JPH0521438U - 半導体のアニール装置 - Google Patents

半導体のアニール装置

Info

Publication number
JPH0521438U
JPH0521438U JP6864991U JP6864991U JPH0521438U JP H0521438 U JPH0521438 U JP H0521438U JP 6864991 U JP6864991 U JP 6864991U JP 6864991 U JP6864991 U JP 6864991U JP H0521438 U JPH0521438 U JP H0521438U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
heater
annealing
carbon
quartz
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6864991U
Other languages
English (en)
Inventor
吉秀 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP6864991U priority Critical patent/JPH0521438U/ja
Publication of JPH0521438U publication Critical patent/JPH0521438U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Resistance Heating (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】ウェハの重金属付着を低減できる化合物半導体
のアニール装置の提供。 【構成】半導体ウェハを加熱するアニール装置のヒータ
として、石英管に覆われた炭素材を用いた。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、半導体特にガリウムヒ素等の化合物半導体用のアニール装置の改良 に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は従来のアニール装置の一例を示す縦断面図である。
【0003】 図3に於て1は、石英等からなる支持台2に収容される半度体ウェーハ、3は 金属ヒータ、4は石英等からなる反応管、5は反応管の蓋、6はキャリアガス流 入口、7はキャリアガス流出口である。
【0004】 この装置はまず反応管4の外で支持台2上に半導体ウェハ1を収容し、蓋5を 取り外し、反応管4内に支持台2を移動した後、蓋5を取り付ける。
【0005】 次に、キャリアガスに置換し、ヒータ3を点線部分に移動し、半導体ウェハ1 を加熱し、アニール処理を行なった後にヒータ3を再度実線部分に移動し、冷却 する。
【0006】 最後に、反応管4内を不活性ガスで置換し、蓋5を取り外し、半導体ウェハ1 を回収する。
【0007】 しかし従来のこの装置に於ては、金属製ヒータ3に含まれる重金属、特に銅が 、高温下で反応管4を透過して、ウェハ1に付着しウェハ内に拡散する欠点があ った。これにより、ウェハ1の電気特性、例えば、イオン注入による活性化率に 悪影響を及ぼすものである。
【0008】
【考案の目的】 本考案の目的は、前記した従来技術の欠点を解消し、ウェハの重金属付着を大 幅に低減することができる新規な、アニール装置を提供することにある。
【0009】
【考案の要点】
本考案の要旨は、ヒータに石英管に覆われた炭素材を用いたことにあり、それ によってウェハの重金属付着を大幅に低減させたものである。
【0010】
【考案の実施例】
図1は、本考案装置に用いられるヒータの一実施例を示す縦断面図である。
【0011】 発熱体である炭素8の周囲を不活性ガスを用い石英9で密封し、炭素8に電流 を流した際に炭素8が燃焼するのを防止する様されている。このヒーターを第3 図に示したアニール装置のヒータ3に置きかえたものが、本考案のアニール装置 であり、炭素が燃焼しないため、反応管内のウェハ内に拡散することがなく、ウ ェハの電気特性に悪影響を及ぼすことがない。
【0012】 図2は、本考案装置に用いられるヒータの変形例であり、炭素8と石英9の間 に窒素、アルゴン等の不活性ガスを、ガス流入口10からガス流出口11へ流す ことにより、炭素8の酸化、燃焼を防止するものである。
【0013】
【考案の効果】
以上説明した通り本考案装置は、ヒータからウェハへの重金属付着が低減され ることが期待され、電気特性の優れたウェハの提供を可能としたものであり、そ の実用的価値は非常に大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のアニール装置に用いられるヒータの一
実施例を示す縦断面図。
【図2】図1の変形例を示す縦断面図。
【図3】従来のアニール装置の一例を示す縦断面図。
【符号の説明】 1 半導体ウェハ 2 支持台 3 ヒータ 4 反応蓋 5 蓋 6 キャリアガス流入口 7 キャリアガス流出口 8 炭素 9 石英 10 ガス流入口 11 ガス流出口

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体の結晶或いはウェーハを加熱する装
    置に於いて、熱源であるヒーターとして石英で覆われた
    炭素を用いたことを特徴とする半導体装置のアニール装
    置。
JP6864991U 1991-08-28 1991-08-28 半導体のアニール装置 Pending JPH0521438U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6864991U JPH0521438U (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体のアニール装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6864991U JPH0521438U (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体のアニール装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0521438U true JPH0521438U (ja) 1993-03-19

Family

ID=13379765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6864991U Pending JPH0521438U (ja) 1991-08-28 1991-08-28 半導体のアニール装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0521438U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000173944A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Toshiba Ceramics Co Ltd 円筒状ヒ−タ及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000173944A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Toshiba Ceramics Co Ltd 円筒状ヒ−タ及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS586300B2 (ja) アニ−リング方法
JPH0521438U (ja) 半導体のアニール装置
KR950034626A (ko) 반도체 장치 제조 방법
JPS5265662A (en) Method and device for diffusion to semiconductor substrate by high fre quency induction heating
JPS6119101B2 (ja)
NL279828A (ja)
US4020791A (en) Apparatus for indiffusing dopants into semiconductor material
US11482432B2 (en) Method and apparatus for semiconductor processing
US3997379A (en) Diffusion of conductivity modifiers into a semiconductor body
JP4305682B2 (ja) 拡散装置とこれを用いた半導体結晶への不純物拡散法
JPS63283124A (ja) 反応炉
JPH03291917A (ja) 熱処理装置
KR950001931A (ko) 반도체 기판의 열처리 방법
JPS60193343A (ja) 熱処理装置
JPH031554A (ja) 半導体ウエハー搬送用クリーンボックス
JPH04127532A (ja) 半導体ウェーハ熱処理方法
JPS60246281A (ja) 石英材の窒化処理方法
JPS61286292A (ja) GaAsウエハのアニ−ル方法
US3448051A (en) Method of inserting manganese into semiconductors serving to produce electronic semiconductor structural components
Chang et al. Open Tube Aluminum Diffusion
JPH04361527A (ja) 半導体熱処理用治具の表面処理方法および使用方法
KR950025109A (ko) 갈륨함유 스크랩으로 부터의 갈륨회수법
JPH02192498A (ja) 酸化亜鉛ウィスカの製造方法
JPH01235333A (ja) 3−5族化合物半導体の熱処理方法
JPH0369117A (ja) 半導体装置の製造装置