JPH05256640A - 表面形状測定用トレーサ - Google Patents

表面形状測定用トレーサ

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JPH05256640A
JPH05256640A JP12199492A JP12199492A JPH05256640A JP H05256640 A JPH05256640 A JP H05256640A JP 12199492 A JP12199492 A JP 12199492A JP 12199492 A JP12199492 A JP 12199492A JP H05256640 A JPH05256640 A JP H05256640A
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stylus
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英夫 森田
Kenji Abiko
賢二 安孫子
Tetsuo Nakamura
哲夫 中村
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定物表面をその形状に沿って移動する触
針の変位によって表面形状を測定する表面形状測定用ト
レーサにおいて、触針の移動に応じて摺動する摺動部の
摩擦損失を軽減し、かつある方向の変位が他の方向の変
位に影響することのないトレーサを提供する。 【構成】 基台16に対してそれぞれ直交方向に移動自
在なXスライダ22,Yスライダ20,Zスライダ18
を介して触針24が支持されている。この基台16およ
び3つのスライダの間の摺動部には加圧空気が送出され
空気軸受けを構成することにより、極めて摩擦の少ない
構成をなしている。また、この基台16とZスライダ1
8と、Zスライダ18とYスライダ20と、Yスライダ
20とXスライダ22との各々の相対変位を検出するZ
センサ68,Yセンサ,Xセンサ76の3つのセンサが
設けられている。これら3つのセンサによって、触針2
4の変位量を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は表面形状測定用トレー
サ、特にワーク表面への追従性に優れた高精度の表面形
状測定用トレーサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】ワークの表面形状を連続的に追従測定す
る接触式表面形状測定装置が周知であり、CNC三次元
測定機等に表面形状測定用トレーサを装着し、このトレ
ーサの触針をワークに接触させながら、このときの触針
の三次元移動座標を検出することによって、ワーク表面
をトレースしながらその形状を知ることができ、複雑な
形状のワーク測定に極めて有用である。
【0003】従来において、この種のトレーサとしては
例えば米国特許第3869799号が周知であり、三軸
方向に自由に検出ピンが移動可能であり、このピンをワ
ークに沿って追従させることによって所望の表面形状ト
レースを行うことができる。この種の表面形状測定用ト
レーサは触針が常時ワークに接触しており、このときの
触針の変位量を測定しトレーサ自体の移動位置と前記測
定された各軸方向の触針移動量とを演算して所望の表面
座標が求められ、あるいは触針の変位量を常時一定値に
保つようにトレーサ自体の移動を制御し、これによって
トレーサ自体の移動座標から表面の座標が記録される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上のように触針は所
定の押圧力でワークに接触し、特に触針の押圧力を全方
向にわたって一定に保つように基台に対して触針が保持
されなければならず、このような安定した押圧力を得る
ためには各部における摩擦抵抗あるいはばね等のヒステ
リシス特性を著しく減少させなければならない。
【0005】前記従来装置においては、各軸方向に対し
て平行ばねを用いて接触時の押圧力を確保し、また原点
基準位置への戻り力を与えているが、このような従来装
置では板ばねの固定時の位置精度のばらつき非線形特
性、変形の程度により発生するZ軸方向誤差等によって
トレーサの測定値に方向性が出てしまうという欠点があ
った。
【0006】また、従来においても、更に他の各種の表
面形状測定用トレーサが提案されていたが、これらはい
ずれも摺動部の摩擦損失その他によって表面の追従性が
悪く、形状測定時にトレーサを移動する速度に限界が生
じてしまい、良好な形状測定を行うことができないとい
う問題があった。
【0007】本発明は上記従来の課題に鑑み為されたも
のであり、触針のあらゆる方向への接触に対しても一定
の安定した測定圧で測定でき、また追従性の良い表面形
状測定用トレーサを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、基台に対してそれぞれ直交方向に移動自
在なX,Y,Zスライダを有し、Zスライダ群は基台に
対して吊りばねにて上下方向に吊下げ支持されている。
【0009】前記基台は実際上基台ブロックから支持脚
によって垂下した軸受を為し、Zスイラダがこの軸受に
上下方向移動自在に支持され、このZスライダに順次Y
スライダ及びXスライダがそれぞれ直交方向に移動でき
るように各スライダ間に設けたスライド溝にて係合して
いる。そして、最下位置にあるXスライダにはワークに
接触するための触針が連結固定されている。
【0010】そして、XスライダとYスライダの相対変
位を電気信号に変換するXセンサと、YスライダとZス
ライダの相対変位を電気信号に変換するYセンサと、Z
スライダと基台の相対変位を電気信号に変換するZセン
サを有している。この3つのセンサによって、被測定物
の表面形状に応じて移動する触針の3方向の変位を検出
する。
【0011】更に、本発明においては、前記各スライダ
の摺動面に加圧空気が導入され空気軸受を形成し、各ス
ライダは浮上状態で軸支されていることを特徴とし、こ
れによって、各スライダは摩擦損失のない移動作用を行
うことができる。
【0012】
【実施例】以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を
説明する。図1及び図2に本実施例の断面図を示す。基
台ブロック10は、図示されていない周知のCNC三次
元測定機のプローブホルダにその上面が固定可能であ
り、三次元測定機によって手動あるいは自動的にトレー
サ自体を任意の座標位置に移動することができる。
【0013】前記基台ブロック10には固定脚12,1
4を介して基台16が固定されており、Zスライダ1
8,Yスライダ20及びXスライダ22を介して触針2
4を任意の方向に移動自在に支持することができる。
【0014】前記基台16は図3から明らかなように、
角筒形状からなり、その内周スライド面16aにZスラ
イダ18の角柱状のZスライド軸18aが上下方向(Z
軸)に摺動自在に装着されている。
【0015】そして、Zスライダ18は、図2に示され
るように、Yスライダ20のYスライド溝20aと係合
するガイド軸18bを有する。従って、Yスライダ20
はZスライダ18に対してY軸方向に自由に摺動移動す
ることができる。
【0016】更に、Yスライダ20は、図1に示される
ように、スライド溝20bを有し、このスライド溝20
bにはXスライダ20のXスライド軸22aが摺動自在
に係合しており、この結果、Xスライダ22はYスライ
ダ20に対してX軸方向に自由に摺動することができ
る。
【0017】前述した各スライダ18,20,22は基
台側に対して吊り下げ支持されており、図1において、
Zスライダ18のガイド軸18bの両端に突出して設け
られたばね掛け26,28にはそれぞれ吊りばね30,
32の下端が係止され、両吊りばね30,32の上端は
基台ブロック10に固定されており、この結果、スライ
ダ組立体は触針24を含む全重量が吊りばね30,32
の引張り力と釣合う位置にて吊り下げ支持されることと
なる。
【0018】前記吊りばね30,32はその上端が、実
施例においてばね掛け34,36を介してばね位置調整
板38に固定されており、このばね調整板38を上下方
向に移動することによって、前記吊りばね30,32に
よるスライダ群の保持位置を調整することができる。す
なわち、ばね調整板38はそのナット部38aが基台ブ
ロック10の上下に軸支されたねじ軸40とねじ結合し
ており、このねじ軸40を回転することによって、ばね
調整板38の上下位置を任意に選択することができる。
なお、ばね調整板38はストッパピン42によって回り
止めされており、ねじ軸40とともに回転することはな
い。
【0019】実施例において、前記ねじ軸40を回転す
るために、該ねじ軸40には傘歯車44が固定されてお
り、これと噛み合う傘歯車46の軸48を外部から回転
することによって前記ばね位置の調整が行われる。基台
ブロック10の側面には作業孔10aが設けられてお
り、外部からドライバ等によって前記軸48を回転する
ことができる。
【0020】以上のようにして、本発明によれば、上下
方向すなわちZ軸方向に対してはスライダ群が吊りばね
30,32によって吊り下げ支持され、その原点基準位
置が定められるが、X,Y軸平面における原点基準位置
を定めるため、本発明においては、戻しばね50が設け
られている。戻しばね50は円形断面の線ばねからな
り、その下端はコレットチャック52によってXスライ
ダ22に固定され、このコレットチャック52は締めね
じ54を回転することによって強固に戻しばね50を掴
み固定することができる。
【0021】そして、前記戻しばね50の上端は基台1
6に対して上下移動自在に支持され、実施例において
は、戻しばね50の上端は基台16に直接支持されるこ
となく、基台16内で上下方向に摺動する前述したZス
ライド軸18aに固定された軸受56内で摺動自在に支
持されている。すなわち、戻しばね50の上端にはスラ
イド軸58が固定されており、このスライド軸58が前
記軸受56内でZ軸方向に摺動自在に支持される。
【0022】従って、戻しばね50の上端はそのXY平
面において基準の位置をとり、一方他端はXスライダ2
2に固定されているので、触針24のXY平面に沿った
移動に対して全方向に戻り付勢力を与え、これによっ
て、XY平面の原点基準位置を定めることができる。
【0023】そして、スライド軸58は軸受56内でZ
軸方向に摺動できるため、XY平面に沿った移動によっ
てその位置が変化しても上下方向の変位が吸収される。
【0024】戻しばね50のばね特性を変えるため、本
実施例によれば、前記コレットチャック52による戻し
ばね50の下端掴み位置を変えることによって行うこと
ができ、戻しばね50の上端がZ軸方向に摺動自在に支
持されることによって、前記コレットチャック52によ
る戻しばね50の下端掴み位置変更を容易に行うことが
可能となる。
【0025】以上のようにして、XYZスライダ群は単
一の原点基準位置が定められ、更に各軸方向に均一の押
圧力で移動できることが理解される。
【0026】そして、前記Xスライダ22には触針24
が固定保持され、図示していないワークに触針24を接
触させると、各軸方向に均一な押圧力で触針24が移動
できることとなる。
【0027】実施例において、触針24は触針ホルダ6
0に着脱自在に固定されており、この触針ホルダ60は
振動子62を介して前記Xスライダ22に連結されてお
り、振動子62は触針ホルダ60と振動子ホルダ64と
の間に挟持固定されている。そして、この電歪型振動子
62の機械的な微小振動によって、触針24はワーク表
面に振動しながら接触することとなり、これによって触
針24とワークの表面との接触摩擦を低減させ、触針2
4の追従性を著しく改善している。
【0028】前記各スライド軸18,20,22の原点
基準位置からの移動量を測定するために、各軸毎にスケ
ールが配置され、光学センサによって各スライダの移動
量が検出される。
【0029】Z軸スケール66はZスライダ18から立
上がり、これに隣接対向して前記基台16にはZセンサ
68が設けられており、両者の相対移動によって触針2
4のZ軸方向の移動量を知ることができる。
【0030】Y軸スケール70は、図2に示されるよう
にYスライダ20に設けられており、これと隣接対向配
置されたZスライダ18に設けられたYセンサ72との
協働によってY軸方向の移動量が測定される。
【0031】同様に、X軸スケール74が図1に示さ
れ、Xセンサ76と協働してYスライダ24に対するX
スライダ22の移動が検出される。
【0032】本実施例においては、前記各軸方向に対し
て任意に移動できるとともに、いずれかに選択された軸
方向移動禁止することも可能であり、ソレノイドによっ
て係止ピンを相対移動部に押し当てて所定軸の移動を禁
止している。
【0033】Z軸の移動禁止は第2,3図に示されるZ
スライダ18の溝18cと基台16に設けられている溝
16cとの間で行なわれ、これら両溝18c,16cに
対向する位置でストッパピン78がソレノイド80から
突出可能に設けられており、ソレノイド80を励磁する
ことによってストッパピン78を前記溝18c,16c
に向かって突出させ、この状態でZスライダ18の移動
を停止することができる。
【0034】同様に、Yスライダ20の停止は溝20d
とZスライダ18の溝18dとにより行なわれ、前述し
たと同様にソレノイド82で駆動されるストッパピン8
4にてYスライダ20の移動が禁止される。
【0035】そして、Xスライダに対しては溝22eと
Yスライダ20に設けられた溝20eとの間で行なわ
れ、このためにソレノイド86で駆動されるストッパピ
ン88が設けられている。
【0036】本発明においては、前記各スライダ18,
20,22の移動を低摩擦で行うために各スライダのス
ライド面すなわち16a,20a,20bには加圧空気
が供給されている。
【0037】すなわち、図2において、基台ブロック1
0内に設けられた加圧空気分配器90には図示していな
いが外部からコンプレッサによって加圧空気が供給さ
れ、ここからダクト92,94を介して前記各摺動面に
加圧空気が供給され空気軸受が形成されている。
【0038】Z軸方向の摺動面16aに加圧空気を供給
するために、前記ダクト92は導入孔94から基台16
内に設けられた図示していない空気溝に導かれ、摺動面
16aの所定の複数個所に設けられた小孔から加圧空気
が吹出され、この空気軸受によって、Zスライド軸18
aは基台16内において浮上軸受されることとなる。一
方、前記ダクト94からの加圧空気は導入部98からY
スライダ20に導かれ、このYスライダ20はYスライ
ダ溝20a及びスライド溝20bを有するので、ここか
ら図示していない空気溝を通って各溝20a,20bに
前述したと同様の複数の小孔から加圧空気を送出し、こ
の空気軸受によって、Yスライダ20及びXスライダ2
2も同様に浮上支持することができる。
【0039】従って、本発明によれば、各スライダ間の
摩擦を著しく小さくすることができ、その原点戻り特性
を改善可能である。
【0040】実施例において、前記基台ブロック10内
部には前記各センサ68,72,76から得られる電気
的な信号を漸次増幅するプリアンプ98,100,10
2が内蔵されており、これによって電気的な特性に優れ
た信号を取出すことが可能となる。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
XYZの三軸方向に安定した接触圧あるいは移動特性を
与え、ワーク表面への追従性に優れた高精度の表面形状
測定用トレーサを提供することができ、特にワーク表面
の自動測定等に極めて有用なトレーサを提供可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る表面形状測定用トレーサの好適な
実施例を示す縦断面図である。
【図2】図1のII−II断面図である。
【図3】図2の III−III 断面図である。
【符号の説明】
10 基台ブロック 16 基台 18 Zスライダ 20 Yスライダ 22 Xスライダ 24 触針 30,32 吊りばね 50 戻しばね 62 振動子 92,94 加圧空気ダクト

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基台から吊りばねによって上下方向移動
    可能に吊り下げ支持されたZスライダと、 前記Zスライダ移動方向の直交方向に移動可能であり、
    摺動面に加圧空気を供給してなる空気軸受けにより前記
    Zスライダに摺動自在に支持されるYスライダと、 前記ZスライダとYスライダの各々の移動方向に対し直
    交方向に移動可能であり、摺動面に加圧空気を供給して
    なる空気軸受けにより前記Yスライダに摺動自在に支持
    されるXスライダと、 前記Xスライダに連結固定され、ワークの表面に沿って
    摺動する触針と、 前記Xスライダと前記Yスライダの相対変位を電気信号
    に変換するXセンサと、 前記Yスライダと前記Zスライダの相対変位を電気信号
    に変換するYセンサと、 前記Zスライダと前記基台の相対変位を電気信号に変換
    するZセンサと、を有し、前記ワークの表面形状に沿っ
    て移動する触針の変位を前記Xセンサ、Yセンサ、Zセ
    ンサによって検出することを特徴とする表面形状測定用
    トレーサ。
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