JPH0526858A - 超音波映像検査装置 - Google Patents
超音波映像検査装置Info
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- JPH0526858A JPH0526858A JP3205365A JP20536591A JPH0526858A JP H0526858 A JPH0526858 A JP H0526858A JP 3205365 A JP3205365 A JP 3205365A JP 20536591 A JP20536591 A JP 20536591A JP H0526858 A JPH0526858 A JP H0526858A
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Abstract
ができる超音波映像検査装置を提供することにある。 【構成】 焦点合わせ操作のときには表面波同期ゲート
モードとし、検査面に合焦したときの送信波の発生時点
から表面波の発生時点までの時間を計測して記憶してお
き、被検査物品を測定する時点で主同期ゲートモードに
して計測された時間値と焦点位置に対応して設定された
表面波同期ゲートモードにおける所定の時間遅延時間値
との和を主同期ゲートモードの所定時間遅延とすること
により、ゲートの位置を表面波同期ゲートモードで設定
した焦点位置に固定することができる。その結果、被検
査物品の表面状態に影響されることなく、検査面での測
定映像が正しく得られ、映像における欠陥等の判断が容
易となり、検査効率を向上させることができる。
Description
に関し、詳しくは、正確な測定映像が得られ、効率よく
部品検査ができる超音波映像検査装置に関する。
装置は、エコー受信信号(又はビデオ信号或いはRF信
号)の任意の位置でゲートがかけられるようになってい
て、例えば、エコー受信信号の欠陥波にゲートをかけ、
抽出したエコー受信信号についてピークレベル等を得
て、その値の大きさで欠陥の良否を判定している。この
場合、エコー受信信号の任意の位置にゲートをかけるた
めには、ゲートパルスを任意のタイミングで発生させる
ことが必要になる。
発生タイミングとの関係の説明図である。図3におい
て、22は、水浸反射法で得られたAスコープ像であっ
て、Tは送信波、Sは表面波(表面反射エコー)、Fは
欠陥波(欠陥エコー)、Bは底面波を示している。23
は、周期的な測定に対応して発生する同期信号であり、
この信号の後縁(立上がり)でパルサを駆動し送信パル
スを出力する。この送信パルス信号は、エコー受信信号
22における送信波Tとなって現れる。24は、所定の
設定された時間に対応するパルス幅を持つ遅延トリガパ
ルスであり、前記同期信号23の前縁(立下がり)を起
点として発生する。25は、表面波検出パルスであっ
て、同期信号23の前縁でセットされるフリップフロッ
プ出力とエコー受信信号22のコンパレータ出力と遅延
トリガパルス24がなくなったときとの論理積出力とし
て発生する。26は、ゲート位置パルスであって、表面
波検出パルス25を起点とし、設定された時間(遅延時
間)に対応するパルス幅を持つパルスとして発生する。
27は、ゲートパルスで前記ゲート位置パルス26の後
縁(立下がり)を起点に発生し、設定された時間に対応
するパルス幅を持つパルスである。このように、ゲート
パルス27は、同期信号23の発生に応じ、かつ表面波
Sの発生タイミングに同期して、設定された時間に設定
された幅で発生する。
は、一般に表面波同期ゲートモードと呼ばれるものであ
って、表面波Sを基準にゲートをかけているので、プロ
ーブと被検体までの距離(水距離という)が変化しても
表面波Sからのゲート位置が変化しない特徴がある。な
お、遅延トリガパルス24は、表面波Sを検出する手段
として用いるパルスであって、このパルスがLOWレベ
ル(以下“L”)の期間は、表面波Sが検出されない。
これによりパルス発生期間の間のノイズが除去される。
トモードと呼ばれるもう一つの方式があって、これは、
同期信号23を基準としてゲートパルスを発生する方法
である。すなわち、ゲート位置パルス26は、同期信号
23の前縁を起点として発生し、ゲートパルス27は、
前述と同様にこのゲート位置パルス26の後縁を起点と
して発生する。なお、いずれの場合も同期信号23の前
縁を起点としているが、起点は、同期信号23の後縁を
起点としてもよく、後述する実施例のように、送信波T
に対応して同期信号を発生させてこれを起点としてもよ
い。
ゲートモードが選択できるようになっているものがあ
る。そして、遅延トリガパルス24、ゲート位置パルス
26、ゲートパルス27の値については、特に、規格等
で定められてはいないので超音波測定装置によってまち
まちである。一例として挙げれば、遅延トリガパルス
は、 0.5〜400 μs程度、ゲート位置パルスは、 0.1〜
300 μs程度、ゲートパルスは、 0.1〜800 μs程度も
ののが多い。
常、焦点型のプローブが用いられ、部品等の被検体の検
査面に焦点合わせをしてB,Cスコープ像等が採取され
る。この場合に焦点に対応した位置にゲートが設定され
るが、先の表面波同期ゲートモードが採用される。その
理由は、部品等の被検体では、検査面が表面を基準に
し、表面から一定の深さ位置にある場合が多いからであ
る。
合には、水槽に部品を浸漬した際に部品が急激に水没さ
れるので部品表面に気泡が付着することが多い。表面に
気泡が付着すると、表面波Sが採れず、ゲートが設定さ
れなくなり、正確な測定映像が採取され難い。このよう
な欠点を回避するために表面波S検出のスレッシュホー
ルドレベルを低下させることが行われるが、これを低下
させると、S/N 比が悪化し、見にくい映像になり、効率
よく検査ができない欠点がある。この発明の目的は、こ
のような従来技術の問題点を解決するものであって、正
確な測定映像が得られ、効率よく部品検査ができる超音
波映像検査装置を提供することにある。
るこの発明の超音波映像検査装置は、被検査物品の表面
波の発生時点を基準としてそこから所定時間遅延させて
ゲートを発生させる表面波同期ゲートモードと前記被検
査物品に対して送信波を発生する時点又はこの送信波の
発生に同期する信号の発生時点を基準としてそこから所
定時間遅延させてゲートを発生させる主同期ゲートモー
ドとを備えていて、焦点型プローブの焦点を被検査物品
の検査面に合わせるときには表面波同期ゲートモードに
設定されかつ焦点の位置にゲートが対応して設定される
ように所定時間遅延が選択され、検査面に合焦したとき
の送信波の発生時点から表面波の発生時点までの時間を
計測して記憶し、検査面について測定を行うときには主
同期ゲートモードに設定され、記憶された時間値と焦点
位置に対応して設定された表面波同期ゲートモードにお
ける所定時間遅延の時間値との和を得て、この和の時間
を主同期ゲートモードの所定時間遅延の時間値とするも
のである。
同期ゲートモードとし、検査面に合焦したときの送信波
の発生時点から表面波の発生時点までの時間を計測して
記憶しておき、被検査物品を測定する時点で主同期ゲー
トモードにして計測された時間値と焦点位置に対応して
設定された表面波同期ゲートモードにおける所定の時間
遅延時間値との和を主同期ゲートモードの所定時間遅延
とすることにより、ゲートの位置を表面波同期ゲートモ
ードで設定した焦点位置に固定することができる。その
結果、被検査物品の表面状態に影響されることなく、検
査面での測定映像が正しく得られ、映像における欠陥等
の判断が容易となり、検査効率を向上させることができ
る。
用した超音波測定装置のブロック図、図2は、そのゲー
ト設定の説明図である。図1において、20は、超音波
測定装置であり、プローブ4が接続された超音波探傷部
6を有している。プローブ4は、走査機構であるXYZ
移動機構5に取付けられていて、プローブ4がXY方向
に移動してプローブ4によりXY方向に被検査物品1が
走査される。また、Z方向にプローブ4を移動させるこ
とで被検査物品1に対するプローブ4の高さの設定が可
能であり、これによりプローブ4の焦点合わせが行われ
る。なお、被検査物品1は、欠陥検査の際には、通常、
水槽2の底部あるいは台座の上に置かれ、プローブ4と
ともに水3に浸された状態にある。
ス信号を送出し、これからエコー受信信号を受ける、い
わゆるパルサ・レシーバを内蔵し、必要に応じてオシロ
スコープ等を備える測定部であって、エコー受信信号を
増幅又は減衰してピーク検出・路程測定部7へと送出す
る。ピーク検出・路程測定部7は、超音波探傷部6とプ
ローブ4によって得られたエコー受信信号の波形に対し
て、設定されたゲート部分でエコー受信信号波形を抽出
してそのピーク値を検出する。そして、ゲート内のエコ
ー受信信号のピークレベルに応じたアナログ電圧値をそ
の内部に設けられたA/D変換回路8aによりA/D変
換してデジタル化し、それを測定データ処理装置16に
送出する。なお、前記のゲートは、測定データ処理装置
16からのゲート制御信号に応じて設定される。また、
ピーク検出・路程測定部7は、表面波Sまでの路程測定
の制御信号を測定データ処理装置16から受けたときに
は、エコー受信信号に対して表面波Sを検出するスレッ
シュホールドを設定し、送信波T(図2(a)参照)か
ら表面波Sのエコー受信信号を検出したときまでの時間
tTS(図2(e)参照)を計測し、その時間値を測定デ
ータ処理装置16に送出する。なお、この時間計測のデ
ータは、ピーク検出・路程測定部7内部に設けられた時
間計測回路8bのカウンタからデジタル値の形で得ら
れ、それがそのまま出力される。
設定されるゲートは、表面波同期ゲートモードと主同期
ゲートモードの場合があって、プローブ4の焦点を被検
査物品1の内部の検査面に合わせるときには、表面波同
期ゲートモードにおいて表面波Sに追従させてゲートが
設定される。このとき検出される欠陥波Fのピーク値が
最大になるプローブ4の高さ(Z座標)が選択されるこ
とで焦点合わせが行われる。この焦点合わせが終了した
後は、主同期ゲートモードにモードが切換えられ、プロ
ーブ4の高さを固定にし、同時にゲートも焦点位置に対
応して固定され、被検査物品1に対して測定映像が採取
される。これによりゲートが焦点に固定された状態にな
り、被検査物品1の表面の状態、例えば、気泡の付着な
どに影響されることなく、正確な測定映像を採取でき
る。
セッサ(以下MPU)9及び、キーボード(又は操作パ
ネル、これを含めてキーボードとする。)10、インタ
フェース12、画像メモリ13、メインメモリ14、そ
して、ディスプレイ15等を備えていて、これらがバス
11により相互に接続されている。また、XYZ移動機
構5と、ピーク検出・路程測定部7、そして、超音波探
傷部6もインタフェース12を介してバス11に接続さ
れ、MPU9により制御される。
(そのA/D変換回路8a、時間計測回路8b)からデ
ータを受けて、メインメモリ14にそのデータを一旦記
憶し、このデータに対してメモリに格納された種々の処
理プログラムに従って後述する処理を実行し、その結果
を画像メモリ13に記憶して測定結果をディスプレイ1
5に表示する処理をする。ここで、メインメモリ14に
は、モード設定プログラム14aと、焦点合わせプログ
ラム14b、固定ゲート設定プログラム14c、そして
測定・表示処理プログラム14d等が格納され、キーボ
ード10から入力された検査面の表面からの深さ設定値
や被検体の音速等の測定データ、そして測定結果等のデ
ータがそのデータ記憶領域14eに記憶される。
の測定に入ったときにMPU9により最初に起動され、
MPU9は、これの実行により装置の測定モードを表面
波同期ゲートモードに設定し、焦点合わせプログラム1
4bを起動し、オペレータの焦点合わせ操作に対応して
プローブ4の高さが変更される都度、ピーク検出・路程
測定部7に対して路程測定の制御信号を送出してピーク
検出・路程測定部7から得られる送信波Tから表面波S
までの測定時間値(tTS,路程)を得てこの時間値tTS
をメモリ14のデータ記憶領域14eに記憶する。そし
て、焦点合わせが終了してキーボード10の測定開始キ
ーが押下された時点で装置の測定モードを主同期ゲート
モードに設定して固定ゲート設定プログラム14cを起
動する。
期ゲートモードに設定された状態で起動され、MPU9
により実行されて、プローブ4により形成される被検査
物品1の表面から焦点位置までの距離に対応して距離に
等しい時間値(路程)を算出してそれをゲート設定遅延
時間tDS(図2(d)参照)としてピーク検出・路程測
定部7に送出する。その結果、ピーク検出・路程測定部
7は、その内部に設けられた遅延回路の遅延時間をtDS
に設定する。このときには、表面波同期ゲートモードに
設定されているので、その制御信号を受けているピーク
検出・路程測定部7は、図2の(a)に示されるAスコ
ープ波形の表面波Sの検出信号である同図(c)の検出
パルス25の立上がりを基準に遅延時間tDS後に所定の
パルス幅のゲートパルス27を発生する。
の焦点位置に対応するものであり、焦点合わせ時の欠陥
波F(図2(a)参照)は、このゲートパルス27によ
り抽出されて欠陥波Fのピーク値が最大になる位置にプ
ローブ4の高さが決定され、そこに位置決めされる。な
お、ピーク検出・路程測定部7に設定されるゲート設定
の遅延時間tDSは、メモリ9のデータ記憶領域14eに
記憶される。したがって、焦点合わせの際にプローブ4
の高さが変化すれば、遅延時間tDSも変わる。
力されると、MPU9は、モード設定プログラム14a
を起動して実行する。このときには、装置は、主同期ゲ
ートモードに設定され、その後に固定ゲート設定プログ
ラム14cが起動される。MPU9は、このプログラム
を実行して主同期ゲートモードにおいてデータ記憶領域
14eを参照し、その所定の領域に書込まれた送信波T
から表面波Sまでの時間測定値tTSと先の遅延時間tDS
との和(=TDS)を算出してそれをゲート設定遅延時間
としてピーク検出・路程測定部7に送出する。その結
果、ピーク検出・路程測定部7は、内部の遅延回路に遅
延時間をTDSに設定する。このときには、主同期ゲート
モードに設定されているので、その制御信号を受けてい
るピーク検出・路程測定部7は、図2の(a)に示され
るAスコープ波形の送信波Tに対応する同期信号21で
ある同図(b)のパルスの立上がりを基準に遅延時間t
DS後に所定のパルス幅のゲートパルス27を発生する。
なお、同期信号21に換えて図3に示す同期信号23を
用いることもできる。この場合には同期信号23の発生
時点が基準になるように遅延時間が算出されてピーク検
出・路程測定部7に送出される。
も表面波同期ゲートモードでもゲートパルス27の位置
は変わらず、測定時には焦点があった位置に対応してゲ
ートパルス27が固定されるので、欠陥波Fのピーク位
置あるいはピーク値を正確に採ることができる。その結
果、被検査物品1に表面の状態に影響されるずに正確な
測定映像が得られる。
の発生時点(又は送信波に同期した信号の発生時点)か
ら表面波の発生時点までの時間をピーク検出・路程測定
部7の時間計測回路により計測して、それを測定データ
処理装置16が得てメモリに記憶しているが、エコー受
信信号を直接A/D変換して測定データ処理装置16が
取込み、測定データ処理装置16の内部でピーク値を検
出して送信波の発生時点から表面波の発生時点までの時
間を算出してもよい。また、表面波や欠陥波についての
発生時点は、実施例ではピーク検出・路程測定部7でピ
ークを検出することで行っているが、これはピーク検出
によることなく、スレッシュホールドを設定してこれを
越えた時点でそれぞれの波の発生時点とし、これを検出
してもよい。
発明にあっては、焦点合わせ操作のときには表面波同期
ゲートモードとし、検査面に合焦したときの送信波の発
生時点から表面波の発生時点までの時間を計測して記憶
しておき、被検査物品を測定する時点で主同期ゲートモ
ードにして計測された時間値と焦点位置に対応して設定
された表面波同期ゲートモードにおける所定の時間遅延
時間値との和を主同期ゲートモードの所定時間遅延とす
ることにより、ゲートの位置を表面波同期ゲートモード
で設定した焦点位置に固定することができる。その結
果、被検査物品の表面状態に影響されることなく、検査
面での測定映像が正しく得られ、映像における欠陥等の
判断が容易となり、検査効率を向上させることができ
る。
用した超音波測定装置のブロック図である。
生タイミングとの関係の説明図である。
(プローブ)、5…XYZ移動機構、6…超音波探傷
部、7…ピーク検出・路程測定部、8a…A/D変換回
路、8b…時間計測回路、9…マイクロプロセッサ(M
PU)、10…キーボード、11…バス、13…画像メ
モリ、14…メインメモリ、14a…モード設定プログ
ラム、14b…焦点合わせプログラム、14c…固定ゲ
ート設定プログラム、14d…測定・表示処理プログラ
ム、14e…データ記憶領域、16…測定データ処理装
置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 焦点型プローブを有する超音波映像検査
装置において、被検査物品の表面反射波の発生時点を基
準としてそこから所定時間遅延させてゲートを発生させ
る表面波同期ゲートモードと前記被検査物品に対して送
信波を発生する時点又はこの送信波の発生に同期する信
号の発生時点を基準としてそこから所定時間遅延させて
ゲートを発生させる主同期ゲートモードとを備え、前記
焦点型プローブの焦点を前記被検査物品の検査面に合わ
せるときには前記表面波同期ゲートモードに設定されか
つ前記焦点の位置に前記ゲートが対応して設定されるよ
うに前記所定時間遅延が選択され、前記検査面に合焦し
たときの前記送信波の発生時点から前記表面反射波の発
生時点までの時間を計測して記憶し、前記検査面につい
て測定を行うときには前記主同期ゲートモードに設定さ
れ、前記記憶された時間値と前記焦点位置に対応して設
定された前記表面波同期ゲートモードにおける前記所定
時間遅延の時間値との和を得て、この和の時間を前記主
同期ゲートモードの前記所定時間遅延の時間値とするこ
とを特徴とする超音波映像検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3205365A JP2631783B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 超音波映像検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3205365A JP2631783B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 超音波映像検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0526858A true JPH0526858A (ja) | 1993-02-02 |
JP2631783B2 JP2631783B2 (ja) | 1997-07-16 |
Family
ID=16505649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3205365A Expired - Lifetime JP2631783B2 (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 超音波映像検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2631783B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008070325A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法、超音波探傷装置および鋼材 |
-
1991
- 1991-07-22 JP JP3205365A patent/JP2631783B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008070325A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法、超音波探傷装置および鋼材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2631783B2 (ja) | 1997-07-16 |
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