられるターゲットによってその開口が塞がれるように形成された凹部と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水供給孔と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水排出孔と、を備え、前記ターゲットホルダは、前記ターゲット取付面が前記チャンバの内部に位置しかつ前記冷却水供給孔及び前記冷却水排出孔の前記凹部への開口と反対側の開口が前記チャンバの外に位置するようにして気密に前記チャンバに取り付けられ、前記冷却水供給孔の外側開口に前記冷却水供給配管が接続され、前記冷却水排出孔の外側開口に前記冷却水排出配管が接続され、前記冷却水供給配管又は前記冷却水排出配管に前記真空引き装置が接続されている。
このような構成とすると、チャンバ内を真空引きする前に、ターゲットとターゲットホルダとの間にリークが発生しているかどうかを検知することができる。
本発明の成膜方法は、上記いずれかの成膜装置を用いた成膜方法であって、前記冷却水通流装置によって前記冷却水供給孔、前記凹部、及び前記冷却水排出孔に冷却水を通流させる工程Aと、前記工程Aの後、前記ターゲットホルダのターゲット取付面に取り付けられたターゲットをスパッタして前記基材ホルダに取り付けられた基材に成膜する工程Bと、前記工程Bの後、前記ターゲットホルダの凹部から冷却水を排出する工程Cと、前記工程Cの後、前記ターゲットホルダのターゲット取付面に取り付けられたターゲットを交換する工程Dと、前記工程Dの後、前記真空引き装置によって前記ターゲットホルダの凹部を真空引きする工程Eと、を含む。
このような構成とすると、ターゲットホルダの凹部とターゲットとにより閉鎖された空間の圧力が所定の圧力以下になれば、ターゲットとターゲットホルダとの密着性が確認される。したがって、チャンバ内を真空引きする前に、ターゲットとターゲットホルダとの間からリークが発生しているかどうかを検知することができる。これにより、チャンバ内を真空引きしても、ターゲットとターゲットホルダとの間から冷却水がチャンバ内にもれることが防止され、チャンバ内の汚染が抑制される。
本発明のターゲットホルダは、上記のような構成としたため、ターゲットとターゲットホルダとの密着性を事前に確認することができるという効果を奏する。
本発明の成膜装置及び成膜方法は、上記のような構成としたため、チャンバ内を真空引きする前に、ターゲットとターゲットホルダとの間からリークが発生しているかどうかを検知することができるという効果を奏する。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態の成膜装置の概略構成を示す断面図である。なお、図1においては、冷却水通流装置の図示は省略している。図2は、図1の成膜装置を構成するターゲットホルダを拡大して示す断面図である。図3は、図1の成膜装置を用いた成膜方法の手順を示す工程図である。図4は、図3の工程図における各工程の内容を示すフローチャートである。以下、図1乃至図4を参照しながら、本実施形態の成膜装置について説明する。
図1に示すように、本実施形態の成膜装置100は、直方体状のチャンバ80を備えている。チャンバ80内の空間が成膜空間90を構成する。
チャンバ80の下部には、ターゲットホルダ10が配設されている。ターゲットホルダ10は、チャンバ80の壁に形成された貫通孔81に取り付けられている。ターゲットホルダ10のターゲット取付面11cには、ターゲット13が取り付けられる。ターゲット13は、ターゲットクランプ15によってターゲット取付面11cに取り付けられる。ターゲットホルダ10には、バイアス電圧印加装置Vの負極端子が接続されている。バイアス電圧印加装置Vの正極端子は接地されている。バイアス電圧印加装置Vは、ターゲットホルダ10を介してターゲット13に負のバイアス電圧を印加する。なお、ターゲットホルダ10の詳しい構成については、後に詳しく説明する。
チャンバ80には、排気口71が設けられている。排気口71には、真空ポンプ72が接続されている。真空ポンプ72は、成膜空間90を成膜可能な圧力にまで減圧する。
チャンバ80には、ガス導入口73が設けられており、このガス導入口73から不活性ガス(例えば、Arガス)が成膜空間90内に導入される。成膜空間90内に導入された不活性ガスは、上記のバイアス電圧印加装置Vからターゲット13に印加されたバイアス電圧によってプラズマイオンとなる。このプラズマイオンがターゲット13からターゲット粒子をスパッタする。
成膜空間90には、基材ホルダ70が配設されている。基材ホルダ70は、ターゲット13と対向するように配設されている。基材ホルダ70は、本実施形態では接地電位とされている。基材ホルダ70は、膜を形成する基材75を保持する。基材75には、上記のようにしてスパッタされたターゲット粒子によって膜が形成される。
成膜装置100は、制御装置60を備えている。制御装置60は、バイアス電圧印加装置V、それぞれ後述する第1開閉弁31乃至第5開閉弁35の他に、成膜装置100の全体の動作を制御する。
次に、ターゲットホルダ10及びその周辺構造について、図1及び図2を参照しながら説明する。
図1及び図2に示すように、ターゲットホルダ10は、短柱状の本体部11bと、この本体部11bの周面に形成されたフランジ部11dとを有している。
チャンバ80の下部の壁には、貫通孔81が形成され、この貫通孔81に、一端にフランジが形成された筒状の絶縁カラー29が、そのフランジがチャンバ80の外面に当接するようにして気密的に嵌挿されている。そして、この絶縁カラー29に、ターゲットホルダ10の本体部11bが、フランジ部11dが絶縁カラー29のフランジに当接するようにして嵌挿されている。絶縁カラー29及びターゲットホルダ10は、図示されない適宜な取付具によってチャンバ80に取り付けられている。ターゲットホルダ10のフランジ部11dの絶縁カラー29のフランジに当接する面には環状にOリング溝19が形成され、このOリング溝19内にOリング21が配設されている。これにより、ターゲットホルダ10は、チャンバ80と絶縁されるようにして該チャンバ80に気密的に取り付けられている。
本体部11bの上端、すなわちチャンバ80の内部に位置する端には、平坦なターゲット取付面11cが形成されている。このターゲット取付面11cには、後述するターゲットクランプ15によってターゲット13が取り付けられる。
ターゲット取付面11cの中央部には、凹部11aが形成されている。凹部11aは、本体部11bの軸方向に窪むように形成されている。この凹部11aの開口は、ターゲット13により塞がれるように形成されており、この塞がれた内部空間が冷却水流路12を構成する。凹部11aには、複数(本実施形態では3個)のマグネット27,28が配置されている。マグネットは3本の棒磁石で構成されていて、2本の外側マグネット28と、1本の内側マグネット27とからなる。外側マグネット28は、それぞれのS極がターゲット13に対向するようにして配置されている。内側マグネット27は、そのN極がターゲット13に対向するようにして配置されている。これらのマグネット27,28は、ヨーク14に取り付けられている。マグネット27,28は、ターゲット13の表面近傍に電子を封じ込める。これにより、ターゲット13の近傍において形成されるプラズマイオンの密度が大きくなり、スパッタリング効率が向上する。
ターゲット13は、ターゲットクランプ15によってターゲット取付面11cに取り付けられる。ターゲットクランプ15は、ターゲット13の外周を挟持することにより、ターゲット13をターゲット取付面11cに取り付ける。本体部11b及びターゲットクランプ15には、これらを貫通するようにボルト孔18が形成されている。このボルト孔18は、ターゲットクランプ15に形成された貫通孔18a及び本体部11bに形成されたネジ孔18bから成っている。貫通孔18aにボルト(締結具)17を挿通し、このボルト17をネジ孔18bに螺入することによって、ターゲット13がターゲットクランプ15によってターゲット取付面11cに取り付けられる。
また、ターゲット取付面11cにおける、ターゲット13とターゲット取付面11cとの接触部分には、環状のOリング溝23が形成されている。Oリング溝23内には、Oリング25が配設されている。これにより、ターゲット13とターゲット取付面11cとの接触部分は、Oリング25によってシールされる。
ターゲットホルダ10には、冷却水供給孔1、冷却水排出孔2、及び真空引き孔3が形成されている。冷却水供給孔1、冷却水排出孔2、及び真空引き孔3は、本体部11bの下端部、すなわちチャンバ80の外に位置する端部を貫通するようにして凹部11aに形成されている。冷却水供給孔1の外側開口1a及び冷却水排出孔2の外側開口2aには冷却水通流装置30が接続されている。冷却水通流装置30は、図示されない冷却水供給ポンプと、冷却水供給配管38と、冷却水排出配管58とを備えている。冷却水供給配管38は、その上流端が冷却水供給ポンプに接続され、その下流端が冷却水供給孔1の外側開口1aに接続されている。冷却水供給配管38には、分岐部39が設けられ、この分岐部39からパージ用配管37が延出している。冷却水供給配管38の分岐部39より上流側の部分には第1開閉弁31が設けられている。第1開閉弁31は、その開/閉により、冷却水供給配管38を開放/閉止する。パージ用配管37には、第2開閉弁32が設けられている。パージ用配管37の下端には貯水槽43が設けられている。第2開閉弁32は、その開/閉により、パージ用配管37を開放/閉止する。
冷却水排出配管58の上流端は、冷却水排出孔2の外側開口2aに接続されている。冷却水排出配管58には分岐部59が設けられ、この分岐部59からパージ用配管57が延出している。冷却水排出配管58の分岐部59よりも下流側の部分には、第5開閉弁35が設けられている。第5開閉弁35は、その開/閉により、冷却水排出配管58を開放/閉止する。パージ用配管57には、第4開閉弁34が設けられている。パージ用配管57の下端には、圧縮空気供給装置36が接続されている。第4開閉弁34と圧縮空気供給装置36との共働により、ターゲット交換前の冷却水排出時において、冷却水排出配管58、冷却水流路12、及び冷却水供給配管38の所定部分から冷却水が排出される。
真空引き孔3の外側開口3aには、真空引き装置40が接続されている。真空引き装置40は、真空引き配管48と、第3開閉弁33と、真空計41と、真空ポンプ45とを備えている。真空引き配管48の一端は、真空引き孔3の外側開口3aに接続されている。真空引き配管48には、第3開閉弁33が設けられている。第3開閉弁33は、その開/閉により、真空引き配管48を開放/閉止する。真空引き配管48の他端には、真空ポンプ45が接続されている。真空ポンプ45は、真空引き配管48を介して、ターゲットホルダ10の冷却水流路12を真空引きする。なお、真空ポンプ45は、チャンバ80を真空引きする真空ポンプ72と共用するものであってもよい。真空引き配管48には、真空計41が設けられている。真空計41は、真空引き配管48を介して、凹部11a(冷却水流路12)内の圧力を測定する。
次に、本実施形態の成膜装置100の動作を簡単に説明する。ここで、成膜装置100の動作は、制御装置60により実現される。
まず、真空ポンプ72が成膜空間90を成膜可能な圧力になるまで真空引きする。ここで、成膜可能な圧力は、例えば、10−2Paのオーダーの圧力である。この状態で、ガス導入口73から成膜空間90内に不活性ガスを流入させると共に、バイアス電圧印加装置Vからターゲット13にバイアス電圧を印加してプラズマイオンを発生させる。このプラズマイオンが、ターゲット13からターゲット粒子をスパッタする。このターゲット粒子が基材75に堆積し、膜を形成する。
次に、本実施形態の成膜装置100を用いた成膜方法について図3及び図4を参照しながら説明する。成膜方法は、図3に示すように、それぞれ後述する、冷却水通流工程A、成膜工程B、冷却水排出工程C、ターゲット交換工程D、及び真空引き工程Eを含んで構成される。ここで、各工程A,B,C,D,Eにおける成膜装置100の各構成要素の制御は、制御装置60により行われる。
上記の各工程の前段階の工程として、基材ホルダ70に基材75が取り付けられる(基材取付工程)。また、ターゲットホルダ10のターゲット取付面11cにターゲット13が取り付けられる(ターゲット取付工程)。
次に、冷却水通流工程Aについて説明する。冷却水通流工程Aにおいては、まず、パージ用配管37に設けられた第2開閉弁32、真空引き配管48に設けられた第3開閉弁33、及びパージ用配管57に設けられた第4開閉弁34は閉じられている。この状態で、冷却水供給配管38に設けられた第1開閉弁31及び冷却水排出配管58に設けられた第5開閉弁35を開く(ステップS1)。これにより、図2中の矢印Fの方向に冷却水が流れ、冷却水流路12に冷却水が通流される(ステップS2)。
次に、成膜工程Bについて説明する。成膜空間90内が真空ポンプ72で真空引きされると共に、ガス導入口73から成膜空間90内に不活性ガス(Arガス)が導入される。成膜空間90に導入された不活性ガスはプラズマイオンとなり、ターゲットホルダ10に保持されたターゲット13からターゲット粒子をスパッタする。スパッタされたターゲット粒子はターゲットホルダ10に対向した位置に配置された基材75に堆積され、膜が形成される(成膜工程B、ステップS3)。ここで、ターゲット13がスパッタされることにより加熱されるが、上記のようにしてターゲットホルダ10の冷却水流路12に冷却水が通流されているため、ターゲット13が冷却される。
ステップS3の成膜工程Bを繰り返すと、スパッタによってターゲット13が消耗する。そこで、消耗したターゲット13を新しいものに交換する必要が生じる。この場合には、以下のようにしてターゲット13を新しいものと交換した後、この新しいターゲット13とターゲットホルダ10との間のリークの発生の有無を検知する。
次に、冷却水排出工程Cについて説明する。冷却水排出工程Cにおいては、まず、第1開閉弁31及び第5開閉弁35が閉じられる(ステップS4)。これにより、冷却水通流装置30に設けられた全ての開閉弁31,32,34,35が閉じられることになるため、冷却水流路12への冷却水の供給が停止する。次に、第2開閉弁32及び第4開閉弁34を開く(ステップS4)。ここで、第1開閉弁31、第3開閉弁33、及び第5開閉弁35は閉じられたままである。次に、圧縮空気供給装置36を動作させる。これにより、パージガスが冷却水流路12の内部に残った冷却水を押し出し、冷却水が排出される(ステップS5)。
さらにパージガスを流し続けると、冷却水流路12及びターゲット13の裏面(冷却水流路12側の面)が乾燥される。これにより、ターゲット13を交換する際に冷却水がチャンバ80内にこぼれることがなくなる。
次に、ターゲット交換工程Dについて説明する。ターゲット交換工程Dにおいては、まず、第2開閉弁32及び第4開閉弁34を閉じる(ステップS6)。これにより、冷却水流路12へのパージガスの流通が停止される。その後、チャンバ80内を大気圧に戻し、ボルト17を緩めてターゲットクランプ15及びターゲット13を取り外す。その後、新しいターゲット13をターゲットホルダ10のターゲット取付面11cにセットし、ボルト17を仮締めする。これにより、ターゲット13がターゲットホルダ10のターゲット取付面11cに仮に取り付けられる(ステップS7)。
次に、真空引き工程Eについて説明する。真空引き工程Eにおいては、まず、第1開閉弁31、第2開閉弁32、第4開閉弁34、及び第5開閉弁35が閉じられた状態で、第3開閉弁33を開く(ステップS8)。これにより、真空引きされる空間(第1開閉弁31及び第2開閉弁32により仕切られた冷却水供給配管38からなる空間、冷却水流路12からなる空間、第4開閉弁34及び第5開閉弁35により仕切られた冷却水排出配管58からなる空間)が形成される。そして、真空ポンプ45を動作させ、真空引き配管48を介して凹部11a(冷却水流路12)内を真空引きする(ステップS9)。次に、冷却水流路12内の圧力を真空計41により測定し(ステップS10)、冷却水流路12内の圧力が所定の圧力(100Pa)以下になるかどうかを判定する(ステップS11)。冷却水流路12内の圧力が100Pa以下にならない場合(ステップS11においてNO)には、ターゲット13とターゲット取付面11cとの間からリークが発生していると考えられる。前述のように、ターゲット13とターゲット取付面11cとの接触部分はOリング25によってシールされているが、例えば、ターゲット13とターゲット取付面11cとの間に異物が存在する場合等には、ターゲット13とターゲット取付面11cとの間からリークが発生すると考えられる。そこで、冷却水流路12内の圧力を大気圧に戻し、ターゲットホルダ10のターゲット取付面11cからターゲット13を取り外し、ターゲット取付面11cとターゲット13との接触部分を清掃した後、再度、ターゲット13をターゲットホルダ10のターゲット取付面11cに取り付ける(再チェック、ステップS12)。そして、冷却水流路12内の圧力が100Pa以下になるまで上記のステップS9〜ステップS12を繰り返す。
一方、ステップS11において冷却水流路12内の圧力が100Pa以下になった場合(ステップS11においてYES)には、ターゲット取付面11cとターゲット13との間におけるリークがないと考えられる。この場合には、ボルト17を本締めし、ターゲット13をターゲットホルダ10のターゲット取付面11cに取り付ける(本締め、ステップS13)。
なお、本実施形態においては、ステップS11における所定の圧力を100Paとしたが、50Pa以上200Pa以下の範囲の圧力であってもよい。
その後、ステップS1に戻り冷却水通流工程Aを行った後、ステップS3の成膜工程Bが行われる。ここで、成膜工程Bにおいて、成膜空間90内を真空ポンプ72で真空引きしても、ターゲットホルダ10におけるターゲット取付面11cとターゲット13との間から冷却水のもれは発生しないと考えられる。
本実施形態の成膜装置100は、以上のような構成としたため、チャンバ80内を真空引きする前に、ターゲット13とターゲットホルダ10との間からリークが発生しているかどうかを事前に検知することができる。これにより、チャンバ80内を大気圧に戻す必要がなくなるため、作業の手間が省ける。また、成膜工程Bにおいてチャンバ80内を真空引きした際には、冷却水がチャンバ80内にもれることが抑制され、チャンバ80内の汚染が防止される。
(第2実施形態)
図5は、本発明の第2実施形態の成膜装置の概略構成を示す断面図である。なお、図5においては、冷却水通流装置の図示は省略している。図6は、図5の成膜装置を構成するターゲットホルダを拡大して示す断面図である。以下、図5及び図6を参照しながら、本実施形態の成膜装置について説明する。
本実施形態の成膜装置100は、第1実施形態の成膜装置の構成のうち、ターゲットホルダ10と、真空引き装置40の接続箇所とを変更している。
具体的には、図5及び図6に示すように、第1実施形態の成膜装置と異なり、ターゲットホルダ10に真空引き孔が形成されていない。また、図6に示すように、真空引き装置40が、冷却水通流装置30の冷却水供給配管38に接続されている。真空引き装置40の接続される位置は、冷却水供給配管38における第1開閉弁31が配設された部分の下流(冷却水供給配管38における第1開閉弁31が配設された部分と冷却水供給孔1の外側開口1aに接続された部分との間)又はパージ用配管37における第2開閉弁32が配設された部分の下流(パージ用配管37における第2開閉弁32が配設された部分と分岐部39との間)である。それ以外の構成については、第1実施形態の成膜装置と同様である。本実施形態の成膜装置100の動作及び本実施形態の成膜装置100を用いた成膜方法も、第1実施形態と同様である。
このような構成とすると、冷却水供給配管38及び真空引き配管48を介してターゲットホルダ10の凹部11a(冷却水流路12)が真空引きされる。これにより、冷却水流路12内の圧力が所定の圧力(100Pa)以下になった場合には、ターゲット取付面11cとターゲット13との間におけるリークがないことが確認される。
なお、本実施形態の成膜装置100においては、真空引き装置40が冷却水通流装置30の冷却水供給配管38に接続されていたが、真空引き装置40が冷却水通流装置30の冷却水排出配管58に接続されていてもよい。この場合の真空引き装置40の接続される位置は、冷却水排出配管58における第5開閉弁35が配設された部分の上流(冷却水供給配管58における第5開閉弁35が配設された部分と冷却水排出孔2の外側開口2aに接続された部分との間)又はパージ用配管57における第4開閉弁34が配設された部分の上流(パージ用配管57における第4開閉弁34が配設された部分と分岐部59との間)である。
このような構成とすると、冷却水排出配管58及び真空引き配管48を介してターゲットホルダ10の凹部11a(冷却水流路12)が真空引きされる。これにより、冷却水流路12内の圧力が所定の圧力(100Pa)以下になった場合には、ターゲット取付面11cとターゲット13との間におけるリークがないことが確認される。
なお、本実施形態においても、冷却水流路12内の所定の圧力を100Paとしたが、第1実施形態の成膜装置及び成膜方法と同様に、50Pa以上200Pa以下の範囲の圧力であってもよい。
以上の事項を総括すると、本実施形態の成膜装置100及び成膜方法においても、第1実施形態と同様の効果を奏する。
[変形例]
上記各実施形態においては、マグネトロンスパッタを行うためのターゲットホルダ10、すなわち、凹部11a内にマグネットが配設されたターゲットホルダ10について説明した。本発明は、ターゲットホルダ10の凹部11a内にマグネットが配設されていないターゲットホルダに適用することも可能である。
このような構成としても、上記各実施形態のターゲットホルダ10及び成膜装置100並びに成膜方法と同様の効果を奏する。
本発明のターゲットホルダは、ターゲットとターゲットホルダとの密着性を事前に確認することのできるターゲットホルダとして有用である。
本発明の成膜装置及び成膜方法は、チャンバ内を真空引きする前に、ターゲットとターゲットホルダとの間からリークが発生しているかどうかを検知することができる成膜装置及び成膜方法として有用である。
本発明の第1実施形態の成膜装置の概略構成を示す断面図である。 図1の成膜装置を構成するターゲットホルダを拡大して示す断面図である。 図1の成膜装置を用いた成膜方法の手順を示す工程図である。 図3の工程図における各工程の内容を示すフローチャートである。 本発明の第2実施形態の成膜装置の概略構成を示す断面図である。 図5の成膜装置を構成するターゲットホルダを拡大して示す断面図である。
符号の説明
1 冷却水供給孔
1a 冷却水供給孔の外側開口
2 冷却水排出孔
2a 冷却水排出孔の外側開口
3 真空引き孔
3a 真空引き孔の外側開口
10 ターゲットホルダ
11a 凹部
11b 本体部
11c ターゲット取付面
11d フランジ部
12 冷却水流路
13 ターゲット
14 ヨーク
15 ターゲットクランプ
17 ボルト
18 ボルト孔
18a 貫通孔
18b ネジ孔
19,23 Oリング溝
21,25 Oリング
27 内側マグネット
28 外側マグネット
29 絶縁部材
30 冷却水通流装置
31 第1開閉弁
32 第2開閉弁
33 第3開閉弁
34 第4開閉弁
35 第5開閉弁
36 圧縮空気供給装置
37 パージ用配管
38 冷却水供給配管
39,59 分岐部
40 真空引き装置
41 真空計
43 貯水槽
45 真空ポンプ
48 真空引き配管
57 パージ用配管
58 冷却水排出配管
60 制御装置
70 基材ホルダ
71 排気口
72 真空ポンプ
73 ガス導入口
75 基材
80 チャンバ
81 貫通孔
90 成膜空間
100 成膜装置
F 冷却水の流れ
V バイアス電圧印加装置

Claims (5)

  1. ターゲットが取り付けられるターゲット取付面と、
    前記ターゲット取付面に、前記取り付けられるターゲットによってその開口が塞がれるように形成された凹部と、
    前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水供給孔と、
    前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水排出孔と、
    前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された真空引き孔と、を備える、ターゲットホルダ。
  2. 柱状の本体部と前記本体部の周面に形成されたフランジ部とを備え、
    前記本体部の一端に前記ターゲット取付面が形成され、
    前記ターゲット取付面に前記本体部の軸方向に窪むように前記凹部が形成され、
    前記冷却水供給孔、前記冷却水排出孔、及び前記真空引き孔が前記凹部に前記本体部の前記フランジ部より他端側の部分を貫通するように形成されている、請求項1に記載のターゲットホルダ。
  3. チャンバと、
    前記チャンバ内に配設された基材ホルダと、
    前記チャンバ内に配設された請求項1又は2に記載のターゲットホルダと、
    冷却水通流装置と、
    真空引き装置と、を備え、
    前記ターゲットホルダは、前記ターゲット取付面が前記チャンバの内部に位置しかつ前記冷却水供給孔、前記冷却水排出孔、及び前記真空引き孔の前記凹部への開口と反対側の開口(以下、外側開口という)が前記チャンバの外に位置するようにして気密に前記チャンバに取り付けられ、
    前記冷却水供給孔の外側開口及び前記冷却水排出孔の外側開口に前記冷却水通流装置が接続され、
    前記真空引き孔の外側開口に前記真空引き装置が接続されている、成膜装置。
  4. チャンバと、
    前記チャンバ内に配設された基材ホルダと、
    前記チャンバ内に配設されたターゲットホルダと、
    冷却水供給配管及び冷却水排出配管を備えた冷却水通流装置と、
    真空引き装置と、を備え、
    前記ターゲットホルダは、ターゲットが取り付けられるターゲット取付面と、前記ターゲット取付面に、前記取り付けられるターゲットによってその開口が塞がれるように形成された凹部と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水供給孔と、前記凹部にターゲットホルダを貫通するように形成された冷却水排出孔と、を備え、
    前記ターゲットホルダは、前記ターゲット取付面が前記チャンバの内部に位置しかつ前記冷却水供給孔及び前記冷却水排出孔の前記凹部への開口と反対側の開口が前記チャンバの外に位置するようにして気密に前記チャンバに取り付けられ、
    前記冷却水供給孔の外側開口に前記冷却水供給配管が接続され、
    前記冷却水排出孔の外側開口に前記冷却水排出配管が接続され、
    前記冷却水供給配管又は前記冷却水排出配管に前記真空引き装置が接続されている、成膜装置。
  5. 請求項3又は4に記載の成膜装置を用いた成膜方法であって、
    前記冷却水通流装置によって前記冷却水供給孔、前記凹部、及び前記冷却水排出孔に冷却水を通流させる工程Aと、
    前記工程Aの後、前記ターゲットホルダのターゲット取付面に取り付けられたターゲットをスパッタして前記基材ホルダに取り付けられた基材に成膜する工程Bと、
    前記工程Bの後、前記ターゲットホルダの凹部から冷却水を排出する工程Cと、
    前記工程Cの後、前記ターゲットホルダのターゲット取付面に取り付けられたターゲットを交換する工程Dと、
    前記工程Dの後、前記真空引き装置によって前記ターゲットホルダの凹部を真空引きする工程Eと、を含む成膜方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2013073096A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 パナソニック株式会社 真空装置、真空中の熱源を冷却する方法及び薄膜製造方法
CN110144563A (zh) * 2019-06-27 2019-08-20 浙江工业大学 一种适用于磁控溅射仪的自动升降靶材平台

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