JPH05232139A - プローブユニット - Google Patents

プローブユニット

Info

Publication number
JPH05232139A
JPH05232139A JP4031775A JP3177592A JPH05232139A JP H05232139 A JPH05232139 A JP H05232139A JP 4031775 A JP4031775 A JP 4031775A JP 3177592 A JP3177592 A JP 3177592A JP H05232139 A JPH05232139 A JP H05232139A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
contact
mover
probe unit
holding block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP4031775A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoji Uchikura
洋二 内倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP4031775A priority Critical patent/JPH05232139A/ja
Publication of JPH05232139A publication Critical patent/JPH05232139A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明はプローブユニットに関し、構造を簡単
にし、かつ、プロービング時における測定対象の破壊を
防止することを目的とする。 【構成】保持ブロック1内に先端を突出させて保持され
る可動子2と複数のプローブ3、3・・とを有し、前記
可動子2はプローブ3の突出方向に進退自在で、かつ、
突出方向に付勢されるとともに、前記保持ブロック1と
可動子2には、可動子2がプローブ3の許容移動量に達
した際に互いに接触する接点部1a、2aが設けられ、
前記接点部1a、2a同士の接触を各接点部1a、2a
に接続された信号線1b、2bにより検知するように構
成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプローブユニットに関す
るものである。プローブユニットは、保持ブロックによ
り複数のプローブを保持し、各プローブの探触部を例え
ばプリント基板に実装された素子のリード部、あるいは
探触用パッドに圧接させて各部の信号を測定するのに使
用される。
【0002】ここで、探触部から正しい信号を取り出す
には、探触部と測定対象間が確実に接触し、さらには両
者の接触抵抗が可及的に低くすることが必要であり、探
触部により測定対象を所定の加圧力で押圧する必要があ
る。かかる加圧力は、1ピン当りでは微小なものである
が、数百本のプローブが埋設されたプローブユニットに
おける加圧力の合計は相当圧に達し、加圧力が大きすぎ
る場合には、プリント基板等の破損、パッドへの受傷等
を惹起する。
【0003】かかる事情の下測定対象への加圧力を適正
に管理することのできるプローブユニットが求められて
いる。
【0004】
【従来の技術】従来、プローブユニットの加圧力の管理
は、機械的なストッパを昇降装置に設けたり、あるい
は、昇降装置の降下量を管理することにより行われてい
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前者のもの
は、ストッパの設定にズレが生じやすく、後者のものに
おいては、各プローブユニットにおけるバラツキを個別
に管理をすることが困難である上に、構造が複雑になる
という欠点を有するものであった。
【0006】本発明は、以上の欠点を解消すべくなされ
たものであって、構造が簡単で、かつ、プロービング時
に測定対象を破壊することのないプローブユニットを提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
は、実施例に対応する図1に示すように、保持ブロック
1内に先端を突出させて保持される可動子2と複数のプ
ローブ3、3・・とを有し、前記可動子2はプローブ3
の突出方向に進退自在で、かつ、突出方向に付勢される
とともに、前記保持ブロック1と可動子2には、可動子
2がプローブ3の許容移動量に達した際に互いに接触す
る接点部1a、2aが設けられ、前記接点部1a、2a
同士の接触を各接点部1a、2aに接続された信号線1
b、2bにより検知するプローブユニットを提供するこ
とにより達成される。
【0008】
【作用】プローブユニットは保持ブロック1内に進退自
在に保持される可動子2を有する。可動子2は、プロー
ブ3の後退に伴って後退し、該プローブ3の適正押し込
み量に合致する位置で保持ブロック1側の接点部1aに
接触する。
【0009】可動子2と保持ブロック1とに設けられた
接点部1a、2a同士の接触により、信号線1b、2b
を含む回路には電気的な変化を生じ、これを停止信号と
して検出してプローブユニットの駆動を停止すると、プ
ローブユニットの押し込み量を常に一定に管理すること
が可能となる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の望ましい実施例を添付図面に
基づいて詳細に説明する。図4に本発明に係るプローブ
ユニットが搭載された測定装置の全体を示す。測定装置
は、アップダウンシリンダ4により上下駆動されるベー
ス体5と、該ベース体5に装着されるアップダウンモー
タ6と、該アップダウンモータ6によりベース体5を上
下駆動されるユニット保持部7とを有し、プローブユニ
ットAはユニット保持部7に固定される。
【0011】なお、図4において8はベース体5をアッ
プダウンシリンダ4に固定するためのナット、9はベー
ス体5に連結され、該ベース体5の落下を防止するため
の吊下スプリング、10はユニット保持部7の上端に装
着されるショックアブソーバ、11はショックアブソー
バ用ストッパ、12はストッパ用ブロックを示す。
【0012】図1以下にプローブユニットの詳細を示
す。プローブユニットは、保持ブロック1により複数の
プローブ3、3・・を保持して形成され、各プローブ3
は先端の探触部3aを表面から所定長さ突出させて装着
される。
【0013】保持ブロック1は、可動子保持ブロック1
Aと、固定子保持ブロック1Bと、ベースブロック1C
とを有し、各ブロック1A、1B、1Cはガイドピン1
3により正規位置にガイドされて組み立てられ、プロー
ブ3はこれらブロック1A、1B、1Cを貫通するよう
に装着される。
【0014】可動子保持ブロック1Aは多数のプローブ
挿通孔が穿孔された正面視正方形状のヘッド部14を有
し、その中心に穿孔された可動子挿通孔15に可動子2
が挿通される。可動子2は、先端部を可動子保持ブロッ
ク1Aから突出させた状態で進退自在に装着され、その
後端面と後述する固定子との間に縮設されるスプリング
16により前方に付勢される。
【0015】この結果、プローブユニットが駆動されて
プローブ3がプリント基板等の測定対象に当接すると略
同時に先端が測定対象に当接し、プローブ3の後退に伴
って後方に摺動する。また、可動子2は後端部に接点部
2aを有し、該接点部2aに信号線2bが接続される。
【0016】一方、固定子保持ブロック1Bはベースブ
ロック1Cの貫通孔17cに連通する貫通孔17bを有
し、これら両ブロック1B、1Cの貫通孔17b、17
cに固定子18が挿通される。固定子18は中空パイプ
状に形成され、その中空部内に上記可動子2からの信号
線2bが挿通され、ベースブロック1Cの後方に引き出
される。
【0017】上記固定子18は、先端に接点部1aを有
するとともに、後端に信号線1bが接続され、上述した
可動子2がプローブ3の後退に伴って後退した際に該可
動子2の接点部2aと接触する。接点部1a、2a間の
距離、すなわち、接点部1a、2a同士の接触のタイミ
ングは、プローブ3を前方へ付勢している図示しないス
プリングの反力、あるいは、プローブ3の撓みにより測
定対象に負荷される荷重が許容量以下の適正な値を取る
ように決定される。
【0018】次に、上記プローブユニットの動作を説明
する。先ず、測定装置を駆動してプローブユニットをプ
リント基板等の測定対象に向けて降下させると、プロー
ブ3の先端が測定対象に当接し、その後、該プローブ3
は後方に後退しつつ測定対象を押圧する。
【0019】プローブ3の測定対象への接触と略同時に
可動子2の先端が測定対象に当接し、プローブ3の後退
に従って後方に摺動し、やがてプローブ3の撓みが設定
値に達すると、可動子2と固定子18の接点部1a、2
a同士が接触して信号線1b、2bを含むネットには例
えば抵抗値の変化等が生じ、これを停止信号として検出
してプローブユニットの駆動が停止される。
【0020】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、プローブユニットの限界押し込み量を信号線
から取り出すことができるので、プロービングに伴う測
定対象の破壊等を防止するすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す図である。
【図2】本発明の要部を示す図である。
【図3】図1のA方向矢視図である。
【図4】測定装置を示す全体図である。
【符号の説明】
1 保持ブロック 2 可動子 1a,2a 接点部 1b、2b 信号線 3 プローブ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】保持ブロック(1)内に先端を突出させて保
    持される可動子(2)と複数のプローブ(3、3・・)とを
    有し、 前記可動子(2)はプローブ(3)の突出方向に進退自在
    で、かつ、突出方向に付勢されるとともに、 前記保持ブロック(1)と可動子(2)には、可動子(2)が
    プローブ(3)の許容移動量に達した際に互いに接触する
    接点部(1a、2a)が設けられ、 前記接点部(1a、2a)同士の接触を各接点部(1a、
    2a)に接続された信号線(1b、2b)により検知する
    プローブユニット。
JP4031775A 1992-02-19 1992-02-19 プローブユニット Withdrawn JPH05232139A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4031775A JPH05232139A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 プローブユニット

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4031775A JPH05232139A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 プローブユニット

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05232139A true JPH05232139A (ja) 1993-09-07

Family

ID=12340432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4031775A Withdrawn JPH05232139A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 プローブユニット

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05232139A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4679244B2 (ja) 測定用コンタクト端子、測定装置、プローブカードセット、およびウエハプローバ装置
JP2557956B2 (ja) 座標測定器用走査装置およびその作動方法
US7868632B2 (en) Composite motion probing
JPH10126098A (ja) 弾性取付領域を有する電気コンタクトピンをプリント回路基板の孔に挿入する方法
US4908571A (en) Contact probe assembly with fine positioning means
JP2001272431A (ja) 間隔が密なテスト部位のための走査式試験機
KR20070075757A (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 접속장치
JPH05232139A (ja) プローブユニット
TWI427297B (zh) 基板檢查用之檢查治具
KR100944070B1 (ko) 프린트 기판의 전기 검사 장치, 검사 지그 및 검사 지그의고정 확인 방법
CN108151946A (zh) 触觉测试测量设备及在触觉测试测量中确定力-位移曲线的方法
JPS6312977A (ja) ボ−ドテスタ
JP4462732B2 (ja) プローブヘッド
US5341689A (en) Pen force gage for a pen plotter
US6049203A (en) Apparatus and method for testing an inker of the semiconductor wafer probe station
JPS6018880Y2 (ja) 集積回路のリ−ド曲り検出装置
JP3859095B2 (ja) 多ピンプローブユニット
US6814609B2 (en) Electrical signal read-out method and device therefor
JPH08292230A (ja) Icの電気特性測定装置およびその方法
CN212459945U (zh) 测试装置
JPH10311868A (ja) 回路基板の検査装置
JPS5890155A (ja) 印刷配線板接栓部の接触抵抗値検出装置
SU1504483A1 (ru) Устройство дл измерени неровностей профил поверхности
JP2540157Y2 (ja) 電子部品の測定装置
JPH05231854A (ja) 高さ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990518