JPH05258015A - プリント基板ｃａｍデータ算出装置 - Google Patents
プリント基板ｃａｍデータ算出装置Info
- Publication number
- JPH05258015A JPH05258015A JP4052069A JP5206992A JPH05258015A JP H05258015 A JPH05258015 A JP H05258015A JP 4052069 A JP4052069 A JP 4052069A JP 5206992 A JP5206992 A JP 5206992A JP H05258015 A JPH05258015 A JP H05258015A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- printed circuit
- circuit board
- pattern
- tester
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- Withdrawn
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0005—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer
Abstract
(57)【要約】
【構成】データ入力装置２により処理装置１に入力した
プリント基板形状データからパターン図形変更部３によ
りパターン輪郭を表すデータに変更し、電極座標抽出部
４により輪郭データより電極部分を自動抽出する、抽出
した電極座標よりテスター用データ変更部５によりテス
ター用データを生成する、またソルダーレジスト生成デ
ータ算出部６によりソルダーレジストの製造データを生
成し、生成したデータをデータ出力装置７に出力する。 【効果】一般の機械製図ＣＡＤシステムで入力されたプ
リント基板配線パターンや、スキャナーなどで読み込ん
だプリント基板配線パターンの幾何図形データのみのデ
ータから自動的にプリント基板ＣＡＭデータを出力で
き、プリント基板配線パターンを設計する方法にあまり
影響されず、プリント基板ＣＡＭデータが作成できる。
プリント基板形状データからパターン図形変更部３によ
りパターン輪郭を表すデータに変更し、電極座標抽出部
４により輪郭データより電極部分を自動抽出する、抽出
した電極座標よりテスター用データ変更部５によりテス
ター用データを生成する、またソルダーレジスト生成デ
ータ算出部６によりソルダーレジストの製造データを生
成し、生成したデータをデータ出力装置７に出力する。 【効果】一般の機械製図ＣＡＤシステムで入力されたプ
リント基板配線パターンや、スキャナーなどで読み込ん
だプリント基板配線パターンの幾何図形データのみのデ
ータから自動的にプリント基板ＣＡＭデータを出力で
き、プリント基板配線パターンを設計する方法にあまり
影響されず、プリント基板ＣＡＭデータが作成できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はプリント基板ＣＡＭ（Co
mputer Aided Manufacture）データ算出装置に関し、特
に例えば一般の機械製図用ＣＡＤ（Computer Aided Des
ign ）システムなどを用いて作成されたプリント基板の
配線パターンを表す輪郭線を構成する個々の図形（円
弧、線分など、以下、図形要素と称す）から自動的に図
形を解釈してプリント基板製造時に行う検査用テスター
の検査端子を圧着する電極の座標を算出し、さらに算出
した電極部分を圧着用に除いた基板保護用のソルダレジ
ストを製造するためのデータを算出するプリント基板Ｃ
ＡＭデータ算出装置に関する。
mputer Aided Manufacture）データ算出装置に関し、特
に例えば一般の機械製図用ＣＡＤ（Computer Aided Des
ign ）システムなどを用いて作成されたプリント基板の
配線パターンを表す輪郭線を構成する個々の図形（円
弧、線分など、以下、図形要素と称す）から自動的に図
形を解釈してプリント基板製造時に行う検査用テスター
の検査端子を圧着する電極の座標を算出し、さらに算出
した電極部分を圧着用に除いた基板保護用のソルダレジ
ストを製造するためのデータを算出するプリント基板Ｃ
ＡＭデータ算出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、プリント基板の配線パターンの設
計ではコンピュータを用いたプリント基板専用のＣＡＤ
システムが考えられており、このシステムによって作成
されたプリント基板の配線パターンデータは、システム
特有な属性データが付加されており、その特有な属性デ
ータを用いて、プリント基板製造時に行う検査で使用す
るテスターの端子を圧着する電極座標を算出し、またそ
の電極座標部分を除いた基板保護用のソルダレジストを
製造するためのデータを算出していた。
計ではコンピュータを用いたプリント基板専用のＣＡＤ
システムが考えられており、このシステムによって作成
されたプリント基板の配線パターンデータは、システム
特有な属性データが付加されており、その特有な属性デ
ータを用いて、プリント基板製造時に行う検査で使用す
るテスターの端子を圧着する電極座標を算出し、またそ
の電極座標部分を除いた基板保護用のソルダレジストを
製造するためのデータを算出していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のプリン
ト基板専用ＣＡＤシステムでは、そのシステムでプリン
ト基板の配線パターンの設計を最初から行って特有な属
性データの付加されているデータを作成しなくてはなら
ず、一般的な機械製図用ＣＡＤシステムで作成されたプ
リント基板の配線パターンを表わす輪郭線を構成する図
形要素のみの電極を表わす様な属性のないデータ、ある
いは、手書きされた配線パターンの輪郭線の図面をスキ
ャナーを用いてコンピュターに図形データとして入力さ
れた図形要素のみの電極を表わす様な属性のないデータ
からは、自動的にプリント基板製造時に行う検査に使用
するテスターの検査端子を圧着する電極の座標を算出で
きないという問題点があった。
ト基板専用ＣＡＤシステムでは、そのシステムでプリン
ト基板の配線パターンの設計を最初から行って特有な属
性データの付加されているデータを作成しなくてはなら
ず、一般的な機械製図用ＣＡＤシステムで作成されたプ
リント基板の配線パターンを表わす輪郭線を構成する図
形要素のみの電極を表わす様な属性のないデータ、ある
いは、手書きされた配線パターンの輪郭線の図面をスキ
ャナーを用いてコンピュターに図形データとして入力さ
れた図形要素のみの電極を表わす様な属性のないデータ
からは、自動的にプリント基板製造時に行う検査に使用
するテスターの検査端子を圧着する電極の座標を算出で
きないという問題点があった。
【０００４】本発明の目的は、特にデータの順序、属性
などに依存せずプリント基板の配線パターンの輪郭線を
表す図形要素のみのデータより、プリント基板製造時に
行う検査に使用するテスターの検査端子を圧着する電極
の座標を算出し、またその電極座標部分を除いた基板保
護用のソルダレジストを製造するためのデータを算出す
るプリント基板ＣＡＭデータ算出装置を提供することに
ある。
などに依存せずプリント基板の配線パターンの輪郭線を
表す図形要素のみのデータより、プリント基板製造時に
行う検査に使用するテスターの検査端子を圧着する電極
の座標を算出し、またその電極座標部分を除いた基板保
護用のソルダレジストを製造するためのデータを算出す
るプリント基板ＣＡＭデータ算出装置を提供することに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】第１の発明のプリント基
板ＣＡＭデータ算出装置は、プリント基板製造のための
ＣＡＭデータを算出する装置において、プリント基板上
の配線パターンを表す輪郭線を構成する図形要素が特に
整理されていない集まりより、個々の配線パターンを認
識するため、図形要素を一定回転方向に並びかえるパタ
ーン図形変更部と、個々の配線パターンに認識された図
形要素より検査用テスターの検査端子を圧着できる電極
の座標を抽出する電極抽出部を備え、プリント基板上の
配線パターンの輪郭線を構成する特に整理されていない
図形要素の集まりより検査用テスターの検査端子を圧着
する電極の座標を算出する。
板ＣＡＭデータ算出装置は、プリント基板製造のための
ＣＡＭデータを算出する装置において、プリント基板上
の配線パターンを表す輪郭線を構成する図形要素が特に
整理されていない集まりより、個々の配線パターンを認
識するため、図形要素を一定回転方向に並びかえるパタ
ーン図形変更部と、個々の配線パターンに認識された図
形要素より検査用テスターの検査端子を圧着できる電極
の座標を抽出する電極抽出部を備え、プリント基板上の
配線パターンの輪郭線を構成する特に整理されていない
図形要素の集まりより検査用テスターの検査端子を圧着
する電極の座標を算出する。
【０００６】また、第２の発明のプリント基板ＣＡＭデ
ータ算出装置は、検査用テスターの検査端子を圧着のた
めの電極の座標を算出しその検査端子を圧着のための領
領域を除いた基板保護用のソルダレジストを製造するた
めのデータを算出する。
ータ算出装置は、検査用テスターの検査端子を圧着のた
めの電極の座標を算出しその検査端子を圧着のための領
領域を除いた基板保護用のソルダレジストを製造するた
めのデータを算出する。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００８】図１は本発明のプリント基板ＣＡＭデータ
算出装置の一実施例を示す構成図である。図２は本発明
に関連するプリント基板配線パターンを説明する図、図
３は本発明に関連する配線パターンを表わす輪郭線を構
成する図形要素を閉ループ状につなげたパターン環状線
を説明する図、図４は本発明に関連する電極座標抽出部
の動作を説明する図、図５は本発明に関連するソルダレ
ジスト生成データ算出部の動作を説明する図である。
算出装置の一実施例を示す構成図である。図２は本発明
に関連するプリント基板配線パターンを説明する図、図
３は本発明に関連する配線パターンを表わす輪郭線を構
成する図形要素を閉ループ状につなげたパターン環状線
を説明する図、図４は本発明に関連する電極座標抽出部
の動作を説明する図、図５は本発明に関連するソルダレ
ジスト生成データ算出部の動作を説明する図である。
【０００９】本実施例のプリント基板ＣＡＭデータ算出
装置は、図１に示すように、処理装置１は中央処理装置
（ＣＰＵ）と主記憶装置とを備えた装置であって、予め
決められた命令を逐次フェッチして実行する。またデー
タ入力装置２は磁気テープ等に出力されている一般的な
機械製図用ＣＡＤによって作成されたプリント基板配線
パターンを表わす輪郭線を構成する図形要素の集まり、
または、スキャナーによって読み込まれたプリント基板
配線パターンを表わす輪郭線を構成する図形要素の集ま
りを読み込む。パターン図形変更部３はデータ入力装置
２により入力された配線パターンを表わす輪郭線を構成
する図形要素の集まりより個々の配線パターンを認識す
るため図形要素の集まりを変更する。電極座標抽出部４
は変更されたパターン環状線のデータよりテスターの検
査端子を圧着するための電極の座標を算出する。テスタ
ー用データ変更部５は算出されたテスターの検査端子を
圧着するための電極の座標をテスターが読み取れる様な
書式に変更する。ソルダレジスト生成データ算出部６は
電極座標抽出部４で算出したテスターの検査端子を圧着
するための電極の座標より基板を保護するためソルダレ
ジストを製造するためのデータを算出する。データ出力
装置７はテスター用データ変更部５で作成されたテスタ
ーが読み取れる様な書式の電極の座標データ及びソルダ
レジスト生成データ算出部６で作成されたソルダレジス
トを製造するためのデータを磁気テープ等に出力する。
図２は、本発明が扱うプリント基板の配線パターンを説
明する一実施例を示す図であり、個々の配線パターン２
１、２２がある。
装置は、図１に示すように、処理装置１は中央処理装置
（ＣＰＵ）と主記憶装置とを備えた装置であって、予め
決められた命令を逐次フェッチして実行する。またデー
タ入力装置２は磁気テープ等に出力されている一般的な
機械製図用ＣＡＤによって作成されたプリント基板配線
パターンを表わす輪郭線を構成する図形要素の集まり、
または、スキャナーによって読み込まれたプリント基板
配線パターンを表わす輪郭線を構成する図形要素の集ま
りを読み込む。パターン図形変更部３はデータ入力装置
２により入力された配線パターンを表わす輪郭線を構成
する図形要素の集まりより個々の配線パターンを認識す
るため図形要素の集まりを変更する。電極座標抽出部４
は変更されたパターン環状線のデータよりテスターの検
査端子を圧着するための電極の座標を算出する。テスタ
ー用データ変更部５は算出されたテスターの検査端子を
圧着するための電極の座標をテスターが読み取れる様な
書式に変更する。ソルダレジスト生成データ算出部６は
電極座標抽出部４で算出したテスターの検査端子を圧着
するための電極の座標より基板を保護するためソルダレ
ジストを製造するためのデータを算出する。データ出力
装置７はテスター用データ変更部５で作成されたテスタ
ーが読み取れる様な書式の電極の座標データ及びソルダ
レジスト生成データ算出部６で作成されたソルダレジス
トを製造するためのデータを磁気テープ等に出力する。
図２は、本発明が扱うプリント基板の配線パターンを説
明する一実施例を示す図であり、個々の配線パターン２
１、２２がある。
【００１０】次に動作を説明する。
【００１１】磁気テープ等に出力されている一般的な機
械製図用ＣＡＤによって作成されたプリント基板配線パ
ターンの輪郭を表す順序や属性が特に決まってない図形
要素の集まりのデータまたは、スキャナーによって読み
込まれた配線パターンの輪郭を表す順序や属性が特に決
まってない図形要素の集まりをデータ入力装置２により
処理装置１に読み込む。
械製図用ＣＡＤによって作成されたプリント基板配線パ
ターンの輪郭を表す順序や属性が特に決まってない図形
要素の集まりのデータまたは、スキャナーによって読み
込まれた配線パターンの輪郭を表す順序や属性が特に決
まってない図形要素の集まりをデータ入力装置２により
処理装置１に読み込む。
【００１２】次に読み込まれた配線パターンの輪郭を表
す順序や属性が特に決まってない図形要素の集まりより
個々の配線パターンを認識するためにパターン図形変更
部を用い、各図形要素の端点どうしをつなげてゆき個々
の配線パターンの輪郭を示す環状の連続線にし図３に示
すパターン環状線３１，３２を求める。
す順序や属性が特に決まってない図形要素の集まりより
個々の配線パターンを認識するためにパターン図形変更
部を用い、各図形要素の端点どうしをつなげてゆき個々
の配線パターンの輪郭を示す環状の連続線にし図３に示
すパターン環状線３１，３２を求める。
【００１３】そして、基板全体の図形要素をすべてパタ
ーン環状線にし、次のようにこのパターン環状線どうし
の包含関係を調べ基板を構成する配線パターン２１，２
２を認識します。
ーン環状線にし、次のようにこのパターン環状線どうし
の包含関係を調べ基板を構成する配線パターン２１，２
２を認識します。
【００１４】まず、偶数重（２ｎ：ｎ＝０，１，２，
…）他のパターン環状線に囲まれているようなパターン
環状線３１（他のパターン環状線に囲まれていない、パ
ターン環状線を含む）に着目し、そのパターン環状線３
１に囲まれている、パターン環状線３２のようなパター
ン環状線３１を囲むパターン環状線の数に１を加算した
奇数重（２ｎ＋１：ｎ＝０，１，２，…）のパターン環
状線３１に囲まれているパターン環状線３２がある場合
は、そのパターン環状線３２とパターン環状線３１を組
み合せてると、１つの配線パターンを認識することがで
きます。そして、基板全体を構成しているパターン環状
線の中から、すべての偶数重（２ｎ：ｎ＝０，１，２，
…）の他のパターン環状線に囲まれているパターン環状
線を順次着目し、処理していくことによって基板全体を
構成している配線パターンを認識します。以下、一つの
配線パターンを構成するパターン環状線の組合せをパタ
ーン線と称す。
…）他のパターン環状線に囲まれているようなパターン
環状線３１（他のパターン環状線に囲まれていない、パ
ターン環状線を含む）に着目し、そのパターン環状線３
１に囲まれている、パターン環状線３２のようなパター
ン環状線３１を囲むパターン環状線の数に１を加算した
奇数重（２ｎ＋１：ｎ＝０，１，２，…）のパターン環
状線３１に囲まれているパターン環状線３２がある場合
は、そのパターン環状線３２とパターン環状線３１を組
み合せてると、１つの配線パターンを認識することがで
きます。そして、基板全体を構成しているパターン環状
線の中から、すべての偶数重（２ｎ：ｎ＝０，１，２，
…）の他のパターン環状線に囲まれているパターン環状
線を順次着目し、処理していくことによって基板全体を
構成している配線パターンを認識します。以下、一つの
配線パターンを構成するパターン環状線の組合せをパタ
ーン線と称す。
【００１５】さらに、電極座標抽出部４の前処理とし
て、パターン環状線３１の様に他のパターン環状線に囲
まれていないかあるいは偶数重に他のパターン環状線に
囲まれているパターン環状線が一定回転方向（ここでは
時計方向とする）になるようにこのパターン環状線３１
を構成する図形要素の向きを変更する。またパターン環
状線３２の様に奇数重に他のパターン環状線３１に囲ま
れているパターン環状線が逆の回転方向（ここでは反時
計方向）になるようにパターン構成線を構成する図形要
素の向きを変更する。このことにより図形要素の向きの
一定側（ここでは右側）に配線の導体部分があることに
なる。次に電極座標抽出部４により、１つのプリント基
板を構成する複数のパターン線より、１つのパターン線
ごとに次の様に処理を行いプリント基板製造時に使う検
査用テスターの検査端子を圧着させる電極の座標を求め
て行く。
て、パターン環状線３１の様に他のパターン環状線に囲
まれていないかあるいは偶数重に他のパターン環状線に
囲まれているパターン環状線が一定回転方向（ここでは
時計方向とする）になるようにこのパターン環状線３１
を構成する図形要素の向きを変更する。またパターン環
状線３２の様に奇数重に他のパターン環状線３１に囲ま
れているパターン環状線が逆の回転方向（ここでは反時
計方向）になるようにパターン構成線を構成する図形要
素の向きを変更する。このことにより図形要素の向きの
一定側（ここでは右側）に配線の導体部分があることに
なる。次に電極座標抽出部４により、１つのプリント基
板を構成する複数のパターン線より、１つのパターン線
ごとに次の様に処理を行いプリント基板製造時に使う検
査用テスターの検査端子を圧着させる電極の座標を求め
て行く。
【００１６】図４のような１つのパターン線に着目した
とき、そのパターン線を構成しているパターン環状線４
１，４５の向きの右側に検査用テスターの検査端子の半
径と、圧着の時の位置決め精度を考慮した半径Ｒ以上の
円を含むことのできる配線パターンの領域（テスターの
検査端子を圧着させる電極）を抽出するために、パター
ン環状線４１，４５よりＲの距離はなれたところにパタ
ーン環状線４１，４５と同じ向きの図４の点線で示す環
状線を設ける。すると、パターン環状線４１より設けら
れた１つの環状線によって３つの領域４２，４３，４４
が求まる。また同様にパターン環状線４５から設けられ
た１つの環状線によっては領域４６が求まる。
とき、そのパターン線を構成しているパターン環状線４
１，４５の向きの右側に検査用テスターの検査端子の半
径と、圧着の時の位置決め精度を考慮した半径Ｒ以上の
円を含むことのできる配線パターンの領域（テスターの
検査端子を圧着させる電極）を抽出するために、パター
ン環状線４１，４５よりＲの距離はなれたところにパタ
ーン環状線４１，４５と同じ向きの図４の点線で示す環
状線を設ける。すると、パターン環状線４１より設けら
れた１つの環状線によって３つの領域４２，４３，４４
が求まる。また同様にパターン環状線４５から設けられ
た１つの環状線によっては領域４６が求まる。
【００１７】求めた領域４２，４３，４４，４６を囲む
環状線の向きが時計方向の領域４２，４４内でかつ囲む
環状線の向きが反時計方向の領域４６外の条件に相当す
る領域４４を求める。求めた領域４４を電極候補領域４
７とする。そして、電極候補領域４７内の任意の一点を
検査用テスターの検査端子を圧着させる電極座標４８と
して記憶する。
環状線の向きが時計方向の領域４２，４４内でかつ囲む
環状線の向きが反時計方向の領域４６外の条件に相当す
る領域４４を求める。求めた領域４４を電極候補領域４
７とする。そして、電極候補領域４７内の任意の一点を
検査用テスターの検査端子を圧着させる電極座標４８と
して記憶する。
【００１８】つぎに、テスター用データ変更部５で、算
出された検査用テスターの検査端子を圧着させる電極座
標４８を検査テスターに入力できる様な書式にデータを
変更する。またソルダレジスト生成データ算出部６で、
電極座標抽出部４で求めた検査用テスターの検査端子を
圧着させる電極座標４８が図５に示す電極座標５１の１
つであり、これに検査用テスターの検査端子の半径、圧
着時の位置決め精度を考慮したＲとソルダレジスト製造
時の誤差ＣＬをたした半径（Ｒ＋ＣＬ）のクリアランス
円５２を除くようなソルダレジストパターン５３の製造
用データを算出する。
出された検査用テスターの検査端子を圧着させる電極座
標４８を検査テスターに入力できる様な書式にデータを
変更する。またソルダレジスト生成データ算出部６で、
電極座標抽出部４で求めた検査用テスターの検査端子を
圧着させる電極座標４８が図５に示す電極座標５１の１
つであり、これに検査用テスターの検査端子の半径、圧
着時の位置決め精度を考慮したＲとソルダレジスト製造
時の誤差ＣＬをたした半径（Ｒ＋ＣＬ）のクリアランス
円５２を除くようなソルダレジストパターン５３の製造
用データを算出する。
【００１９】最後に、テスター用データ変更部５と、ソ
ルダレジスト生成データ算出部６で作成した検査テスタ
ー用データと、ソルダレジスト製造用データからなるプ
リント基板ＣＡＭデータをデータ出力装置７により磁気
テープ等に出力する。
ルダレジスト生成データ算出部６で作成した検査テスタ
ー用データと、ソルダレジスト製造用データからなるプ
リント基板ＣＡＭデータをデータ出力装置７により磁気
テープ等に出力する。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプリント
基板ＣＡＭデータ算出装置は、プリント基板ＣＡＭデー
タを、専用のＣＡＤを使用せずに、特に検査テスターの
検査端子を圧着する電極などに属性情報を付加していな
いデータを入力としているので、一般の機械製図ＣＡＤ
システムで入力されたプリント基板配線パターンや、ス
キャナーなどで読み込んだプリント基板配線パターンの
幾何図形データのみのデータから自動的にプリント基板
ＣＡＭデータを出力できる。
基板ＣＡＭデータ算出装置は、プリント基板ＣＡＭデー
タを、専用のＣＡＤを使用せずに、特に検査テスターの
検査端子を圧着する電極などに属性情報を付加していな
いデータを入力としているので、一般の機械製図ＣＡＤ
システムで入力されたプリント基板配線パターンや、ス
キャナーなどで読み込んだプリント基板配線パターンの
幾何図形データのみのデータから自動的にプリント基板
ＣＡＭデータを出力できる。
【００２１】このことは、プリント基板配線パターンを
設計する方法にあまり影響されず、プリント基板ＣＡＭ
データが作成できる。
設計する方法にあまり影響されず、プリント基板ＣＡＭ
データが作成できる。
【図１】本発明のプリント基板ＣＡＭデータ算出装置の
一実施例を示す構成図である。
一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明に関連するプリント基板配線パターンを
説明する図である。
説明する図である。
【図３】本発明に関連する配線パターンを表わす輪郭線
を構成する図形要素を閉ループ状につなげたパターン環
状線を説明する図である。
を構成する図形要素を閉ループ状につなげたパターン環
状線を説明する図である。
【図４】本発明に関連する電極座標抽出部の動作を説明
する図である。
する図である。
【図５】本発明に関連するソルダレジスト生成データ算
出部の動作を説明する図である。
出部の動作を説明する図である。
１ 処理装置 ２ データ入力装置 ３ パターン図形変更部 ４ 電極座標抽出部 ５ テスター用データ変更部 ６ ソルダレジスト生成データ算出部 ７ データ出力装置 ２１，２２ 配線パターン ３１，３２，４１，４５ パターン環状線 ４２，４３，４４，４６ パターン環状線によって設
けられた領域 ４７ 電極候補領域 ４８，５１ 電極座標 ５２ クリアランス円 ５３ ソルダレジストパターン
けられた領域 ４７ 電極候補領域 ４８，５１ 電極座標 ５２ クリアランス円 ５３ ソルダレジストパターン
Claims (2)
- 【請求項１】 プリント基板製造のためのＣＡＭデータ
を算出する装置において、 プリント基板上の配線パターンを表す輪郭線を構成する
図形要素が特に整理されていない集まりより、個々の配
線パターンを認識するため、図形要素を一定回転方向に
並びかえるパターン図形変更部と、 個々の配線パターンに認識された図形要素より検査用テ
スターの検査端子を圧着できる電極の座標を抽出する電
極抽出部を備え、 プリント基板上の配線パターンの輪郭線を構成する特に
整理されていない図形要素の集まりより検査用テスター
の検査端子を圧着する電極の座標を算出することを特徴
とするプリント基板ＣＡＭデータ算出装置。 - 【請求項２】 検査用テスターの検査端子を圧着のため
の領域を除いた基板保護用のソルダレジストを製造する
ためのデータを算出する請求項１記載のプリント基板Ｃ
ＡＭデータ算出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4052069A JPH05258015A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | プリント基板ｃａｍデータ算出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4052069A JPH05258015A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | プリント基板ｃａｍデータ算出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258015A true JPH05258015A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12904532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4052069A Withdrawn JPH05258015A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | プリント基板ｃａｍデータ算出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05258015A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6928375B2 (en) * | 2002-04-10 | 2005-08-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Inspection condition setting program, inspection device and inspection system |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP4052069A patent/JPH05258015A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6928375B2 (en) * | 2002-04-10 | 2005-08-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Inspection condition setting program, inspection device and inspection system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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