KR100487423B1 - 액정표시장치모듈의실장방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 TFT-LCD(Thin FilmTransistor- Liquid Crystal Display) 모듈실장에 관한 것으로, 특히 최소의 실장면적으로 패키지화(Package 化)하여 실장전후에 전기적인 접속여부를 테스트하는데 적당하도록한 액정표시장치 모듈의 실장방법에 관한 것이다.
상기와 같은 본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장방법은 절연필름상에 메탈패턴을 형성하는 공정과, 베어칩의 전극에 도전성 범프를 형성하여 상기의 절연필름상에 베어칩을 본딩하는 공정과, 상기의 배어칩을 보호하기 위한 인캡슐레이션(encapsulation) 공정을 실시하고 실장테스트를 하는 공정과, 상기의 실장테스트를 거친 베어칩을 메인패널에 본딩하는 공정을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 TFT-LCD(Thin film Transistor - Liquid crystal Display) 모듈실장에 관한 것으로, 특히 최소의 실장면적으로 패키지화(Package 化)하여 실장전후에 전기적인 접속여부를 테스트 하는데 적당하도록한 액정표시장치 모듈의 실장방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치 모듈의 실장은 TFT-LCD를 구동하기 위한 구동신호를 공급하는 구동 IC를 TFT-LCD 패널에 접속하는 것을 말한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 종래의 액정표시장치 모듈의 실장방법에 대하여 설명하면 다음과 같다.
제 1 도 (a) 내지 (c)는 종래의 액정표시장치 모듈의 실장구조를 나타낸 단면도이다.
먼저, 제 1 도 (a)에서와 같이 TFT-LCD의 메인패널(Main Panel)(1)에 베어칩(Bare Chip) (2)을 다이본딩(Die Bonding)한후 와이어(wire)(3)를 이용하여 패널전극(Panel El etrode)에 베어칩(Bare Chip)(2)을 직접 접속하는 와이어 본딩방식이 있고, 제 1 도 (b)에서와 같이, 베이스필름(Base Film)(5)에 베어칩(Bare Chip)(2)이 접속된 패키지(package)를 메인패널(1)의 전극(Panel Electrode)에 실장하는 TAB(Tape Auto mated Bonding) 방식이 있다.
TAB 방식은 베어칩(2)에 형성된 패드(PAD)에 칩범핑(Chip Bumping) 공정을 한후, 베이스필름(5)상에 금속패터닝으로 형성된 인너리드선(Inner Lead)과 베어칩(2)의 도전성 범프(4)와 본딩하는 ILB(Inner Lead Bonding) 공정을 하고, 베어칩(2)의 아우터리드선(Outer Lead)을 메인패널(1)에 본딩하는 OLB(Outer Lead Bonding) 공정을 포함하여 이루어진다.
그리고, 제 1 도 (c)에서와 같이 리드부가 없기 때문에 미세 피치(pitch)화가 가능한 COG(Chip On Glass) 방식은 베어칩(2)에 도전성 범프(4)를 형성하여 메인패널(1)의 전극에 직접 접속하는 방식으로 이루어진다.
상기와 같은 와이어본딩, TAB, COG 등의 실장방법에 있어서, 최근에는 메인시스템(Main System)의 소형화 경향에 따라 베어칩을 메인패널에 직접 실장하는 COG 실장 방법이 많이 사용되고 있다.
그러나 상기와 같은 종래의 액정표시장치 모듈의 실장구조에 있어서는 베어칩을 패널에 실장한 후에는 실장테스트가 불가하여 구동테스트만을 실시하게 되므로 칩범핑(Chip Bumping)과 패널본딩(Panel Bonding)에서 발생하는 불량에 대해서는 문제점해결(repair)이 어렵다.
또한, TAB(Tape Automated Bonding) 방식으로는 베어칩의 전면에 패드가 구성된 Area Pad 방식의 칩에 대해서는 실장이 어려운 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 종래의 액정표시장치 모듈의 실장방법의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 최소의 실장면적으로 패키지화(Package 化)하여 실장전후에 실장테스트가 가능한 액정표시장치 모듈의 실장방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장방법은 절연필름 상에 메탈패턴을 형성하는 공정과, 베어칩의 전극에 도전성-범프를 형성하여 상기의 절연필름상에 베어칩을 본딩하는 공정과, 상기의 베어칩을 보호하기 위한 인캡슐레이션(encapsulation) 공정을 실시하고 실장테스트를 하는 공정과, 상기의 실장테스트를 거친 베어칩을 메인패널에 본딩하는 공정을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다. 이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장방법에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장구조를 나타낸 평면도인 제 2 도 (a)와 단면도인 제 2 도 (b)에서와 같이, 릴(reel)형태의 절연필름(22)상에 금속을 증착하여 베어칩(21)의 전극에 패드가 정합되도록 형성되고 각각의 리드선(24)에 테스트용 패드(23)가 형성되도륵 금속패턴을 형성하고, 베어칩(21)의 전극에 도전성 범프(26)를 형성하여 상기의 금속패턴이 형성된 절연필름(22)상에 베어칩(21)을 하기의 플립칩(Filp Chip) 방식으로 본딩한다.
상기의 절연필름(22)상에 베어칩(21)을 본딩하는 공정으로는 베어칩(21)의 전극과 메탈패턴의 패드를 직접본딩(Direct Bonding)하거나, 이방성 도전필름 또는 Ag 페이스프(Ag Paste), UV 경화수지 등을 사용하여 본딩한다.
이어, 절연필름(22)상에 베어칩(21)을 보호하기 위하여 인캡슐레이션(encapsulation)공정으로 보호용 수지(27)층을 형성하고, 상기의 테스트용 패드(23)를 이용하여 범핑(bumping)이나 본딩(bonding)공정에서 발생한 불량을 검출하기 위하여 실장테스트를 실시한다.
상기의 실장테스트를 통과한 절연필름(22)상에 본딩된 베어칩(21)을 이방성 도전필름이나 솔더링(soldering)방식으로 메인패널(25)에 COG(Chip On Glsss) 방식으로 접속한다.
상기와 같은 본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장방법은 절연필름상의 메탈패턴에 베어칩(Bare Chip)본딩이 1차로 이루어지고 메인패널에서 솔더링(soldering) 방식이나 이방성 도전필름방식을 이용하여 본딩하므로 메인패널의 전극재질에 대한 금속의 제한요소 및 온도, 압력과 같은 외부제한요소의 영향을 고려하지 않아도 된다.
또한, 메인패널의 베어칩을 실장하기 전에 실장테스트를 실시하므로 칩범핑(Chip Bumping)이나 본딩(bonding) 공정으로 인한 불량을 제거하기 위한 REPAIR 공정을 하지 않게되어 메인패널에 가해지는 스트레스를 줄일수 있다.
그리고 절연필름상에 플립칩방식으로 베어칩을 본딩한 패키지(package)형태이므로 칩의 실장면적이 작아지고 기존의 TAB 방식으로는 실현이 어려운, 칩의 전면에 패드가 있는 Area 패드방식의 칩에도 이용할 수 있는 효과가 있다.
제 1 도 (a) 내지 (c)는 종래의 액정표시장치 모듈의 실장구조를 나타낸 단면도
제 2 도 (a)는 본 발명의 액정표시장치 모듈의 실장구조를 나타낸 평면도
(b)는 본 발명의 액장표시장치 모듈의 실장구조를 나타낸 단면도
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
21 : 베어칩 22 : 절연필름
23 : 테스트용 패드 24 : 리드선
25 : 메인패널 26 : 도전성 범프
27 : 보호용 수지
Claims (3)
- 절연필름상에 금속을 증착하여 베어칩의 전극에 패드가 정합되고 각각의 리드선에 테스트용 패드가 형성되도록 금속패턴을 형성하는 공정과,상기 베어칩의 전극과 상기 절연필름상의 패드를 본딩하는 공정과,상기 베어칩을 보호하기 위한 인캡슐레이션 공정을 실시하는 공정과,상기 테스트용 패드를 이용하여 상기 베어칩의 실장 불량 여부를 테스트하는 공정과,상기 테스트를 거친 베어칩을 메인패널에 본딩하는 공정을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 액정표시장치 모듈의 실장방법.
- 제 1 항에 있어서,절연필름상에 베어칩을 본딩하는 공정은 플립칩(Flip Chip)방식으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 모듈의 실장방법.
- 제 1 항에 있어서,절연필름상의 베어칩을 메인패널에 본딩하는 공정은 COG(Chip On Glass) 방식으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 모듈의 실장방법.
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