JPH05264799A - Ｘ線検出蛍光板およびｘ線検出蛍光板による検査方法 - Google Patents
Ｘ線検出蛍光板およびｘ線検出蛍光板による検査方法Info
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- JPH05264799A JPH05264799A JP6301692A JP6301692A JPH05264799A JP H05264799 A JPH05264799 A JP H05264799A JP 6301692 A JP6301692 A JP 6301692A JP 6301692 A JP6301692 A JP 6301692A JP H05264799 A JPH05264799 A JP H05264799A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】Ｘ線像を可視化するためのＸ線蛍光板に関し、
輝尽性蛍光体を用いたＸ線検出蛍光板において、Ｘ線撮
像と同時に撮像位置や撮像状態などを確認できるように
することを目的とする。 【構成】Ｘ線照射と同時に発光する同時蛍光体層１と、
Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層２を１枚の薄板３に塗
布してＸ線検出蛍光板６を構成する。そして、このＸ線
検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側を被検体側に配置
し、Ｘ線照射と同時に、同時蛍光体層１側から蛍光撮像
系で撮像を行なった後、当該Ｘ線検出蛍光板６の輝尽性
蛍光体層２側に赤外線や熱などの再生エネルギーを照射
して蛍光を発生させ、これを光電変換して表示し、精密
検査に供する。
輝尽性蛍光体を用いたＸ線検出蛍光板において、Ｘ線撮
像と同時に撮像位置や撮像状態などを確認できるように
することを目的とする。 【構成】Ｘ線照射と同時に発光する同時蛍光体層１と、
Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層２を１枚の薄板３に塗
布してＸ線検出蛍光板６を構成する。そして、このＸ線
検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側を被検体側に配置
し、Ｘ線照射と同時に、同時蛍光体層１側から蛍光撮像
系で撮像を行なった後、当該Ｘ線検出蛍光板６の輝尽性
蛍光体層２側に赤外線や熱などの再生エネルギーを照射
して蛍光を発生させ、これを光電変換して表示し、精密
検査に供する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線像を可視化するた
めのＸ線蛍光板に関する。Ｘ線蛍光板とは、Ｘ線像を可
視化するために、Ｘ線の照射により蛍光を発するＸ線蛍
光体を塗布した薄板であり、医療の分野に限らず、例え
ばプリント基板などの検査などのような工業の分野でも
用いられている。
めのＸ線蛍光板に関する。Ｘ線蛍光板とは、Ｘ線像を可
視化するために、Ｘ線の照射により蛍光を発するＸ線蛍
光体を塗布した薄板であり、医療の分野に限らず、例え
ばプリント基板などの検査などのような工業の分野でも
用いられている。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線蛍光板には、Ｘ線の照射と同
時に発光する蛍光体を薄板の一面に塗布することによっ
て製造されたものが多用されている。また、最近では、
Ｘ線像を蓄積し、Ｘ線照射後に赤外線や熱などを照射し
てはじめて蛍光を発する輝尽性蛍光体を塗布したものも
出現し、精密検査の分野で普及しつつある。
時に発光する蛍光体を薄板の一面に塗布することによっ
て製造されたものが多用されている。また、最近では、
Ｘ線像を蓄積し、Ｘ線照射後に赤外線や熱などを照射し
てはじめて蛍光を発する輝尽性蛍光体を塗布したものも
出現し、精密検査の分野で普及しつつある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】Ｘ線の照射と同時に発
光する同時蛍光体は、Ｘ線照射と同時にＸ線像が観測で
きるので、観察の同時性にすぐれ簡便なため、Ｘ線を用
いた検査装置などで普及している。しかしながら、感度
や分解能の面で、後記の輝尽性蛍光体よりも劣ってい
る。
光する同時蛍光体は、Ｘ線照射と同時にＸ線像が観測で
きるので、観察の同時性にすぐれ簡便なため、Ｘ線を用
いた検査装置などで普及している。しかしながら、感度
や分解能の面で、後記の輝尽性蛍光体よりも劣ってい
る。
【０００４】これに対し、輝尽性蛍光体は、感度や分解
能はすぐれているが、Ｘ線照射のほかに、蛍光発生のた
めに赤外線や熱の照射などの追加的な手段が必要とな
り、同時性の欠如という問題があった。また、蛍光を発
生させた後に、全面に赤外線や熱を照射して、全面消去
を行なう必要があり、しかも全面消去に数十秒程度の時
間を要するので、大量処理には適しない。
能はすぐれているが、Ｘ線照射のほかに、蛍光発生のた
めに赤外線や熱の照射などの追加的な手段が必要とな
り、同時性の欠如という問題があった。また、蛍光を発
生させた後に、全面に赤外線や熱を照射して、全面消去
を行なう必要があり、しかも全面消去に数十秒程度の時
間を要するので、大量処理には適しない。
【０００５】このような問題があるにもかかわらず、輝
尽性蛍光体は感度や分解能にすぐれているため、細部の
検査などに重宝されている。しかしながら、後で赤外線
や熱を照射してみて初めて、観察できるので、撮像ミス
や撮像部位がずれている場合があり、再度Ｘ線照射をし
なおさなければならない、といった事態が生じている。
尽性蛍光体は感度や分解能にすぐれているため、細部の
検査などに重宝されている。しかしながら、後で赤外線
や熱を照射してみて初めて、観察できるので、撮像ミス
や撮像部位がずれている場合があり、再度Ｘ線照射をし
なおさなければならない、といった事態が生じている。
【０００６】本発明の技術的課題は、このような問題に
着目し、輝尽性蛍光体を用いたＸ線検出蛍光板におい
て、Ｘ線撮像と同時に撮像位置や撮像状態などを確認で
きるようにすることにある。
着目し、輝尽性蛍光体を用いたＸ線検出蛍光板におい
て、Ｘ線撮像と同時に撮像位置や撮像状態などを確認で
きるようにすることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】図１は本発明によるＸ線
検出蛍光板の基本原理を説明する断面図である。請求項
１の発明は、１枚の薄板３に、Ｘ線照射と同時に発光す
る同時蛍光体層１と、Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層
２を塗布してなるＸ線検出蛍光板である。輝尽性蛍光体
層２は、後で赤外線や紫外線などの光を照射することで
蛍光を発するが、加熱によって、蓄積されているＸ線像
が蛍光を発する熱蛍光体も、輝尽性蛍光体の範疇に含ま
れるものとする。
検出蛍光板の基本原理を説明する断面図である。請求項
１の発明は、１枚の薄板３に、Ｘ線照射と同時に発光す
る同時蛍光体層１と、Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層
２を塗布してなるＸ線検出蛍光板である。輝尽性蛍光体
層２は、後で赤外線や紫外線などの光を照射することで
蛍光を発するが、加熱によって、蓄積されているＸ線像
が蛍光を発する熱蛍光体も、輝尽性蛍光体の範疇に含ま
れるものとする。
【０００８】請求項２の発明は、薄板３の片面に、Ｘ線
照射と同時に発光する同時蛍光体層１が塗布され、他方
の面に、Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層２が塗布され
たＸ線検出蛍光板６を用いた検査方法であり、まず図３
のように、このＸ線検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側
を被検体８側に配置し、Ｘ線照射と同時に、同時蛍光体
層１側から蛍光撮像系９で撮像を行なう。その後、図４
のように、当該Ｘ線検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側
に赤外線や熱などを照射して蛍光を発生させ、これを光
電変換して表示することによって観測を行なう。
照射と同時に発光する同時蛍光体層１が塗布され、他方
の面に、Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層２が塗布され
たＸ線検出蛍光板６を用いた検査方法であり、まず図３
のように、このＸ線検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側
を被検体８側に配置し、Ｘ線照射と同時に、同時蛍光体
層１側から蛍光撮像系９で撮像を行なう。その後、図４
のように、当該Ｘ線検出蛍光板６の輝尽性蛍光体層２側
に赤外線や熱などを照射して蛍光を発生させ、これを光
電変換して表示することによって観測を行なう。
【０００９】
【作用】請求項１のように、１枚の薄板３に、Ｘ線照射
と同時に発光する同時蛍光体層１と輝尽性蛍光体層２が
塗布されているため、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１
の蛍光を撮像することによって、即時にモニター装置な
どでＸ線像を観測することもでき、あるいは重要な細部
の様子は、後で輝尽性蛍光体層２側に赤外線や熱を照射
して再生し、時間をかけて精密に観測することもでき
る。
と同時に発光する同時蛍光体層１と輝尽性蛍光体層２が
塗布されているため、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１
の蛍光を撮像することによって、即時にモニター装置な
どでＸ線像を観測することもでき、あるいは重要な細部
の様子は、後で輝尽性蛍光体層２側に赤外線や熱を照射
して再生し、時間をかけて精密に観測することもでき
る。
【００１０】請求項２によれば、薄板３の片面に同時発
光の蛍光体層１が、もう一方の面に輝尽性の蛍光体層２
が塗布されたＸ線検出蛍光板６を用いてＸ線撮像するた
め、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１側を撮像すること
で、撮像位置やコントラストなどの撮像状態をＸ線照射
と同時に確認できる。したがって、後で輝尽性蛍光体層
２を用いて精密な検査を行なうときに、撮像位置がずれ
ていたとか、撮像不良などのために、精密検査に支障を
きたすなどの問題が解消される。
光の蛍光体層１が、もう一方の面に輝尽性の蛍光体層２
が塗布されたＸ線検出蛍光板６を用いてＸ線撮像するた
め、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１側を撮像すること
で、撮像位置やコントラストなどの撮像状態をＸ線照射
と同時に確認できる。したがって、後で輝尽性蛍光体層
２を用いて精密な検査を行なうときに、撮像位置がずれ
ていたとか、撮像不良などのために、精密検査に支障を
きたすなどの問題が解消される。
【００１１】
【実施例】次に本発明によるＸ線検出蛍光板およびＸ線
検出蛍光板による検査方法が実際上どのように具体化さ
れるかを実施例で説明する。図２は請求項１の発明の実
施例を示す断面図である。３は透明な薄板であり、その
上に同時発光の蛍光体層１として、例えばCsl:Tlや(Zn,
Cd)S、Gd2O2S等が、数十μｍ厚に塗布されている。
検出蛍光板による検査方法が実際上どのように具体化さ
れるかを実施例で説明する。図２は請求項１の発明の実
施例を示す断面図である。３は透明な薄板であり、その
上に同時発光の蛍光体層１として、例えばCsl:Tlや(Zn,
Cd)S、Gd2O2S等が、数十μｍ厚に塗布されている。
【００１２】もう一方の面には、輝尽性の蛍光体層２と
して、例えばSrS:Ce3+やBaClBrやBaFBr:Euなどが、数十
μｍ厚に塗布されている。両層１、２の最下部には、蛍
光を効率的に観測できるように、Al等からなる反射層
４、５を設けてもよい。なお、薄板３は、ガラスやプラ
スチックなどの板ないしフィルム状の薄板であり、厚さ
は数十μｍ程度が適している。
して、例えばSrS:Ce3+やBaClBrやBaFBr:Euなどが、数十
μｍ厚に塗布されている。両層１、２の最下部には、蛍
光を効率的に観測できるように、Al等からなる反射層
４、５を設けてもよい。なお、薄板３は、ガラスやプラ
スチックなどの板ないしフィルム状の薄板であり、厚さ
は数十μｍ程度が適している。
【００１３】このＸ線検出蛍光板６の使用例を図３、図
４に示す。図３は、本発明のＸ線検出蛍光板６を用いて
Ｘ線撮像を行なっている状態を示す図である。本発明の
Ｘ線検出蛍光板６は、同時蛍光体層１の面と輝尽性蛍光
体層２の面を有しており、この輝尽性蛍光体層２とＸ線
源７との間に、検査対象である被検体８を配置し、Ｘ線
照射を行なう。
４に示す。図３は、本発明のＸ線検出蛍光板６を用いて
Ｘ線撮像を行なっている状態を示す図である。本発明の
Ｘ線検出蛍光板６は、同時蛍光体層１の面と輝尽性蛍光
体層２の面を有しており、この輝尽性蛍光体層２とＸ線
源７との間に、検査対象である被検体８を配置し、Ｘ線
照射を行なう。
【００１４】すると、Ｘ線照射と同時に、Ｘ線検出蛍光
板６の同時蛍光体層１が蛍光を発するため、これを同時
蛍光体層１側に配設した、高感度二次元ＣＣＤなどの二
次元センサを用いた蛍光撮像系９で撮像し、その出力信
号をテレビモニタ装置10に表示し観測する。したがっ
て、Ｘ線照射と同時に、モニター装置10で撮像状態を確
認できる。
板６の同時蛍光体層１が蛍光を発するため、これを同時
蛍光体層１側に配設した、高感度二次元ＣＣＤなどの二
次元センサを用いた蛍光撮像系９で撮像し、その出力信
号をテレビモニタ装置10に表示し観測する。したがっ
て、Ｘ線照射と同時に、モニター装置10で撮像状態を確
認できる。
【００１５】すなわち、Ｘ線の照射量が適切で鮮明に撮
像されているか、あるいは最も関心のある部位が鮮明に
撮像されているか、などをＸ線照射と同時に確認でき
る。したがって、従来のように、輝尽性蛍光体層のＸ線
像を再生して検査する際になって初めて、撮像不良に気
付き、撮像のやり直しと言った事態をまねく恐れはな
い。
像されているか、あるいは最も関心のある部位が鮮明に
撮像されているか、などをＸ線照射と同時に確認でき
る。したがって、従来のように、輝尽性蛍光体層のＸ線
像を再生して検査する際になって初めて、撮像不良に気
付き、撮像のやり直しと言った事態をまねく恐れはな
い。
【００１６】あるいは、モニター装置10の表示を見て、
精密に観測したい位置の見当を付けておき、輝尽性蛍光
体層２のＸ線像を再生する際に、その部分のみを再生し
て効率的に検査するなどの手法も可能である。
精密に観測したい位置の見当を付けておき、輝尽性蛍光
体層２のＸ線像を再生する際に、その部分のみを再生し
て効率的に検査するなどの手法も可能である。
【００１７】図４は図３でＸ線照射したＸ線検出蛍光板
６の輝尽性蛍光体層２側のＸ線像を再生して精密に検査
する装置を示す斜視図である。Ｘ線検出蛍光板６は、Ｘ
−Ｙステージ11上に、輝尽性蛍光体層２側が上向きとな
るように載置されている。一方、レーザ光源12から出射
したレーザ光は、ビームエクスパンダー13で平行光に変
換された状態で、ミラー14で回転多面鏡15に向けて反射
される。
６の輝尽性蛍光体層２側のＸ線像を再生して精密に検査
する装置を示す斜視図である。Ｘ線検出蛍光板６は、Ｘ
−Ｙステージ11上に、輝尽性蛍光体層２側が上向きとな
るように載置されている。一方、レーザ光源12から出射
したレーザ光は、ビームエクスパンダー13で平行光に変
換された状態で、ミラー14で回転多面鏡15に向けて反射
される。
【００１８】回転多面鏡15の回転によって、スキャンレ
ンズ16を透過したレーザ光は、ミラー17の面を走査する
ことになり、その反射光は、輝尽性蛍光体層２の面に向
けて走査される。したがって、レーザビームの走査方向
と直角方向にＸ−Ｙステージ11を移動させることで、輝
尽性蛍光体層２の全面をレーザ走査できる。
ンズ16を透過したレーザ光は、ミラー17の面を走査する
ことになり、その反射光は、輝尽性蛍光体層２の面に向
けて走査される。したがって、レーザビームの走査方向
と直角方向にＸ−Ｙステージ11を移動させることで、輝
尽性蛍光体層２の全面をレーザ走査できる。
【００１９】そして、レーザ走査によって発生した蛍光
は、光電子増倍管などの光センサ18で検知し、蛍光検知
信号をフレームメモリなどに蓄え、これを読み出して二
次元画像として表示することで観測を行なう。光センサ
18の前に波長フィルタ19を配置することで、レーザ光の
反射光を除去し、蛍光のみを選択的に検知するのがよ
い。
は、光電子増倍管などの光センサ18で検知し、蛍光検知
信号をフレームメモリなどに蓄え、これを読み出して二
次元画像として表示することで観測を行なう。光センサ
18の前に波長フィルタ19を配置することで、レーザ光の
反射光を除去し、蛍光のみを選択的に検知するのがよ
い。
【００２０】レーザ走査する領域は、全面であっても、
Ｘ線照射時に見当をつけた特定の領域であってもよい。
また、レーザ光源は、輝尽性蛍光体層２の材質に応じ
て、赤外線もしくは紫外線レーザ、可視光レーザなどを
用いる。熱蛍光体の場合は、熱蛍光体面を加熱すること
によって蛍光を発生させる。
Ｘ線照射時に見当をつけた特定の領域であってもよい。
また、レーザ光源は、輝尽性蛍光体層２の材質に応じ
て、赤外線もしくは紫外線レーザ、可視光レーザなどを
用いる。熱蛍光体の場合は、熱蛍光体面を加熱すること
によって蛍光を発生させる。
【００２１】
【発明の効果】請求項１の発明によれば、１枚の薄板に
同時蛍光体層１と輝尽性蛍光体層２が塗布されているた
め、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１によって、Ｘ線像
を観測することもでき、また後で輝尽性蛍光体層２に赤
外線や熱などを照射して、Ｘ線像を再生し、精密な検査
に利用することもできる。
同時蛍光体層１と輝尽性蛍光体層２が塗布されているた
め、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層１によって、Ｘ線像
を観測することもでき、また後で輝尽性蛍光体層２に赤
外線や熱などを照射して、Ｘ線像を再生し、精密な検査
に利用することもできる。
【００２２】このＸ線検出蛍光板６を用いて、請求項２
のように、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層のＸ線像を撮
像してモニター装置に表示し、撮像状態をＸ線照射と同
時にチェックでき、撮像不良の場合は、直ちに他のＸ線
検出蛍光板と取り替えて撮像しなおすことができる。し
たがって、後で輝尽性蛍光体を用いて精密な検査を行な
うときに、撮像位置がずれていたとか、撮像不良などの
ために、精密検査不能をきたすなどの問題が解消され
る。
のように、Ｘ線照射と同時に同時蛍光体層のＸ線像を撮
像してモニター装置に表示し、撮像状態をＸ線照射と同
時にチェックでき、撮像不良の場合は、直ちに他のＸ線
検出蛍光板と取り替えて撮像しなおすことができる。し
たがって、後で輝尽性蛍光体を用いて精密な検査を行な
うときに、撮像位置がずれていたとか、撮像不良などの
ために、精密検査不能をきたすなどの問題が解消され
る。
【図１】本発明によるＸ線検出蛍光板の基本原理を説明
する断面図である。
する断面図である。
【図２】請求項１の発明の実施例を示す断面図である。
【図３】本発明のＸ線検出蛍光板を用いて被検体をＸ線
撮像している状態を示す図である。
撮像している状態を示す図である。
【図４】本発明のＸ線検出蛍光板に蓄積されているＸ線
像をレーザビーム走査して再生する装置を示す斜視図で
ある。
像をレーザビーム走査して再生する装置を示す斜視図で
ある。
１ 同時蛍光体層 ２ 輝尽性蛍光体層 ３ 薄板 4,5 反射層 ６ 本発明のＸ線検出蛍光板 ７ Ｘ線源 ８ 被検体 ９ 蛍光撮像系 10 モニター装置 11 Ｘ−Ｙステージ 12 レーザ光源 15 回転多面鏡 17 ミラー 18 光センサ 19 波長フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安藤 護俊 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線照射と同時に発光する同時蛍光体層
(1) と、Ｘ線像を蓄積する輝尽性蛍光体層(2) を１枚の
薄板(3) に塗布してなることを特徴とするＸ線検出蛍光
板。 - 【請求項２】 薄板(3) の片面に、Ｘ線照射と同時に発
光する同時蛍光体層(1) が塗布され、他方の面に、Ｘ線
像を蓄積する輝尽性蛍光体層(2) が塗布されたＸ線検出
蛍光板(6) を用い、 その輝尽性蛍光体層(2) 側を被検体側に配置し、Ｘ線照
射と同時に、同時蛍光体層(1) 側から蛍光撮像系で撮像
を行なった後、 当該Ｘ線検出蛍光板(6) の輝尽性蛍光体層(2) 側に赤外
線や熱などの再生エネルギーを照射して蛍光を発生さ
せ、これを光電変換して表示することを特徴とするＸ線
検出蛍光板による検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6301692A JPH05264799A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Ｘ線検出蛍光板およびｘ線検出蛍光板による検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6301692A JPH05264799A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Ｘ線検出蛍光板およびｘ線検出蛍光板による検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264799A true JPH05264799A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=13217107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6301692A Withdrawn JPH05264799A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | Ｘ線検出蛍光板およびｘ線検出蛍光板による検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05264799A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1113292A2 (en) * | 1999-12-28 | 2001-07-04 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and device for storing and reproducing a radiation image |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP6301692A patent/JPH05264799A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1113292A2 (en) * | 1999-12-28 | 2001-07-04 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and device for storing and reproducing a radiation image |
| EP1113292A3 (en) * | 1999-12-28 | 2003-03-12 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and device for storing and reproducing a radiation image |
| US6713776B2 (en) | 1999-12-28 | 2004-03-30 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for storing and reproducing radiation image and radiation image storage device |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990608 |