JP2910664B2 - 配線パターンチエック方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は配線パターンチエッ
ク方法に関し、特に基板ＣＡＭシステムにおける印刷配
線板のアートワークデータの配線パターンチエック方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】基板用ＣＡＤは、印刷配線板の製造用の
フォトプロッタ用データ（アートワークデータ）の修正
や、このアートワークデータが設計基準を満足するデー
タであるかを検証するデザインルールチエック（ＤＲ
Ｃ）や、上記アートワークデータが製造設計基準を満足
するデータであるかを検証するマニュファクチャリング
ルールチエック（ＭＲＣ）などに広く用いらている。

【０００３】従来、この種の基板ＣＡＤにおいて、印刷
配線板のアートワークデータのＤＲＣ，ＭＲＣにおける
配線パターンチエック方法は、各パターン要素の局所領
域に注目し、間隙チエックを行うものである。

【０００４】特開平５−２１８１６１号公報（文献１）
記載の従来の配線パターンチエック方法を、本発明と対
比しやすいように一部修正してフローチャートで示す図
６を参照すると、この従来の配線パターンチエック方法
は、配線パターンを作業領域に配列構造体として設定す
るステップＰ１と、処理対象配線パターンを選択するス
テップＰ２と、基準要素に接続するパターン要素中の一
定距離内にあるものを求めるステップＰ３と、局所領域
を設定するステップＰ４と、領域内の１つのパターン要
素ｉを抽出するステップＰ５と、パターンｉとステップ
Ｐ３で求めたパターンとの一致を判定するステップＰ６
と、基準要素とパターンｉとの間隙計算を行うステップ
Ｐ７と、間隙値が規定値以上かを判定するステップＰ８
と、間隙小エラーを出力するステップＰ９と、未判定の
要素の有無を判定するステップＰ１０と、未処理のパタ
ーンの有無を判定するステップＰ１１とを含む。

【０００５】次に、図６および従来の処理対象の領域設
定の例を示す図７を参照して、従来の配線パターンチエ
ック方法の動作について説明すると、最初にステップＰ
１で、データ処理を行い易くするために配線パターンに
構造体と呼ばれる形を与えて、計算機上のメモリやディ
スク上に作業領域を設けてそこに配列する。これを配列
または配列構造体を取得するという。ここで、構造体と
は任意に定義された形をもつ単位で、ここではラインや
ランドなど配線パターンの種類、始点，終点の座標位置
とその構成（円弧なら中心座標など）、およびそのパタ
ーンの占有領域の位置、大きさなどの情報を格納してい
る。この構造体をもつ配列すなわち配列構造体の１つが
配線パターン１要素に相当する。またこのとき各配列
は、検索しやすいように例えば始点座標値のＸ座標，Ｙ
座標の大きい順に並べて替えておく。

【０００６】次に、ステップＰ２で、処理対象となる配
線パターン（以下基準要素と呼ぶ）を選択する。選択順
序は、特にないが漏れなくすべてのパターンを選択でき
るようにしておく。

【０００７】次に、ステップＰ３で、基準要素に接続す
るパターン要素の内からこの基準要素よりある一定の距
離すなわち間隙値ｄ内にある直接接続要素を求める。こ
れは、この距離ｄ内にあるパターン要素は上記基準要素
と直接接続するものであり、以下の間隙計算の対象外と
するためである。なお、このパターン要素の求め方とし
て、基準要素に接続する要素の内、基準要素から数えて
例えば３番目（この数は要素あるいは条件毎に変更）ま
でにある要素を求める手法としてもよい。例えば、図７
（Ａ）で基準要素をランド４５とすると一定の距離すな
わち間隙値ｄの間隙領域４６内にある基準要素に接続し
た要素はライン４７，４８となる。

【０００８】次に、ステップＰ４で、局所領域を設定す
る。ここで局所領域とは、基準要素の輪郭線から許容間
隙値だけ離れた点の集合で閉じた領域とする。または、
基準要素を包含する最小面積の矩形領域のＸ，Ｙ座標に
許容間隙量だけ加味した領域としても良い。例えば、局
所領域４９が前者の領域にあたり、矩形領域５０が後者
の領域である。このような領域の設定は、明らかに離れ
ているパターン要素との間隙計算処理を省くためであ
る。

【０００９】次に、ステップＰ５で、局所領域内のパタ
ーン要素のうちの１つを抽出する。この抽出要素につい
てステップＰ６でステップＰ３で求めた直接接続要素と
一致するか調べる。一致する場合はその要素について間
隙計算を行う必要がないため、ステップＰ１０に進む。
この例では、接続領域４５内にある基準要素に接続した
要素ライン４７，４８がそれにあたる。

【００１０】ステップＰ３で一致しないと判断された要
素は、ステップＰ７で間隙計算を行う。この結果は、次
の間隙値の判定やエラー表示の時に利用する。

【００１１】次にステップＰ８で、間隙計算を行った要
素が間隙エラーかどうか判定する。ただしステップＰ７
で局所領域４９を設定した場合、間隙計算を行う必要が
あった要素は、すべて間隙が不足していると考えられる
ので、このステップＰ８の判断は不要となり、すべて間
隙小エラーとし、ステップＰ９でエラー出力する。

【００１２】ステップＰ７で局所領域４９を設定した場
合は、ステップＰ８で、その間隙値が規定値を満足する
かを判定する必要がある。満足する場合、エラーではな
いのでステップＰ１０に進む。満足しない場合、ステッ
プＰ９でエラー出力する。

【００１３】次に、ステップＰ１０で、局所領域内のす
べての要素を処理したかを調べる。未処理の要素があれ
ば、ステップＰ８にフィードバックする。なければステ
ップＰ１１に進む。

【００１４】ステップＰ１１では、すべての配線パター
ンについて間隙チエックを行ったかを判定する。未処理
のパターンがあれば、ステップＰ２にフィードバックす
る。なければこの処理すなわちＤＲＣを終了する。これ
により一定の間隙を保ったパターンが同じ電位（あるい
はネット）であるかどうかに関わらず、あくまでも幾何
学的に間隙小の部分を抽出できる。

【００１５】上述したように、従来の配線パターンチエ
ック方法は、例えばライン４７，４８のような、基準要
素に接続しかつ間隙チエックの対象外とする間隙チエッ
ク不要要素を間隙計算前に求める必要があり、１つの要
素に注目すると、この抽出時と間隙チエック時の２回が
処理対象となる。

【００１６】また、この間隙チエック不要要素の決定領
域の設定においては、その基準要素からの間隙値ｄをＤ
ＲＣ対象データ毎に設定し直す必要がある。例えば図７
（Ｂ）のようなパターンの場合、領域５１Ａの設定で
は、ライン５２は領域５１Ａの中で基準要素５０に接続
する要素なので間隙チエック不要要素となり、したがっ
て間隙小とは判定されない。しかし、領域５１Ｂの設定
では、この領域中でライン５２から基準要素５０までた
どって到達できずライン５３により基準要素との接続を
切断されるため間隙小と判定される。

【００１７】また、間隙チエック不要要素の判定基準を
基準要素５０からの配置の順番で設定する場合も、図７
（Ｂ）では例えば２番目あるいは３番目のいずれまでを
間隙チエック不要要素とするかによってライン５２の判
定が異なる。このように各パターンによって何番目まで
を採用するかＤＲＣ以前に決める必要がある。このよう
に同電位のパターンの間隙をチエックするには、細部の
データを構造を確認しないと疑似エラーが多数発生する
か、あるいは本当に見つかって欲しいエラーが見つから
ない。

【００１８】また、局所領域の設定に基準要素からの一
定距離すなわち間隙値を保つ間隙領域とすることは、基
準要素パターンが単純円のランドだと問題ないが、線分
や八角ランドや不定形の銅箔データだと領域の計算も複
雑になり、処理に時間がかかり適当ではない。

【００１９】さらにデータを追加した場合、そのデータ
による短絡，間隙小をチエックする必要があるが、短絡
の有無をチエックするには追加前，追加後の各々のネッ
ト情報を相互比較するしか方法がない。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の配線パ
ターンチエック方法は、基準要素に接続しかつ間隙チエ
ックの対象外とする間隙チエック不要要素を間隙計算前
に求める必要があり、１つの要素に注目すると、この抽
出時と間隙チエック時の２回が処理対象となるので、無
駄な処理回数を必要とするという欠点があった。

【００２１】また、この間隙チエック不要要素の決定領
域の設定においては、その基準要素に対する間隙値をＤ
ＲＣ対象データ毎に設定し直す必要があるという欠点が
あった。

【００２２】また、同電位のパターンの間隙チエック不
要要素の判定基準を基準要素からの配置順番で設定する
場合は、その番号を配線チエック対象パターン毎にこの
配線チエック開始前に決定する必要があり、細部のデー
タを構造を確認しないと疑似エラーが多数発生するか、
あるいは真のエラーの発見が困難となるという欠点があ
った。

【００２３】また、間隙領域を用いて局所領域を設定す
ることは、基準要素パターンが線分や八角ランドや不定
形の銅箔データの場合は領域の計算も複雑になり、処理
に時間がかかるという欠点があった。

【００２４】さらにデータを追加した場合に必要なその
データによる短絡，間隙小をチエックするためには、追
加前，追加後の各々のネット情報を相互比較するしか方
法がないという欠点があった。

【００２５】

【課題を解決するための手段】本発明の配線パターンチ
エック方法は、配線パターンを構成する複数の要素パタ
ーン同志の予め定めた設定間隙以下である間隙小不良お
よび前記要素パターン同志の接触である短絡不良の有無
をチエックする配線パターンチエック方法において、チ
エック対象の配線パターン内の前記複数の要素パターン
のうち予め定めた条件にしたがい前記間隙小不良および
短絡不良の有無のチエックの基準となる要素パターンで
ある基準要素を選択し、この基準要素の外郭を含む一定
範囲の領域である局所領域を設定する第１のステップ
と、前記局所領域に含まれるかあるいは接触する前記要
素パターンである局所要素を抽出する第２のステップ
と、前記局所要素を前記基準要素との位置関係から順位
付けし順位付け局所要素を生成する第３のステップと、
前記順位付け局所要素の前記基準要素に対する接触の有
無を判定を行い、接触の有無により前記順位付け局所要
素に接触あるいは非接触フラグを立てる第４のステップ
と、前記順位付け局所要素が前記第４のステップで非接
触フラグを立てられた場合に、この順位付け局所要素と
前記基準要素との間のチエック対象間隙が前記設定間隙
以下とならない十分な間隙であるかの判定を行い、前記
設定間隙未満の場合前記間隙小不良の候補であるカレン
ト要素であると判定する第５のステップと、前記カレン
ト要素に接触する要素パターンであるカレント接触要素
の有無を判定し無の場合このカレント要素を前記間隙小
不良と確定し第１のステップに戻る第６のステップと、
前記第６のステップで前記カレント接触要素の有の場合
このカレント接触要素の前記基準要素への接触の有無を
判定する第７のステップと、 前記第７のステップで無の
場合前記カレント要素を前記カレント接触要素により更
新して第６のステップに進み、前記第７のステップで有
りの場合間隔小不良を確定せずに第１のステップに戻る
第８のステップとを含むことを特徴とするものである。

【００２６】

【発明の実施の形態】次に、本発明の第１の実施の形態
をフローチャートで示す図１を参照すると、この図に示
す本実施の形態の配線パターンチエック方法は、配線パ
ターンを作業領域に配列構造体として設定するステップ
Ｓ１と、基準要素の選択およびその局所領域を設定する
ステップＳ２と、局所領域に含まれる局所要素を一時記
憶するステップＳ３と、一時記憶した局所要素に順位付
けするステップＳ４と、一時記憶した局所要素が基準要
素に接触するかの判定を行うステップＳ５と、間隙が十
分かの判定を行うステップＳ６と、カレント要素に接触
する要素を探すステップＳ７と、カレント接触要素の基
準要素への接触の有無を判定するステップＳ８と、カレ
ント要素を更新するステップＳ９と、間隙小エラーを出
力するステップＳ１０と、未処理の要素の有無を判定す
るステップＳ１１と、次処理対象要素を取得するステッ
プＳ１２と、未処理パターンの有無を判定するステップ
Ｓ１３と、次処理対象パターンを取得するステップＳ１
４とを含む。

【００２７】次に、図１および本実施の形態の局部領域
の一例を示す図２および対象配線パターンの例を示す図
３を参照して本実施の形態の動作について説明すると、
まず、ステップＳ１で、従来と同様に配線パターンを作
業領域に配列構造体として設定する。

【００２８】次にステップＳ２で、基準要素とする要素
を選択する。選択順序は特に決める必要はないが全部の
要素を漏れなく順番に選択できるようにする。例えば、
占有領域のＸ座標，Ｙ座標の小さい順すなわち昇順に要
素を選択し基準要素とする。次に、基準要素の占有領域
とＤＲＣ用設定値である最小間隙値とから局所領域を求
める。この局所領域は、基準要素の輪郭線から最小間隙
値だけ離れた点の集合の軌跡で囲まれた領域とするのが
理想的だが、実際の計算においては必ずしも最良の領域
ではない。そこで占有領域のＸ，Ｙ幅を最小間隙値だけ
大きくした矩形領域を局所領域とする。例えば、図２
（Ａ）のように基準要素１１がランド等のように円形の
場合は、理想の局所領域１２の方が局所要素はすべて間
隙小となるので無駄な計算がない。これを矩形の局所領
域１３と設定すると、矩形の角の部分にある局所要素は
間隔小となるか否か一々計算しなくてはならない。しか
し図２（Ｂ）のようにライン情報をはじめとするほとん
どのデータは、理想的な局所領域１２Ａを求めるのが難
しく、また局所要素を探すのにも計算が煩雑になる。よ
って領域を単純な矩形の局所領域１３Ａにすることによ
って後工程の判定を楽にする。これにより各要素の占有
領域の最大値，最小値が局所領域に含まれるか否かの判
定を利用して矩形領域に干渉する要素を選択できる。

【００２９】次に、ステップＳ３で、局所領域に含まれ
るか接触する要素である局所要素を一時記憶する。前述
のように、局所領域を矩形に設定しているので、各要素
の占有領域がその矩形に含まれるか、あるいは干渉する
かを判定して要素を一時記憶し、順番に並べてリスト化
する。具体的には、Ｘ座標，Ｙ座標の各々について、占
有領域の最大値が局所領域の最小値よりも小さい、また
は占有領域の最小値が局所領域の最大値よりも大きいと
いう４つの条件のいずれも満たさない要素が一時記憶す
べき局所要素となる。図３の例では、基準要素２１に対
して局所領域２２を設定し、ライン２３，２４，２６，
２７を一時記憶する。

【００３０】次に、ステップＳ４において一時記憶した
要素に順位付けをする。一時記憶した要素と基準要素が
局所領域内で接触する場合は接触フラグを立て、接触し
ない場合は非接触フラグを立てる。これを一時記憶した
局所要素全てに対して行う。図３の例では、ライン２３
に接触フラグを立て、直接基準要素に接続しないライン
２４，２６，２７には非接触フラグを立てる。

【００３１】次に、ステップＳ５において、一時記憶し
た局所要素の判定を行う。局所要素に接触フラグが立っ
ていた場合はそのままステップＳ１１に進む。この理由
は、局所領域内で基準要素に接触する局所要素は基準要
素と直接電気的に接続されている要素と見なし、間隙値
の計測対象とはならないと判断するためである。ただ
し、この一時記憶した局所要素は他の局所要素と基準要
素との関係を調べるために必要なのでステップＳ１３ま
での間、情報を保持しておく。図３の例では、ライン２
３の処理の時のみ直ちにステップＳ１１に進む。

【００３２】非接触フラグを立てた局所要素は、ステッ
プＳ６に進み、ここで基準要素との間隙計算を行う。間
隙が十分にある場合、処理済みフラグを立ててステップ
Ｓ１１に進む。間隙が不足の場合、間隙小エラーの候補
として記憶する。ここでこの要素をカレント要素とす
る。図３の例では、ライン２４をカレント要素として説
明する。最小間隙を保つ境界線を２８の円とすると、ラ
イン２４は間隙が不足しているのでステップＳ７に進
む。

【００３３】次のステップＳ７において、カレント要素
に接触する要素を探す。探す範囲は局所領域の中で良
く、具体的には既に一時記憶してある局所要素を調べれ
ばよい。カレント要素に接触する要素が複数存在する場
合は、それらをカレント接触要素として記憶し、順次処
理するためにリスト化しておく。

【００３４】カレント接触要素が存在しない場合、ステ
ップＳ６で記憶した間隙小エラー候補は、エラーが確定
する。その後、ステップＳ１０で、エラー登録を行う。

【００３５】カレント接触要素が存在する場合、ステッ
プＳ８でこのカレント接触要素が基準要素に接触するか
調べる。基準要素に接触する場合、このカレント接触要
素とカレント要素と間隙小エラーの候補の要素の３つの
要素に接触フラグを立てて、ステップＳ１１に進む。た
だし、カレント要素と間隙小エラーの候補要素は同一の
場合があるので、そのときは実際には２つの要素に接触
フラグを立てることになる。図３の例では、カレント要
素２４に対し、ライン２３がカレント接触要素として見
つかる。ライン２３は基準要素にも接触するので、ライ
ン２４は基準要素に接続すると判断し、ステップＳ１１
に進む。ライン２４の処理はここで終了する。

【００３６】カレント接触要素が基準要素に接触しない
場合、そのカレント接触要素に処理済みフラグを立て
て、ステップＳ７でリスト化したカレント接触要素の他
の要素について調べる。リスト化したカレント接触要素
がすべて処理済みになるか、リストが存在しないときは
ステップＳ９に進む。これを図３を参照して説明する
と、新たなカレント要素をライン２６とする。ステップ
Ｓ６において間隙が不足すると判断されるので、ステッ
プＳ７でこのカレント要素に接触する要素を探す。ここ
でライン２７が見つかるが、ライン２７には非接触フラ
グが立っており（ステップＳ４で順位付けされてい
る）、ステップＳ８で基準要素には接触しないと判断さ
れ、ステップＳ９に進む。

【００３７】ステップＳ９で、カレント接触要素を新し
いカレント要素とする。このとき、先のステップＳ７で
カレント接触要素のリストがある場合、その先頭の要素
を新しいカレント要素とする。その後、ステップＳ７に
フィードバックする。ただしフィードバック後は、処理
済みフラグと接触フラグが立っている要素のみ判定に使
用し、接触フラグが立っていないものは処理対象としな
い。図３においては、カレント要素をライン２６からラ
イン２７に更新してステップＳ７にフィードバックさせ
る。しかし、ライン２７に接触する局所領域内の要素は
ライン２６しかなく、しかもライン２６には処理済みフ
ラグが立っているため、ステップＳ１０に進み、ライン
２６の間隙小エラーが確定する。

【００３８】ステップＳ７、ステップＳ８、ステップＳ
９のループはカレント要素に接触する新たな要素が見つ
からなくなれば、終了する。

【００３９】ステップＳ１１においてステップＳで一時
記憶した局所要素の処理済みフラグの有無を調べる。未
処理のものが存在する場合、ステップＳ１２で処理対象
の要素を選択し、ステップＳ５にフィードバックする。

【００４０】すべて処理済みの場合、ステップＳ１３に
進む。

【００４１】ステップＳ１３では、ステップＳ２で選択
した基準要素が最後のデータかどうか調べる。続きがあ
る場合、ステップＳ１４で基準要素を更新する。実際に
はステップＳ１で作業領域に並べた配列の内、次に位置
する配列を選択する。その後ステップＳ２にフィードバ
ックする。最後の基準要素を処理すれば、ＤＲＣを終了
する。

【００４２】次に、本発明の第２の実施の形態を図１と
共通の構成要素には共通の参照文字／数字を付して同様
にフローチャートで示す図４を参照すると、この実施の
形態の前述の第１の実施の形態との相違点は、ステップ
Ｓ１，Ｓ２との間に追加情報を取得するステップＳ２０
を加えたことと、ステップＳ５の判定結果基準要素に接
触する場合、接触する要素を抽出するステップＳ２１
と、要素同志の関係を調べるステップＳ２２と、ネット
が２つ以上できるかの判定をするステップＳ２３と、シ
ョートエラーを出力するステップＳ２４とを付加したこ
とである。

【００４３】図４および本実施の形態のチエック対象配
線パターンの一例を示す図５を参照して本実施の処理に
ついて説明すると、まず、第１の実施の形態と同様のス
テップＳ１で、配線パターンを作業領域に配列構造体と
して設定する。

【００４４】次に、ステップＳ２０で、追加のパターン
情報を取得する。具体的には、既存要素との区別のため
新たに追加した要素に新規フラグを立てるか、または新
規追加要素を一時記憶し逐次記憶毎に連鎖化しておくな
どの方法が考えられる。ここでは追加要素、例えばラン
ド３２，３７を連鎖しておく。

【００４５】次に、ステップＳ２で、ステップＳ２０で
取得した追加要素から１つの要素を選択し基準要素とす
る。具体的には追加要素を一時記憶し、複数の追加要素
がある場合はそれらを記憶順に並べてリストにしてお
く。そしてそのリストの先頭の要素から選択していく。
また、選択した基準要素の局所領域を設定する。この例
では、追加要素３２を基準要素とし、局所領域３３を設
定する。

【００４６】次に、ステップＳ３で、局所領域に含まれ
るか干渉する要素である局所要素を記憶し、これも複数
ある場合は記憶順に並べてリストにする。この例では、
ランド３１とライン３４，３５，３６を一時記憶する。

【００４７】次に、ステップＳ４で、ステップＳ３で一
時記憶した局所要素の基準要素への接触の有無によって
順位付けする。基準要素に接触する要素には接触フラグ
を立て、接触しない要素には非接触フラグを立てる。こ
の例では、ランド３１とライン３４，３５，３６のすべ
てに接触フラグを立てる。

【００４８】次に、ステップＳ５で、一時記憶した局所
要素を判定する。判定対象局所要素に接触フラグが立っ
ていた場合、短絡チエックのためにステップＳ２１に進
む。非接触フラグが立っていた場合、間隙小チエックの
ためにステップＳ６に進む。

【００４９】まず、短絡チエックについて説明すると、
ステップＳ２１で、ステップＳ３にて一時記憶した要素
の中から接触フラグの立った要素をすべて局所接触要素
として抽出し記憶する。

【００５０】次に、ステップＳ２２で、ステップＳ２１
で記憶した局所接触要素の接続関係を調べる。まず、一
時記憶した局所接触要素のうち一つを選択し、選択した
要素に接触する要素を局所接触要素群の中から探す。そ
して見つかった接触要素と選択した局所接触要素を同一
グループとし、固有のグループ名を付け、対象各要素に
処理済みフラグを立てる。次に同一グループとした要素
を新たな選択要素として、再度接触要素を探し、あれば
同一グループとする。同一グループとした要素が複数あ
る場合、その見つかった選択要素に接触する局所接触要
素をリストにしておき、リストの先頭要素を新たな選択
要素とし、再度接触要素を探す。接触要素がない場合、
まだグループ名の付いていない要素を選択要素とし、別
のグループとして同様に接触要素を探す。この作業をす
べての局所接触要素が処理済みになるまで行う。ただ
し、短絡エラーを見つけるだけなら、グループが複数に
分かれた段階でエラーとする。これは、複数のネット
（グループ）が、基準要素によって短絡されたと判断で
きるためである。

【００５１】図５を再度参照してこのことを説明する
と、まず、ライン３４について接触要素を探す。しか
し、この例では局所領域内において接触するのは、追加
要素３２のみである。よってライン３４をグループ１と
して、次の要素を選択する。仮にライン３６を選択した
とすると接触要素としてライン３５が見つかる。ライン
３６に接触するのはこれだけなので、次にライン３５に
接触する要素を探す。このときランド３１が見つかる。
これらライン３６，ライン３５，ランド３７をグループ
２とする。

【００５２】ステップＳ２３において、ネットの数によ
り短絡の有無を判定する。２つ以上のネットが存在する
なら、ステップＳ２４に進み、ショートエラーとする。
一つしかネットが存在しない場合、ステップＳ５にフィ
ードバックする。この例では、ネットが２つあるので短
絡エラーとなる。

【００５３】ステップＳ２４では、短絡エラー出力を行
い、ステップＳ１３に進む。

【００５４】次に、間隙小チエックについて説明する
と、この間隙チエックは第１の実施の形態と同じ要領で
実施する。ステップＳ２０で、記憶した局所要素に非接
触フラグがたっている場合、ステップＳ６に進み、ここ
で基準要素との間隙計算を行う。間隙が十分にある場
合、処理済みフラグを立ててステップＳ１１に進む。間
隙が足りない場合、間隙小エラーの候補として記憶す
る。ここでこの要素をカレント要素とする。

【００５５】次のステップＳ７においてカレント要素に
接触する接触要素を探す。探す範囲は、局所領域の中で
良く、具体的には局所要素を調べればよい。接触要素が
複数存在する場合は、それらをカレント接触要素として
一時記憶し、リストにして順次処理する。

【００５６】カレント接触要素が存在しない場合、ステ
ップＳ６で記憶した間隙小エラー候補についてはエラー
が確定する。その後、ステップＳ１０でエラー登録を行
う。

【００５７】カレント接触要素が存在する場合、ステッ
プＳ８でこのカレント接触要素が基準要素に接触するか
調べる。接触する場合、このカレント接触要素とカレン
ト要素と間隙小エラーの候補の要素の３つに接触フラグ
を立てて、ステップＳ１１に進む。

【００５８】カレント接触要素が基準要素に接触しない
場合、その要素に処理済みフラグを立てて、ステップＳ
７で探した他のカレント接触要素について調べる。リス
トにしたカレント接触要素がすべて処理済みになるか、
このリストが存在しないとき、ステップＳ９に進む。

【００５９】ステップＳ９においてカレント接触要素を
新しいカレント要素とする。このとき、先のステップＳ
７でカレント接触要素がリストになっている場合、その
先頭の要素を新しいカレント要素とする。その後、ステ
ップＳ７にフィードバックする。ただしフィードバック
後は、処理済みフラグと接触フラグが立っている要素の
み判定に使用し、接触フラグが立っていないものは処理
対象としない。

【００６０】ステップＳ７，Ｓ２８，Ｓ２９のループは
カレント要素に接触する新たな要素が見つからなくなれ
ば、終了する。

【００６１】ステップＳ１１において、ステップＳ４で
抽出した要素の処理済みフラグの有無を調べる。未処理
のものが存在する場合、ステップＳ１２で次の処理対象
要素を選択し、ステップＳ５にフィードバックする。

【００６２】すべて処理済みの場合、ステップＳ１３に
進む。

【００６３】ステップＳ１３では、ステップＳ２で選択
した基準要素が最後のデータかどうか調べる。続きがあ
る場合、ステップＳ１４で次の処理対象パターンを選択
し、ステップＳ２にフィードバックする。最後の基準要
素（すなわち配線パターン）を処理すれば、このＤＲＣ
を終了する。

【００６４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の配線パタ
ーンチエック方法は、チエック対象の基準要素毎に、チ
エック時に上記基準要素を含む局所領域を設定し、この
局所領域内に含まれるか干渉するパターン要素を局所要
素として設定し、これら基準要素，局所要素の接続関係
を明確にし、上記局所領域内での基準要素との接続，近
接関係を検査することにより、配線パターンの形成状態
に左右されず、常に最小間隙値にのみ支配されるチエッ
ク結果が得られるという効果がある。

【００６５】また、追加配線パターンに局所領域を設定
し、局所領域内の要素をそれぞれの位置関係から順位付
けし、追加要素による短絡，近接を検査することによ
り、パターン追加の前後でネット比較を行うことなく、
短絡（ショート）を発見することができるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の配線パターンチエック方法の第１の実
施の形態を示すフローチャートである。

【図２】本実施の形態の配線パターンチエック方法にお
ける局所領域の一例を示す説明図である。

【図３】本実施の形態の処理対象配線パターンの一例を
示す説明図である。

【図４】本発明の配線パターンチエック方法の第２の実
施の形態を示すフローチャートである。

【図５】本実施の形態の処理対象配線パターンの一例を
示す説明図である。

【図６】従来の配線パターンチエック方法の一例を示す
ブロック図である。

【図７】従来の処理対象配線パターンの一例を示す説明
図である。

【符号の説明】

１１，１１Ａ，２１，４５ 基準要素 １２，１３，１２Ａ，１３Ａ，２２，３３，４９ 局
所領域 ２３〜２７，３４〜３６，４７，４８，５２，５３
ライン ３１，３２，３７，４５ ランド ５１Ａ，５１Ｂ 領域

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 配線パターンを構成する複数の要素パタ
   ーン同志の予め定めた設定間隙以下である間隙小不良お
   よび前記要素パターン同志の接触である短絡不良の有無
   をチエックする配線パターンチエック方法において、 チエック対象の配線パターン内の前記複数の要素パター
   ンのうち予め定めた条件にしたがい前記間隙小不良およ
   び短絡不良の有無のチエックの基準となる要素パターン
   である基準要素を選択し、この基準要素の外郭を含む一
   定範囲の領域である局所領域を設定する第１のステップ
   と、 前記局所領域に含まれるかあるいは接触する前記要素パ
   ターンである局所要素を抽出する第２のステップと、 前記局所要素を前記基準要素との位置関係から順位付け
   し順位付け局所要素を生成する第３のステップと、 前記順位付け局所要素の前記基準要素に対する接触の有
   無を判定を行い、接触の有無により前記順位付け局所要
   素に接触あるいは非接触フラグを立てる第４のステップ
   と、 前記順位付け局所要素が前記第４のステップで非接触フ
   ラグを立てられた場合に、この順位付け局所要素と前記
   基準要素との間のチエック対象間隙が前記設定間隙以下
   とならない十分な間隙であるかの判定を行い、前記設定
   間隙未満の場合前記間隙小不良の候補であるカレント要
   素であると判定する第５のステップと、前記カレント要素に接触する要素パターンであるカレン
   ト接触要素の有無を判定し無の場合このカレント要素を
   前記間隙小不良と確定し第１のステップに戻る第６のス
   テップと、 前記第６のステップで前記カレント接触要素の有の場合
   このカレント接触要素の前記基準要素への接触の有無を
   判定する第７のステップと、 前記第７のステップで無の場合前記カレント要素を前記
   カレント接触要素により更新して第６のステップに進
   み、前記第７のステップで有りの場合間隔小不良を確定
   せずに第１のステップに戻る第８のステップと を含むこ
   とを特徴とする配線パターンチエック方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の配線パターンチエック方
   法で合格した前記配線パターンに追加した追加配線パタ
   ーンをチエックする配線パターンチエック方法におい
   て、 前記追加配線パターンについて追加要素配線パターンと
   前記基準要素対応の追加基準要素と前記局所領域対応の
   追加局所領域を設定する第９のステップと、 前記第４のステップの判定結果、前記追加要素パターン
   が前記基準要素に接触する局所接触要素であり、前記接
   触フラグが立てられた場合にこの局所接触要素を抽出す
   る第１０のステップと、 前記局所接触要素同志が接触する場合にそれを１つのグ
   ループとし、接触がないものは別グループとして、局所
   接触要素群を接触するもの同志のグループに分割する第
   １１のステップとを含むことを特徴とする請求項１記載
   の配線パターンチエック方法。