JPH05281298A - ２重化されたクロック発生装置 - Google Patents
２重化されたクロック発生装置Info
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- JPH05281298A JPH05281298A JP4102465A JP10246592A JPH05281298A JP H05281298 A JPH05281298 A JP H05281298A JP 4102465 A JP4102465 A JP 4102465A JP 10246592 A JP10246592 A JP 10246592A JP H05281298 A JPH05281298 A JP H05281298A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 適正さを確認することができない外部クロッ
ク信号を使用せずに、試験対象の位相同期発振器の出力
クロック信号の特性を測定することを可能にする。 【構成】 セレクタ１３は、位相同期発振器１１の試験
時に、位相同期発振器２１の出力クロック信号を位相同
期発振器１１の入力クロック信号として選択する。クロ
ック特性測定回路１５は、位相同期発振器１１の試験時
に、位相同期発振器２１の出力クロック信号を基準クロ
ック信号として位相同期発振器１１の出力クロック信号
の特性を測定する。試験制御回路１６は、位相同期発振
器１１の試験時に、外部からの制御信号に基づいてセレ
クタ１３に上述の選択を行わせ、クロック特性測定回路
１５による測定結果を外部に報告する。なお、クロック
発生装置１０とクロック発生装置２０とは可逆的であ
る。
ク信号を使用せずに、試験対象の位相同期発振器の出力
クロック信号の特性を測定することを可能にする。 【構成】 セレクタ１３は、位相同期発振器１１の試験
時に、位相同期発振器２１の出力クロック信号を位相同
期発振器１１の入力クロック信号として選択する。クロ
ック特性測定回路１５は、位相同期発振器１１の試験時
に、位相同期発振器２１の出力クロック信号を基準クロ
ック信号として位相同期発振器１１の出力クロック信号
の特性を測定する。試験制御回路１６は、位相同期発振
器１１の試験時に、外部からの制御信号に基づいてセレ
クタ１３に上述の選択を行わせ、クロック特性測定回路
１５による測定結果を外部に報告する。なお、クロック
発生装置１０とクロック発生装置２０とは可逆的であ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は２重化されたクロック発
生装置に関し、特に位相同期発振器の試験が行われる２
重化されたクロック発生装置に関する。
生装置に関し、特に位相同期発振器の試験が行われる２
重化されたクロック発生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の２重化されたクロック発
生装置は、次のようなクロック発生装置が２つ用いられ
て構成されていた。すなわち、従来の２重化されたクロ
ック発生装置における各クロック発生装置は、出力クロ
ック信号（ある程度の正確さが保証されたクロック信
号）を生成する位相同期発振器と、複数の外部クロック
信号（外部クロック入力端子から受け取るクロック信
号）の中の１つを選択しその外部クロック信号を位相同
期発振器の入力クロック信号として出力するセレクタ
と、試験対象の位相同期発振器が生成する出力クロック
信号の特性を測定するクロック特性測定回路と、クロッ
ク特性測定回路による測定結果を外部に報告する試験制
御回路とを含んで構成されていた。
生装置は、次のようなクロック発生装置が２つ用いられ
て構成されていた。すなわち、従来の２重化されたクロ
ック発生装置における各クロック発生装置は、出力クロ
ック信号（ある程度の正確さが保証されたクロック信
号）を生成する位相同期発振器と、複数の外部クロック
信号（外部クロック入力端子から受け取るクロック信
号）の中の１つを選択しその外部クロック信号を位相同
期発振器の入力クロック信号として出力するセレクタ
と、試験対象の位相同期発振器が生成する出力クロック
信号の特性を測定するクロック特性測定回路と、クロッ
ク特性測定回路による測定結果を外部に報告する試験制
御回路とを含んで構成されていた。
【０００３】このように構成された従来の２重化された
クロック発生装置では、各クロック発生装置内の位相同
期発振器の試験時に、当該クロック発生装置内のセレク
タで選択された外部クロック信号に基づいて（外部クロ
ック信号が試験対象の位相同期発振器の入力クロック信
号および試験のための基準クロック信号として使用され
て）、試験対象の位相同期発振器の出力クロック信号の
特性が当該クロック発生装置内のクロック特性測定回路
によって測定されていた。
クロック発生装置では、各クロック発生装置内の位相同
期発振器の試験時に、当該クロック発生装置内のセレク
タで選択された外部クロック信号に基づいて（外部クロ
ック信号が試験対象の位相同期発振器の入力クロック信
号および試験のための基準クロック信号として使用され
て）、試験対象の位相同期発振器の出力クロック信号の
特性が当該クロック発生装置内のクロック特性測定回路
によって測定されていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の２重化
されたクロック発生装置では、各クロック発生装置内の
位相同期発振器の試験時に、当該クロック発生装置内の
セレクタで選択された外部クロック信号に基づいて試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性が測定
されているので、外部クロック信号が乱れた場合に試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性の測定
結果が異常を示すものとなり、当該位相同期発振器に障
害が発生していないにもかかわらず障害が発生している
かのように見えるという欠点があった。すなわち、測定
結果により示される異常が位相同期発振器の障害に起因
するものか外部クロック信号の乱れ（不適正さ）に起因
するものかを切り分けることができないという欠点があ
った。
されたクロック発生装置では、各クロック発生装置内の
位相同期発振器の試験時に、当該クロック発生装置内の
セレクタで選択された外部クロック信号に基づいて試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性が測定
されているので、外部クロック信号が乱れた場合に試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性の測定
結果が異常を示すものとなり、当該位相同期発振器に障
害が発生していないにもかかわらず障害が発生している
かのように見えるという欠点があった。すなわち、測定
結果により示される異常が位相同期発振器の障害に起因
するものか外部クロック信号の乱れ（不適正さ）に起因
するものかを切り分けることができないという欠点があ
った。
【０００５】なお、このような欠点を回避するためには
外部クロック信号を位相同期発振器の試験に使用しない
ようにする必要があるが、従来の２重化されたクロック
発生装置においては外部クロック信号を使用せずに試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性を測定
することはできなかった。
外部クロック信号を位相同期発振器の試験に使用しない
ようにする必要があるが、従来の２重化されたクロック
発生装置においては外部クロック信号を使用せずに試験
対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性を測定
することはできなかった。
【０００６】本発明の目的は、上述の点に鑑み、外部ク
ロック信号（この外部クロック信号には試験用外部クロ
ック入力端子を介してセレクタに入力されるクロック信
号は含まれない）を使用せずに試験対象の位相同期発振
器の出力クロック信号の特性を測定することを可能に
し、その測定における測定結果を外部クロック信号の特
性と無関係にすることができる２重化されたクロック発
生装置を提供することにある。
ロック信号（この外部クロック信号には試験用外部クロ
ック入力端子を介してセレクタに入力されるクロック信
号は含まれない）を使用せずに試験対象の位相同期発振
器の出力クロック信号の特性を測定することを可能に
し、その測定における測定結果を外部クロック信号の特
性と無関係にすることができる２重化されたクロック発
生装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の２重化されたク
ロック発生装置は、一方のクロック発生装置内の試験用
外部クロック入力端子および外部基準クロック入力端子
と他方のクロック発生装置内の出力クロック端子とを接
続する接続線と、自己が存在するクロック発生装置内の
位相同期発振器の試験時に前記接続線および試験用外部
クロック入力端子を介して受け取る自己が存在しないク
ロック発生装置内の位相同期発振器の出力クロック信号
を試験対象の位相同期発振器の入力クロック信号として
選択する各クロック発生装置内のセレクタと、自己が存
在するクロック発生装置内の位相同期発振器の試験時に
前記接続線および外部基準クロック入力端子を介して受
け取る自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期
発振器の出力クロック信号を基準クロック信号として試
験対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性を測
定する各クロック発生装置内のクロック特性測定回路
と、自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発振
器の試験時に外部からの制御信号に基づいて前記セレク
タに「自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期
発振器の出力クロック信号を試験対象の位相同期発振器
の入力クロック信号として選択する」旨の選択を行わせ
前記クロック特性測定回路による測定結果を外部に報告
する各クロック発生装置内の試験制御回路とを有する。
ロック発生装置は、一方のクロック発生装置内の試験用
外部クロック入力端子および外部基準クロック入力端子
と他方のクロック発生装置内の出力クロック端子とを接
続する接続線と、自己が存在するクロック発生装置内の
位相同期発振器の試験時に前記接続線および試験用外部
クロック入力端子を介して受け取る自己が存在しないク
ロック発生装置内の位相同期発振器の出力クロック信号
を試験対象の位相同期発振器の入力クロック信号として
選択する各クロック発生装置内のセレクタと、自己が存
在するクロック発生装置内の位相同期発振器の試験時に
前記接続線および外部基準クロック入力端子を介して受
け取る自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期
発振器の出力クロック信号を基準クロック信号として試
験対象の位相同期発振器の出力クロック信号の特性を測
定する各クロック発生装置内のクロック特性測定回路
と、自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発振
器の試験時に外部からの制御信号に基づいて前記セレク
タに「自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期
発振器の出力クロック信号を試験対象の位相同期発振器
の入力クロック信号として選択する」旨の選択を行わせ
前記クロック特性測定回路による測定結果を外部に報告
する各クロック発生装置内の試験制御回路とを有する。
【０００８】
【作用】本発明の２重化されたクロック発生装置では、
接続線が一方のクロック発生装置内の試験用外部クロッ
ク入力端子および外部基準クロック入力端子と他方のク
ロック発生装置内の出力クロック端子とを接続し、各ク
ロック発生装置内のセレクタが自己が存在するクロック
発生装置内の位相同期発振器の試験時に接続線および試
験用外部クロック入力端子を介して受け取る自己が存在
しないクロック発生装置内の位相同期発振器の出力クロ
ック信号を試験対象の位相同期発振器の入力クロック信
号として選択し、各クロック発生装置内のクロック特性
測定回路が自己が存在するクロック発生装置内の位相同
期発振器の試験時に接続線および外部基準クロック入力
端子を介して受け取る自己が存在しないクロック発生装
置内の位相同期発振器の出力クロック信号を基準クロッ
ク信号として試験対象の位相同期発振器の出力クロック
信号の特性を測定し、各クロック発生装置内の試験制御
回路が自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発
振器の試験時に外部からの制御信号に基づいてセレクタ
に「自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期発
振器の出力クロック信号を試験対象の位相同期発振器の
入力クロック信号として選択する」旨の選択を行わせク
ロック特性測定回路による測定結果を外部に報告する。
接続線が一方のクロック発生装置内の試験用外部クロッ
ク入力端子および外部基準クロック入力端子と他方のク
ロック発生装置内の出力クロック端子とを接続し、各ク
ロック発生装置内のセレクタが自己が存在するクロック
発生装置内の位相同期発振器の試験時に接続線および試
験用外部クロック入力端子を介して受け取る自己が存在
しないクロック発生装置内の位相同期発振器の出力クロ
ック信号を試験対象の位相同期発振器の入力クロック信
号として選択し、各クロック発生装置内のクロック特性
測定回路が自己が存在するクロック発生装置内の位相同
期発振器の試験時に接続線および外部基準クロック入力
端子を介して受け取る自己が存在しないクロック発生装
置内の位相同期発振器の出力クロック信号を基準クロッ
ク信号として試験対象の位相同期発振器の出力クロック
信号の特性を測定し、各クロック発生装置内の試験制御
回路が自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発
振器の試験時に外部からの制御信号に基づいてセレクタ
に「自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期発
振器の出力クロック信号を試験対象の位相同期発振器の
入力クロック信号として選択する」旨の選択を行わせク
ロック特性測定回路による測定結果を外部に報告する。
【０００９】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
【００１０】図１は、本発明の２重化されたクロック発
生装置の一実施例の構成を示すブロック図である。本実
施例の２重化されたクロック発生装置は、クロック発生
装置１０と、クロック発生装置２０と、接続線３０と、
接続線４０とを含んで構成されている。
生装置の一実施例の構成を示すブロック図である。本実
施例の２重化されたクロック発生装置は、クロック発生
装置１０と、クロック発生装置２０と、接続線３０と、
接続線４０とを含んで構成されている。
【００１１】クロック発生装置１０は、出力クロック端
子１７を有する位相同期発振器１１と、外部クロック入
力端子１２ａ（複数の外部クロック入力端子１２ａが存
在し得る）および試験用外部クロック入力端子１２ｂを
有するセレクタ１３と、外部基準クロック入力端子１４
を有するクロック特性測定回路１５と、試験制御回路１
６とを含んで構成されている。
子１７を有する位相同期発振器１１と、外部クロック入
力端子１２ａ（複数の外部クロック入力端子１２ａが存
在し得る）および試験用外部クロック入力端子１２ｂを
有するセレクタ１３と、外部基準クロック入力端子１４
を有するクロック特性測定回路１５と、試験制御回路１
６とを含んで構成されている。
【００１２】クロック発生装置２０は、出力クロック端
子２７を有する位相同期発振器２１と、外部クロック入
力端子２２ａ（複数の外部クロック入力端子２２ａが存
在し得る）および試験用外部クロック入力端子２２ｂを
有するセレクタ２３と、外部基準クロック入力端子２４
を有するクロック特性測定回路２５と、試験制御回路２
６とを含んで構成されている。
子２７を有する位相同期発振器２１と、外部クロック入
力端子２２ａ（複数の外部クロック入力端子２２ａが存
在し得る）および試験用外部クロック入力端子２２ｂを
有するセレクタ２３と、外部基準クロック入力端子２４
を有するクロック特性測定回路２５と、試験制御回路２
６とを含んで構成されている。
【００１３】なお、クロック発生装置１０内の試験用外
部クロック入力端子１２ｂおよび外部基準クロック入力
端子１４とクロック発生装置２０内の出力クロック端子
２７とは、接続線３０によって接続されている。また、
クロック発生装置２０内の試験用外部クロック入力端子
２２ｂおよび外部基準クロック入力端子２４とクロック
発生装置１０内の出力クロック端子１７とは、接続線４
０によって接続されている。
部クロック入力端子１２ｂおよび外部基準クロック入力
端子１４とクロック発生装置２０内の出力クロック端子
２７とは、接続線３０によって接続されている。また、
クロック発生装置２０内の試験用外部クロック入力端子
２２ｂおよび外部基準クロック入力端子２４とクロック
発生装置１０内の出力クロック端子１７とは、接続線４
０によって接続されている。
【００１４】次に、このように構成された本実施例の２
重化されたクロック発生装置の動作について説明する。
重化されたクロック発生装置の動作について説明する。
【００１５】本実施例、ひいては本発明の２重化された
クロック発生装置の効果は位相同期発振器１１または２
１の試験が行われる場合に生じるものであるが、前提と
して本実施例の２重化されたクロック発生装置が通常に
運用される場合の動作について説明する。
クロック発生装置の効果は位相同期発振器１１または２
１の試験が行われる場合に生じるものであるが、前提と
して本実施例の２重化されたクロック発生装置が通常に
運用される場合の動作について説明する。
【００１６】本実施例の２重化されたクロック発生装置
の通常の運用時には、クロック発生装置１０とクロック
発生装置２０とで同様の処理が行われ、位相同期発振器
１１および２１の出力クロック端子１７および２７から
出力される出力クロック信号（ある程度の正確さが保証
されたクロック信号）のいずれかが正確なクロック信号
を必要とする装置や回路等に送られる。
の通常の運用時には、クロック発生装置１０とクロック
発生装置２０とで同様の処理が行われ、位相同期発振器
１１および２１の出力クロック端子１７および２７から
出力される出力クロック信号（ある程度の正確さが保証
されたクロック信号）のいずれかが正確なクロック信号
を必要とする装置や回路等に送られる。
【００１７】ここでは、クロック発生装置１０における
動作について説明する。
動作について説明する。
【００１８】セレクタ１３は、複数（単数の場合もある
が一般的には複数である）の外部入力端子１２ａからの
複数の外部クロック信号の中の１つを選択し、選択した
外部クロック信号を位相同期発振器１１の入力クロック
信号として出力する。
が一般的には複数である）の外部入力端子１２ａからの
複数の外部クロック信号の中の１つを選択し、選択した
外部クロック信号を位相同期発振器１１の入力クロック
信号として出力する。
【００１９】位相同期発振器１１は、セレクタ１３から
受け取った外部クロック信号（位相同期発振器１１にと
っての入力クロック信号）と位相が同期しており所望の
周波数を有する出力クロック信号を生成し、その出力ク
ロック信号をクロック発生装置１０が発生するクロック
信号として出力する。
受け取った外部クロック信号（位相同期発振器１１にと
っての入力クロック信号）と位相が同期しており所望の
周波数を有する出力クロック信号を生成し、その出力ク
ロック信号をクロック発生装置１０が発生するクロック
信号として出力する。
【００２０】このようにして位相同期発振器１１により
生成される出力クロック信号は、外部クロック信号（入
力クロック信号）との同期の可否，位相等に関する安定
度および周波数の精度等の特性によって評価される。
生成される出力クロック信号は、外部クロック信号（入
力クロック信号）との同期の可否，位相等に関する安定
度および周波数の精度等の特性によって評価される。
【００２１】位相同期発振器１１の試験は、このような
出力クロック信号の特性を測定することによって行われ
る（位相同期発振器２１の試験についても同様であ
る）。
出力クロック信号の特性を測定することによって行われ
る（位相同期発振器２１の試験についても同様であ
る）。
【００２２】次に、クロック発生装置１０内の位相同期
発振器１１の試験が行われる場合における本実施例の２
重化されたクロック発生装置の動作について説明する。
発振器１１の試験が行われる場合における本実施例の２
重化されたクロック発生装置の動作について説明する。
【００２３】なお、位相同期発振器２１の出力クロック
信号の適正さの確認が、位相同期発振器１１の試験が行
われる時点でなされているものとする。位相同期発振器
２１の出力クロック信号の適正さの確認は、従来の技術
による方法等で行うことが可能である。例えば、先に述
べた従来の技術による位相同期発振器２１の出力クロッ
ク信号の測定で測定結果に異常がない場合には、当該出
力クロック信号の適正さが確認されることになる（従来
の技術における欠点は、測定結果が異常を示すものであ
る場合にその異常が位相同期発振器２１の障害に起因す
るものか外部クロック信号の乱れに起因するものかを切
り分けることができないというものであり、異常がない
場合の適正さの確認ができないというものではない）。
信号の適正さの確認が、位相同期発振器１１の試験が行
われる時点でなされているものとする。位相同期発振器
２１の出力クロック信号の適正さの確認は、従来の技術
による方法等で行うことが可能である。例えば、先に述
べた従来の技術による位相同期発振器２１の出力クロッ
ク信号の測定で測定結果に異常がない場合には、当該出
力クロック信号の適正さが確認されることになる（従来
の技術における欠点は、測定結果が異常を示すものであ
る場合にその異常が位相同期発振器２１の障害に起因す
るものか外部クロック信号の乱れに起因するものかを切
り分けることができないというものであり、異常がない
場合の適正さの確認ができないというものではない）。
【００２４】また、クロック発生装置１０とクロック発
生装置２０とは可逆的であり、以下に説明する位相同期
発振器１１の試験と同様の手順によって位相同期発振器
２１の試験を行うことが可能になる。一旦、本実施例
（本発明）の方法によって位相同期発振器１１および２
１の一方の出力クロック信号の適正さが確認されると、
その確認に基づいて位相同期発振器１１および２１の他
方の試験を行うことができるようになる。
生装置２０とは可逆的であり、以下に説明する位相同期
発振器１１の試験と同様の手順によって位相同期発振器
２１の試験を行うことが可能になる。一旦、本実施例
（本発明）の方法によって位相同期発振器１１および２
１の一方の出力クロック信号の適正さが確認されると、
その確認に基づいて位相同期発振器１１および２１の他
方の試験を行うことができるようになる。
【００２５】クロック発生装置１０内の位相同期発振器
１１の試験時には、外部から試験制御回路１６に対して
制御信号（当該試験を行うことを指示する制御信号）が
送られてくる。
１１の試験時には、外部から試験制御回路１６に対して
制御信号（当該試験を行うことを指示する制御信号）が
送られてくる。
【００２６】セレクタ１３およびクロック特性測定回路
１５に接続されている試験制御回路１６は、外部からの
制御信号に基づいてセレクタ１３を制御する（セレクタ
１３に以下に示すような選択を行わせる）。
１５に接続されている試験制御回路１６は、外部からの
制御信号に基づいてセレクタ１３を制御する（セレクタ
１３に以下に示すような選択を行わせる）。
【００２７】セレクタ１３は、試験制御回路１６による
制御に基づき、複数の外部クロック入力端子１２ａから
受け取る外部クロック信号および試験用外部クロック入
力端子１２ｂから受け取るクロック信号（接続線３０を
介して送られてくる位相同期発振器２１の出力クロック
信号）の中から試験用外部クロック入力端子１２ｂから
受け取るクロック信号を選択し、そのクロック信号（位
相同期発振器２１の出力クロック信号）を選択的に入力
し、そのクロック信号を位相同期発振器１１の入力クロ
ック信号として出力する。
制御に基づき、複数の外部クロック入力端子１２ａから
受け取る外部クロック信号および試験用外部クロック入
力端子１２ｂから受け取るクロック信号（接続線３０を
介して送られてくる位相同期発振器２１の出力クロック
信号）の中から試験用外部クロック入力端子１２ｂから
受け取るクロック信号を選択し、そのクロック信号（位
相同期発振器２１の出力クロック信号）を選択的に入力
し、そのクロック信号を位相同期発振器１１の入力クロ
ック信号として出力する。
【００２８】セレクタ１３によるこのような選択によ
り、位相同期発振器１１を位相同期発振器２１の出力ク
ロック信号に同期させることができる（位相同期発振器
２１の出力クロック信号を位相同期発振器１１の試験時
における位相同期発振器１１の入力クロック信号とする
ことができる）。
り、位相同期発振器１１を位相同期発振器２１の出力ク
ロック信号に同期させることができる（位相同期発振器
２１の出力クロック信号を位相同期発振器１１の試験時
における位相同期発振器１１の入力クロック信号とする
ことができる）。
【００２９】クロック特性測定回路１５は、上述のよう
な入力クロック信号に基づいて位相同期発振器１１によ
り生成されるクロック信号（位相同期発振器１１の出力
クロック信号）の特性を測定する。この場合に、クロッ
ク特性測定回路１５は、位相同期発振器２１の出力クロ
ック信号を出力クロック端子２７，接続線３０および外
部基準クロック入力端子１４を介して受信し、位相同期
発振器１１の出力クロック信号の特性を測定するための
基準クロック信号として使用する。
な入力クロック信号に基づいて位相同期発振器１１によ
り生成されるクロック信号（位相同期発振器１１の出力
クロック信号）の特性を測定する。この場合に、クロッ
ク特性測定回路１５は、位相同期発振器２１の出力クロ
ック信号を出力クロック端子２７，接続線３０および外
部基準クロック入力端子１４を介して受信し、位相同期
発振器１１の出力クロック信号の特性を測定するための
基準クロック信号として使用する。
【００３０】上述したように位相同期発振器１１の試験
時に位相同期発振器２１の出力クロック信号の適正さは
確認されているので、以上のような位相同期発振器１１
の試験においては、位相同期発振器１１の入力クロック
信号とクロック特性測定回路１５によって使用される基
準クロック信号とに乱れがないこと（それらのクロック
信号が適正であること）が保証されることになる。
時に位相同期発振器２１の出力クロック信号の適正さは
確認されているので、以上のような位相同期発振器１１
の試験においては、位相同期発振器１１の入力クロック
信号とクロック特性測定回路１５によって使用される基
準クロック信号とに乱れがないこと（それらのクロック
信号が適正であること）が保証されることになる。
【００３１】試験制御回路１６は、クロック特性測定回
路１５における測定結果を外部に報告する。
路１５における測定結果を外部に報告する。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、２重化さ
れたクロック発生装置における任意の一方のクロック発
生装置内の位相同期発振器の試験を行う場合の基準クロ
ック信号および試験対象の位相同期発振器の入力クロッ
ク信号に他方のクロック発生装置内の位相同期発振器の
出力クロック信号（適正さを確認することが可能なクロ
ック信号）を使用することにより、通常の外部クロック
入力端子（試験用外部クロック入力端子以外の外部クロ
ック入力端子）からの外部クロック信号（適正さを確認
することができないクロック信号）を使用せずに位相同
期発振器の出力クロック信号の特性の測定が可能にな
り、その測定における測定結果を外部クロック信号の特
性と無関係にすることができる（「測定結果により示さ
れる異常が位相同期発振器の障害に起因するものか外部
クロック信号の乱れに起因するものかを切り分けること
ができない」という事態が生じなくなる）という効果が
ある。
れたクロック発生装置における任意の一方のクロック発
生装置内の位相同期発振器の試験を行う場合の基準クロ
ック信号および試験対象の位相同期発振器の入力クロッ
ク信号に他方のクロック発生装置内の位相同期発振器の
出力クロック信号（適正さを確認することが可能なクロ
ック信号）を使用することにより、通常の外部クロック
入力端子（試験用外部クロック入力端子以外の外部クロ
ック入力端子）からの外部クロック信号（適正さを確認
することができないクロック信号）を使用せずに位相同
期発振器の出力クロック信号の特性の測定が可能にな
り、その測定における測定結果を外部クロック信号の特
性と無関係にすることができる（「測定結果により示さ
れる異常が位相同期発振器の障害に起因するものか外部
クロック信号の乱れに起因するものかを切り分けること
ができない」という事態が生じなくなる）という効果が
ある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
１０，２０ クロック発生装置 １１，２１ 位相同期発振器 １２ａ，２２ａ 外部クロック入力端子 １２ｂ，２２ｂ 試験用外部クロック入力端子 １３，２３ セレクタ １４，２４ 外部基準クロック入力端子 １５，２５ クロック特性測定回路 １６，２６ 試験制御回路 １７，２７ 出力クロック端子 ３０，４０ 接続線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０３Ｌ 7/06
Claims (1)
- 【請求項１】 一方のクロック発生装置内の試験用外部
クロック入力端子および外部基準クロック入力端子と他
方のクロック発生装置内の出力クロック端子とを接続す
る接続線と、 自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発振器の
試験時に、前記接続線および試験用外部クロック入力端
子を介して受け取る自己が存在しないクロック発生装置
内の位相同期発振器の出力クロック信号を試験対象の位
相同期発振器の入力クロック信号として選択する各クロ
ック発生装置内のセレクタと、 自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発振器の
試験時に、前記接続線および外部基準クロック入力端子
を介して受け取る自己が存在しないクロック発生装置内
の位相同期発振器の出力クロック信号を基準クロック信
号として試験対象の位相同期発振器の出力クロック信号
の特性を測定する各クロック発生装置内のクロック特性
測定回路と、 自己が存在するクロック発生装置内の位相同期発振器の
試験時に、外部からの制御信号に基づいて前記セレクタ
に「自己が存在しないクロック発生装置内の位相同期発
振器の出力クロック信号を試験対象の位相同期発振器の
入力クロック信号として選択する」旨の選択を行わせ、
前記クロック特性測定回路による測定結果を外部に報告
する各クロック発生装置内の試験制御回路とを有するこ
とを特徴とする２重化されたクロック発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102465A JPH05281298A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | ２重化されたクロック発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102465A JPH05281298A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | ２重化されたクロック発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05281298A true JPH05281298A (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=14328211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4102465A Pending JPH05281298A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | ２重化されたクロック発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05281298A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275407A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路の検査方法 |
-
1992
- 1992-03-30 JP JP4102465A patent/JPH05281298A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275407A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路の検査方法 |
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