JPH05216707A - 情報処理装置のハードウェアテスト方法 - Google Patents

情報処理装置のハードウェアテスト方法

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JPH05216707A
JPH05216707A JP4015770A JP1577092A JPH05216707A JP H05216707 A JPH05216707 A JP H05216707A JP 4015770 A JP4015770 A JP 4015770A JP 1577092 A JP1577092 A JP 1577092A JP H05216707 A JPH05216707 A JP H05216707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
hardware
storage unit
operation history
information processing
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4015770A
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English (en)
Inventor
Haruko Iketani
治子 池谷
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05216707A publication Critical patent/JPH05216707A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】情報処理装置内のハードウェアについての動作
テストを過去の異常発生率に応じたテスト項目を選択し
て短時間で効率よく実行する。 【構成】テスト対象ハードウェア別に対応づけてテスト
回数と異常回数および異常発生率を記憶する動作履歴記
憶部5と、テスト対象ハードウェア別にその異常発生率
とテスト項目とを対応づけたテスト項目テーブルを記憶
するテスト項目テーブル記憶部4とを設ける。情報処理
装置内のCPU2に対して予め定められたテスト命令と
テスト対象ハードウェアを選択する命令が入力されたと
き、CPU2により動作履歴記憶部5を参照させ、選択
されたテスト対象ハードウェアの異常発生率を読み出さ
せ、さらにテスト項目テーブル記憶部4よりこの異常発
生率に対応するテスト項目を読み出させ、このテスト項
目についてテストプログラム記憶部3に記憶されている
プログラムにより選択されたハードウェアにつきテスト
を実行させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は情報処理装置のハードウ
ェアテスト方法に関し、特に予め作成されているテスト
プログラムを起動して情報処理装置、たとえば、パーソ
ナルコンピュータなどが有する、主記憶部、VRAM
(ビデオRAM)、あるいは、このパーソナルコンピュ
ータに接続された磁気記憶装置などのハードウェアの動
作状態を長期間に亘り間欠的に繰返しテストを行う情報
処理装置のハードウェアテスト方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の情報処理装置のハードウェアテス
ト方法は、情報処理装置に接続されている磁気記憶装置
あるいはこの情報処理装置内のROM(読み出し専用メ
モリ)内などに記憶されているテストプログラムを使用
して、上述した情報処理装置が有する複数のハードウェ
ア別に、テスト対象ハードウェアが指定されたとき、そ
のハードウェアに関する予め定められているすべてのテ
スト項目に関するテストを実行し、そのテスト結果を検
出し、予め記憶させてある正常状態であるときに示すべ
き結果の期待値とを比較しこれら期待値と実行結果とが
一致していれば正常と判断しそれ以外のときには異常と
判断し、その判断結果を出力するテストプログラムを記
憶させておき、すべてのハードウェアに対してのテスト
を一括し指定して上述したテストプログラムを順次起動
してその結果を出力させるか、上述したハードウェアの
内で特定のハードウェアについて、上述したプログラム
中に規定されているすべての項目についてのハードウェ
アの動作テストを実行させていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の情報処
理装置のハードウェアテスト方法は、特定のハードウェ
アについてのハードウェアテストを指定した場合であっ
ても、そのハードウェアについてテストプログラムに規
定されているテスト項目のすべてが実行されるので、動
作がほぼ安定しており設定されている項目の内の一部の
テストを行うだけで十分そのハードウェアに対する動作
状態が正常であると判断できる場合であっても、対象と
するハードウェアに関して設定されている他のテスト項
目もすべて実行されるので、ハードウェアに対するテス
トに多大の時間を必要とするという欠点を有している。
【0004】本発明の目的は、過去に同一の情報処理装
置に対して上述のようなハードウェアの動作テストを行
った結果について異常発生率を動作履歴記憶部に記憶し
ておき、さらにこの異常発生率に対応づけてその異常発
生率に応じたテスト項目を指定するテスト項目テーブル
を記憶しておき、上述のハードウェアテストに関するテ
ストプログラムが起動されたとき指定されたテスト対象
ハードウェアに対応して動作履歴記憶部とテスト項目テ
ーブルを参照し、テスト対象ハードウェアについて、そ
のテスト対象ハードウェアが持つ異常発生率に応じて指
定されているテスト項目のみをハードウェアテストプロ
グラムにより実行させることにより、不必要なテスト項
目についてのテストを省略させることを可能とした情報
処理装置のハードウェアテスト方法を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の情報処理装置の
ハードウェアテスト方法は、情報処理装置内に前記情報
処理装置の有するハードウェアの動作のテスト結果に基
づいて過去に実行したテスト回数とそのテスト結果が異
常であった回数とその異常発生率とをテスト対象ハード
ウェア別に前記ハードウェアに対応づけて記憶する動作
履歴記憶部と、前記情報処理装置内のテストの対象とな
るハードウェア別に前記異常発生率とその異常発生率に
対応づけられたテスト項目とを記憶するテスト項目テー
ブル記憶部と、前記1以上のハードウェアについてその
ハードウェア別にハードウェアを動作させその動作結果
を正常状態であるとき生ずべき予め記憶されている期待
値と比較しその比較結果が正常であるか異常であるかを
出力するテストプログラムを記憶しているテストプログ
ラム記憶部と、前記テスト結果の出力を受信すると前記
動作履歴記憶部を参照して該当内容を更新する動作履歴
更新手段とを有し、前記情報処理装置内に設けられたC
PUに対し予め定められたテストを要求する命令が加え
られ、テスト対象ハードウェアが選択されると、前記C
PUにより選択されたテスト対象のハードウェアについ
て前記動作履歴記憶部を参照して異常発生率を読み出
し、次いで前記CPUにより前記テスト項目テーブルを
参照して前記選択されたテスト対象ハードウェアにつき
前記動作履歴記憶部から読み出した異常発生率に対応す
るテスト項目を読み取り、前記選択されたハードウェア
に関し前記読み出したテスト項目について前記テストプ
ログラムによりテストを実行し、その結果と前記動作履
歴記憶部から読み出した該当するハードウェアについて
の情報とを前記動作履歴更新手段に出力しこの動作履歴
更新手段により前記動作履歴記憶部の内容を更新させて
いる。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0007】図1は本発明の情報処理装置のハードウェ
アテスト方法を適用した情報処理装置の一実施例を示す
ブロック図であり、図2は図1中に示されている動作履
歴記憶部5内の記憶内容を示す説明図であり、図3は図
1中に示されているテスト項目テーブル記憶部4内の記
憶内容を示す説明図であり、図4は図1に示されている
情報処理装置に適用した本発明の情報処理装置のハード
ウェアテスト方法を説明するフローチャートである。
【0008】本発明の情報処理装置のハードウェアテス
ト方法を適用した情報処理装置1は、図1に示すよう
に、CPU(中央処理ユニット)2と、このCPU2で
制御される動作履歴記憶部5と、このCPU2と動作履
歴記憶部5に接続されている動作履歴更新手段6と、C
PU2に接続されているテスト項目テーブル記憶部4
と、CPU2により制御されるテストプログラム記憶部
3とで構成されており、入出力装置7がCPU2に接続
され、必要とする命令およびデータがCPU2に対して
入力され、また、情報処理装置1で処理された結果が出
力される。
【0009】テストプログラム記憶部3内には、情報処
理装置1が有する図示されていないテスト対象ハードウ
ェア(たとえば、主記憶部、VRAM、磁気記憶装置な
ど)別に複数のテスト項目を持つテストプログラムが記
憶されている。
【0010】上述したテストプログラムはCPU2によ
り実行されるもので、選択されたテスト対象ハードウェ
アに対して指定されたテスト項目をこのテストプログラ
ムに従って実行しその結果を検出し、予めテストプログ
ラム内に記憶されているテスト対象ハードウェアが正常
動作時に示すべき結果の期待値と実行した結果とを比較
し、その結果が一致すれば、正常と判断し、不一致であ
れば異常と判断しその判断結果を、たとえば、入出力装
置7などに出力するものである。
【0011】動作履歴記憶部5内には、図2にその記憶
内容が示されているように、テスト対象ハードウェアと
そのハードウェアについての過去に実行されたテスト回
数と、そのテストの結果が異常であった回数を示す異常
回数と、異常回数をテスト回数で除した異常発生率と
が、テスト対象ハードウェア別に互いに対応づけられて
記憶されている。
【0012】テスト項目テーブル記憶部4内には、図3
にその記憶内容が示されているように、テスト対象ハー
ドウェア別に、異常発生率の値とその異常発生率の値を
前述したテスト対象ハードウェアが有するときに実行さ
れるべきテスト項目とが対応づけられたテスト項目テー
ブルが記憶されている。
【0013】なお、上述のテスト項目テーブル中のテス
ト項目はその項目番号により示されている。
【0014】図3中に示されているEはテスト対象ハー
ドウェアが持つ異常発生率の値を示している。
【0015】以下に、図4のフローチャートに基づい
て、本発明の情報処理装置のハードウェアテスト方法を
説明する。
【0016】入出力装置7からステップ(以後Sと略称
する)1で予め定められたテスト開始命令とテスト対象
ハードウェアの選択命令が出力されると、CPU2が動
作履歴記憶部5を参照して、選択されたテスト対象ハー
ドウェアについての情報、すなわち、過去のテスト回
数、異常発生回数および異常発生率を読み出し一時記憶
する(S2)。
【0017】CPU2は、次に、テスト項目テーブル4
を参照して選択されたテスト対象ハードウェアについ
て、上述した動作履歴記憶部5より読み出した異常発生
率に対応づけられているテスト項目を読み出す(S
3)。
【0018】CPU2はテストプログラム記憶部3から
テストプログラムを読み出し、このテストプログラムに
より、前述した選択されたテスト対象ハードウェアにつ
いて上述したテスト項目テーブル記憶部4から読み出し
たテスト項目についてのテストを実行する(S4)。
【0019】そのテスト結果を、入出力部7に出力する
と共に、動作履歴更新手段6にテスト結果についてその
結果が異常であったかまたは正常であったかを出力し、
さらに、選択されたテスト対象ハードウェアと過去に実
施されたハードウェアテスト回数と、異常回数とを動作
履歴更新手段6に出力し動作履歴更新手段6によりテス
ト回数を1だけ増加させ、今回実行したテスト結果が異
常であれば、異常回数をも1だけ増加させる更新を行
い、これら更新されたテスト回数により更新された異常
回数を除して更新された異常発生率を算出しこれらテス
ト回数、異常回数および異常発生率を動作履歴記憶部5
に出力して該当するテスト対象ハードウェアに関する記
憶内容を更新する(S5)。
【0020】なお、図1に示した情報処理装置1におい
ては、テストプログラム記憶部3は情報処理装置1の内
部に設けられているが、情報処理装置1に接続されてい
る外部記憶装置をテストプログラム記憶部として使用し
てもよい。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の情報処理
装置のハードウェアテスト方法は、選択したハードウェ
アについてのテストを実行する際に、動作履歴記憶部5
を参照して異常発生率を読み出し、さらにテスト項目テ
ーブル4を参照して選択されたテスト対象ハードウェア
について読み出した異常発生率に対応づけられているテ
スト項目を読み出し、読み出したテスト項目についてだ
け実際のテストを実行させるので、そのハードウェアが
持つ異常発生率に対応した適切なテストを実行すること
ができ、従来のこの種のテスト方法に比較して短時間で
テストを実行させることができるという利点を有してい
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の情報処理装置のハードウェアテスト方
法を適用した情報処理装置の一実施例を示すブロック図
である。
【図2】動作履歴記憶部の記憶内容を示す説明図であ
る。
【図3】テスト項目テーブル記憶部の記憶内容を示す説
明図である。
【図4】図1の情報処理装置の動作を示すフローチャー
トである。
【符号の説明】
1 情報処理装置 2 CPU 3 テストプログラム記憶部 4 テスト項目テーブル記憶部 5 動作履歴記憶部 6 動作履歴更新手段 7 入出力装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報処理装置内に前記情報処理装置の有
    するハードウェアの動作のテスト結果に基づいて過去に
    実行したテスト回数とそのテスト結果が異常であった回
    数とその異常発生率とをテスト対象ハードウェア別に前
    記ハードウェアに対応づけて記憶する動作履歴記憶部
    と、前記情報処理装置内のテストの対象となるハードウ
    ェア別に前記異常発生率とその異常発生率に対応づけら
    れたテスト項目とを記憶するテスト項目テーブル記憶部
    と、前記1以上のハードウェアについてそのハードウェ
    ア別にハードウェアを動作させその動作結果を正常状態
    であるとき生ずべき予め記憶されている期待値と比較し
    その比較結果が正常であるか異常であるかを出力するテ
    ストプログラムを記憶しているテストプログラム記憶部
    と、前記テスト結果の出力を受信すると前記動作履歴記
    憶部を参照して該当内容を更新する動作履歴更新手段と
    を有し、前記情報処理装置内に設けられたCPUに対し
    予め定められたテストを要求する命令が加えられ、テス
    ト対象ハードウェアが選択されると、前記CPUにより
    選択されたテスト対象のハードウェアについて前記動作
    履歴記憶部を参照して異常発生率を読み出し、次いで前
    記CPUにより前記テスト項目テーブルを参照して前記
    選択されたテスト対象ハードウェアにつき前記動作履歴
    記憶部から読み出した異常発生率に対応するテスト項目
    を読み取り、前記選択されたハードウェアに関し前記読
    み出したテスト項目について前記テストプログラムによ
    りテストを実行し、その結果と前記動作履歴記憶部から
    読み出した該当するハードウェアについての情報とを前
    記動作履歴更新手段に出力しこの動作履歴更新手段によ
    り前記動作履歴記憶部の内容を更新させることを特徴と
    する情報処理装置のハードウェアテスト方法。
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Effective date: 19990408