JPH05241179A - 液晶パネル検査装置 - Google Patents
液晶パネル検査装置Info
- Publication number
- JPH05241179A JPH05241179A JP34562991A JP34562991A JPH05241179A JP H05241179 A JPH05241179 A JP H05241179A JP 34562991 A JP34562991 A JP 34562991A JP 34562991 A JP34562991 A JP 34562991A JP H05241179 A JPH05241179 A JP H05241179A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- panel
- driver
- inspection device
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- Withdrawn
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- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】従来の液晶パネル検査装置のドライバーＩＣと
液晶パネル接触子の接続ユニットは熱圧着の技術を多用
していた為、歩留が影響し、コストアップ，納期遅れ，
メンテナンス性の低下の原因となっており、故障が発生
すると設備の稼働率低下，生産能力の低下，支払修善等
の費用発生が余儀なくされていた。ドライバーＩＣを液
晶パネルとの接触子として利用することにより、前述の
欠点を修正することを目的とする。 【構成】ドライバーＩＣ２と液晶パネル１を直接密着さ
せ、さらに密着性を向上させる為にパネル押え板５とシ
リコンゴム１２を使用し、電源１６，信号処理基板４，
接続基板３及びドライバーＩＣ２の信号を液晶パネル１
に供給し、液晶パネル１を点灯，表示させる。
液晶パネル接触子の接続ユニットは熱圧着の技術を多用
していた為、歩留が影響し、コストアップ，納期遅れ，
メンテナンス性の低下の原因となっており、故障が発生
すると設備の稼働率低下，生産能力の低下，支払修善等
の費用発生が余儀なくされていた。ドライバーＩＣを液
晶パネルとの接触子として利用することにより、前述の
欠点を修正することを目的とする。 【構成】ドライバーＩＣ２と液晶パネル１を直接密着さ
せ、さらに密着性を向上させる為にパネル押え板５とシ
リコンゴム１２を使用し、電源１６，信号処理基板４，
接続基板３及びドライバーＩＣ２の信号を液晶パネル１
に供給し、液晶パネル１を点灯，表示させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶パネル検査装置に
関し、特にメンテナンスを容易にした液晶パネル検査装
置に関する。
関し、特にメンテナンスを容易にした液晶パネル検査装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶パネル検査装置の概要を図５
に示す。
に示す。
【０００３】本装置は、電源１６からの供給電圧を信号
処理基板４で受け、さらに接続ケーブル１８及び接続基
板３を介してドライバーＩＣ２に電圧を供給し、接続部
品１７−１，１７−２を通して液晶パネル接触子１３に
信号を送り、液晶パネルを点灯表示させて表示検査を行
うものである。
処理基板４で受け、さらに接続ケーブル１８及び接続基
板３を介してドライバーＩＣ２に電圧を供給し、接続部
品１７−１，１７−２を通して液晶パネル接触子１３に
信号を送り、液晶パネルを点灯表示させて表示検査を行
うものである。
【０００４】従来の液晶パネル検査装置の液晶パネルの
信号送付形態は、図５に示す様に土台１４と液晶パネル
との接触子１３と補強基板１５と液晶パネル接触子１３
との接続部品１７−１，１７−２とドライバーＩＣ２を
有している。また、従来の液晶パネル検査装置の液晶パ
ネル１との接触部は、ドライバーＩＣ２との接続部品が
２点あり、熱圧着等の技術を用いて、接続していた。
信号送付形態は、図５に示す様に土台１４と液晶パネル
との接触子１３と補強基板１５と液晶パネル接触子１３
との接続部品１７−１，１７−２とドライバーＩＣ２を
有している。また、従来の液晶パネル検査装置の液晶パ
ネル１との接触部は、ドライバーＩＣ２との接続部品が
２点あり、熱圧着等の技術を用いて、接続していた。
【０００５】液晶パネル接触子１３及びドライバーＩＣ
２が破損した場合、半田付しているジャンパー線１９を
各々外してさらに土台１４を装置本体から外してドライ
バーＩＣ２の接触ユニットの部品を一式変換してメンテ
ナンスを行なっていた。
２が破損した場合、半田付しているジャンパー線１９を
各々外してさらに土台１４を装置本体から外してドライ
バーＩＣ２の接触ユニットの部品を一式変換してメンテ
ナンスを行なっていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この従来の液晶パネル
検査装置のドライバーＩＣ２から液晶パネルとの接触子
１３までの接触ユニット（以下、接触ユニットという）
は、高度な接触技術を要し、成功率が低く、何回も修正
を加えていた為、コストアップ，納期の遅延等の問題が
あった。
検査装置のドライバーＩＣ２から液晶パネルとの接触子
１３までの接触ユニット（以下、接触ユニットという）
は、高度な接触技術を要し、成功率が低く、何回も修正
を加えていた為、コストアップ，納期の遅延等の問題が
あった。
【０００７】また、液晶パネルとの接触子１３の製造技
術も高度である為前述の問題が解決できなかった。
術も高度である為前述の問題が解決できなかった。
【０００８】さらにメンテナンス性が極めて悪く、接触
ユニット１個の交換に２〜３時間の工程数を費やしてお
り、交換時に液晶パネルとの接触子１３を破損する可能
性もあり、取り扱いにも、かなり気を配る必要があっ
た。
ユニット１個の交換に２〜３時間の工程数を費やしてお
り、交換時に液晶パネルとの接触子１３を破損する可能
性もあり、取り扱いにも、かなり気を配る必要があっ
た。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、液晶表
示パネルの表示検査を行う液晶パネル検査装置におい
て、液晶パネルの各ラインをダイナミック駆動させるド
ライバーＩＣを有し、ドライバーＩＣはパネル接触子を
有し、パネル接触子と液晶パネルを直接接触するため
に、ドライバーＩＣとで液晶パネルを挟み込むためのパ
ネル押え板を有する液晶パネル検査装置が得られる。
示パネルの表示検査を行う液晶パネル検査装置におい
て、液晶パネルの各ラインをダイナミック駆動させるド
ライバーＩＣを有し、ドライバーＩＣはパネル接触子を
有し、パネル接触子と液晶パネルを直接接触するため
に、ドライバーＩＣとで液晶パネルを挟み込むためのパ
ネル押え板を有する液晶パネル検査装置が得られる。
【００１０】更に、本発明によれば、パネル押え板で液
晶パネルを挟み込む際に、液晶パネルに加えて緩衝剤を
挟み込む前述の液晶パネル検査装置が得られる。
晶パネルを挟み込む際に、液晶パネルに加えて緩衝剤を
挟み込む前述の液晶パネル検査装置が得られる。
【００１１】更にまた、本発明によれば、前述の緩衝剤
がシリコンゴムからなる液晶パネル検査装置が得られ
る。
がシリコンゴムからなる液晶パネル検査装置が得られ
る。
【００１２】
【実施例】本発明について図面を参照して説明する。
【００１３】図１は、本発明による第１の実施例を示す
概要図であり、図２は、図１のＡ−Ａにおける断面図で
あり、図３は液晶パネルとドライバーＩＣとの接触部の
拡大断面図、図４は図１で示したドライバーＩＣ２の全
体平面図である。
概要図であり、図２は、図１のＡ−Ａにおける断面図で
あり、図３は液晶パネルとドライバーＩＣとの接触部の
拡大断面図、図４は図１で示したドライバーＩＣ２の全
体平面図である。
【００１４】液晶パネル１をパネルガイド８，９に合わ
せてベース６にセットし、液晶パネル１の電極パターン
とドライバーＩＣ２のパネル接触子１３の電極パターン
をパネルガイド調整ネジ１０を用いて一致させる（この
目合せは、顕微鏡や拡大鏡を用いて実施する）。目合せ
完了後、パネル押え板５を液晶パネル１の上にかぶせパ
ネル押え板用ボルト１１で締めて液晶パネル１とドライ
バーＩＣ２の接触子１３に機械的な圧力を加え、密着性
を均一にする。
せてベース６にセットし、液晶パネル１の電極パターン
とドライバーＩＣ２のパネル接触子１３の電極パターン
をパネルガイド調整ネジ１０を用いて一致させる（この
目合せは、顕微鏡や拡大鏡を用いて実施する）。目合せ
完了後、パネル押え板５を液晶パネル１の上にかぶせパ
ネル押え板用ボルト１１で締めて液晶パネル１とドライ
バーＩＣ２の接触子１３に機械的な圧力を加え、密着性
を均一にする。
【００１５】この機械的圧力を加える際、液晶パネル１
が破損しない様にシリコンゴム１２をベース６に埋め込
みパネル押え板５の圧力を吸収し、かつ、ドライバーＩ
Ｃ２のパネル接触子１３と液晶パネル１の密着性を向上
させる。
が破損しない様にシリコンゴム１２をベース６に埋め込
みパネル押え板５の圧力を吸収し、かつ、ドライバーＩ
Ｃ２のパネル接触子１３と液晶パネル１の密着性を向上
させる。
【００１６】また、接続基板３，信号処理基板４を液晶
表示装置とほぼ同位置に配置し、配線の引き回しによる
信号のなまり，ノイズ防止を抑え、液晶表示組立完成時
と同等のダイナミック駆動をさせ、液晶パネルの良否を
検査する。
表示装置とほぼ同位置に配置し、配線の引き回しによる
信号のなまり，ノイズ防止を抑え、液晶表示組立完成時
と同等のダイナミック駆動をさせ、液晶パネルの良否を
検査する。
【００１７】尚、電源からドライバーＩＣまでの信号送
付形態は従来と同じである。
付形態は従来と同じである。
【００１８】
【発明の効果】以上、説明したように本発明は、液晶パ
ネルとドライバーＩＣのパネル接触部を直接密着させる
為、従来の液晶パネル接触子とドライバーＩＣの接続す
る高度な技術，工数が不要となり、コストダウン及び、
納期の短縮化が実現できた。
ネルとドライバーＩＣのパネル接触部を直接密着させる
為、従来の液晶パネル接触子とドライバーＩＣの接続す
る高度な技術，工数が不要となり、コストダウン及び、
納期の短縮化が実現できた。
【００１９】またメンテナンスが容易で、ドライバーＩ
Ｃ破損の場合でも、新しいドライバーＩＣとの交換は、
接続基板との半田付のみで完了となり、迅速に対処でき
る様になった。
Ｃ破損の場合でも、新しいドライバーＩＣとの交換は、
接続基板との半田付のみで完了となり、迅速に対処でき
る様になった。
【図１】本発明の第１の実施例を示す平面図である。
【図２】図１のＡ−Ａにおける断面図である。
【図３】図１に示した液晶パネルとドライバーＩＣとの
接触部の拡大断面図である。
接触部の拡大断面図である。
【図４】図１に示したドライバーＩＣの全体平面図であ
る。
る。
【図５】従来の液晶パネル検査装置の接触ユニットを示
すモデル図である。
すモデル図である。
１ 液晶パネル ２ ドライバーＩＣ ３ 接続基板 ４ 信号処理基板 ５ パネル押え板 ６ ベース ７ バックライト ８ パネルガイドＡ ９ パネルガイドＢ １０ パネルガイド調整ネジ １１ パネル押え板用ボルト １２ シリコンゴム １３ パネル接触子 １４ 半導体チップ １５ 接続基板との接触子 １６ 電源 １７−１ 接続部品Ａ １７−２ 接続部品Ｂ １８ 接続ケーブル １９ ジャンパー線
Claims (3)
- 【請求項１】 液晶表示パネルの表示検査を行う液晶パ
ネル検査装置において、前記液晶パネルの各ラインをダ
イナミック駆動させるドライバーＩＣを有し、前記ドラ
イバーＩＣはパネル接触子を有し、前記パネル接触子と
前記液晶パネルを直接接触させるために、前記ドライバ
ーＩＣとで前記液晶パネルを挟み込むためのパネル押え
板を有することを特徴とする液晶パネル検査装置。 - 【請求項２】 前記パネル押え板で前記液晶パネルを挟
み込む際に、前記液晶パネルに加えて緩衝剤を挟み込む
ことを特徴とする請求項１記載の液晶パネル検査装置。 - 【請求項３】 前記緩衝剤がシリコンゴムからなること
を特徴とする請求項２記載の液晶パネル検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34562991A JPH05241179A (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 液晶パネル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34562991A JPH05241179A (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 液晶パネル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05241179A true JPH05241179A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=18377900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34562991A Withdrawn JPH05241179A (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 液晶パネル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05241179A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100460056B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2004-12-04 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 심플 패널 테스트 지그 |
| KR100454002B1 (ko) * | 1997-10-01 | 2004-12-17 | 가부시키가이샤 엔프라스 | 표시패널용소켓 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP34562991A patent/JPH05241179A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100454002B1 (ko) * | 1997-10-01 | 2004-12-17 | 가부시키가이샤 엔프라스 | 표시패널용소켓 |
| KR100460056B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2004-12-04 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 심플 패널 테스트 지그 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990311 |