JP2001265616A

JP2001265616A - モニタードバーンインテスト装置及びマイクロコンピュータのモニタードバーンインテスト方法

Info

Publication number: JP2001265616A
Application number: JP2000084759A
Authority: JP
Inventors: Kazuyoshi Ajiro; 和由網代
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 2000-03-22
Filing date: 2000-03-22
Publication date: 2001-09-28
Also published as: US20010025227A1; EP1136832A2

Abstract

(57)【要約】【課題】ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機
能を向上させることなくモニタードバーンインテストが
実施できるモニタードバーンインテスト装置を提供す
る。【解決手段】マイクロコンピュータ２が、リニアフィ
ードバックレジスタからなるデータ圧縮回路１７に格納
された測定データをテスト装置３に出力する際に、テス
ト装置から出力されるモニタクロック信号に同期して測
定データをシフトアウトすることにより、全てのマイク
ロコンピュータ２から出力される試験データを同期させ
てテスタ装置３に読み込むことができる。従って、テス
タ装置３において、すべてのマイクロコンピュータ２の
テスト結果を同時にモニタすることが可能となる。よっ
て、テスタ装置３で確実に試験結果をモニタすることが
できるので、ソフトウェアの負荷が大きくなることがな
い。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、モニタードバーン
インテストの自己試験を実施するモニタードバーンイン
テスト装置及びマイクロコンピュータのモニタードバー
ンインテスト方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＢＩＳＴ法をモニタードバーンインテス
トに適用した場合、図５に示すものが知られている。同
図において、上記モニタードバーンインテストは、マイ
クロコンピュータ５０と、試験の測定データを測定する
テスタ装置６０とを使用して実施されていた。

【０００３】ここで、上記マイクロコンピュータ５０
は、モニタードバーンインテストにおけるテストパター
ンを出力するテストパターン発生器５１と、同テストパ
ターンによってモニタードバーンインテストの対象にな
る上記マイクロコンピュータ５０上の回路である被テス
ト回路５２と、同被テスト回路５２が上記テストパター
ンに基づいて動作すると共に、同動作に伴う出力を測定
データとして格納する測定データ格納部５３とから構成
されている。

【０００４】また、上記テスタ装置６０は、測定データ
の予め設定された所定の期待値を格納する期待値格納部
６１と、上記期待値格納部６１に格納された期待値と実
際の測定データを比較すると共に同測定データの良否を
比較する比較回路６２とから構成されている。

【０００５】ＢＩＳＴ法と呼ばれるテスト手法において
は、テストパターン発生器５１と、測定データ格納部５
３は、マイクロコンピュータ５０に組み込まれると共
に、同テストパターン発生器５１において発生されたテ
ストパターンが上記被テスト回路５３に入力されて、同
被テスト回路５３は動作して動作結果を測定データとし
て測定データ格納部５３において格納し、格納された測
定データをテスタ装置６０に出力する。

【０００６】ここで、同測定データを受信したテスタ装
置６０において、上記比較回路６２は、期待値格納部６
１に格納した期待値を読み出すと共に、受信した測定デ
ータと比較してマイクロコンピュータ５０の良・不良の
判別を行う。

【０００７】しかしながら、このテスト手法において
は、マイクロコンピュータ５０に、テストパターン発生
器５１、及び測定データ格納部５３を組み込まなければ
ならないため、マイクロコンピュータ５０においてハー
ドウェアが増大してしまうという問題がある。

【０００８】また、上述したようにマイクロコンピュー
タ５０内に各回路を組み込むと、回路と回路を接続する
ために配線を行わなければならなくなり、この配線のた
めに各回路で発生する信号において遅延時間が増大する
といった課題がある。

【０００９】また、テストパターン発生器５１は、ハー
ドウェア回路によってランダムにテストパターンを発生
させているので、マイクロコンピュータ５０の故障検出
率が不明確になるという課題があった。

【００１０】このような課題を解決するために、本出願
人は、特開平１１−２４２６１０号公報の "マイクロコ
ンピュータ及びマイクロコンピュータのバーンインテス
ト方法" を提案した。

【００１１】この従来例は、プログラムを格納するメモ
リと、同メモリに格納されたプログラムを実行するＣＰ
Ｕと、複数の周辺機能ユニットを同一の半導体チップ上
に備えると共にバーンインテストを実施するマイクロコ
ンピュータにおいて、上記バーンインテストにおけるテ
ストパターンを発生するテストパターン発生手段と、上
記テストパターン発生手段が発生したテストパターンに
基づいて実施されたバーンインテストの測定データを格
納する測定データ格納手段と、測定データを外部に出力
すると共に、上記マイクロコンピュータの制御信号を入
力する外部信号入出力手段とを具備し、測定データ格納
手段は、測定データを圧縮して格納させるデータ圧縮手
段を有することを特徴としている。

【００１２】このような構成のマイクロコンピュータに
おいては、メモリに格納されたプログラムを用いてテス
トパターンを発生させると共に、バーンインテストのテ
スト測定データを圧縮することにより、それぞれの機能
を実現するハードウェア回路が必要となる。従って、バ
ーンインテストを実施するためにハードウェア回路を組
み込む必要がなくなり、簡易な構成によりバーンインテ
ストを実施することができるとしている。

【００１３】また、メモリに格納されたテストプログラ
ムに従ってテストパターンを発生させるため、バーンイ
ンテストの対象であるマイクロコンピュータの故障検出
率の算出を明確に行うことができるとしている。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た特開平１１−２４２６１０号公報の "マイクロコンピ
ュータ及びマイクロコンピュータのバーンインテスト方
法" においては、以下に示す課題が生じる。まず、バー
ンインボード上に搭載している複数のマイクロコンピュ
ータにおいて、出力信号の同期を取り、この出力信号を
同時に比較することが難しくなる。また、現状のテスタ
装置では、マイクロコンピュータの動作周波数に対して
非常に低い周波数でのモニタしか行えない。さらに、マ
イクロコンピュータの動作周波数が高くなると、モニタ
を行う各マイクロコンピュータの出力信号の同期を取る
ことが難しくなる。

【００１５】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機能を
向上させることなくモニタードバーンインテストが実施
できるモニタードバーンインテスト装置及びマイクロコ
ンピュータのモニタードバーンインテスト方法を提供す
ることを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに請求項１記載の発明は、モニタードバーンインテス
トにおけるテストパターンを発生するテストパターン発
生プログラムを格納すると共に、該テストパターン発生
プログラムに基づいて実施されたモニタードバーンイン
テストの測定データを記憶するメモリと、該メモリに記
憶されたプログラムを実行するＣＰＵと、を有し、前記
テストパターン発生プログラムに従ってモニタードバー
ンインテストを実施するマイクロコンピュータと、測定
データの良・不良を判別するテスタ装置と、を有し、マ
イクロコンピュータは、前記メモリに格納された前記測
定データを前記テスト装置に出力する際に、前記テスト
装置から出力されるモニタクロックに同期して前記測定
データを前記メモリからシフトアウトすることを特徴と
する。

【００１７】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、マイクロコンピュータは、データ圧縮手段
により、前記測定データを圧縮して記憶することを特徴
とする。

【００１８】請求項３記載の発明は、請求項２記載の発
明において、データ圧縮手段は、リニアフィードバック
シフトレジスタからなるハードウェア回路からなること
を特徴とする。

【００１９】請求項４記載の発明は、請求項１から３の
何れか一項に記載の発明において、マイクロコンピュー
タは、モニタードバーンインテストが終了し、前記測定
データの前記テスタ装置への出力準備ができた段階で、
前記テスタ装置に対して前記測定データの読み込み許可
を示すモニタ許可信号を出力することを特徴とする。

【００２０】請求項５記載の発明は、請求項４記載の発
明において、モニタ許可信号を前記テスタ装置に対して
出力した段階で、動作停止状態となることを特徴とす
る。

【００２１】請求項６記載の発明は、請求項５記載の発
明において、マイクロコンピュータからの前記測定デー
タの読み込みが終了した段階で、前記マイクロコンピュ
ータに対して、前記測定データの読み込みが終了したこ
とを示すモニタ完了信号を出力し、マイクロコンピュー
タは、前記モニタ完了信号を割り込み入力として前記動
作停止状態を解除することを特徴とする。

【００２２】請求項７記載の発明は、マイクロコンピュ
ータが有するメモリにテストパターン発生処理プログラ
ムを格納して、該マイクロコンピュータの外部入力信号
により前記テストパターン発生プログラムを起動させて
モニタードバーンインテストを実行させると共に、該モ
ニタードバーンインテストの結果である測定データを、
データ圧縮手段を利用して圧縮し、マイクロコンピュー
タに接続されると共に前記測定データの良・不良を判別
するテスタ装置からのモニタクロックに同期して、前記
測定データをシフトアウトすることを特徴とする。

【００２３】

【発明の実施の形態】次に添付図面を参照しながら本発
明のモニタードバーンインテスト装置及びマイクロコン
ピュータのモニタードバーンインテスト方法に係る実施
の形態を詳細に説明する。図１〜図４を参照すると本発
明のモニタードバーンインテスト装置及びマイクロコン
ピュータのモニタードバーンインテスト方法に係る実施
の形態が示されている。

【００２４】図１には、本発明の一実施形態に係るマイ
クロコンピュータ２をモニタードバーンインテストする
モニタードバーンインテスト装置の構成が示されてい
る。同図において、モニタードバーンインテスト装置
は、複数のマイクロコンピュータ（２−１〜２−ｎ）を
搭載すると共に、バーンイン炉に挿入するバーンインボ
ード１と、試験データを測定するテスタ装置３とを使用
して実施される。

【００２５】ここで、バーンインボード１には、モニタ
ードバーンインテストを実施する複数のマイクロコンピ
ュータ（２−１〜２−ｎ）と、同マイクロコンピュータ
（２−１〜２−ｎ）に外部から供給される制御信号５を
受信すると共にバーンインテストの測定データを外部に
出力する外部インターフェース４とを備えている。

【００２６】また、テスタ装置３は、試験結果である測
定データに対する所定の期待値を格納する期待値格納部
６と、外部インターフェース４と接続され、測定データ
の出力を受信すると共に期待値格納部６に格納された期
待値と同測定データを比較して同測定データの良・否を
判別する比較回路７とを備えている。

【００２７】上記構成において、外部インターフェース
４に所定の制御信号を入力すると、マイクロコンピュー
タ（２−１〜２−ｎ）においてバーンインテストが開始
される。このバーンインテストにおける測定データは、
外部インターフェース４からテスタ装置３に出力され
る。そして、測定データを受信したテスタ装置３におい
て、比較回路７は期待値格納部６に格納されている期待
値を読み出すと共に、受信した測定データと比較してマ
イクロコンピュータの良・不良の判別を行う。

【００２８】次に、バーンインボード１に搭載されるマ
イクロコンピュータ２の構成を図２及び図３を参照しな
がら説明する。図２において、マイクロコンピュータ２
は、テストパターン発生プログラムが格納されているＲ
ＯＭ１１と、このＲＯＭ１１に格納されたテストパター
ン発生プログラムを実行するＣＰＵ１２と、マイクロコ
ンピュータ２上に備えられ所定の機能を実現する周辺回
路１３と、前記バーンインボード１の外部インターフェ
ース４と接続して上記制御信号を入力すると共に、モニ
タードバーンインテストの結果である測定データを出力
する入出力インターフェース１４と、マイクロコンピュ
ータ２の入出力ポート１５と、同入出力ポート１５を共
に接続する時に間に挿入する抵抗器１６とから構成され
る。

【００２９】また、図３に示されるようにマイクロコン
ピュータ２には、試験結果のデータであるモニタ信号を
圧縮するデータ圧縮回路１７がハードウェアで備えられ
ている。本実施形態においては信号の出力をシリアルで
行っているため、出力データを圧縮し、出力データ数を
少なくするためにデータ圧縮回路１７を用いている。な
お、このデータ圧縮回路１７は、データ圧縮の分野で一
般的に用いられるリニアフィードバックシフトレジスタ
で構成する。なお、このリニアフィードバックシフトレ
ジスタは、構成の容易なハードウェア回路を追加するこ
とで実現する。

【００３０】上記入出力インターフェース１４からマイ
クロコンピュータ２に入力される信号には、モニタクロ
ック信号２０、クロック信号２１、リセット信号２２、
コントロール信号２３、モニタ完了信号２４が挙げられ
る。

【００３１】クロック信号２１は、マイクロコンピュー
タ２を動作させるための基準クロックとなる信号であ
る。

【００３２】リセット信号２２は、マイクロコンピュー
タ２にリセットをかけるための信号である。

【００３３】コントロール信号２３は、マイクロコンピ
ュータ２の内部動作を切り替えたり、プログラムブロッ
クを切り替えるための制御を行うための信号である。

【００３４】モニタクロック信号２０は、モニタードバ
ーンインテストの試験結果を表すモニタ信号を、データ
圧縮回路１７からシフトアウトするための信号である。

【００３５】モニタ完了信号２４は、テスタ装置３でモ
ニタが完了したことを通知し、マイクロコンピュータ２
のＣＰＵ１２の動作停止状態を解除するための信号であ
る。

【００３６】また、マイクロコンピュータ２からは、モ
ニタ信号２５と、モニタ許可信号２６とが上記入出力イ
ンターフェース１４から出力される。

【００３７】モニタ信号２５は、マイクロコンピュータ
２において実施されたバーンインテストの測定データで
ある。

【００３８】モニタ許可信号２６は、マイクロコンピュ
ータ２が一区切りのテストを終了し、データ出力状態と
なったことを示す信号である。なお、バーンインボード
１に設けたモニタ許可信号２６を入力する端子は、モニ
タードバーンインテスト中は、このモニタ許可信号に占
領されてしまうので、テスト中は他の目的で使用するこ
とはできない。従って、この端子は専用端子として持つ
ことが望ましい。

【００３９】なお、上述したデータ圧縮回路１７には、
図２に示されようにモニタ信号２５を出力するデータ出
力端子３０、モニタクロック信号２０を入力するモニタ
クロック入力端子３１が接続される。バーンインボード
１に備えられた複数のマイクロコンピュータ２に対して
それぞれ出力端子を複数備えることはできないので、こ
のデータ出力端子３０はシリアルデータのシフトアウト
端子とする。また、マイクロコンピュータ２には、この
他にモニタ許可信号出力端子３２、モニタ完了信号入力
端子３３が必要となる。

【００４０】上記構成からなる本実施形態は、以下に示
す課題を解決することを目的とし構成されたものであ
る。

【００４１】第１の問題点として、マイクロコンピュー
タ２の動作周波数が高くなると、各マイクロコンピュー
タ２から出力されるモニタ信号２５の同期を取ることが
難しくなる。従って、バーンインボード１上に搭載され
たマイクロコンピュータ２から出力されるモニタ信号２
５を同期させて、全モニタ信号２５を同時に期待値と比
較することが出来ない。

【００４２】第２の問題点として、現状のテスト装置で
は、マイクロコンピュータ２の動作周波数に対して非常
に低い周波数でのモニタしか行うことができない。従っ
て、テスタ装置３上でデータを期待値と比較するため
に、モニタ信号出力時にはマイクロコンピュータ２はデ
ータ出力周波数を落とさなければならない。

【００４３】このような不具合を解消するために本実施
形態においては、以下に示す構成を採っている。

【００４４】マイクロコンピュータ２は、ＲＯＭ１１に
格納したテストパターンを実行する。この際、各マイク
ロコンピュータ２の同期がずれていてもかまわないもの
とする。各々のマイクロコンピュータ２は同期を取るこ
となく動作しているため、テストが終了し、データ出力
準備ができているか否かをテスタ装置３に通知しなけれ
ばならない。そこで、マイクロコンピュータ２はテスト
が終了した段階で、テストが終了しデータ出力準備が整
ったことを表すモニタ許可信号２６をテスタ装置３に対
して出力する。テスタ装置３は、すべてのマイクロコン
ピュータ２からモニタ許可信号２６を入力した段階で、
マイクロコンピュータ２に試験結果を表すデータを取り
にいく。これにより、マイクロコンピュータ２から出力
される全モニタ信号２５を同期させて、すべてのマイク
ロコンピュータ２のテスト結果をモニタすることができ
る。

【００４５】なお、データ出力準備が出来たマイクロコ
ンピュータ２が、次のテスト動作に移行してしまっては
いけないので、マイクロコンピュータ２はデータ出力準
備が整い、モニタ許可信号２６を出力した段階で、停止
状態となるものとする。

【００４６】また、マイクロコンピュータ２の動作周波
数と、テスタ装置３のモニタ周波数との違いを解消する
ために、マイクロコンピュータ２側からデータを出力す
るのではなく、テスタ装置３側からデータを取りに行く
構成とする。

【００４７】データを出力させるためのモニタクロック
信号２０をマイクロコンピュータ２に入力し、このクロ
ックに同期してマイクロコンピュータ２のデータ圧縮回
路１７はモニタ信号２５を出力するものとする。

【００４８】従って、マイクロコンピュータ２は、モニ
タ信号２５を出力するために動作周波数をテスタ装置３
のモニタ周波数に落とす必要がなくなり、また、データ
を出力するために、他のマイクロコンピュータと同期を
取る必要がなくなる。

【００４９】なお、テスタ装置３によるデータの吸い上
げが終了した段階で、マイクロコンピュータ２は次のテ
ストに移行しなければならない。しかし、マイクロコン
ピュータ２では、テスタ装置３によるデータ吸い上げの
終了を認識することができない。そこで、テスタ装置３
はマイクロコンピュータ２に対して、マイクロコンピュ
ータ２の停止状態を解除するためのモニタ完了信号２４
を出力する。マイクロコンピュータ２は、このモニタ完
了信号２４を図３に示されたモニタ完了信号入力端子３
３から入力し、この信号を割り込み入力とすることで停
止状態を解除する。

【００５０】次に、本実施形態において実施されるバー
ンインテストを図４を参照しながら説明する。

【００５１】バーンインボード１上に配置されたマイク
ロコンピュータ２は、機能毎に分類され、入出力ポート
を抵抗器１６を介して一組ずつ機能毎に接続される。

【００５２】図４のＡは、ＲＡＭ、レジスタ、またはシ
リアル通信についてバーンインテストを実施した時の実
施図である。ＲＡＭ、レジスタにおいてバーンインテス
トを実施する場合には、ＲＡＭ、レジスタにデータを書
き込み、この書き込んだ値を出力ポート１５から出力す
ると共に、抵抗器１６を介して接続された入力ポート１
５から読み込み、入力ポート１５から読み込んだデータ
をデータ圧縮回路１７に出力して圧縮する。

【００５３】また、シリアル通信については、入出力ポ
ート間を抵抗器１６を介して接続し、入力ポート１５か
らの出力値と出力ポート１５からの入力値の一致を見
る。その結果をデータ圧縮回路１７に出力して圧縮す
る。但し、モニタ信号出力時にはテスタ装置３側で期待
値との一致比較を行うため、内部で一致比較を行わなく
てもよい。

【００５４】また、図４のＢは、上記ＣＰＵ１２におい
てバーンインテストを実施した時の実施図である。同図
において、上記ＣＰＵ１２に内部演算等の処理を実行さ
せると共に同処理の結果を順次データ圧縮回路１７に出
力して圧縮する。

【００５５】また、図４のＣは、上記周辺回路１３であ
って、特にタイマ回路のようにデータを出力する回路に
おいてバーンインテストを実施した時の実施図である。
同図においては、上記タイマ回路の出力値を上記出力ポ
ート１５から出力させ、上記抵抗器１６を介して接続さ
れた入力ポート１５から読み出すと共に、この読み出し
たデータを順次データ圧縮回路１７に出力して圧縮す
る。

【００５６】各マイクロコンピュータ２は、バーンイン
テストが終了し、データの出力準備ができた段階でモニ
タ許可信号２６をテスタ装置３に対して出力し、停止状
態となる。

【００５７】テスタ装置３は、各マイクロコンピュータ
２からモニタ許可信号２６が出力されると、モニタクロ
ック信号２０をマイクロコンピュータ２に対して出力
し、マイクロコンピュータ２のデータ圧縮回路１７は、
このモニタクロック信号２０に同期してデータを１ビッ
トずつシフトアウトする。テスタ装置３は、各マイクロ
コンピュータ２から出力されたデータを期待値格納部６
に格納された期待値と照合し、不良チップを検出する。
また、データ圧縮回路１７で圧縮されたデータは、モニ
タクロック信号２０に同期して出力されるため、テスタ
装置３では、全てのマイクロコンピュータ２のテスト結
果を同時にモニタすることが可能となる。

【００５８】また、テスタ装置３は、データの吸い上げ
が終了した段階で、マイクロコンピュータ２の停止状態
を解除するためにモニタ完了信号２４を出力する。マイ
クロコンピュータ２は、このモニタ完了信号２４をモニ
タ完了信号入力端子３３から入力して、割り込み入力に
よって停止状態を解除し次のテストに移行する。

【００５９】上述した実施形態は、モニタードバーンイ
ンテストの結果のデータをデータ圧縮回路１７で圧縮し
て保持し、テストの終了を示すモニタ許可信号をテスタ
装置３に対して出力する。全てのマイクロコンピュータ
２のテスト動作が終了すると、テスタ装置３からマイク
ロコンピュータ２に対してモニタクロック信号を出力
し、リニアフィードバックシフトレジスタからなるデー
タ圧縮回路１７は、このモニタクロックに同期してデー
タを出力する。従って、マイクロコンピュータ２から出
力される全モニタ信号を同期させて、すべてのマイクロ
コンピュータ２のテスト結果をモニタすることが可能と
なる。よって、テスタ装置３で確実に試験結果をモニタ
することができるので、ソフトウェアの負荷が大きくな
ることがない。

【００６０】また、テストパターンを発生するテストパ
ターン発生プログラムをＲＯＭに保持し、バーンインテ
ストの結果であるデータを圧縮するデータ圧縮回路に、
簡易な構成のハードウェア回路からなるリニアフィード
バックシフトレジスタを用いることにより、ハードウェ
アを大きく増加させることがない。また、テストパター
ンをソフト的に実現しているので、故障検出率の算出を
明確に行うことができる。

【００６１】また、データを出力させるためのモニタク
ロック信号２０をマイクロコンピュータ２に入力し、こ
のクロックに同期してマイクロコンピュータ２のデータ
圧縮回路１７はモニタ信号２５を出力する。従って、マ
イクロコンピュータ２は、モニタ信号２５を出力するた
めに動作周波数をテスタ装置３のモニタ周波数に落とす
必要がなくなり、また、データを出力するために、他の
マイクロコンピュータと同期を取る必要がなくなる。

【００６２】なお、上述した実施形態は本発明の好適な
実施の形態である。但し、これに限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形
実施が可能である。

【００６３】

【発明の効果】以上の説明より明らかなように本発明
は、マイクロコンピュータが、メモリに格納された測定
データをテスト装置に出力する際に、テスト装置から出
力されるモニタクロックに同期して測定データをメモリ
からシフトアウトすることにより、全てのマイクロコン
ピュータから出力される試験データを同期させてテスタ
装置に読み込むことができる。従って、テスタ装置にお
いて、すべてのマイクロコンピュータのテスト結果を同
時にモニタすることが可能となる。よって、テスタ装置
３で確実に試験結果をモニタすることができるので、ソ
フトウェアの負荷が大きくなることがない。

【００６４】また、マイクロコンピュータは、リニアフ
ィードバックシフトレジスタからなるデータ圧縮手段に
より、測定データを圧縮して記憶することにより、マイ
クロコンピュータから出力されるデータ数を低減させる
ことができる。

【００６５】また、テストパターンを発生するテストパ
ターン発生プログラムをメモリに保持し、バーンインテ
ストの結果であるデータを圧縮するデータ圧縮手段に、
簡易な構成のハードウェア回路からなるリニアフィード
バックシフトレジスタを用いることにより、ハードウェ
アを大きく増加させることがない。また、テストパター
ンをソフト的に実現しているので、故障検出率の算出を
明確に行うことができる。

【００６６】また、マイクロコンピュータは、バーンイ
ンテストが終了し、測定データのテスタ装置への出力準
備ができた段階で、テスタ装置に対して測定データの読
み込み許可を示すモニタ許可信号を出力することによ
り、テスタ装置は、すべてのマイクロコンピュータにテ
スト動作の終了を検出することが可能となり、テストが
終了した段階で全てのマイクロコンピュータから試験結
果である測定データを読み込むことができる。

【００６７】また、マイクロコンピュータは、モニタ許
可信号をテスタ装置に対して出力した段階で、動作停止
状態となることにより、マイクロコンピュータが次のテ
スト動作に移行する不具合を防止することができる。

【００６８】また、テスタ装置は、マイクロコンピュー
タからの測定データの読み込みが終了した段階で、マイ
クロコンピュータに対して、測定データの読み込みが終
了したことを示すモニタ完了信号を出力し、マイクロコ
ンピュータは、モニタ完了信号を割り込み入力として動
作停止状態を解除することにより、マイクロコンピュー
タは次のテスト動作に移行することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るバーンインテストを
実施する場合のバーンインテスト装置の構成を示すブロ
ック図である。

【図２】バーンインボードに搭載されるマイクロコンピ
ュータのブロック図である。

【図３】マイクロコンピュータのデータ圧縮回路のブロ
ック図である。

【図４】バーンインテストを実施した時の実施図であ
る。

【図５】従来のマイクロコンピュータをバーンインテス
トするバーンインテスト装置の構成を表すブロック図で
ある。

【符号の説明】

１バーンインボード２マイクロコンピュータ３テスタ装置４外部インターフェース５入出力インターフェース６期待値格納部７比較回路１１ＲＯＭ１２ＣＰＵ１３周辺回路１４入出力インターフェース１５入出力ポート１６抵抗器１７データ圧縮回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】モニタードバーンインテストにおけるテ
ストパターンを発生するテストパターン発生プログラム
を格納すると共に、該テストパターン発生プログラムに
基づいて実施されたモニタードバーンインテストの測定
データを記憶するメモリと、該メモリに記憶されたプロ
グラムを実行するＣＰＵと、を有し、前記テストパター
ン発生プログラムに従ってモニタードバーンインテスト
を実施するマイクロコンピュータと、前記測定データの良・不良を判別するテスタ装置と、を
有し、前記マイクロコンピュータは、前記メモリに格納された
前記測定データを前記テスト装置に出力する際に、前記
テスト装置から出力されるモニタクロックに同期して前
記測定データを前記メモリからシフトアウトすることを
特徴とするモニタードバーンインテスト装置。
【請求項２】前記マイクロコンピュータは、データ圧縮手段により、前記測定データを圧縮して記憶
することを特徴とする請求項１記載のモニタードバーン
インテスト装置。
【請求項３】前記データ圧縮手段は、リニアフィードバックシフトレジスタからなるハードウ
ェア回路からなることを特徴とする請求項２記載のモニ
タードバーンインテスト装置。
【請求項４】前記マイクロコンピュータは、前記モニタードバーンインテストが終了し、前記測定デ
ータの前記テスタ装置への出力準備ができた段階で、前
記テスタ装置に対して前記測定データの読み込み許可を
示すモニタ許可信号を出力することを特徴とする請求項
１から３の何れか一項に記載のモニタードバーンインテ
スト装置。
【請求項５】前記マイクロコンピュータは、前記モニタ許可信号を前記テスタ装置に対して出力した
段階で、動作停止状態となることを特徴とする請求項４
記載のモニタードバーンインテスト装置。
【請求項６】前記テスタ装置は、前記マイクロコンピュータからの前記測定データの読み
込みが終了した段階で、前記マイクロコンピュータに対
して、前記測定データの読み込みが終了したことを示す
モニタ完了信号を出力し、前記マイクロコンピュータは、前記モニタ完了信号を割
り込み入力として前記動作停止状態を解除することを特
徴とする請求項５記載のモニタードバーンインテスト装
置。
【請求項７】マイクロコンピュータが有するメモリに
テストパターン発生処理プログラムを格納して、該マイ
クロコンピュータの外部入力信号により前記テストパタ
ーン発生プログラムを起動させてモニタードバーンイン
テストを実行させると共に、該モニタードバーンインテ
ストの結果である測定データを、データ圧縮手段を利用
して圧縮し、前記マイクロコンピュータに接続されると共に前記測定
データの良・不良を判別するテスタ装置からのモニタク
ロックに同期して、前記測定データをシフトアウトする
ことを特徴とするマイクロコンピュータのモニタードバ
ーンインテスト方法。